材料科學(xué)研究方法智慧樹(shù)知到期末考試答案章節(jié)答案2024年青島理工大學(xué)

材料科學(xué)研究方法智慧樹(shù)知到期末考試答案+章節(jié)答案2024年青島理工大學(xué)差示掃描量熱分析根據(jù)所用測(cè)量方法的不同

，可以分類為熱流型DSC

與

功率補(bǔ)償型DSC。（

）

答案:對(duì)當(dāng)自旋體系存在自旋-自旋耦合時(shí)，核磁共振譜線發(fā)生分裂。（

）

答案:對(duì)TG是在控制溫度變化情況下，以溫度（或時(shí)間）為橫坐標(biāo)，以樣品與參比物間溫差為零所需供給的{熱量}為縱坐標(biāo)所得的掃描曲線。(

)

答案:錯(cuò)差示掃描量熱分析是在程序控溫條件下，測(cè)量輸入到物質(zhì)與參比物的功率差與溫度的關(guān)系的方法，其縱坐標(biāo)單位為mw或mw/mg

。（

）

答案:對(duì)晶體沿著一定方向裂開(kāi)成光滑平面的性質(zhì)稱為解理，裂開(kāi)的面稱為解理面。解理面一般平行于晶面。許多晶體都具有解理，但解理的方向、組數(shù)及完善程度不一樣，所以解理是鑒定晶體的一個(gè)重要依據(jù)。（

）

答案:對(duì)碳酸鈣熱重分析測(cè)試時(shí)，使用空氣氣氛、二氧化碳?xì)夥蘸驼婵諝夥账鶞y(cè)試的結(jié)果應(yīng)該是一樣的

（

）

答案:錯(cuò)景深是指像平面固定時(shí)（像距不變），物平面前后移動(dòng)，能成清晰像時(shí)，物平面前后移動(dòng)的最大距離Df。（

）

答案:對(duì)原子光譜分析儀中的原子化器的作用是把樣品原子汽化為單個(gè)原子，并將其外層電子激發(fā)到高能態(tài)。(

)

答案:對(duì)電磁透鏡的分辨率由衍射效應(yīng)和球面像差來(lái)決定，球差是限制電磁透鏡分辨本領(lǐng)的主要因素。（

）

答案:對(duì)自旋-自旋弛豫，也稱為縱向弛豫。高能磁核將能量傳遞給鄰近低能態(tài)同類磁核的過(guò)程。（

）

答案:錯(cuò)屏蔽常數(shù)與原子核所處的化學(xué)環(huán)境無(wú)關(guān)。（

）

答案:錯(cuò)隨著外加磁場(chǎng)強(qiáng)度增加，則發(fā)生核的能級(jí)躍遷時(shí)需要的能量也相應(yīng)增大。（

）

答案:對(duì)電子探針?lè)治鲋?，線分析用于觀察元素在選定微區(qū)內(nèi)濃度分布。（

）

答案:錯(cuò)在紅外光譜中，完全自由取向的分子所散射的光也可能是偏振的，因此一般在紅外光譜中用退偏振比(或稱去偏振度)ρ

表征分子對(duì)稱性振動(dòng)模式的高低。（

）

答案:錯(cuò)勞厄方程是確定

X射線衍射方向的基本方程，常用與晶體取向測(cè)定和晶體對(duì)稱性的研究。（

）

答案:對(duì)氣相色譜增加柱長(zhǎng)可以提高分離度，因此在應(yīng)用中要盡量提高色譜柱的長(zhǎng)度。（

）

答案:錯(cuò)熱膨脹系數(shù)是材料的主要物理性質(zhì)之一，它是衡量材料的熱穩(wěn)定性好壞的一個(gè)重要指標(biāo)。（

）

答案:對(duì)德拜相機(jī)直徑一般為(

)。

答案:114.6mm;57.3mm拉曼光譜低波數(shù)方向的測(cè)定范圍寬(25cm

-1

)，有利于提供重原子的振動(dòng)信息。比紅外光譜有更好的分辨率。（

）

答案:對(duì)X射線管不同管電壓下的連續(xù)譜存在的一個(gè)最小的頻率值，為短波限。（

）

答案:錯(cuò)某種物質(zhì)的多晶體衍射線條的（

），是該種物質(zhì)的特征，因而可以成為鑒別物相的標(biāo)志。

答案:數(shù)目、位置和強(qiáng)度水泥凈漿水化后進(jìn)行XRD測(cè)試，其中那種物質(zhì)不能在XRD圖譜上出現(xiàn)

