納米技術(shù) 動(dòng)態(tài)光散射法粒度分析儀技術(shù)要求-編制說(shuō)明_第1頁(yè)
納米技術(shù) 動(dòng)態(tài)光散射法粒度分析儀技術(shù)要求-編制說(shuō)明_第2頁(yè)
納米技術(shù) 動(dòng)態(tài)光散射法粒度分析儀技術(shù)要求-編制說(shuō)明_第3頁(yè)
納米技術(shù) 動(dòng)態(tài)光散射法粒度分析儀技術(shù)要求-編制說(shuō)明_第4頁(yè)
納米技術(shù) 動(dòng)態(tài)光散射法粒度分析儀技術(shù)要求-編制說(shuō)明_第5頁(yè)
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文檔簡(jiǎn)介

一、編制標(biāo)準(zhǔn)的目的和意義

(一)項(xiàng)目的必要性、可行性、適用范圍,擬要解決的主要問(wèn)題:

近年來(lái),隨著納米科學(xué)和技術(shù)的迅速發(fā)展,納米材料的顆粒分布以及顆粒大

小已經(jīng)成為納米材料表征的重要指標(biāo)之一,在納米材料分析和研究中,經(jīng)常遇到

的納米顆粒通常是指顆粒尺寸為納米量級(jí)(1~100nm)的超細(xì)微粒。納米材料的

粒度分析是納米材料研究的一個(gè)重要方面,顆粒的尺寸、形狀、表面特性等參數(shù)

將顯著影響其物理化學(xué)特性,因此在應(yīng)用中需要對(duì)粒徑進(jìn)行嚴(yán)格而準(zhǔn)確的測(cè)量監(jiān)

控。

激光粒度分析儀是目前專門用于顆粒粒度測(cè)量的儀器,按其分析粒度范圍不

同,又劃分為激光衍射法和動(dòng)態(tài)光散射法。激光衍射法主要針對(duì)微米、亞微米級(jí)

顆粒,動(dòng)態(tài)光散射法則主要針對(duì)亞微米級(jí)、納米級(jí)顆粒的粒度分析。采用動(dòng)態(tài)光

散射法無(wú)需在測(cè)量前進(jìn)行繁瑣的樣品處理,只需要將顆粒進(jìn)行合理的稀釋和分散,

因而測(cè)量更加方便、迅速、無(wú)損,測(cè)量范圍更廣泛。

各種粒度分析方法的物理基礎(chǔ)不同,同一樣品用不同的測(cè)量方法得到的粒徑

的物理意義甚至粒徑大小也不同,此外,不同的粒度分析方法的使用范圍也不統(tǒng)

一。因此,根據(jù)被測(cè)對(duì)象特點(diǎn)、設(shè)備的技術(shù)要求等選擇合適的儀器十分必要,而

制定基于此類設(shè)備的技術(shù)要求標(biāo)準(zhǔn)就顯得極為重要和迫切。

該項(xiàng)工作的開(kāi)展,是對(duì)現(xiàn)有國(guó)際、國(guó)內(nèi)技術(shù)文件的補(bǔ)充,一方面能夠促使國(guó)

內(nèi)外的儀器生產(chǎn)廠家在研制此類設(shè)備時(shí),都能夠遵循統(tǒng)一的技術(shù)要求,實(shí)現(xiàn)粒度

儀的技術(shù)參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)化、評(píng)價(jià)要求規(guī)范化,另一方面也能夠?yàn)楦黝I(lǐng)域的人員正確選

擇和使用粒度儀提供科學(xué)依據(jù)和權(quán)威文件,切實(shí)解決市場(chǎng)和貿(mào)易中供需雙方的實(shí)

際需求。

(二)技術(shù)的先進(jìn)性、創(chuàng)新性和產(chǎn)業(yè)化情況:

動(dòng)態(tài)光散射法對(duì)納米顆粒粒徑測(cè)量的基本原理為:溶液中顆粒會(huì)使入射至其

上的激光向四周發(fā)生散射,不同顆粒的散射光信號(hào)互相干涉疊加,可在各方向觀

測(cè)到或明或暗的光信號(hào)。由于顆粒在溶液中做布朗運(yùn)動(dòng),觀測(cè)到的散射光信號(hào)的

強(qiáng)弱也會(huì)隨時(shí)間而波動(dòng)。小顆粒運(yùn)動(dòng)快,光散射信號(hào)波動(dòng)快;大顆粒運(yùn)動(dòng)慢,光

