JBT 9340-2024《光切顯微鏡》規(guī)范

ICS標引序號CCSN34JB代替JB/T9340-1999IJB/T9340—XXXX前言 V 2規(guī)范性引用文件 3術(shù)語和定義 4分類和基本參數(shù) 4.1分類 4.2基本參數(shù) 24.3附件 25技術(shù)要求 25.1主要技術(shù)指標 25.2光學系統(tǒng)的質(zhì)量 35.3電氣安全性能 35.4外觀及各部分相互作用 35.5運輸貯存基本環(huán)境試驗 46試驗方法 錯誤！未定義書簽。6.1試驗條件 46.2示值誤差 46.3測微目鏡的示值誤差 56.4狹縫像兩側(cè)邊的平直性 56.5狹縫像兩側(cè)邊平行度 56.6狹縫像的場曲 66.7顯微標尺的刻線間隔誤差 66.8工作臺臺面相對于其移動方向的平行度 76.9V形塊工作面相對于工作臺移動方向的平行度 76.10在儀器上，各倍率物鏡光軸位置的最大差異 86.11鏡箱兩側(cè)承受20N壓力時光軸位置的側(cè)移 86.12照相光路視場相對于目測光路視場的中心位置偏差 86.13光學系統(tǒng)的質(zhì)量 96.14電氣安全性能試驗 96.15外觀及各部分相互作用 6.16運輸環(huán)境試驗 7檢驗規(guī)則 7.1檢驗分類 7.2出廠檢驗（即交貨檢驗） 7.3型式檢驗 8標志、包裝、運輸及貯存 JB/T9340—XXXX8.1標志 8.2包裝 8.3運輸 8.4貯存 附錄A（資料性）測微目鏡鼓輪分度值的標定方法 12JB/T9340—XXXX本文件按照GB/T1.1—2020《標準化工作導(dǎo)則第1部分：標準化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。本文件代替JB/T9340-1999《光切顯微鏡》。本文件與JB/T9340-1999相比，除結(jié)構(gòu)調(diào)整和編輯性改動外，主要技術(shù)變化如下：a)更改了標準的適用范圍，刪除了適用參數(shù)RY，增加了適用參數(shù)RC（見第1章）；b)增加了“術(shù)語和定義”一章（見第3章）；c)增加了“分類”一章（見第4章將“十字線分劃板測微目鏡”型和“水平線分劃板測微目鏡”型，分別改稱為“十字線測微目鏡型”和“單線測微目鏡型”（見第4章，1999年版）；d)刪除了基本參數(shù)名稱“顯微鏡物鏡放大率”、“顯微鏡總放大率”和“顯微鏡物方視場”中的“顯微鏡”三字（見表1序1、2、4，1999年版的表1序1、2、4）；e)將基本參數(shù)“物鏡與工件的工作距離”（1999年版的表1序5）更改為“物鏡到被測表面的工作距離”（見表1序5）；f)更改了技術(shù)要求中對表面粗糙度RZ測量范圍的表述（見表1序6，1999年版的表1序6）；g)增加了顯微標尺的基本參數(shù)（見表1序7、8、9）；h)將技術(shù)要求“狹縫像的垂直方向的彎曲量”（見1999年版的4.3）更改為“狹縫像的場曲”（見）；i)將技術(shù)要求“物鏡定位應(yīng)可靠，當更換不同倍數(shù)物鏡時，像的最大位移”（見1999年版的4.5）更改為“各倍率物鏡光軸位置的最大差異”（見表2序9），并更改了試驗方法（見6.10）；j)將技術(shù)要求“托架兩側(cè)受力19.6N壓力時像的位移”（見1999年版的4.6）更改為“鏡箱兩側(cè)承受20N壓力時，光