（高清版）GBT 18348-2022 商品條碼 條碼符號印制質量的檢驗

商品條碼條碼符號印制質量的檢驗2022-03-09發(fā)布I 12規(guī)范性引用文件 13術語和定義 14抽樣方案的確定 25檢驗條件 35.1環(huán)境條件 35.2檢驗設備 35.3被檢樣品 46檢驗項目 47檢驗方法 57.1檢驗方法概述 57.2掃描測量 57.3人工測量 78檢驗數據處理 88.1檢驗數據處理概述 88.2掃描反射率曲線單項參數等級 88.3掃描反射率曲線單項參數平均等級 8.4掃描反射率曲線等級 8.5人工測量參數數據處理 8.6符號等級 9符號質量綜合判定 10檢驗報告 附錄A(資料性)條/空反射率、印刷對比度和條/空尺寸偏差的檢驗方法 A.1條/空反射率和印刷對比度的檢驗方法 A.2條/空尺寸偏差的檢驗方法 A.3平均條寬偏差的檢驗方法 附錄B(規(guī)范性)光學特性參數值的測定 B.1概述 B.2最低反射率 B.3符號反差 B.4最小邊緣反差 B.5調制比 B.6缺陷度 附錄C(資料性)缺陷度算法改進說明 Ⅱ附錄D(規(guī)范性)可譯碼度的測定 D.1通則 D.3ITF-14條碼 D.4GS1-128條碼 附錄E(規(guī)范性)Z尺寸和寬窄比的測量 E.1Z尺寸的測量 E.2寬窄比的測量 附錄F(規(guī)范性)不同碼制掃描反射率曲線等級和符號等級值確定參數 F.1不同碼制掃描反射率曲線等級確定參數 F.2不同碼制符號等級值確定參數 Ⅲ本文件按照GB/T1.1—2020《標準化工作導則第1部分：標準化文件的結構和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。本文件代替GB/T18348—2008《商品條碼條碼符號印制質量的檢驗》,與GB/T18348—2008相比，除結構調整和編輯性改動外，主要技術變化如下：a)刪除了所有術語和定義，新增了一些術語和定義(見第3章，2008年版的第3章);b)更新了部分確定抽樣方案所依據的標準(見第4章，2008年版的第3章);c)更改了條碼檢測儀測量環(huán)境(見5.1.2.2,2008年版的5.1.2.2)和條碼檢測儀一致性要求所依據的標準(見5.2.1.2,2008年版的5.2.1.2);增加了印刷位置、保護框寬度、條碼符號物理長度測量器具的要求(見5.2.2.2和5.2.2.3);更改了被檢樣品(見5.3,2008年版的5.3)的表述；d)檢驗項目改用表格形式表述(見第6章，2008年版的第6章);e)將檢驗方法分為檢驗方法(見第7章，2008年版的第7章)和檢驗數據處理(見第8章，2008年版的第7章)兩部分；f)增加了檢驗方法概述(見7.1),并將檢驗方法分為掃描測量方法(見7.2)和人工測量方法(見7.3)兩部分；g)更改了掃描測量中的掃描測量次數(見7.2.1.2,2008年版的7.1.2);h)增加了掃描反射率曲線分析概述(見7.2.2.1);i)將掃描反射率曲線分析和參數值確定基本方法改為獲得掃描反射率曲線(見7.2.2.2,2008年版的7.3);j)將單元的確定和單元邊緣的確定合并為測定單元和單元邊緣(見7.2.2.3,2008年版的7.3.2、k)增加了供人識別字符(見7.3.3)、譯碼數據正確性(見7.3.4)、保護框寬度(見7.3.6)、數據字符個數(見7.3.7)、條碼符號物理長度(見7.3.8)的測量方法；1)將檢驗數據處理分為概述(見8.1)、掃描反射率曲線單項參數等級(見8.2)、掃描反射率曲線單項參數平均等級(見8.3,2008年版的8.4)、掃描反射率曲線等級(見8.4,2008年版的8.1)、人工測量參數數據處理(見8.5)和符號等級(見8.6,2008年版的8.2)六部分；m)將符號反差、調制比、缺陷度和可譯碼度的參數等級精確到0.1(見8.2.2、8.2.3,2008年版的n)更改了不同應用場景商品條碼符號Z尺寸的范圍并規(guī)定了Z尺寸的最大允許偏差(見8.2.4,2008年版的7.4);o)更改了空白區(qū)等級劃分及判定的方法并規(guī)定了空白區(qū)寬度的最大允許偏差(見8.2.6,2008年版的7.6);p)增加了條高的最大允許偏差(見8.5.1,2008年版的7.7);q)增加了供人識別字符(見8.5.2)、譯碼數據正確性(見8.5.3)、保護框寬度(見8.5.5)、數據字符個數(見8.5.6)、條碼符號物理長度(見8.5.7)的判定方法；r)更改了符號等級值的確定(見8.6.1,2008年版的8.2);s)更改了第9章標題(見第9章，2008年版的第9章);t)檢驗報告的內容增加了條碼符號的編碼數據(見第10章，2008年版的第10章);u)修訂了缺陷度計算方法(見附錄B.6,2008年版的附錄B中B.6);v)修訂了ITF-14條碼可譯碼度計算方法(見附錄D.3,2008年版的附錄D中D.3);w)增加了不同碼制掃描反射率曲線等級和符號等級值確定參數(見附錄F)。