QBT 2270-1996 表用HPb60-2鉛黃銅板和帶

中華人民共和國輕工行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)表用HPb60-2鉛黃銅板和帶GB/T5122.2-1985黃銅化學(xué)分析方法電解ISO2624:1990CopperandCopperalloys-Estimationofaveragegrainsi中國輕工總會(huì)1997-01-27批準(zhǔn)1997-09-01實(shí)施>≤1級(jí)2級(jí)000 0000000000000000000000>≤1級(jí)0000000000于總重量的15%,長度不小于2000mm;3.3標(biāo)記用HPb60-2制成的厚度為0.65mm,寬度為60mm,長度為1000mm的硬態(tài)板材，厚度極限偏差其他元素含量(不大于)銅鉛鋅鐵鋁磷銻鉍總和硬(Y)特硬(T)6.2組批〇○△QO△△注：C表示必做的檢驗(yàn)項(xiàng)目；△表示協(xié)商確定的檢驗(yàn)項(xiàng)(標(biāo)準(zhǔn)的附錄)銅和銅合金——平均晶粒度的評(píng)定ISO(國際標(biāo)準(zhǔn)化組織)是國家標(biāo)準(zhǔn)團(tuán)體(ISO成員團(tuán)體)在世界范圍的聯(lián)合組織，制定國際標(biāo)準(zhǔn)的工作通常由ISO技術(shù)委員會(huì)來完成。對(duì)技術(shù)委員會(huì)所立項(xiàng)目感興趣的每個(gè)成員團(tuán)體有權(quán)參加該委員會(huì)。與ISO聯(lián)絡(luò)的國際組織、政府和非政府組織也可參加ISO的工作。在所有電工技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)方面，ISO與國際電工委員會(huì)(IEC)緊密合作。由技術(shù)委員會(huì)通過的國際標(biāo)準(zhǔn)草案在經(jīng)ISO理事會(huì)正式批準(zhǔn)為ISO標(biāo)準(zhǔn)前，要下發(fā)給成員團(tuán)體表決通過。按ISO的程序要求，至少有75%的成員團(tuán)體贊成才能通過。國際標(biāo)準(zhǔn)ISO2624是由技術(shù)委員會(huì)ISO/TC26起草的，銅和銅合金平均晶粒度評(píng)定方法。第二版對(duì)第一版(ISO2624;1973)作了一些修改，取消并替代了第一版。附錄A是本國際標(biāo)準(zhǔn)的一個(gè)組成部分。在金屬的一個(gè)磨片上，晶粒是晶體邊界范圍內(nèi)的那塊面積。對(duì)于使用本國際標(biāo)準(zhǔn)所在利用這些方法中，重要的是應(yīng)當(dāng)承認(rèn)晶粒度的估計(jì)不是準(zhǔn)確的測定。金屬組織結(jié)形狀的三維晶體的集合體，既使所有晶體的尺寸和形狀都是一樣的，在任一平面上(觀測表面)的各個(gè)晶在兩個(gè)觀測視場會(huì)是完全相同的。這種實(shí)踐上的原因決定了可能合理估算出的晶粒數(shù)小于統(tǒng)計(jì)上所希望的數(shù)。本國際標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于原則上為單一相的銅和銅合金的平均晶粒度，規(guī)定三種估算方對(duì)比法(把試樣和標(biāo)準(zhǔn)圖對(duì)比)對(duì)于大多數(shù)工業(yè)應(yīng)用是最為方便的，并具有相當(dāng)?shù)臏?zhǔn)確度。用交線法(Heyn海恩)或平面測量法(Jeffries澤福利斯)來估算晶粒度，可以得到較2符號(hào)和說明fmd!γ用平面測量法測定每1mm2上晶粒數(shù)時(shí)所用的Jeffries因子每1mm2的晶粒數(shù)3.1晶粒度應(yīng)在每個(gè)試樣磨片上的三個(gè)或更多個(gè)有代表性的視場上進(jìn)行估算。對(duì)于已知的等軸晶結(jié)構(gòu)，只需要在試樣上取一個(gè)有代表性的磨片；而對(duì)于非等軸晶或未知晶粒結(jié)構(gòu)，應(yīng)當(dāng)制備相互成直角的4.1對(duì)比法晶粒度的估算是：把試樣有代表性視場上的顯微照像的投影圖像，和標(biāo)準(zhǔn)晶粒度顯微照象圖直接對(duì)比，或和適當(dāng)?shù)膹?fù)制品直接對(duì)比(關(guān)于標(biāo)準(zhǔn)晶粒圖見附錄);當(dāng)投影顯微鏡不具備時(shí)，可以采用臺(tái)式顯徽鏡。為了方便對(duì)比，建議做一些機(jī)被裝置，能夠把標(biāo)準(zhǔn)顯微照像陸續(xù)移到和投影圖4.2交線法至少要截取10個(gè)晶粒，全部直線應(yīng)不少于50個(gè)；對(duì)于仲裁目的，則不少于200個(gè)。被直線端部觸及的晶粒，只算半個(gè)晶粒。在磨片表面上一條直線或幾條直線的長度(mm),除以直線切割的晶粒數(shù)得到每1mm2晶粒數(shù)的Jeffries因子f1*在75真徑放大倍數(shù)下，如果面積采用5625mm2(圓環(huán)直徑為84.5mm),Jeffries因子f將等于1。或400倍時(shí)以2去除在200倍下的晶粒度。由此，在250倍下與75倍下標(biāo)準(zhǔn)圖的晶粒度0.050相對(duì)應(yīng)的晶粒度就是0.015mm(在25倍下的0.150除以10)。表2在各種放大倍數(shù)下觀測的試樣真實(shí)晶粒度和顯微照像的標(biāo)準(zhǔn)圖之間的對(duì)應(yīng)關(guān)系×75(標(biāo)準(zhǔn))一一 在非等軸晶材料中，當(dāng)用交線法時(shí)，應(yīng)當(dāng)報(bào)告三個(gè)方向上的結(jié)果，或者取單獨(dú)的視場，或是報(bào)出每一5.3混合晶粒度標(biāo)準(zhǔn)晶粒度圖(×75)圖A1直徑為0.200mm平均晶粒圖A2直徑為0.15mm平均晶粒圖A7直徑為0.050mm平均晶粒圖A8直徑為0.045mm平均晶粒圖A9直徑為0.035mm平均晶粒