散射信號(hào)波動(dòng)慢。由于布朗運(yùn)動(dòng)為隨機(jī)運(yùn)動(dòng),如果對(duì)這些散射信號(hào)做自相關(guān)運(yùn)算,

那么信號(hào)的相關(guān)性將隨時(shí)間而衰減。小顆粒運(yùn)動(dòng)快,信號(hào)衰減快;大顆粒運(yùn)動(dòng)慢,

信號(hào)衰減慢??紤]散射區(qū)域內(nèi)顆粒運(yùn)動(dòng)到特定位置的概率密度分布及其對(duì)光的散

射疊加模型,自相關(guān)函數(shù)可以通過(guò)指數(shù)衰減模型進(jìn)行描述。因此,通過(guò)采集光散

射信號(hào)并對(duì)其進(jìn)行自相關(guān)處理,進(jìn)而采用顆粒粒徑反演算法擬合求解指數(shù)衰減的

自相關(guān)函數(shù),即可得到顆粒粒徑的值。

目前我國(guó)在開(kāi)展動(dòng)態(tài)光散射法測(cè)量顆粒粒徑方面的研究也取得了一系列成果,

在商用儀器的研制方面,也具有相對(duì)成熟的動(dòng)態(tài)光散射儀研發(fā)技術(shù),近年來(lái)已逐

步出現(xiàn)我國(guó)自主研發(fā)的動(dòng)態(tài)光散射測(cè)量顆粒粒徑的產(chǎn)品,但相關(guān)產(chǎn)業(yè)需求依舊很

大,未來(lái)對(duì)儀器和技術(shù)的市場(chǎng)要求仍然維持高位。

(三)國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)一致性程度,同步制定為國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的可行性;

動(dòng)態(tài)光散射法粒度分析儀已成為測(cè)量亞微米及納米級(jí)顆粒粒度的一種常規(guī)

儀器,在現(xiàn)有的國(guó)際、國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和檢定規(guī)程中,GB/T19627-2005/ISO13321規(guī)

范了利用光子相關(guān)光譜法正確測(cè)定粒徑的必要步驟,所規(guī)定的儀器僅限于測(cè)量低

濃度樣品的粒度。GB/T29022-2012/ISO22412則建立了適于測(cè)定較寬濃度范圍

樣品的粒度,兩項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定內(nèi)容都只針對(duì)檢測(cè)的具體分析方法和過(guò)程。JJG

1104-2015動(dòng)態(tài)光散射粒度儀檢定規(guī)程規(guī)定了設(shè)備的計(jì)量性能要求,以使實(shí)驗(yàn)室

在使用儀器開(kāi)展實(shí)驗(yàn)的過(guò)程中,能夠在測(cè)量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確度和再現(xiàn)性上有良好的一

致性。

雖然在多個(gè)國(guó)家和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)中均提到亞微米級(jí)顆粒粒度分析時(shí)應(yīng)使用粒度分

析儀,但都缺乏該類設(shè)備的關(guān)鍵技術(shù)要求。

針對(duì)粒度測(cè)量技術(shù)參數(shù)不統(tǒng)一、沒(méi)有統(tǒng)一的性能評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)的現(xiàn)狀,而技術(shù)指

標(biāo)又影響著顆粒的眾多性質(zhì),加上該類設(shè)備所涉及到的行業(yè)眾多,很難用行業(yè)標(biāo)

準(zhǔn)和團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)解決實(shí)際問(wèn)題,因此我們提出制定針對(duì)動(dòng)態(tài)光散射法粒度分析儀設(shè)

備自身的性能要求和評(píng)價(jià)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),在技術(shù)水平國(guó)內(nèi)外齊跑時(shí),引領(lǐng)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

的制定。

二、工作簡(jiǎn)況

1任務(wù)來(lái)源

本任務(wù)來(lái)源于國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)制定項(xiàng)目,項(xiàng)目編號(hào)