請注意本文件的某些內容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機構不承擔識別專利的責任。本文件由全國物流信息管理標準化技術委員會(SAC/TC267)提出并歸口。本文件起草單位：中國物品編碼中心、北京市標準化研究院、河北省標準化研究院、青島市標準化研究院、寧波市標準化研究院、浙江省標準化研究院、遼寧省標準化研究院、新疆維吾爾自治區(qū)標準化研究院、北京東方捷碼科技開發(fā)中心。本文件于2001年首次發(fā)布，2008年第一次修訂，本次為第二次修訂。1商品條碼條碼符號印制質量的檢驗本文件規(guī)定了商品條碼符號印制質量檢驗抽樣方案的確定、檢驗條件、檢驗項目、檢驗方法、檢驗數據處理、符號質量綜合判定及檢驗報告。本文件適用于印制的商品條碼符號的質量檢驗。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內容通過文中的規(guī)范性引用而構成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對應的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改單)適用于GB/T2828.1計數抽樣檢驗程序第1部分：按接收質量限(AQL)檢索的逐批檢驗抽樣計劃GB/T2828.4計數抽樣檢驗程序第4部分：聲稱質量水平的評定程序GB/T2828.11計數抽樣檢驗程序第11部分：小總體聲稱質量水平的評定程序GB/T2829周期檢驗計數抽樣程序及表(適用于對過程穩(wěn)定性的檢驗)GB12904—2008商品條碼零售商品編碼與條碼表示GB/T12905—2019條碼術語GB/T13262不合格品率的計數標準型一次抽樣檢查程序及抽樣表GB/T14257商品條碼符號位置GB/T14258信息技術自動識別與數據采集技術條碼符號印制質量的檢驗GB/T15425商品條碼128條碼GB/T16306產品質量監(jiān)督復查程序及抽樣方案GB/T16830商品條碼儲運包裝商品的編碼與條碼表示GB/T26228.1信息技術自動識別與數據采集技術條碼檢測儀一致性規(guī)范第1部分：一維條碼ISO/IEC15416:2016自動識別與數據采集技術條碼符號印制質量檢驗規(guī)范一維條碼(Au-tomaticidentificationanddatacapturetechniques—Barcodeprintqualitytestspecification—LinearGS1通用規(guī)范3術語和定義GB12904—2008和GB/T12905—2019界定的以及下列術語和定義適用于本文件。商品條碼barcodeforcommodity用于標識商品及其屬性的全球通用的條碼符號，包括零售商品、儲運包裝商品、物流單元、資產、服務關系、參與方位置等的編碼與條碼表示。2掃描反射率曲線上，一個單元(包括空白區(qū))中經算法修正的反射率最高峰值與最低谷值之差。最大單元反射率非均勻度與符號反差的比。掃描反射率曲線上反射率相對高的點。其兩側點的反射率比該點的反射率低。掃描反射率曲線上反射率相對低的點。其兩側點的反射率比該點的反射率高。(n,k)條碼符號(n,k)symbology每個符號字符的寬度為n個模塊，且每個字符由k個條、空對搭配組成的一類條碼符號。測量儀器采樣區(qū)域中心移過條碼(包括空白區(qū))所經過的路徑。窄單元或模塊尺寸的標稱值。Z尺寸Zdimension窄單元或模塊尺寸測量值的算術平均值。編碼數據encodeddata擬在條碼符號中表示的數據。