軸位置的側(cè)移”(見表2序10)，并更改了測量器具（見6.11,1999年版的5.7.1）；k)將技術(shù)要求“儀器的相對示值誤差”（見1999年版的4.8）更改為“示值最大允許誤差”（見）；l)將技術(shù)要求“測微目鏡的準確度”（見1999年版的4.10）更改為“測微目鏡的示值最大允許誤差”（見表2序2）；m)將“標準分劃尺”（見1999年版的4.12、5.2.1等）和“專用分劃尺（見1999年版的5.2.2）”統(tǒng)一更改為“顯微標尺”（見表2序6）；將對該尺的要求“任意兩分劃線間距的極限誤差不應(yīng)超過±0.005mm（見1999年版的4.1.2）”更改為“刻線間隔誤差≤0.001mm”（見表2序6）n)增加了檢驗所采用物鏡的規(guī)定（見6.1.3）；o)更改了照相光路的試驗方法（見6.12，1999年版的5.8）；p)增加了電氣安全性能的要求和試驗方法（見5.3、6.14）；q)將測微目鏡鼓輪分度值的標定方法從正文移到附錄A（見附錄A，1999年版的5.9.2）。請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔識別專利的責任。本文件由中國機械工業(yè)聯(lián)合會提出。本文件由全國光學和光子學標準化技術(shù)委員會（SAC/TC103）歸口。本文件起草單位：貴陽新天光電科技有限公司、上海理工大學、貴州省光學測量工程技術(shù)研究中心、河南省計量科學研究院、南京江南永新光學有限公司、蘇州慧利儀器有限責任公司、南京東利來光電實業(yè)有限責任公司、寧波永新光學股份有限公司、寧波湛京光學儀器有限公司、廣州粵顯光學儀器有限責任公司、寧波舜宇儀器有限公司、寧波市教學儀器有限公司、梧州奧卡光學儀器有限公司、麥克奧迪實業(yè)集團公司、寧波華光精密儀器有限公司、重慶奧特光學儀器有限責任公司。本文件主要起草人：胡清、馮瓊輝、羅武勇、張衛(wèi)東、李晞、韓森、洪宜萍、毛磊、鮑金權(quán)、徐濤、胡森虎、張琪、張景華、章光偉、徐利明、吳國民。本文件及其所代替文件的歷次版本發(fā)布情況為：——1973年首次發(fā)布為ZBN33005-73；JB/T9340—XXXX——1988年第一次修訂，發(fā)布為ZBN33005-88；——1999年第二次修訂，發(fā)布為JB/T9340—1999；——本次為第三次修訂。VJB/T9340—XXXX光切顯微鏡用于測量零部件表面粗糙度和表面缺陷，廣泛用于機械制造業(yè)，是保證產(chǎn)品質(zhì)量不可缺少的測量儀器。本文件規(guī)定了光切顯微鏡的分類、基本參數(shù)和技術(shù)要求，描述了相應(yīng)的試驗方法，規(guī)定了檢驗規(guī)則、標志、包裝、運輸及貯存，為光切顯微鏡的設(shè)計、制造、檢驗提供了依據(jù)，其目的是促使光切顯微鏡產(chǎn)品實現(xiàn)標準化、規(guī)范化，同時為儀器量值準確和產(chǎn)品質(zhì)量提供可靠保證。JB/T9340-1999《光切顯微鏡》發(fā)布實施已二十余年，由于技術(shù)的發(fā)展、產(chǎn)品市場的變化和相關(guān)標準的更新，已不能適應(yīng)產(chǎn)業(yè)現(xiàn)狀，有必要修訂完善，以不斷適應(yīng)產(chǎn)業(yè)發(fā)展新需求。