GBT 41654-2022 金屬和合金的腐蝕 在高溫腐蝕環(huán)境下暴露后試樣的金相檢驗方法

金屬和合金的腐蝕在高溫腐蝕環(huán)境下暴露后試樣的金相檢驗方法國家市場監(jiān)督管理總局國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會GB/T41654—2022/ISO26146:2012本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定本文件等同采用ISO26146:2012《金屬和合金的腐蝕在高溫腐蝕環(huán)境下暴露后試樣的金相檢驗工1GB/T41654—2022/ISO26146:2012金屬和合金的腐蝕在高溫腐蝕環(huán)境下下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中，注日期的引用文ISO3611產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)尺寸測量設(shè)備：外部測量用千分尺設(shè)計和計量特征[Geo-metricalproductspecifications(GPS)—Dimensionalmeasmeasurements—DesignandmetrologicalISO13385-1產(chǎn)品幾何技術(shù)規(guī)范(GPS)尺寸測量設(shè)備第1部分：兩腳規(guī)的設(shè)計和計量特征[Geometricalproductspecmetrologicalcharacteristicsofcallipers]圖1腐蝕后試樣中需測量的各層的示意圖2GB/T41654—2022/ISO26146:20涂層初始表面originalcoati在涂層和基體初始界面附近的區(qū)域，在暴露過程中，該區(qū)域涂層和基體的化學(xué)成分因擴散發(fā)生沉積物deposit在暴露前和/或暴露過程中與試樣表面接觸或沉積在試樣表面的化學(xué)活性液體或固體物質(zhì)。垂直于試樣表面的法線方向上金屬初始表面和涂層表3GB/T41654—2022/ISO0——初始；gb——晶界腐蝕；d——沉積物；5.1測試精度的最低要求是達到95%置信度時，被測材料損失不超過士5μm或5%。而該不確定度4GB/T41654—2022/ISO261試樣可具有足以保證暴露試驗前后在測試平面內(nèi)確定特定點位置的基準(zhǔn)位置?；鶞?zhǔn)標(biāo)識作為基準(zhǔn)點，用于確保在試樣的相同位置進行重復(fù)測試，可以通過采用基準(zhǔn)標(biāo)識和基準(zhǔn)槽槽根據(jù)試樣的幾何尺寸變化。塊狀試樣的基準(zhǔn)標(biāo)識和基準(zhǔn)槽見圖2,其他幾何尺寸的試樣可采用類似測量未腐蝕試樣的尺寸。在暴露試驗后待測量的區(qū)域內(nèi)宜選擇不少于8個等距離的位置進行尺寸測量。應(yīng)制備橫截面金相試樣確定暴露試驗后試樣的尺寸變化。制備橫截面金相試樣時宜非常小心，確保沿著平行于待測量的橫截面進行鑲樣和拋光，且保留所有腐蝕產(chǎn)物和沉積物。推薦橫截面金相試樣應(yīng)采用合適的涂層對試樣進行保護，以確保能保留試樣上的腐蝕產(chǎn)物和沉積物。根據(jù)測試的試樣試樣在鑲樣前后切割均可。棒狀和管狀試樣宜沿著垂直于主軸線方向切割成環(huán)形橫截面；盤狀試便為研磨和拋光留有足夠的去除量(見圖3)。鑲樣時宜使用一個或多個已知尺寸的人工樣品作基準(zhǔn)，以證明試樣被沿著5薦90°)的金屬薄片，將試樣放在金屬薄片彎曲角處。也可以在鑲樣時采用在試樣周圍放置多個球狀物的替代方法。使用基準(zhǔn)人工樣品檢查拋光時的對準(zhǔn)情況的示意圖見圖4。圖3有基準(zhǔn)標(biāo)識的試樣的截面切割步驟圖4運用基準(zhǔn)人工樣品確定拋光過程中試樣是否對準(zhǔn)的示意圖宜選擇低收縮率的鑲樣物質(zhì)，試樣宜穩(wěn)固地垂直于鑲樣模具表面。多孔氧化層材料的鑲樣推薦使用真空注入常溫固化樹脂的方式。研磨和拋光步驟根據(jù)試樣有所不同，但是要特別注意宜采用合適的潤滑劑，以防止溶解掉腐蝕產(chǎn)物6GB/T41654—2022/ISO7量。兩種試樣均應(yīng)測量不少于24次。與數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)偏差相關(guān)。任何非線性的偏離都意味著測試時由于點蝕、晶界腐蝕或其他原因造成的第端特征的生長速率相關(guān)。最可能的極值是每種特征的測量結(jié)果的最大值。對于本文件推薦的測量方法，真實的金屬損失極值有4%的可能性超過該值。8P/%6.3.1可使用X射線能譜儀(EDX)或X射線波譜儀(WDX)測試物相的局部成分。6.3.2可使用X射線衍射(XRD),采用晶體學(xué)測試方法進行相結(jié)構(gòu)分析。6.3.3可使用電子探針顯微分析(EPMA,WDX)測試合金貧化層。b)試樣形狀和尺寸；c)暴露試驗后識別出的各層的信息；d)按規(guī)定步驟進行測試的情況；e)試樣典型區(qū)域的橫截面微觀形貌圖。9GB/T41654—2022/ISO[1]ISO13573Corrosionofmetalsandalloys—Testmettingunderhigh-temperaturecorr[2]ISO21608:2012Corrosionofmetalsandalloys—Testmethodforioxidationtestingunderhigh-temper