4抽樣方案的確定在商品條碼印制質量的檢驗中，應根據檢驗的類別和適用的抽樣標準確定抽樣方案：a)連續(xù)批的有數個廠商可供選擇的購入檢查和有確定用戶的出廠檢驗，采用GB/T2828.1來確定抽樣方案；b)單批的購入、工序和出廠檢驗，采用GB/T13262來確定抽樣方案；c)生產過程穩(wěn)定性的檢查，采用GB/T2829來確定抽樣方案；d)質量監(jiān)督檢驗，監(jiān)督總體量大的場合，采用GB/T2828.4來確定抽樣方案；e)質量監(jiān)督檢驗，監(jiān)督總體量小的場合，采用GB/T2828.11來確定抽樣方案；3f)質量監(jiān)督復查，采用GB/T16306來確定抽樣方案；g)供需雙方驗收檢驗，在合同中有抽樣約定的，按約定確定抽樣方案。5檢驗條件5.1環(huán)境條件檢驗室溫度范圍應為23℃±5℃,相對濕度范圍應為30%～70%。采用D65光源的模擬體(色溫5500K～6500K),頂光照明，照度500lx～1500lx。5.1.2.2條碼檢測儀測量環(huán)境檢驗工作區(qū)域照度應與條碼檢測儀使用條件相一致。5.2檢驗設備條碼檢測儀應能按GB/T14258的規(guī)定測量掃描反射率曲線參數值。條碼檢測儀應符合GB/T26228.1中一致性要求的規(guī)定。測量光波長為670nm±10nm。測量孔徑的選擇見表1。表1測量孔徑的選擇條碼碼制測量孔徑的標稱值/mm孔徑參考號EAN-13、EAN-8、UPC-A、UPC-E0.264≤X≤0.6600.150.250≤X<0.6350.250.635≤X≤1.0160.50GS1-1280.250≤X<0.4950.150.495≤X≤1.0160.25注1:在不知道X尺寸的情況下，用Z尺寸代替X尺寸。注2:測量孔徑的選擇是依據GS1通用規(guī)范的要求設定的。注3:不同碼制的商品條碼應用規(guī)范有特殊要求時，按照應用規(guī)范選擇。4測量光路應符合GB/T14258中的規(guī)定。以氧化鎂(MgO)或硫酸鋇(BaSO?)作為100%反射率的基準。5.2.2長度測量器具最小分度值不大于0.1mm的長度測量器具或最小分度值不大于0.01mm的條碼檢測儀。最小分度值不大于0.5mm的長度測量器具，適用于人工測量。5.2.2.3保護框寬度、條碼符號物理長度測量器具最小分度值不大于0.1mm的長度測量器具，適用于人工測量。5.3被檢樣品應盡可能使被檢條碼符號處于應用時被掃描狀態(tài)，即實物包裝狀態(tài)。對不能在實物包裝形態(tài)下被檢驗的樣品，以及標簽、標紙、包裝材料上的條碼符號樣品：——可以進行適當處理，使樣品平整、大小適合于檢驗，且條碼符號四周保留足夠的固定尺寸；——對于不透明度小于0.85的符號印刷載體，檢驗時應在符號底部襯上反射率小于5%的暗平面。不透明度的測量見GB/T14258。6檢驗項目檢驗項目見表2。表2檢驗項目匯總表序號檢驗項目1參考譯碼(Decode)2光學特性參數最低反射率(Rmin)符號反差(SC)最小邊緣反差(ECmin)缺陷度(Defects)3可譯碼度(Decodability)45寬窄比6空白區(qū)寬度5表2檢驗項目匯總表(續(xù))序號檢驗項目7條高8印刷位置9其他(GB12904、GB/T15425或GB/T16830對條碼符號質量的其他要求或參數)7檢驗方法7.1檢驗方法概述掃描測量方法見7.2,其中掃描測量的一般要求見7.2.1,掃描反射率曲線分析見7.2.2。人工測量方法見7.3。注：在條碼符號印制過程質量控制中需要了解和分析條/空反射率和條/空尺寸的狀況、確定改進方法時，可以采用“條/空反射率和條/空尺寸偏差”檢驗方法，見附錄A。7.2掃描測量7.2.1一般要求檢測帶是商品條碼符號的條碼字符條底部邊線以上，條碼字符條高的10%處和90%處之間的區(qū)域(見圖1)。條碼符號的掃描測量應在檢測帶內進行。以上、條高的10%處圖1檢測帶7.2.1.2掃描測量次數根據以下兩種情況確定每個條碼符號的掃描測量次數；a)評價條碼符號整體質量時，每個符號檢測帶的最少掃描次數為10和檢測帶高度除以測量光孔6直徑的值(取整數值)中的較小者，掃描路徑應通過包括空白區(qū)在內的整個符號寬度并在檢測帶中宜等間距；b)其他情況下(如GB/T14258—2003附錄G的G.2),每個條碼符號掃描測量的次數可適當減少。7.2.2掃描反射率曲線分析7.2.2.1掃描反射率曲線分析概述掃描反射率曲線是沿掃描路徑，反射率隨線性距離(時間)變化的關系曲線。根據ISO/IEC15416:2016和商品條碼的特點，掃描反射率曲線參數除參考譯碼、最低反射率(反射率比)、符號反差、最小邊緣反差、調制比、缺陷度、可譯碼度外，還包括碼制規(guī)范或應用規(guī)范規(guī)定的其他要求，如Z尺寸、寬空白區(qū)寬度等。