本次對JB/T9340的修訂，明確了產(chǎn)品分類，解決了與表面粗糙度現(xiàn)行國家標準和光切顯微鏡國家計量檢定規(guī)程的協(xié)調(diào)問；補充和完善了產(chǎn)品的試驗方法，從而對滿足市場需求、指導(dǎo)產(chǎn)品生產(chǎn)、提升產(chǎn)品技術(shù)性能和質(zhì)量水平，促進產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展提供可靠的技術(shù)支撐。1JB/T9340—XXXX光切顯微鏡本文件規(guī)定了光切顯微鏡的分類、基本參數(shù)和技術(shù)要求，描述了相應(yīng)的試驗方法，規(guī)定了檢驗規(guī)則、標志、包裝、運輸及貯存。本文件適用于采用光切原理測量表面粗糙度的幅度參數(shù)輪廓最大高度（Rz）和輪廓單元的平均高度（Rc）的光切顯微鏡的制造。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。GB/T191包裝儲運圖示標志GB/T2828.1計數(shù)抽樣試驗程序第1部分：按接收質(zhì)量限(AQL)檢索的逐批檢驗抽樣計劃GB/T6388運輸包裝收發(fā)標志GB/T9969工業(yè)產(chǎn)品使用說明書總則GB/T11162光學分劃零件通用技術(shù)條件GB/T14436工業(yè)產(chǎn)品保證文件總則GB/T15464儀器儀表包裝通用技術(shù)條件GB/T25480-2010儀器儀表運輸、貯存基本環(huán)境條件及檢驗驗方法3術(shù)語和定義本文件沒有需要界定的術(shù)語和定義。4分類和基本參數(shù)4.1分類依據(jù)所采用測微目鏡的不同形式，光切顯微鏡（以下簡稱：儀器）具有下列兩種類型：r)單線測微目鏡型；其特征是：目鏡視場內(nèi)僅具有一條瞄準線，線的方向與測微鼓輪軸線垂直（見）；s)十字線測微目鏡型；其特征是：目鏡視場內(nèi)具有十字瞄準線，線的方向與測微鼓輪軸線夾角為45°（見圖1b）。2JB/T9340—XXXX4.2基本參數(shù)儀器的基本參數(shù)如表1所示。1-2 3 4Φ2.5Φ1.3Φ0.6567894.3附件儀器附件包括V形塊、顯微標尺、照相裝置等，由制造商提供。5技術(shù)要求5.1主要技術(shù)指標儀器的主要技術(shù)指標應(yīng)符合表2中的規(guī)定。1----23-4567893JB/T9340—XXXX5.2光學系統(tǒng)的質(zhì)量5.2.1光學零件的表面不應(yīng)有明顯的擦痕、麻點、水珠、霉點等疵??；光學零件的膠合面不應(yīng)有氣泡和脫膠現(xiàn)象。光學分劃元件的技術(shù)要求應(yīng)符合GB/T11162的規(guī)定。5.2.2視場內(nèi)不應(yīng)有影響觀察的陰影、亮斑和異物。光學系統(tǒng)成像應(yīng)無視差；當狹縫像位于視場中央時，被測表面紋理像、狹縫像、分劃板瞄準線和刻度應(yīng)能調(diào)整至同時清晰。5.2.3光學系統(tǒng)成像應(yīng)無明顯畸變；當觀測顯微標尺時，視場內(nèi)的刻線應(yīng)無明顯傾斜或扇形分布現(xiàn)象。5.2.4當測微目鏡鼓輪示值為0時，視場分劃板的一條刻度應(yīng)位于雙套線內(nèi)（指十字線測微目鏡），或瞄準線與視場分劃板的一條刻度基本重合（指單線測微目鏡）。