20212956-T-491。

2主要起草單位

本標(biāo)準(zhǔn)主要編制單位國(guó)家納米科學(xué)中心(以下簡(jiǎn)稱納米中心)是中國(guó)科學(xué)院

與教育部共建并具有獨(dú)立事業(yè)法人資格的全額撥款直屬事業(yè)單位。全國(guó)納米技術(shù)

標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(SAC/TC279)和中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可委員會(huì)實(shí)驗(yàn)室技術(shù)委

員會(huì)納米技術(shù)專業(yè)委員會(huì)(CNAS/TC/SC14)均掛靠在納米中心。納米中心在科

技部、中國(guó)科學(xué)院、國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)、中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可委員會(huì)的支

持下,先后開(kāi)展了國(guó)內(nèi)納米科研和產(chǎn)業(yè)化的調(diào)研、組織納米基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)的制定、納

米標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)的研制和溯源、納米檢測(cè)技術(shù)的研究、全國(guó)納米檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室間檢測(cè)技

術(shù)的比對(duì)和認(rèn)可、與國(guó)外納米標(biāo)準(zhǔn)化組織的聯(lián)系與交流等工作。納米中心還承擔(dān)

了多項(xiàng)科技部863納米專項(xiàng)、973計(jì)劃中與納米技術(shù)相關(guān)的項(xiàng)目,以及與納米檢

測(cè)技術(shù)相關(guān)的國(guó)家重大科學(xué)研究計(jì)劃項(xiàng)目,以上工作為高效率完成本標(biāo)準(zhǔn)的制訂

奠定了良好的基礎(chǔ)。

3工作過(guò)程

本標(biāo)準(zhǔn)編制小組首先組建了標(biāo)準(zhǔn)起草工作組,成員由科研人員、技術(shù)人員、

粒度儀設(shè)備制造廠商及從事納米技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化的專業(yè)人員擔(dān)任。

標(biāo)準(zhǔn)起草工作組詳細(xì)討論并制定了標(biāo)準(zhǔn)編制的具體工作過(guò)程、擬定了相應(yīng)的

工作計(jì)劃和各自承擔(dān)的工作內(nèi)容,不定期就草案修改進(jìn)行了多次交流,最終形成

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)征求意見(jiàn)稿。

具體工作過(guò)程及安排如下:

2021年9月至11月,收集整理與本標(biāo)準(zhǔn)項(xiàng)目相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)、論文、專著、技

術(shù)進(jìn)展等文獻(xiàn)資料,完成標(biāo)準(zhǔn)草案的起草工作。

2021年12月,工作組針對(duì)標(biāo)準(zhǔn)草案文字、技術(shù)內(nèi)容進(jìn)行討論,并最終達(dá)成

共識(shí),形成標(biāo)準(zhǔn)征求意見(jiàn)稿的文本內(nèi)容,同時(shí)完成標(biāo)準(zhǔn)編制說(shuō)明。

2022年1月-3月,針對(duì)征求意見(jiàn)稿中的技術(shù)部分,開(kāi)展比對(duì)實(shí)驗(yàn)及數(shù)據(jù)統(tǒng)

計(jì)、分析。

2022年4月,組織召開(kāi)技術(shù)內(nèi)容研討會(huì),完善主要技術(shù)要求條款,形成標(biāo)

準(zhǔn)送審稿。

2022年6月,召開(kāi)標(biāo)準(zhǔn)送審稿的審查會(huì)議。

三、國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)編制原則

起草工作組成員首先查閱了標(biāo)準(zhǔn)編寫應(yīng)依據(jù)的有關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),以進(jìn)一步熟悉

標(biāo)準(zhǔn)編寫的基本要求。在技術(shù)方面,通過(guò)圖書(shū)館和互聯(lián)網(wǎng)廣泛查閱了國(guó)內(nèi)外相關(guān)

資料文獻(xiàn)和技術(shù)標(biāo)準(zhǔn),開(kāi)展標(biāo)準(zhǔn)的起草工作。本標(biāo)準(zhǔn)起草中所依據(jù)的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)、

資料如下:

標(biāo)準(zhǔn)中相應(yīng)

依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)編號(hào)依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)名稱

的部分

1.《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分:標(biāo)

準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》

1.GB/T1.1-2020

標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)2.《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第2部分:以