用符合5.2.1規(guī)定的條碼檢測儀按照GB/T14258和ISO/IEC15416:2016規(guī)定的方法掃描測量條碼符號，獲得掃描反射率曲線。掃描反射率曲線特征示意見圖2。反射率線性位置圖2掃描反射率曲線及其特征參數示意圖7.2.2.3測定單元和單元邊緣整體閾值是區(qū)分條單元與空單元的反射率界限值，等于最高反射率與最低反射率之和的二分之一，計算見公式(1)。7Rmx——最高反射率；Rmin——最低反射率。在整體閾值以上的各區(qū)域被認為是空單元，每一空區(qū)域中的最高反射率定義為該空的反射率(R、),與此類似，在整體閾值以下的各區(qū)域被認為是條單元，每一條區(qū)域中的最低反射率定義為該條的反射率(R,)。邊緣是掃描反射率曲線上相鄰兩單元(包括空白區(qū))的邊界。其位置在相鄰兩單元中空反射率(R)、條反射率(Rj)中間值即(R、+R,)/2點的橫坐標處。按7.2.2.3規(guī)定的方法確定各單元后，根據被檢驗條碼符號的碼制，選擇GB12904、GB/T15425或GB/T16830中適合的參考譯碼算法對條碼符號進行譯碼。測定光學特性參數值的方法應符合附錄B的規(guī)定。記錄條碼檢測儀掃描后給出的最低反射率、符號反差、最小邊緣反差、調制比和缺陷度的值。根據被檢驗條碼符號的碼制，按照附錄D規(guī)定的方法測定。記錄條碼檢測儀掃描后給出的可譯碼度。根據被檢驗條碼符號的碼制，按照附錄E中E.1規(guī)定的方法測定。ITF-14條碼符號(GB/T16830)寬窄比的測定方法見E.2。用具有空白區(qū)檢測功能的條碼檢測儀掃描測量。需人工測量時，見7.3.2。7.3人工測量用符合5.2.2.2要求的長度測量器具測量，條高數值修約到以毫米為單位的整數。用符合5.2.2.1要求的長度測量器具測量空白區(qū)最窄處的寬度。人工測量的結果可作為各次掃描反射率曲線的空白區(qū)寬度參數值使用。注：當目測空白區(qū)遠大于要求值時，以“>符號標準規(guī)定的最小空白區(qū)寬度”為測量值。8人工讀取并記錄條碼符號的供人識別字符。7.3.4譯碼數據正確性比較掃描反射率曲線參考譯碼的譯碼數據與編碼數據的一致性。按GB/T14257或應用規(guī)范的規(guī)定進行目檢或用符合5.2.2.2要求的長度測量器具測量。用符合5.2.2.3要求的長度測量器具進行測量。7.3.7數據字符個數人工讀取并記錄GS1-128條碼符號(GB/T15425)的數據字符個數，其中包括應用標識符和作為分隔符適用的FNC1字符，但不包括輔助字符和校驗字符。7.3.8條碼符號物理長度用符合5.2.2.3要求的長度測量器具測量GS1-128條碼符號(GB/T15425)包括空白區(qū)在內的物理8檢驗數據處理8.1檢驗數據處理概述檢驗數據處理是指對按照第7章規(guī)定的方法檢驗獲得的各項參數結果，依據有關算法/規(guī)則進行處8.2掃描反射率曲線單項參數等級8.2.1參考譯碼的等級通過參考譯碼算法，則該掃描反射率曲線參考譯碼的等級為4.0級，否則為0.0級。8.2.2光學特性參數的等級光學特性參數的等級確定見表3。根據值的大小，符號反差、調制比和缺陷度可被定為4.0～0.0級，并在等級區(qū)間內進行線性插值，計算結果四舍五入精確到0.1。例如符號反差值為58%,則符號反差等級為3.2。最低反射率和最小邊緣反差可被定為4.0或0.0級。表3光學特性參數的等級確定等級區(qū)間最低反射率(Rmin)符號反差(SC)調制比(MOD)缺陷度(Defects)MOD≥0.70Defects≤0.15——0.60≤MOD<0.700.15<Defects≤0.2040%≤SC<55%——0.50≤MOD<0.600.20<Defects≤0.259表3光學特性參數的等級確定(續(xù))等級區(qū)間最低反射率(Rmin)符號反差(SC)最小邊緣反差(ECmin)調制比(MOD)缺陷度(Defects)—0.40≤MOD<0.500.25<Defects≤0.30MOD<0.40Defects>0.308.2.3可譯碼度的等級可譯碼度(V)的等級確定見表4?？勺g碼度在等級區(qū)間內進行線性插值，計算結果四舍五入精確到0.1。例如當V值為0.56時，等級為3.5級；當V值為0.20時，等級為0.8級。