5.2.5照相光路視場中的像應(yīng)與目鏡視場中的像同時清晰。5.3電氣安全性能5.3.1耐壓耐壓試驗的試驗電壓應(yīng)符合表3的規(guī)定。對受試儀器施加電壓，保持5s，應(yīng)無擊穿和飛弧現(xiàn)象。交流、直流試驗方式可任選其一，能通過二者之一即可。一般情況選擇交流試驗；如果為了避免容性電流，可選擇直流試驗。VVVV5.3.2泄漏電流受試儀器在常溫常濕條件下的泄漏電流不應(yīng)大于1mA。5.3.3接地電阻帶有電源輸入插座的受試儀器，在插座中的保護接地點與受試儀器所有可能被觸及部位之間的接地電阻不大于0.1Ω。帶有不可拆卸電源線的受試儀器，電源線插頭中的保護接地腳與受試儀器所有可能被觸及部位之間的接地電阻不大于0.2Ω。5.4外觀及各部分相互作用5.4.1儀器外表需保證下列質(zhì)量：電鍍表面不應(yīng)有脫皮和斑點存在；漆面不應(yīng)有磕碰傷和顯著的顏色不均勻；零件表面不應(yīng)有毛刺；外部零件銳邊應(yīng)倒棱；零件接合處應(yīng)齊整。5.4.2裸露金屬面不應(yīng)有銹蝕、碰傷和顯著的劃痕，以及影響測量的其它缺陷。5.4.3所有緊固零件應(yīng)保證緊固可靠。5.4.4儀器上所有刻度、刻字以及銘牌標記應(yīng)清晰、明顯。5.4.5各活動部分的移動和轉(zhuǎn)動應(yīng)平穩(wěn)舒適，不應(yīng)有卡住和急跳現(xiàn)象。5.4.6所有附件裝卸和調(diào)整應(yīng)方便、可靠。4JB/T9340—XXXX5.5運輸貯存基本環(huán)境試驗儀器在運輸包裝條件下的環(huán)境模擬試驗應(yīng)按GB/T25480的規(guī)定。其中選用：高溫+55℃,低溫-40℃,交變濕熱試驗相對濕度95%，自由跌落4次，跌落高度按包裝件質(zhì)量選定。6試驗方法6.1試驗條件6.1.1儀器檢驗溫度條件應(yīng)符合表4的規(guī)定。6.1.2供電電源交流電壓（220±22）V。6.1.3各項檢驗，若未加說明，均采用7×物鏡執(zhí)行。1℃23h4h6.2示值誤差6.2.1測量器具單刻線樣板，其刻線深度要求如表5所示。12346.2.2試驗程序?qū)慰叹€樣板（簡稱樣板）放在儀器工作臺上，調(diào)整儀器，使樣板工作區(qū)內(nèi)的狹縫像穿過單刻線所形成的光帶峰成像在目鏡視場中央；轉(zhuǎn)動儀器工作臺或樣板，使樣板單刻線像垂直于狹縫像；選擇狹縫像的一側(cè)，仔細調(diào)整焦距，使樣板表面紋理像落在該側(cè)邊上，并使該側(cè)邊成像最清晰。調(diào)整測微目鏡鼓輪的方向，使視場中的瞄準線與狹縫像平行。轉(zhuǎn)動測微目鏡鼓輪，用視場中的瞄準線分別瞄準狹縫像側(cè)邊的峰頂（如圖1所示）和峰底，分別讀取測微目鏡示值，按公式（1）或（2）計算所測得的樣板單刻線的深度。適用于十字線測微目鏡）.......................................(1)適用于單線測微目鏡）...........................................(2)式中：h——所測得的樣板單刻線深度，單位為微米(μm）；a1——瞄準峰頂時，測微目鏡讀數(shù)，以鼓輪格數(shù)為單位；a2——瞄準峰底時，測微目鏡讀數(shù)，以鼓輪格數(shù)為單位；c——當前物鏡條件下測微目鏡的鼓輪分度值（獲得方法見附錄A），單位為微米(μm）。