（

）

答案:CSH凝膠同名的正、

倒點(diǎn)陣基矢的點(diǎn)乘積為（

）。

答案:1以下屬于吸熱行為的是（

）

答案:玻璃化轉(zhuǎn)變透射電鏡一般不具備的功能是（

）

答案:材料內(nèi)部原子結(jié)構(gòu)與排列分析納米壓痕為現(xiàn)代剛發(fā)展的一種新的測(cè)試技術(shù)，利用該設(shè)備可能獲得材料下列哪種技術(shù)指標(biāo)（

）

答案:材料微區(qū)的彈性模量已知醇分子中化學(xué)鍵O－H伸縮振動(dòng)吸收峰位于2.77μm，計(jì)算O－H鍵的力常數(shù)K.(

)

答案:7.21N·cm-1用于衍射分析的X射線波長(zhǎng)范圍為（

）。

答案:0.05~0.25nm斯托克斯線或反斯托克斯線與入射光（

）之差稱為拉曼位移。

答案:頻率激發(fā)限與吸收限是一回事，只是從不同角度看問(wèn)題。(

)

答案:對(duì)原子力顯微鏡利用原子力來(lái)實(shí)現(xiàn)顯微觀察，與導(dǎo)電無(wú)關(guān)。克服了STM不能測(cè)量不導(dǎo)電樣品的缺點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)了對(duì)絕緣體原子級(jí)的觀察。（

）

答案:對(duì)X射線譜包括的2類信息是：角度、譜線強(qiáng)度。（

）

答案:對(duì)在孔隙網(wǎng)絡(luò)中數(shù)量最多的孔的孔徑，也就是在水泥石或固體材料中出現(xiàn)幾率最大的孔隙，稱為中值孔徑。（

）

答案:錯(cuò)自旋-晶格弛豫，也稱為橫向弛豫。高能磁核通過(guò)與周圍粒子之間的相互作用將能量傳遞給周圍環(huán)境，而自身回到低能態(tài)的過(guò)程。（

）

答案:錯(cuò)由于試樣本身對(duì)X射線的吸收，使衍射強(qiáng)度的實(shí)測(cè)值與計(jì)算值不符，因此需用吸收因數(shù)對(duì)強(qiáng)度進(jìn)行修正。（

）

答案:對(duì)在水泥基材料中，平均孔徑越小，抗?jié)B性和耐久性越好。故在壓汞測(cè)試中，單位壓力變化時(shí)，進(jìn)汞量變化率較大時(shí)對(duì)應(yīng)的孔半徑即為平均孔半徑。（

）

答案:錯(cuò)化學(xué)位移是由于核外電子云密度不同而造成的，某種同位素核因處于不同的化學(xué)化境（不同的官能團(tuán)），其核磁共振譜線位置是不同的。（

）

答案:對(duì)對(duì)于圓柱試樣，當(dāng)

變化時(shí)，溫度因數(shù)與吸收因數(shù)的變化趨勢(shì)相反，二者的影響可大致抵消，對(duì)強(qiáng)度要求不很精確的分析，可同時(shí)略去。（

）

答案:對(duì)紅外光譜在化學(xué)領(lǐng)域中的應(yīng)用是多方面的。它不僅用于結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)研究，如確定分子的空間構(gòu)型，求出化學(xué)鍵的力常數(shù)、鍵長(zhǎng)和鍵角等；而且廣泛地用于化合物的定性、定量分析和化學(xué)反應(yīng)的機(jī)理研究等。但是紅外光譜應(yīng)用最廣的還是未知化合物的結(jié)構(gòu)鑒定。（

）

答案:對(duì)影響多晶體衍射方向的其他因數(shù)主要有多重因數(shù)P

、

吸收因子A(θ)

和

溫度因子e-2M。（

）

答案:錯(cuò)在拉曼光譜中，分子振動(dòng)要產(chǎn)生位移也要服從一定的選擇定則，也就是說(shuō)只有伴隨分子極化度發(fā)生變化的分子振動(dòng)模式才能具有拉曼活性，產(chǎn)生拉曼散射。（