表4可譯碼度的等級確定可譯碼度(V)等級區(qū)間8.2.4Z尺寸的等級根據符號碼制規(guī)范和應用規(guī)范中X尺寸的范圍，判斷Z尺寸是否符合規(guī)定(最大允許偏差為邊界值的2%),需確定等級時，符合為4.0級，不符合為0.0級。不同應用場景中，不同碼制的商品條碼符號X尺寸的范圍見表5。表5不同應用場景商品條碼符號X尺寸的范圍單位為毫米條碼碼制應用場景最小值首選值最大值UPC-E在常規(guī)零售POS機掃描的非常規(guī)配送貿易項目僅在常規(guī)配送中掃描的貿易項目在常規(guī)零售POS機和常規(guī)配送掃描的貿易項目僅在常規(guī)配送中掃描的貿易項目GS1-128僅在常規(guī)配送中掃描的貿易項目常規(guī)配送的物流單元注：不同碼制的商品條碼應用規(guī)范有特殊要求時，按照應用規(guī)范選擇。8.2.5寬窄比的等級ITF-14條碼符號(GB/T16830)的寬窄比(N)的測量值應在2.25≤N≤3.00范圍內，測量值在此范圍內則寬窄比為4.0級，否則為0.0級。8.2.6空白區(qū)寬度的等級及判定根據符號碼制規(guī)范和應用規(guī)范中空白區(qū)寬度的要求，判斷空白區(qū)寬度是否符合規(guī)定(最大允許偏差為邊界值的5%)并確定等級。不同碼制的商品條碼符號空白區(qū)寬度的等級及判定見表6。表6商品條碼符號空白區(qū)寬度的等級及判定碼制空白區(qū)寬度等級及判定左側空白區(qū)右側空白區(qū)等級判定EAN-13≥11X(最大允許偏差為5%)≥7X(最大允許偏差為5%)符合不符合不符合EAN-8≥7X(最大允許偏差為5%)≥7X(最大允許偏差為5%)符合不符合不符合UPC-A≥9X(最大允許偏差為5%)≥9X(最大允許偏差為5%)符合不符合不符合UPC-E≥9X(最大允許偏差為5%)≥7X(最大允許偏差為5%)符合不符合不符合ITF-14、GS1-128≥10X(最大允許偏差為5%)≥10X(最大允許偏差為5%)符合不符合主符號(EAN-13UPC-A、UPC-E)加2位或5位附加符號同無附加符號時的主符號≥5X(最大允許偏差為5%)符合不符合不符合注：在不知道X尺寸的情況下，用Z尺寸代替X尺寸。把計算得到的空白區(qū)寬度數值修約到一位小數。主符號與附加符號的最小間隔與無附加符號時的主符號右側空白區(qū)最小寬度相同；最大間隔為12X。8.3掃描反射率曲線單項參數平均等級掃描反射率曲線單項參數平均等級為多次掃描測量的反射率曲線各單項參數測量值的算術平均值及其相對應等級或等級的算術平均值。其中，任意兩次參考譯碼的譯碼數據不一致時，參考譯碼平均等級為0.0。掃描反射率曲線單項參數平均等級應在檢驗報告中給出。8.4掃描反射率曲線等級取單次測量掃描反射率曲線的參考譯碼、最低反射率(反射率比)、符號反差、最小邊緣反差、調制尺寸、空白區(qū)寬度等諸參數等級中的最小值作為該掃描反射率曲線的等級。不同碼制的商品條碼符號應按照附錄F中F.1選擇掃描反射率曲線等級確定參數。8.5人工測量參數數據處理根據符號碼制規(guī)范和應用規(guī)范中條高的要求，判斷條高是否符合規(guī)定(最大允許偏差為邊界值的5%)。不同碼制的商品條碼符號條高的要求見表7。條高的測量值符合規(guī)定時，判定為通過；否則為不通過。表7商品條碼符號條高要求條碼碼制條高EAN-13、UPC-A、UPC-EGS1-128(X<0.495)GS1-128(X≥0.495)注1:在不知道X尺寸的情況下，用Z尺寸代替X尺寸。把計算得到的條高數值修約到整數個位。注2:各碼制的商品條碼應用規(guī)范有特殊要求時，按照應用規(guī)范選擇。8.5.2供人識別字符判定條碼符號的供人識別字符應與編碼數據內容一致時，判定為通過，否則為不通過。注：GB/T15425規(guī)定的碼制，將供人識別字符中的應用標識符用圓括號括起來，以明顯區(qū)別于其他數據，圓括號不是數據的一部分，且不在條碼符號中編碼。8.5.3譯碼數據正確性判定掃描反射率曲線參考譯碼的譯碼數據與編碼數據一致時，判定為4.0級，否則為0.0級。條碼符號的印刷位置與GB/T通過。14257或相應的應用規(guī)范的規(guī)定一致時，判定為通過；否則為不8.5.5保護框寬度判定ITF-14條碼符號(GB/T16830)使用制版印刷的印刷方法時，保護框寬度的標稱值為4.83mm;不使用制版印刷的方法時，保護框寬度的最小值為2X,保護框的垂直線條可以缺省。