5JB/T9340—XXXX每次調(diào)焦后，按以上程序重復(fù)測量3次；共進行3次調(diào)焦，取9次測量的平均值作為當前物鏡條件下，樣板單刻線深度的測得值hC。按公式（3）計算當前物鏡條件下，儀器的示值誤差?！?00%..........................................................................式中：Δh——算當前物鏡條件下，儀器的示值誤差，單位為微米（μmhC——樣板單刻線深度的測得值，單位為微米（μm）；hS——單刻線樣板檢定證書給定的單刻線深度，單位為微米（μm）；。用表5規(guī)定的單刻線樣板，按以上程序?qū)Π惭b7×、14×、30×、60×物鏡條件下的儀器進行檢驗。6.3測微目鏡的示值誤差6.3.1測量器具萬能工具顯微鏡6.3.2試驗程序?qū)y微目鏡從儀器上拆下，擰出目鏡頭后，出口朝上放在萬能工具顯微鏡的工作臺上，調(diào)整萬能工具顯微鏡焦距，使測微目鏡的瞄準線成像清晰；調(diào)整測微目鏡鼓輪軸線方向，使瞄準線移動方向平行于萬能工具顯微鏡的X坐標方向，然后將測微目鏡固定。將測微目鏡示值調(diào)整至零位。用萬能工具顯微鏡的目鏡米字線交點瞄準測微目鏡的瞄準線中點（或交點讀取萬能工具顯微鏡X坐標示值x0。依次地將測微目鏡示值調(diào)整至1.00，2.00，3.00，3.50，4.00，4.25，4.50，4.75，5.00，5.50，6.00，7.00，8.00，重復(fù)以上瞄準過程，依次讀取萬能工具顯微鏡X坐標示值x1，x2，x3，……，xi，……xn，按公式（4）計算測微目鏡各被檢點的示值誤差。Δxi=Aixix0...........................................................................式中：i——測微目鏡第i個被檢點的示值誤差，單位為毫米（mmxi——測微目鏡第i個被檢點的萬能工具顯微鏡X坐標示值，單位為毫米（mmx0——測微目鏡示值零點時，萬能工具顯微鏡X坐標示值，單位為毫米（mmAi——測微目鏡第i個被檢點的示值，鼓輪分度值以0.01mm計。以所有示值誤差中的最大值與最小值的代數(shù)差作為測微目鏡全部測量范圍內(nèi)的最大示值誤差。以測微目鏡示值在4.00，4.25，4.50，4.75，5.00區(qū)間內(nèi)示值誤差中的最大值與最小值的代數(shù)差作為測微目鏡鼓輪一周范圍內(nèi)的示值最大誤差。以上檢驗在測微目鏡鼓輪正轉(zhuǎn)和反轉(zhuǎn)方向分別進行。6.4狹縫像兩側(cè)邊的平直性6.4.1測量器具(5~10)mm的3級量塊。6.4.2試驗程序?qū)⒘繅K工作面朝上放在儀器工作臺上，調(diào)整儀器，使經(jīng)量塊工作面反射的狹縫像成像在目鏡視場中央。仔細調(diào)整焦距，使狹縫像側(cè)邊成像最清晰，轉(zhuǎn)動測微目鏡，使視場內(nèi)的瞄準線與狹縫像的一個側(cè)邊平行，轉(zhuǎn)動測微目鏡鼓輪，使瞄準線與狹縫像側(cè)邊相切，二者應(yīng)完全吻合，不允許有漏光現(xiàn)象存在。按以上程序?qū)ΚM縫像另一側(cè)側(cè)邊進行檢驗。6.5狹縫像兩側(cè)邊平行度6.5.1測量器具6.5.2試驗程序6JB/T9340—XXXX儀器調(diào)整狀態(tài)同6.4.2。