）

答案:對(duì)當(dāng)X射線照射到一個(gè)原子上時(shí)，其振動(dòng)電場(chǎng)將使原子中的原子核與電子都發(fā)生振動(dòng)而輻射電磁波，原子核的散射強(qiáng)度不可忽略不計(jì)。（

）

答案:錯(cuò)核磁共振(nuclear

magnetic

resonance,

NMR)是指在強(qiáng)磁場(chǎng)下，電磁波與原子核自旋之間產(chǎn)生相互作用的物理現(xiàn)象。（

）

答案:對(duì)二次電子信號(hào)：主要用于分析樣品的表面形貌。因它只能從樣品表面層5～10nm深度范圍內(nèi)被入射電子束激發(fā)出來(lái)。（

）

答案:對(duì)電磁透鏡分辨極限d=0.61λ/α

增大電磁透鏡孔徑半角，可以使d減小，但將引起球差急劇增大；提高電鏡工作電壓u，可以使λ降低，從而提高電磁透鏡的分辨率。（

）

答案:對(duì)非晶物質(zhì)衍射圖由少數(shù)漫散射峰組成，由此來(lái)鑒別物質(zhì)屬于晶態(tài)或非晶態(tài)，非晶物質(zhì)中出現(xiàn)部分晶態(tài)物質(zhì)時(shí)，會(huì)在漫散射峰上疊加明銳結(jié)晶峰。（

）

答案:對(duì)把一特定殼層的電子擊出所需要的入射光最短波長(zhǎng)，為吸收限。（

）

答案:錯(cuò)用來(lái)進(jìn)行晶體結(jié)構(gòu)分析的X射線學(xué)分支是X射線衍射學(xué)。（

）

答案:對(duì)電子對(duì)X射線散射分為兩種情況，

一種是受原子核束縛較緊的電子，X射線作用后，該電子發(fā)生振動(dòng)，向空間輻射與入射波頻率相同的電磁波，由于波長(zhǎng)、頻率相同，會(huì)發(fā)生相干散射

和

另一種X射線作用在束縛電子上，產(chǎn)生康普頓效應(yīng)---非相干散射，產(chǎn)生背底。

（

）

答案:對(duì)相差顯微鏡和微分干涉相差顯微鏡都可以用于觀測(cè)無(wú)色透明的標(biāo)本。

（

）

答案:對(duì)X射線線掃描儀中的掃描方式主要有光柵掃描和

角光柵掃描。（

）

答案:對(duì)非彈性散射機(jī)制主要有（

）

。

答案:聲子激發(fā);等離子激發(fā);單電子激發(fā)當(dāng)X射線發(fā)生裝置是Cu靶，濾波片應(yīng)選Mo靶。(

)

答案:錯(cuò)每一種晶體物質(zhì)和它的衍射花樣都是一一對(duì)應(yīng)的。(

)

答案:對(duì)多相試樣的衍射花樣是由所含物質(zhì)的單獨(dú)物相衍射花樣簡(jiǎn)單疊加而成。(

)

答案:對(duì)通過(guò)提高電鏡什么技術(shù)指標(biāo)，可使透射電鏡對(duì)較厚樣品觀測(cè)（

）

答案:電壓為有效對(duì)物質(zhì)含量進(jìn)行XRD定量分析，在試驗(yàn)過(guò)程中應(yīng)采取哪種措施（

）

答案:減少X射線掃描步長(zhǎng)材料孔結(jié)構(gòu)對(duì)其性能產(chǎn)生了至關(guān)重要的影響，采用壓汞法測(cè)試材料，可獲得下列哪種參數(shù)（

）

答案:材料孔徑分布在空間點(diǎn)陣中可以作出相互平行且間距相等的一組平面，使所有的節(jié)點(diǎn)均位于這組平面上，各平面的節(jié)點(diǎn)分布情況完全相同，這樣的節(jié)點(diǎn)平面稱為（