測量值大于或等于8.5.6數據字符個數判定GS1-128條碼符號(GB/T15425),可編碼的最大數據字符個數為48。數據字符個數小于或等于48時，判定為4.0級，否則為0.0級。8.5.7條碼符號物理長度判定GS1-128條碼符號(GB/T15425),包括空白區(qū)在內的物理長度不能超過165mm。物理長度小于或等于165mm時，判定為4.0級，否則為0.0級。8.6符號等級8.6.1符號等級值的確定符號等級值為多次掃描測量(掃描測量次數見7.2.1.2)的掃描反射率曲線等級(見8.4)的算術平均值和碼制規(guī)范確定的參與等級判定的人工測量參數等級中的最小值。當任意兩次掃描反射率曲線參考譯碼的譯碼數據不同時，符號等級值為0.0級。不同碼制的商品條碼符號應按照F.2選擇符號等級值確定參數。8.6.2符號等級的表示方法符號等級以G/A/W的形式來表示，其中G是符號等級值，精確至小數點后一位；A是測量孔徑的參考號；W是測量光波長以納米為單位的數值。例如，2.7/06/660表示，符號等級值為2.7,測量時使用的是參考號為06的、標稱直徑為0.15mm的孔徑，測量光波長為660nm。符號等級值也可用字母A、B、C、D或F來表示，字母符號等級與數字符號等級的對應關系是：A—(3.5≤G≤4.0),B—(2.5≤G<3.5),C—(1.5≤G<2.5),D—(0.5≤G<1.5),F—(G<0.5)。9符號質量綜合判定根據檢驗數據處理結果，按照對應碼制的商品條碼符號碼制規(guī)范或應用規(guī)范規(guī)定的符號等級要求，進行商品條碼符號質量綜合判定。根據《GS1通用規(guī)范》的要求，不同應用場景中，各種碼制的商品條碼符號等級要求及質量綜合判定見表8。表8商品條碼符號等級要求及質量綜合判定條碼碼制符號等級要求質量綜合判定EAN-13、EAN-8、UPC-A、UPC-E合格GS1-128(X<0.495mm)合格GS1-128(X≥0.495mm)合格合格合格注：不同碼制的商品條碼應用規(guī)范有特殊要求時，按照應用規(guī)范選擇。10檢驗報告檢驗報告應包括以下內容。a)樣品信息：——被檢條碼符號的碼制；——條碼符號的供人識別字符；——條碼符號的編碼數據；——條碼符號所標識的商品的名稱、商標和規(guī)格；——條碼符號的承印材料。b)檢驗條件：——溫度和濕度；——測量光波長和測量孔徑的直徑。c)檢驗依據：——檢驗依據的標準。d)檢驗結果：——各項檢驗結果；——判定結論。——檢驗人、報告審核人和報告批準人的簽名；——檢驗單位專用印章；——檢驗日期。(資料性)條/空反射率、印刷對比度和條/空尺寸偏差的檢驗方法A.1條/空反射率和印刷對比度的檢驗方法A.1.1檢驗步驟用分辨率不低于1%(反射率)的反射率測量儀器檢驗。在條碼符號條高方向上均勻取五個測量位置，從起始符到終止符逐一測量各條/空的反射率，每一高度位置的測量重復上述步驟。A.1.2數據處理A.1.2.1取同一高度位置上各條反射率中的最大值及各空反射率中的最小值，作為這一高度位置上的條/空反射率。A.1.2.2取五個不同高度位置上條反射率中的最大值及空的反射率中的最小值，作為該條碼符號的條/空反射率。A.1.2.3印刷對比度(PCS值)按公式(A.1)計算：式中：R?——條碼符號空的反射率；Rp——條碼符號條的反射率。A.1.3判定方法根據檢驗結果，EAN/UPC條碼依據GB12904—2008中F.2的規(guī)定、GS1-128和ITF-14條碼可參照這個規(guī)定，判定條碼符號光學特性能否符合要求。A.2條/空尺寸偏差的檢驗方法A.2.1偏差的測量與計算測量條碼符號中各條、空及條空組合的實際寬度，計算實際寬度與相應名義寬度尺寸的差即偏差。對于(n,k)條碼，名義寬度尺寸應根據測量的Z尺寸(見E.1)及被測條、空或條空組合所屬的條碼字符，按照相應的條碼碼制規(guī)范確定；對于兩種單元寬度條碼，名義寬度尺寸應根據測量的Z尺寸和寬窄比(見E.2),以及被測條、空所屬的條碼字符，按照相應的條碼碼制規(guī)范確定。A.2.2檢驗步驟用分辨率不低于0.01mm的長度測量器具檢驗。在條碼符號條高方向上均勻取五個測量位置，從起始符到終止符逐一測量各條/空尺寸，每一高度位置的測量重復上述步驟。A.2.3數據處理A.2.3.1取同一高度位置上各條/空尺寸偏差的最大值和最小值作為這一高度位置上的條/空尺寸偏差的最大、最小值。