用測微目鏡的瞄準線分別瞄準位于視場左邊緣的狹縫像上側(cè)邊和下側(cè)邊，讀取兩次瞄準測微目鏡鼓輪的格數(shù)差n1；再分別瞄準位于視場右邊緣的狹縫像上側(cè)邊和下側(cè)邊，讀取兩次瞄準測微目鏡鼓輪的格數(shù)差n2，按公式（5）計算狹縫像兩側(cè)邊的平行度。P=n-n×c...........................................................................式中：P——狹縫像兩側(cè)邊的平行度，單位為毫米（mmn1——瞄準位于視場左邊的狹縫像兩側(cè)邊，測微目鏡鼓輪的格數(shù)差；n2——瞄準位于視場右邊的狹縫像兩側(cè)邊，測微目鏡鼓輪的格數(shù)差；c——當前物鏡條件下測微目鏡的鼓輪分度值，單位為微米(μm）。6.6狹縫像的場曲6.6.1測量器具檢驗所用測量器具如下：a)帶專用夾頭的千分表；b)(5~10)mm的3級量塊。6.6.2試驗程序儀器調(diào)整狀態(tài)同6.4.2。將千分表借助夾頭固定在儀器立柱上，并使千分表測量頭與鏡箱頂面接觸（見圖2）。仔細調(diào)整焦距，使狹縫像側(cè)邊在視場中央部分成像最清晰，記錄千分表讀數(shù)；重新調(diào)整焦距，使視場邊緣處的狹縫像側(cè)邊成像最清晰；千分表與先前讀數(shù)的差異，就是狹縫像的場曲。按以上程序，對安裝30×、60×物鏡條件下的儀器進行檢驗。6.7顯微標尺的刻線間隔誤差6.7.1測量器具帶有高倍顯微鏡（總放大率不低于100×)和激光長度測量系統(tǒng)的儀器或測量裝置。6.7.2試驗程序JB/T9340—XXXX將顯微標尺放在長度測量系統(tǒng)的工作臺上，校正顯微標尺首尾刻線的線端連線與系統(tǒng)的測量方向平行；用高倍顯微鏡瞄準顯微標尺零刻線，將激光長度測量系統(tǒng)示值清零。依次地瞄準標尺的每一條刻線，在激光長度測量系統(tǒng)上依次地讀取長度示值l1，l2，l3，……，li，……l100，按公式計算各條刻線的位置誤差。以所有刻線位置誤差中的最大值與最小值的代數(shù)差作為顯微標尺的最大刻線間隔誤差。Δli=li-Li...............................................................................(６)式中：i——第i條刻線的位置誤差，單位為毫米（mmli——瞄準第i條刻線時，激光長度測量系統(tǒng)的示值，單位為毫米（mmLi——第i條刻線的標稱位置，單位為毫米（mm）。6.8工作臺臺面相對于其移動方向的平行度6.8.1測量器具6.8.2試驗程序?qū)㈢R箱繞立柱轉(zhuǎn)向一側(cè)，在工作臺上方留出空間；將千分表借助夾頭固定在儀器立柱上（見圖3并使千分表測量頭與工作臺臺面接觸。轉(zhuǎn)動工作臺微分筒，使工作臺移動3mm，讀取千分表示值變化量，該變化量就是工作臺臺面相對于其移動方向的平行度。工作臺的X、Y移動方向，均應(yīng)進行檢驗。6.9V形塊工作面相對于工作臺移動方向的平行度6.9.1測量器具檢驗所用測量器具如下:a)同6.6.1a)；b)圓柱度公差小于0.002mm的Φ10mm量棒。6.9.2試驗程序?qū)㈢R箱繞立柱轉(zhuǎn)向一側(cè)，在工作臺上方留出空間；將量棒放在工作臺上的V形塊的V形槽內(nèi)。將千分表借助夾頭固定在儀器立柱上（見圖4并使千分表測量頭與量棒外圓最高點接觸。