2.GB/T1.2-2020

ISO/IEC標(biāo)準(zhǔn)化文件為基礎(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)化

文件起草規(guī)則》

標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)內(nèi)3.GB/T19627-2005/ISO133213.《粒度分析光子相關(guān)光譜法》

容4.GB/T29022-2012/ISO224124.《粒度分析動(dòng)態(tài)光散射法》

四、確定國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)主要內(nèi)容的論據(jù)

本標(biāo)準(zhǔn)編制原則符合國(guó)家的有關(guān)法規(guī)法律,編制格式符合GB/T1.1-2020《標(biāo)

準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分:標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》。

本標(biāo)準(zhǔn)主要規(guī)定了基于動(dòng)態(tài)光散射法原理的粒度分析儀的組成、功能要求、

性能要求、試驗(yàn)方法和檢驗(yàn)規(guī)則等技術(shù)要求。主要技術(shù)內(nèi)容適用于測(cè)量亞微米級(jí)

及納米級(jí)顆粒的平均粒徑和粒徑分布寬度的粒度分析儀。儀器的測(cè)量范圍在幾個(gè)

納米至大約1微米或至顆粒開(kāi)始沉降時(shí)的粒徑。

五、主要實(shí)驗(yàn)分析

實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)后續(xù)添加。

六、與國(guó)際同類標(biāo)準(zhǔn)水平對(duì)比情況

ISO13321規(guī)范了利用光子相關(guān)光譜法正確測(cè)定粒徑的必要步驟,所規(guī)定的

儀器僅限于測(cè)量低濃度樣品的粒度。ISO22412則建立了適于測(cè)定較寬濃度范圍

樣品的粒度,兩項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定內(nèi)容都只針對(duì)檢測(cè)的具體分析方法和過(guò)程,并未有

該類設(shè)備的關(guān)鍵技術(shù)要求相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)文件。

七、與有關(guān)的現(xiàn)行法律、法規(guī)和強(qiáng)制性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的關(guān)系

編制格式符合GB/T1.1-2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分:標(biāo)準(zhǔn)化文件的

結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》、GB/T1.2-2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第2部分:以ISO/IEC標(biāo)

準(zhǔn)化文件為基礎(chǔ)的標(biāo)準(zhǔn)化文件起草規(guī)則》等有關(guān)規(guī)定。

本標(biāo)準(zhǔn)與我國(guó)現(xiàn)行的法律、法規(guī)和其它強(qiáng)制性標(biāo)準(zhǔn)沒(méi)有沖突。建議本標(biāo)準(zhǔn)

作為推薦性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。

八、重大分歧意見(jiàn)的處理經(jīng)過(guò)和依據(jù)

本標(biāo)準(zhǔn)文件的編制過(guò)程暫未出現(xiàn)重大分歧意見(jiàn)。

九、國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)作為強(qiáng)制性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)或推薦性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的建議

建議將本標(biāo)準(zhǔn)作為推薦性國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)。

十、貫徹國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的要求和措施建議(包括組織措施、技術(shù)

措施、過(guò)渡辦法等內(nèi)容)

貫徹該國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)旨在為基于動(dòng)態(tài)光散射法的粒度儀提供規(guī)范、統(tǒng)一的技術(shù)要

求,明確此類方法的測(cè)量范圍及有效的、可驗(yàn)證的技術(shù)指標(biāo),促進(jìn)納米粒度儀的

技術(shù)參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)化、規(guī)范化。為廣大從事納米顆粒測(cè)試技術(shù)研究、生產(chǎn)制造和應(yīng)用

的相關(guān)人員提供規(guī)范的指導(dǎo)工具,進(jìn)而促進(jìn)我國(guó)納米粒度儀相關(guān)領(lǐng)域的產(chǎn)業(yè)發(fā)展。

十一、廢止現(xiàn)行有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的建議

無(wú)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn),本款不適用。

十二、其他應(yīng)予說(shuō)明的事項(xiàng)

本標(biāo)準(zhǔn)頒布機(jī)構(gòu)不承擔(dān)與本標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)的任何專利文獻(xiàn)檢索,如審閱人發(fā)現(xiàn)與