A.2.3.2取五個不同高度位置上各條/空尺寸偏差的最大值和最小值作為該條碼符號的條/空尺寸A.2.4判定方法照這個規(guī)定，判定條碼符號條空尺寸偏差能否符合要求。A.3平均條寬偏差的檢驗方法測量條碼符號中各條的實際寬度，用公式(A.2)計算條平均偏差。D,——平均條寬偏差；n——條碼符號中條的總數；b;——第i條的實際寬度；B;——第i條的名義寬度。…………(規(guī)范性)光學特性參數值的測定B.1概述對每條掃描反射率曲線，按照B.2～B.6規(guī)定的方法測定光學特性參數值。B.2最低反射率在掃描反射率曲線上找出最低反射率(Rmin),最低反射率應不高于最高反射率(Rmx)的二分之一。B.3符號反差符號反差(SC)按公式(B.1)計算：SC=RmxRmin………………(B.1)B.4最小邊緣反差邊緣反差(EC)按公式(B.2)計算：EC=R、-R,式中：R、——相鄰單元(包括空白區(qū))空的反射率；R,——相鄰單元條的反射率。取掃描反射率曲線所有邊緣反差中的最小值作為該掃描反射率曲線的最小邊緣反差(ECmin)。B.5調制比調制比(MOD)按公式(B.3)計算：式中：ECmin——最小邊緣反差；SC——符號反差。B.6缺陷度缺陷度(defects)是最大單元反射率非均勻度與符號反差的比。單元反射率非均勻度(ERN)是指掃描反射率曲線上，一個單元(包括空白區(qū))中反射率最高峰值與最低谷值之差，或經過特定算法修正的最高峰值與最低谷值之差。如果條單元中無峰或空單元中無谷時，其ERN為0。取所有ERN中的最大值作為該次測量掃描反射率曲線的最大單元反射率非均勻度Defects的計算過程如下。a)定義一個缺陷調整系數“c”其值為0.075。b)計算條單元的ERN值。1)對條單元的各峰值分別做如下計算：——定義峰值為Maximum:——計算Maximum—Rmnlef得出ERNef;——計算Maximum—RminRigh得出ERNrigh; 取ERN與ERN的較小值作為ERN';——設置參數F,當ERN'≥c,F取值為1;當ERN'<c,F=ERN'/c;——F乘以(ERNr,ERNin)2)上述各峰值計算出的臨時ERN值的最大值，作為該單元的ERN值。c)計算空單元的ERN值。1)對空單元的各谷值分別做如下計算：——定義谷值為Minimum:——谷值左側的最高峰，定義為RmxLt;——計算RmxRgn—Minimum得出ERNigh; 取ERN與ERNm的較小值作為ERN':——設置參數F,當ERN'≥c,F取值為1;當ERN'<c,F=ERN'/c;——F乘以(ERN,ERNn)中較大值作為臨時的ERN值。2)上述各谷值計算出的臨時ERN值的最大值，作為該單元的ERN值。d)將所有條空單元的ERN值的最大值作為整個掃描反射率曲線的ERNmx。注：上述ERNmx的計算進行了修訂，參見附錄C。(資料性)缺陷度算法改進說明缺陷通常是由條碼符號中空或空白區(qū)中出現污點、條中的油墨脫落或孔隙造成的。以條單元為例，當條中出現孔隙時，其掃描反射率曲線如圖C.1中b)和c)所示。傳統(tǒng)缺陷度算法中規(guī)定的單元反射率非均勻度一個單元(包括空白區(qū))中反射率最高峰值與最低谷值之差，圖C.1b)中的單元反射率非均勻度是E點與D點的反射率之差，圖C.1c)中的單元反射率非均勻度是L點與W點的反射率之差。然而，在實際掃描過程中，還可能在條與空的邊緣內出現微小孔隙甚至“噪聲”的情況，它不是真正的缺陷，其掃描反射率曲線如圖C.1中a)所示，按照傳統(tǒng)的缺陷度算法計算的單元反射率非均勻度為B點與C點之差，這樣計算放大了缺陷度的值。按照改進后的缺陷度算法，圖C.1a)中的ERN'極小，小于缺陷調整系數“c”,參數F小于1,得出的單元反射率非均勻度值小于傳統(tǒng)缺陷度算法中的單元反射率非均勻度值，因此改進后的缺陷度算法計算得出的缺陷度小于傳統(tǒng)缺陷度算法得出的缺陷度；圖C.1b)、c)中的ERN'大于缺陷調整系數“c”,參數F等于1,得到的單元反射率非均勻度值等于改進前的單元反射率非均勻度值，因此改進后的缺陷度算法計算得出的缺陷度與傳統(tǒng)缺陷度算法得出的缺陷度相同。缺陷調整系數“c”的設置能夠減少在條空邊緣的微小孔隙或者污點的影響，以消除測量的不穩(wěn)定性，使檢測儀忽略極小的反射率差對缺陷度計算產生的影響。