轉(zhuǎn)動工作臺微分筒，使工作臺沿量棒軸線方向移動3mm，讀取千分表示值變化量，該變化量就是V行槽工作面相對于工作臺移動方向的平行度。對于V形塊可以沿二個方向安裝的儀器，工作臺的X、Y移動方向，均應(yīng)進行檢驗。78JB/T9340—XXXX6.10在儀器上，各倍率物鏡光軸位置的最大差異6.10.1測量器具十字線分劃板6.10.2試驗程序在儀器上安裝60×物鏡；將十字線分劃板放在在儀器工作臺上，使其中一條刻線平行于視場中的狹縫像；調(diào)整測微目鏡，使其十字線與分劃板上的十字線相平行，并且示值為4.00。調(diào)節(jié)工作臺微分筒，使視場中兩組十字線重合，讀取工作臺微分筒示值（x1,y1)。再依次地換上30×、14×和7×物鏡，調(diào)焦使分劃板十字線成像清晰，然后調(diào)節(jié)工作臺微分筒，使視場中兩組十字線重合，讀取工作臺微分筒示值(x2,y2)、(x3,y3)、(x4,y4)。以x1，x2,x3,x4中的最大、最小值之差作為光軸位置沿狹縫長度方向上的最大差異；以y1，y2,y3,y4中的最大、最小值之差，作為光軸位置沿狹縫寬度方向上的最大差異。對于單線測微目鏡，檢驗時，將瞄準線先調(diào)整至與狹縫像垂直，對光軸位置沿狹縫長度方向上的差異進行檢驗；再將測微目鏡轉(zhuǎn)90。，使瞄準線與狹縫像平行，對光軸位置沿狹縫寬度方向上的差異進行檢驗。6.11鏡箱兩側(cè)承受20N壓力時光軸位置的側(cè)移6.11.1測量器具檢驗所測量器具如下：a)顯微標尺；b)測量范圍(0~20)N的推拉式測力計(簡稱測力計)。6.11.2試驗程序?qū)@微標尺放在儀器工作臺上，使其刻線垂直于狹縫像，并成像清晰。用測微目鏡瞄準線瞄準標尺的一條刻線；用測力計的推桿在鏡箱一側(cè)的中部施加20N推力并保持（見圖5），觀察視場中標尺刻線移動的格數(shù)，移動的格數(shù)乘以0.01mm，就是鏡箱一側(cè)承受20N壓力時的光軸位置側(cè)移；然后使測力計離開鏡箱，讀取撤離后側(cè)移的殘留量。該試驗程序應(yīng)在鏡箱兩側(cè)分別進行。6.12照相光路視場相對于目測光路視場的中心位置偏差6.12.1測量器具十字線分劃板6.12.2試驗程序9JB/T9340—XXXX將十字線分劃板放在儀器工作臺上，調(diào)整儀器，使分劃板上的十字線清晰地成像在目鏡視場正中央。在照相裝置像面窗口安置毛玻璃（指使用膠卷的相機用直尺度量十字線像相對于窗口中心的偏移量。對于采用數(shù)碼相機的儀器，可以直接在液晶顯示屏上觀察和度量。6.13光學系統(tǒng)的質(zhì)量以量塊工作面和顯微標尺作為儀器的觀測對象，在儀器輪流安裝7×、14×、30×、60×物鏡狀態(tài)下，目測進行檢驗。6.14電氣安全性能試驗6.14.1耐壓試驗6.14.1.1試驗工具具有耐壓檢測功能的測試儀，其測試電壓AC/DC范圍為(0～3)kV，變壓器容量500VA。6.14.1.2試驗程序在確認測試儀電源已斷開的情況下，將測試儀的高壓輸出線與受試儀器電源輸入端的相線L和中 性線N連接；將測試儀的另一測試線與受試儀器電源線的保護接地線PE連接，如圖6所示。然后接通 測試儀電源并將測試儀“電壓調(diào)節(jié)”旋鈕調(diào)整至0V。