本標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)的任何專利信息,請(qǐng)隨征求意見(jiàn)稿、送審稿、報(bào)批稿一并提交給本標(biāo)

準(zhǔn)頒布機(jī)構(gòu),如需要查詢與本標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)的專利信息,請(qǐng)直接與專利權(quán)人聯(lián)系。

納米技術(shù)

動(dòng)態(tài)光散射法粒度分析儀技術(shù)要求

Nanotechnologies—

Technicalrequirementsfordynamiclightscattering

particlesizeanalyzers

編制說(shuō)明

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)起草工作組

2021年12月8日

一、編制標(biāo)準(zhǔn)的目的和意義

(一)項(xiàng)目的必要性、可行性、適用范圍,擬要解決的主要問(wèn)題:

近年來(lái),隨著納米科學(xué)和技術(shù)的迅速發(fā)展,納米材料的顆粒分布以及顆粒大

小已經(jīng)成為納米材料表征的重要指標(biāo)之一,在納米材料分析和研究中,經(jīng)常遇到

的納米顆粒通常是指顆粒尺寸為納米量級(jí)(1~100nm)的超細(xì)微粒。納米材料的

粒度分析是納米材料研究的一個(gè)重要方面,顆粒的尺寸、形狀、表面特性等參數(shù)

將顯著影響其物理化學(xué)特性,因此在應(yīng)用中需要對(duì)粒徑進(jìn)行嚴(yán)格而準(zhǔn)確的測(cè)量監(jiān)

控。

激光粒度分析儀是目前專門用于顆粒粒度測(cè)量的儀器,按其分析粒度范圍不

同,又劃分為激光衍射法和動(dòng)態(tài)光散射法。激光衍射法主要針對(duì)微米、亞微米級(jí)

顆粒,動(dòng)態(tài)光散射法則主要針對(duì)亞微米級(jí)、納米級(jí)顆粒的粒度分析。采用動(dòng)態(tài)光

散射法無(wú)需在測(cè)量前進(jìn)行繁瑣的樣品處理,只需要將顆粒進(jìn)行合理的稀釋和分散,

因而測(cè)量更加方便、迅速、無(wú)損,測(cè)量范圍更廣泛。

各種粒度分析方法的物理基礎(chǔ)不同,同一樣品用不同的測(cè)量方法得到的粒徑

的物理意義甚至粒徑大小也不同,此外,不同的粒度分析方法的使用范圍也不統(tǒng)

一。因此,根據(jù)被測(cè)對(duì)象特點(diǎn)、設(shè)備的技術(shù)要求等選擇合適的儀器十分必要,而

制定基于此類設(shè)備的技術(shù)要求標(biāo)準(zhǔn)就顯得極為重要和迫切。

該項(xiàng)工作的開(kāi)展,是對(duì)現(xiàn)有國(guó)際、國(guó)內(nèi)技術(shù)文件的補(bǔ)充,一方面能夠促使國(guó)

內(nèi)外的儀器生產(chǎn)廠家在研制此類設(shè)備時(shí),都能夠遵循統(tǒng)一的技術(shù)要求,實(shí)現(xiàn)粒度

儀的技術(shù)參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)化、評(píng)價(jià)要求規(guī)范化,另一方面也能夠?yàn)楦黝I(lǐng)域的人員正確選

擇和使用粒度儀提供科學(xué)依據(jù)和權(quán)威文件,切實(shí)解決市場(chǎng)和貿(mào)易中供需雙方的實(shí)

際需求。

(二)技術(shù)的先進(jìn)性、創(chuàng)新性和產(chǎn)業(yè)化情況:

動(dòng)態(tài)光散射法對(duì)納米顆粒粒徑測(cè)量的基本原理為:溶液中顆粒會(huì)使入射至其

上的激光向四周發(fā)生散射,不同顆粒的散射光信號(hào)互相干涉疊加,可在各方向觀

測(cè)到或明或暗的光信號(hào)。由于顆粒在溶液中做布朗運(yùn)動(dòng),觀測(cè)到的散射光信號(hào)的

強(qiáng)弱也會(huì)隨時(shí)間而波動(dòng)。小顆粒運(yùn)動(dòng)快,光散射信號(hào)波動(dòng)快;大顆粒運(yùn)動(dòng)慢,光