圖C.1反射率曲線部分示意圖(規(guī)范性)可譯碼度的測定D.1通則D.1.1根據被測條碼符號碼制，按照D.2、D.3或D.4規(guī)定的方法對每條掃描反射率曲線測定可譯D.1.2對每條掃描反射率曲線，按7.2.2.3規(guī)定的單元邊緣確定方法，確定各單元的邊界，然后測量相D.1.3所有尺寸測量值的單位與掃描反射率曲線所在坐標系的橫坐標(即“線性位置”坐標)采用的單D.2.1尺寸測量在掃描反射率曲線上測量：——各條碼字符的寬度(p);——各條碼字符中相鄰兩條相應的左或右邊緣之間的距離(e?、e?);——起始符、終止符中相鄰兩條相應的左或右邊緣之間的距離(e?);——中間分隔符中相鄰兩條相應的左或右邊緣之間的距離(e?、ez、e?、e?);EAN/UPC條碼中各部分尺寸的示意圖見圖D.1。D.2.2可譯碼度的計算D.2.2.1各條碼字符及起始符、中間分隔符、終止符中相鄰兩條同側邊緣之間距離相關的可譯碼度值Vc按公式(D.1)計算。e;——字符中相鄰兩條相應的左或右邊緣之間距離的測量值，對于條碼字符、起始符、終止符：RT;——參考閾值(j=1,2,3,4),其中RT?=1.5p/7、RT?=2.5p/7、RT?=3.5p/7、RT?=4.5p/7;p——相應字符的寬度測量值，對于起始符、終止符的e?,公式(D.1)中的p取相鄰條碼字符的寬度；對于中間分隔符的e?、ez、e?,p可取中間分隔符左側相鄰條碼字符的寬度；對于中間分隔符的ez、es、e?,p可取中間分隔符右側相鄰條碼字符的寬度。D.2.2.2A子集中表示1、2、7、8的條碼字符中(b?+b?)相關的可譯碼度值V?按公式(D.2)計算。p—-相應條碼字符的寬度的測量值，計算與e尺寸相關的可譯碼性值V?時，對于起始符、終止符的e?,公式中p的取相鄰條碼字符的寬度；對于中間分隔符的e?、ez、e?,p可取中間分隔符左側相鄰條碼字符的寬度；對于中間分隔符的ez、es、e?,p可取中間分隔符右側相鄰條碼字符的寬度；(b?+b?)——條碼字符中兩個條的寬度之和的測量值。A、B子集字符C子集字符起始符中間分隔符標引序號說明：p——條碼字符的寬度；b;(i=1,2)——條碼字符中條的寬度；e;(i=1,2,3,4)——條碼符號中相鄰兩條相應的左或右邊緣之間的距離。圖D.1EAN/UPC條碼中各有關部分的尺寸示意圖…………(D.3)式中：p——相應條碼字符的寬度測量值；(b?+b?)—-條碼字符中兩個條的寬度之和的測量值。子集中表示1、2、7、8的條碼字符的可譯碼度值為相應的Vc值、V?值中的較小者；B和C子集中表示的條碼字符的可譯碼度值為相應的Vc值、V?值中的較小者。D.2.2.5掃描反射率曲線的可譯碼度為該掃描反射率曲線所有條碼字符及起始符、中間分隔符、終止符的可譯碼度值中的最小值。D.3.1尺寸測量在掃描反射率曲線上測量：——各條單元的寬度(b);——各空單元的寬度(s)。ITF-14條碼中各部分尺寸的示意圖見圖D.2。條碼字符對標引序號說明：b——條寬度；s——空寬度。圖D.2ITF-14條碼中各有關部分的尺寸示意圖D.3.2可譯碼度的計算D.3.2.1把每個ITF-14條碼字符(表示兩位數字)的條(b;)和空(s;)按公式(D.4)和公式(D.5)排序：b?<b?<b?<b?<b?………(D.4)Z=(b?+b?+b?+s?+s2+sg)/6………D.3.2.3S分隔值V?按公式(D.7)確定：V?=(d/Z)-0.5d——(b?-b?)與(s?-sg)二者最小值。同樣，V?按公式(D.8)確定：u———(b?-b?)、(b?-b?)、(ss-s?)和(s?-s?)四者最大值。最窄單元值V?按公式(D.9)確定：V?=[(n/Z)-0.25]/0.75…………(D.9)n——s?與b?二者最小值。D.3.2.4對于每個條碼字符，決定可譯碼度值V的是V?、V?或V?中最小者。D.3.2.5掃描曲線可譯碼度是掃描反射率曲線(SRP)中測得的V的最小值。當V出現負值時，參考譯碼算法就失效了。D.4GS1-128條碼D.4.1尺寸測量在掃描反射率曲線上測量：——各條碼字符的寬度(p);——各條碼字符中相鄰兩條相應的左或右邊緣之間的距離(e?、ez、eg、e?);——各條碼字符中條單元寬度的總和(b?+b?+b?)。GS1-128條碼中各部分尺寸的示意圖見圖D.3。標引序號說明：p——條碼字符的寬度；b;(i=1,2,3)——條的寬度；e;(i=1,2,3,4)——條碼字符中相鄰兩條相應的左或右邊緣之間的距離。圖D.3GS1-128條碼中各有關部分的尺寸示意圖D.4.2