按下“啟動”按鈕，向電壓增大方向緩慢旋動“電 壓調(diào)節(jié)”旋鈕，在5s內(nèi)逐漸升至表3所規(guī)定的電壓值，保持5s（也可用定時開關(guān)再將“電壓調(diào)節(jié)”旋鈕向電壓減小方向旋至“0”位置，然后按下“復(fù)位”按鈕，切斷輸出電壓。6.14.2泄漏電流試驗6.14.2.1試驗工具具有泄漏電流檢測功能的測試儀，其測試電壓范圍為交流(110～260)V，漏電流測試范圍為(0～5)mA測量總阻為1.5KΩ,試驗變壓器容量為500VA。6.14.2.2試驗程序按下測試儀“預(yù)置”開關(guān)，進入“預(yù)置”狀態(tài)。將“測量總阻”置于1.5kΩ擋，然后按下“測量”開關(guān)，進入“測量”狀態(tài)。在確認測試儀電壓表指示為“0”，且測試紅燈不亮的情況下，將受試儀器電源線插頭插入測試儀面板上的“泄漏電流測試”插座，如圖7所示。打開受試儀器電源開關(guān)，按下測試儀“啟動”按鈕，向電壓增大方向緩慢旋動“電壓調(diào)節(jié)”旋鈕至輸入電壓達到受試儀器最高額定電壓的110%，保持1分鐘（也可用定時開關(guān)），讀取測試儀電流表顯示的泄漏電流值。JB/T9340—XXXX6.14.3接地阻抗試驗6.14.3.1試驗工具具有交流接地阻抗檢測功能的測試儀，其阻抗測試范圍為(0～0.6)Ω,測試電流范圍為(5～30)A。6.14.3.2試驗程序在確認測試儀電壓表指示為“0”，且測試紅燈不亮的情況下，將測試儀“電壓輸出”端的兩根測試線分別接至受試儀器電源輸入端的保護接地線PE和受試儀器基座裸露的金屬面上，如圖8所示。然后將測試電流調(diào)至25A，按下測試儀“啟動”按鈕，2s后，讀取接地電阻數(shù)值。6.15外觀及各部分相互作用以目測及手感進行檢驗。6.16運輸環(huán)境試驗在運輸包裝條件下按GB/T25480的規(guī)定進行試驗。7檢驗規(guī)則7.1檢驗分類產(chǎn)品的檢驗分為出廠檢驗和型式檢驗。7.2出廠檢驗（即交貨檢驗）7.2.1出廠檢驗的樣品數(shù)根據(jù)GB/T2828.1中的一般檢查水平Ⅰ、正常檢驗一次抽樣方案，或根據(jù)供需雙方協(xié)商確定。通常從正常檢驗開始，根據(jù)檢驗結(jié)果，隨時執(zhí)行GB/T2828.1規(guī)定的轉(zhuǎn)移規(guī)則。7.2.2出廠檢驗不包括5.6。7.3型式檢驗7.3.1產(chǎn)品的型式檢驗為可選項目，但產(chǎn)品符合下列情況之一時，必須進行型式檢驗：a)新產(chǎn)品或老產(chǎn)品轉(zhuǎn)廠生產(chǎn)的試制定型鑒定；b)正式生產(chǎn)后，如結(jié)構(gòu)、材料、工藝有較大改進，可能影響產(chǎn)品性能時；c)正常生產(chǎn)時，定期或積累一定產(chǎn)量后，應(yīng)周期性進行一次檢驗；d)產(chǎn)品長期停產(chǎn)后，恢復(fù)生產(chǎn)時；e)出廠檢驗結(jié)果與上次型式檢驗有較大差異時；f)國家質(zhì)量監(jiān)督機構(gòu)提出進行型式檢驗的要求時。JB/T9340—XXXX7.3.2型式檢驗應(yīng)對標準中的技術(shù)要求全部進行檢驗，檢驗樣品從已檢驗合格的產(chǎn)品批中隨機抽取。7.3.3型式檢驗的抽樣采用GB/T2829中的一次抽樣方案，各類不合格數(shù)以項目計，除5.4不允許不合格外，各類不合格項目類別、判斷水平DL、不合格質(zhì)量水平RQL和抽樣方案見表6。7.3.4型式檢