散射信號(hào)波動(dòng)慢。由于布朗運(yùn)動(dòng)為隨機(jī)運(yùn)動(dòng),如果對(duì)這些散射信號(hào)做自相關(guān)運(yùn)算,

那么信號(hào)的相關(guān)性將隨時(shí)間而衰減。小顆粒運(yùn)動(dòng)快,信號(hào)衰減快;大顆粒運(yùn)動(dòng)慢,

信號(hào)衰減慢??紤]散射區(qū)域內(nèi)顆粒運(yùn)動(dòng)到特定位置的概率密度分布及其對(duì)光的散

射疊加模型,自相關(guān)函數(shù)可以通過(guò)指數(shù)衰減模型進(jìn)行描述。因此,通過(guò)采集光散

射信號(hào)并對(duì)其進(jìn)行自相關(guān)處理,進(jìn)而采用顆粒粒徑反演算法擬合求解指數(shù)衰減的

自相關(guān)函數(shù),即可得到顆粒粒徑的值。

目前我國(guó)在開(kāi)展動(dòng)態(tài)光散射法測(cè)量顆粒粒徑方面的研究也取得了一系列成果,

在商用儀器的研制方面,也具有相對(duì)成熟的動(dòng)態(tài)光散射儀研發(fā)技術(shù),近年來(lái)已逐

步出現(xiàn)我國(guó)自主研發(fā)的動(dòng)態(tài)光散射測(cè)量顆粒粒徑的產(chǎn)品,但相關(guān)產(chǎn)業(yè)需求依舊很

大,未來(lái)對(duì)儀器和技術(shù)的市場(chǎng)要求仍然維持高位。

(三)國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)一致性程度,同步制定為國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的可行性;

動(dòng)態(tài)光散射法粒度分析儀已成為測(cè)量亞微米及納米級(jí)顆粒粒度的一種常規(guī)

儀器,在現(xiàn)有的國(guó)際、國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和檢定規(guī)程中,GB/T19627-2005/ISO13321規(guī)

范了利用光子相關(guān)光譜法正確測(cè)定粒徑的必要步驟,所規(guī)定的儀器僅限于測(cè)量低

濃度樣品的粒度。GB/T29022-2012/ISO22412則建立了適于測(cè)定較寬濃度范圍

樣品的粒度,兩項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定內(nèi)容都只針對(duì)檢測(cè)的具體分析方法和過(guò)程。JJG

1104-2015動(dòng)態(tài)光散射粒度儀檢定規(guī)程規(guī)定了設(shè)備的計(jì)量性能要求,以使實(shí)驗(yàn)室

在使用儀器開(kāi)展實(shí)驗(yàn)的過(guò)程中,能夠在測(cè)量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確度和再現(xiàn)性上有良好的一

致性。

雖然在多個(gè)國(guó)家和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)中均提到亞微米級(jí)顆粒粒度分析時(shí)應(yīng)使用粒度分

析儀,但都缺乏該類設(shè)備的關(guān)鍵技術(shù)要求。

針對(duì)粒度測(cè)量技術(shù)參數(shù)不統(tǒng)一、沒(méi)有統(tǒng)一的性能評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)的現(xiàn)狀,而技術(shù)指

標(biāo)又影響著顆粒的眾多性質(zhì),加上該類設(shè)備所涉及到的行業(yè)眾多,很難用行業(yè)標(biāo)

準(zhǔn)和團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)解決實(shí)際問(wèn)題,因此我們提出制定針對(duì)動(dòng)態(tài)光散射法粒度分析儀設(shè)

備自身的性能要求和評(píng)價(jià)的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),在技術(shù)水平國(guó)內(nèi)外齊跑時(shí),引領(lǐng)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)

的制定。

二、工作簡(jiǎn)況

1任務(wù)來(lái)源

本任務(wù)來(lái)源于國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn)制定項(xiàng)目,項(xiàng)目編號(hào)

20212956-T-491。

2主要起草單位

本標(biāo)準(zhǔn)主要編制單位國(guó)家納米科學(xué)中心(以下簡(jiǎn)稱納米中心)是中國(guó)科學(xué)院

與教育部共建并具有獨(dú)立事業(yè)法人資格的全額撥

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