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文檔簡介
橢偏儀性能測試
CSTM標(biāo)準(zhǔn)編制說明
一、目的和意義
橢偏儀是測量微納米尺度薄膜厚度的主要方法之一,具有測量精度高、非接
觸、無破壞且不需要真空等優(yōu)點,已被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、微電子、光電子、
材料、物理、化學(xué)、生物、醫(yī)藥等領(lǐng)域的研究、開發(fā)和制造過程中。膜厚的準(zhǔn)
確測量,對器件制造的一致性和可靠性起著決定性作用。因此,規(guī)范橢偏儀的
性能測試,對保證儀器性能可靠和薄膜厚度準(zhǔn)確測量的意義重大。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定
了橢偏儀的性能測試方法,通過制定該標(biāo)準(zhǔn),將統(tǒng)一橢偏儀的性能測試過程,
對科學(xué)研究、高新產(chǎn)業(yè)產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)量監(jiān)控具有指導(dǎo)作用,并推動和促進(jìn)橢偏
儀的推廣和應(yīng)用。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了橢偏儀的性能測試方法,通過制定該標(biāo)準(zhǔn),將統(tǒng)一橢偏儀的
性能測試過程,對科學(xué)研究、高新產(chǎn)業(yè)產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)量監(jiān)控具有指導(dǎo)作用,并推
動和促進(jìn)橢偏儀的推廣和應(yīng)用。
二、工作簡況
1任務(wù)來源
項目名稱:橢偏儀性能測試
任務(wù)來源:2019年CSTM制修訂計劃,立項批準(zhǔn)號:CSTMLX0000
00293-2019。
起草單位:中國計量科學(xué)研究院
歸口單位:CSTM
2編制和協(xié)作單位
中國計量科學(xué)研究院(以下簡稱“中國計量院”)成立于1955年,隸屬國家
市場監(jiān)督管理總局,是國家最高的計量科學(xué)研究中心和國家級法定計量技術(shù)機(jī)
構(gòu),屬社會公益型科研單位。建院以來,中國計量院瞄準(zhǔn)國際計量科學(xué)前沿,在
國家經(jīng)濟(jì)建設(shè)、社會發(fā)展和科技進(jìn)步中發(fā)揮了重要的支撐作用。中國計量院現(xiàn)有
國家計量基準(zhǔn)128項,標(biāo)準(zhǔn)359項,有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)1603項,國際計量局(BIPM)
公布的國際互認(rèn)的校準(zhǔn)和測量能力1574項,國際排名第三、亞洲排名第一。隨
著技術(shù)能力的持續(xù)提升,中國計量院的服務(wù)水平不斷增強(qiáng)。2018年,中國計量
院為社會提供30余萬臺/件儀器的量值傳遞與溯源服務(wù)。國家計量院作為國家最
高計量科學(xué)研究中心和國家級法定計量技術(shù)機(jī)構(gòu),擔(dān)負(fù)著確保國家量值統(tǒng)一和國
際一致、保持國家最高測量能力、支撐國家發(fā)展質(zhì)量提升、應(yīng)對新技術(shù)革命挑戰(zhàn)
等重要而光榮的使命。自1955年成立以來,國家計量院在推動我國科技創(chuàng)新、
經(jīng)濟(jì)社會發(fā)展和滿足國家戰(zhàn)略需求方面做出了重要貢獻(xiàn)。
3工作過程
2018年8月組建了標(biāo)準(zhǔn)起草工作組,由計量、檢測、研發(fā)及生產(chǎn)企業(yè)和應(yīng)
用企業(yè)的工作人員組成,包括具有標(biāo)準(zhǔn)制定經(jīng)驗的科研人員、分析技術(shù)人員。標(biāo)
準(zhǔn)起草工作組討論了具體的工作過程、擬定了相應(yīng)的工作計劃。經(jīng)過討論,標(biāo)準(zhǔn)
的名稱為《橢偏儀性能測試》,本標(biāo)準(zhǔn)的制定是為了統(tǒng)一橢偏儀的性能測試方法,
對推進(jìn)橢偏儀性能測試標(biāo)準(zhǔn)化具有積極的意義。具體工作計劃如下:
2018年8月,組建了標(biāo)準(zhǔn)起草工作組,由計量、檢測、研發(fā)及生產(chǎn)企業(yè)和
應(yīng)用企業(yè)的工作人員組成。標(biāo)準(zhǔn)起草工作組討論了具體的工作過程、擬定了相應(yīng)
的工作計劃。
2018年9月-2019年3月:標(biāo)準(zhǔn)起草單位參加由中國計量科學(xué)研究院主導(dǎo)的
石墨烯材料X射線衍射法的實驗及草案的編制。
2019年4月,標(biāo)準(zhǔn)草案完成。
2019年4月,標(biāo)準(zhǔn)草案通過立項函審,CSTM標(biāo)準(zhǔn)委員會批準(zhǔn)立項。