）。

答案:晶面能譜儀主要用于檢測(cè)被測(cè)材料微區(qū)在高能電子作用下產(chǎn)生的（

）

答案:X

射線頻率為了保護(hù)人體健康，在進(jìn)行X射線分析應(yīng)該對(duì)X射線進(jìn)行防護(hù)，下列哪種元素可以作為X射線的屏蔽材料（

）

答案:鉛高效液相色譜不適合下列哪類物質(zhì)的分析（

）

答案:氣體布拉格方程解決了X射線衍射方向問(wèn)題，即滿足布拉格方程的晶面將參與衍射，但能否產(chǎn)生衍射花樣還取決于衍射（

）。

答案:強(qiáng)度紅外光譜為吸收光譜，拉曼光譜為（

）光譜。

答案:散射某一質(zhì)子吸收峰出現(xiàn)的位置與標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)質(zhì)子吸收出現(xiàn)的位置之間的差異稱為（

）

答案:化學(xué)位移以下元素?zé)o法用XPS進(jìn)行定量分析的是（

）

答案:H以下不是影響基團(tuán)頻率位移因素的是（

）

答案:納米效應(yīng)X射線衍射中，只有晶面間距大于波長(zhǎng)的（

）的晶面才能產(chǎn)生衍射。

答案:一半異名的正、倒點(diǎn)陣基矢的點(diǎn)乘積為（

）。

答案:0僅當(dāng)射向相鄰原子面上的入射光程差為波長(zhǎng)λ的（

）時(shí)，相鄰晶面的反射波才能干涉加強(qiáng)形成衍射線，產(chǎn)生衍射。

答案:整數(shù)倍光電效應(yīng)中出射光電子的能量?jī)H與入射光子的能量及原子軌道結(jié)合能有關(guān)，當(dāng)固定激發(fā)源能量時(shí)，其光電子的能量?jī)H與元素的種類和所電離激發(fā)的原子軌道有關(guān)。因此，我們可以根據(jù)光電子的結(jié)合能定性分析物質(zhì)的元素種類。（

）

答案:對(duì)重復(fù)掃描可以消除雜質(zhì)對(duì)DSC測(cè)試的干擾。（

）

答案:對(duì)拉曼光譜為散射光譜。當(dāng)一束頻率為vo的入射光照射到氣體、液體或透明晶體樣品上時(shí)，絕大部分可以透過(guò)，大約有0.1％的入射光與樣品分子之間發(fā)生非彈性碰撞，即在碰撞時(shí)有能量交換，這種光散射稱為拉曼散射。（

）

答案:對(duì)經(jīng)濾波后的X射線是相對(duì)的單色光。(

)

答案:對(duì)單晶體電子衍射花樣是規(guī)則的衍射斑點(diǎn)組成。

（

）

答案:對(duì)TG熱失重曲線的標(biāo)注常常需要參照DTG曲線，DTG曲線上一個(gè)谷代表一個(gè)失重階段，而拐點(diǎn)溫度顯示的是失重最快的溫度。（

）

答案:對(duì)衍射強(qiáng)度是指絕對(duì)強(qiáng)度。（

）

答案:錯(cuò)背散射電子是被入射電子轟擊出來(lái)的樣品核外電子。（

）

答案:錯(cuò)硅酸鹽類樣品在進(jìn)行熱分析時(shí)，能選用剛玉材質(zhì)的樣品坩堝。（

）

答案:錯(cuò)從陰極發(fā)出的電子經(jīng)高壓加速到達(dá)陽(yáng)極靶材時(shí)，由于單位時(shí)間內(nèi)到達(dá)的電子數(shù)目極大，而且達(dá)到靶材的時(shí)間和條件各不相同，并且大多數(shù)電子要經(jīng)過(guò)多次碰撞，能量逐步損失掉，因而出現(xiàn)連續(xù)變化的波長(zhǎng)譜，稱為特征X射線譜。

（

）

答案:錯(cuò)X射線衍射分析時(shí)，如果粉末尺寸太小，則會(huì)引起衍射線寬化。（

）

答案:對(duì)兩種聚合物以分子狀態(tài)相容時(shí)，將保持各自的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度不變。（