2020年10月,開展比對,回收數(shù)據(jù),整理數(shù)據(jù),形成征求意見稿。
2022年12月,計劃召開本標(biāo)準(zhǔn)的審查會。
2022年12月,計劃標(biāo)準(zhǔn)表決,報批,正式發(fā)布出版。
三、標(biāo)準(zhǔn)編制原則
標(biāo)準(zhǔn)中相應(yīng)的部分依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)編號依據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)名稱
標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)GB/T1.1–2009《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分:標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)和編寫》
國際單位ISO80000-1-2009《量和單位第1部分:總則》
“參考文獻(xiàn)”的編寫GB/T7714-2005《文后參考文獻(xiàn)著錄規(guī)則》
橢圓偏振儀測量硅表面上二氧化硅薄層厚度的方法
GB/T31225-2014
Ellipsometry—Principles
術(shù)語ISO23131:2021
—
IECTR63258:2021NanotechnologiesAguidelineforellipsometryapplication
toevaluatethethicknessofnanoscalefilms
四、確定標(biāo)準(zhǔn)主要內(nèi)容的論據(jù)
橢偏儀是利用橢圓偏振光在被測樣品表面發(fā)生反射時的偏振變換,通過菲涅
爾公式得到光學(xué)參數(shù)和偏振態(tài)之間的關(guān)系來確定被測樣品厚度和折射率。橢偏術(shù)
的數(shù)學(xué)模型見公式(1)。
i()
taned,n0,n1,n2,,1
式中:
ρ——橢偏函數(shù);
Ψ——偏振角;
?——兩個偏振分量的相位差經(jīng)薄膜后所發(fā)生的變化;
d——薄膜厚度;
n0——空氣折射率;
n1——薄膜折射率;
n2——襯底折射率;
φ——入射角度;
λ——入射光波長。
五、實驗方法及結(jié)果分析
名稱內(nèi)容
試驗?zāi)康臋E偏儀性能測試
試驗對象二氧化硅薄膜
試驗方法采用橢偏法,對薄膜厚度進(jìn)行測量
試驗儀器橢偏儀
具體實驗部分見“橢偏儀性能測試”正文部分。
比對驗證:標(biāo)準(zhǔn)編制工作組所在實驗室作為主導(dǎo)實驗室,組織了4家實驗室
進(jìn)行比對試驗,每家比對參加實驗室4個硅基底上不同厚度的二氧化硅薄膜樣
品,樣品編號及對應(yīng)的厚度名義值如表1所示,按標(biāo)準(zhǔn)中方法依次對不同厚度樣
品進(jìn)行5次重復(fù)性測試,記錄實驗條件、保存實驗數(shù)據(jù),并進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。
表1實驗室分組及各組樣品一覽表
樣品編號AiBiCiDi
名義值厚度
1002005001000
(nm)
注:i為實驗室編號
比對結(jié)果分析:
4家比對參加單位對樣品A~D的實驗結(jié)果如表2~表5所示,En值圖如圖2~圖4
所示。
表2比對樣品A測試結(jié)果
比對樣
參考值厚度值擴(kuò)展不確定度En
品編號
A1101.090101.1860.8500.040
A2100.436101.1090.8500.280
A3100.699101.7190.8590.422
A4100.699101.0160.8500.132
表3比對樣品B測試結(jié)果
比對樣
參考值厚度值擴(kuò)展不確定度En
品編號
B1207.536207.3540.750-0.086
B2207.733206.1820.757-0.725
B3208.399207.8590.759-0.252
B4207.259206.5480.750-0.335
表4比對樣品C測試結(jié)果
比對樣
參考值厚度值擴(kuò)展不確定度En
品編號
C1510.504509.4402.101-0.179
C2510.797507.2922.107-0.588
C3511.540510.0492.124-0.249
C4510.114508.7292.100-0.233
表5比對樣品D測試結(jié)果
比對樣
參考值厚度值擴(kuò)展不確定度En
品編號
D11016.0461016.8532.8640.100
D21014.4011020.5762.8670.762
D31018.2331024.1232.7970.750
D41020.0141023.0202.7760.380
圖1比對樣品A比對En值圖
圖2比對樣品B比對En值圖
圖3比對樣品C比對En值圖
圖4比對樣品D比對En值圖
采用En值統(tǒng)計方法對測量結(jié)果離散性進(jìn)行評價。根據(jù)JJF1117-2010《計量
比對》,若|En|≤1,則參加實驗室的測量結(jié)果與參考值之差在合理的預(yù)期之內(nèi),
比對結(jié)果可接受。從表2~表5和圖1~圖4可知,各比對參加實驗室的結(jié)果均可
接受。計算結(jié)果說明測量方法可靠、可操作,且普適性好,能保證測量方法的一
致性。
比對單位與對應(yīng)編號
比對單位編號比對單位
1武漢頤光科技有限公司
2中科院福建物質(zhì)結(jié)構(gòu)研究所
3芷云光電(上海)有限公司
4中國計量科學(xué)研究院
六、與國內(nèi)、外同類標(biāo)準(zhǔn)水平對比情況
目前,國際/國內(nèi)尚未發(fā)布有關(guān)橢偏儀性能測試的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。
七、與有關(guān)的現(xiàn)行法律、法規(guī)和強(qiáng)制性標(biāo)準(zhǔn)的關(guān)系
本部分編制原則符合國家的有關(guān)法規(guī)法律,與強(qiáng)制性標(biāo)準(zhǔn)協(xié)調(diào)一致。
八、重大分歧意見的處理經(jīng)過和依據(jù)
暫無。
九、貫徹標(biāo)準(zhǔn)的要求和措施建議
暫無。
十、廢止現(xiàn)行有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的建議
暫無。
十一、其他應(yīng)予說明的事項
暫無。
橢偏儀性能測試
PerformanceTestingforEllipsometer
編制說明
橢偏儀性能測試
CSTM標(biāo)準(zhǔn)編制工作組
2022年10月25日
編制說明
橢偏儀性能測試
CSTM標(biāo)準(zhǔn)編制說明
一、目的和意義
橢偏儀是測量微納米尺度薄膜厚度的主要方法之一,具有測量精度高、非接
觸、無破壞且不需要真空等優(yōu)點,已被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、微電子、光電子、
材料、物理、化學(xué)、生物、醫(yī)藥等領(lǐng)域的研究、開發(fā)和制造過程中。膜厚的準(zhǔn)
確測量,對器件制造的一致性和可靠性起著決定性作用。因此,規(guī)范橢偏儀的
性能測試,對保證儀器性能可靠和薄膜厚度準(zhǔn)確測量的意義重大。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定
了橢偏儀的性能測試方法,通過制定該標(biāo)準(zhǔn),將統(tǒng)一橢偏儀的性能測試過程,
對科學(xué)研究、高新產(chǎn)業(yè)產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)量監(jiān)控具有指導(dǎo)作用,并推動和促進(jìn)橢偏
儀的推廣和應(yīng)用。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了橢偏儀的性能測試方法,通過制定該標(biāo)準(zhǔn),將統(tǒng)一橢偏儀的
性能測試過程,對科學(xué)研究、高新產(chǎn)業(yè)產(chǎn)品研發(fā)、質(zhì)量監(jiān)控具有指導(dǎo)作用,并推
動和促進(jìn)橢偏儀的推廣和應(yīng)用。
二、工作簡況
1任務(wù)來源
項目名稱:橢偏儀性能測試
任務(wù)來源:2019年CSTM制修訂計劃,立項批準(zhǔn)號:CSTMLX0000
00293-2019。
起草單位:中國計量科學(xué)研究院
歸口單位:CSTM
2編制和協(xié)作單位
中國計量科學(xué)研究院(以下簡稱“中國計量院”)成立于1955年,隸屬國家
市場監(jiān)督管理總局,是國家最高的計量科學(xué)研究中心和國家級法定計量技術(shù)機(jī)
構(gòu),屬社會公益型科研單位。建院以來,中國計量院瞄準(zhǔn)國際計量科學(xué)前沿,在
國家經(jīng)濟(jì)建設(shè)、社會發(fā)展和科技進(jìn)步中發(fā)揮了重要的支撐作用。中國計量院現(xiàn)有
國家計量基準(zhǔn)128項,標(biāo)準(zhǔn)359項,有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)1603項,國際計量局(BIPM)
公布的國際互認(rèn)的校準(zhǔn)和測量能力1574項,國際排名第三、亞洲排名第一。隨
著技術(shù)能力的持續(xù)提升,中國計量院的服務(wù)水平不斷增強(qiáng)。2018年,中國計量
院為社會提供30余萬臺/件儀器的量值傳遞與溯源服務(wù)。國家計量院作為國家最
高計量科學(xué)研究中心和國家級法定計量技術(shù)機(jī)構(gòu),擔(dān)負(fù)著確保國家量值統(tǒng)一和國
際一致、保持國家最高測量能力、支撐國家發(fā)展質(zhì)量提升、應(yīng)對新技術(shù)革命挑戰(zhàn)
等重要而光榮的使命。自1955年成立以來,國家計量院在推動我國科技創(chuàng)新、
經(jīng)濟(jì)
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