）

答案:錯(cuò)拉曼光譜是一個(gè)散射過(guò)程，因而任何尺寸、形狀、透明度的樣品，只要能被激光照射到，就可直接用來(lái)測(cè)量。（

）

答案:對(duì)Cr為立方晶系，ABC晶面在X、Y、Z坐標(biāo)軸的截距分別為1/2,1,1，其晶面指數(shù)為（211）。（

）

答案:對(duì)利用原子序數(shù)造成的襯度變化可以對(duì)各種金屬和合金進(jìn)行定性的成分分析。重元素區(qū)域：圖像上是暗區(qū)；輕元素區(qū)域：圖像為亮區(qū)。（

）

答案:錯(cuò)當(dāng)入射光為自然光時(shí)，非均質(zhì)體能改變?nèi)肷涔獠ǖ恼駝?dòng)特點(diǎn)，但當(dāng)入射光為偏光時(shí)，其不能改變?nèi)肷涔獠ǖ恼駝?dòng)方向。（

）

答案:錯(cuò)連續(xù)X射線譜在短波方向有一個(gè)波長(zhǎng)極限，稱為短波限λ0，它是由光子一次碰撞就耗盡能量所產(chǎn)生的X射線，與管電壓及光子所攜帶的能量有關(guān)。（

）

答案:錯(cuò)選擇小的接受光欄狹縫寬度，可以提高接受分辨率，但會(huì)降低接受強(qiáng)度。(

)

答案:對(duì)只要是體心點(diǎn)陣，則立方晶系、正方晶系、斜方晶系，系統(tǒng)消光規(guī)律是相同的。（

）

答案:對(duì)隨X射線管的電壓升高，λ0和λm都隨之減小。(

)

答案:對(duì)壓汞測(cè)試的步驟包括第一次進(jìn)汞、退汞和第二次進(jìn)汞。（

）

答案:對(duì)大量實(shí)驗(yàn)證明，X射線具有波動(dòng)性和微粒性的雙重性，即波粒二象性。（

）

答案:對(duì)布拉格方程只涉及X射線衍射方向，不能反映衍射強(qiáng)度。(

)

答案:對(duì)由于樣品中不同位相的衍射條件不同而造成的襯度差別叫衍射襯度。（

）

答案:對(duì)當(dāng)一定頻率的紅外光照射分子時(shí)，如果分子中某個(gè)基團(tuán)的振動(dòng)頻率和它一樣，二者就會(huì)產(chǎn)生共振。此時(shí)光的能量通過(guò)分子偶極矩的變化而傳遞給分子，這個(gè)基團(tuán)就吸收一定頻率的紅外光，產(chǎn)生振動(dòng)躍遷。（

）

答案:對(duì)差熱分析是在程序控溫條件下，測(cè)量樣品坩堝與參比坩堝間的溫度差與溫度的關(guān)系的方法。（

）

答案:對(duì)從陰極發(fā)出的電子在高壓加速后，如果電子的能量足夠大而將陽(yáng)極靶原子中內(nèi)層電子擊出留下空位，原子中其他層電子就會(huì)躍遷以填補(bǔ)該空位，同時(shí)將多余的能量以X射線光子的形式釋放出來(lái)，結(jié)果得到具有固定能量，頻率或固定波長(zhǎng)的特征X射線，稱為特征X射線譜。（

）

答案:對(duì)波譜儀有旋轉(zhuǎn)式波譜儀和直進(jìn)式波譜儀。（

）

答案:對(duì)影響透鏡分辨率的本領(lǐng)的因素有

波長(zhǎng)，介質(zhì)

和孔徑半角。（

）

答案:對(duì)當(dāng)X射線的管壓恒定，增加管流，連續(xù)X射線譜的相對(duì)強(qiáng)度一致增高，但最大、最小波長(zhǎng)數(shù)值大小不變（

）

答案:對(duì)德拜法底片的安裝方式可分以下幾種（

）。

答案:不對(duì)稱裝法;正裝法;反裝法X射線定量分析的方法有(

)。

答案:外標(biāo)法;內(nèi)標(biāo)法氣相色譜中的載氣具有運(yùn)載樣品分子和選擇性分離的雙重作用。（

）

答案:錯(cuò)X射線粉末衍射可以對(duì)混合物進(jìn)行物相分析。（

）

答案:對(duì)費(fèi)米能級(jí)是材料中電子的一個(gè)真實(shí)能級(jí)。(

)

答案:錯(cuò)影響掃描電鏡分辨率的三大因素是：電子束的束斑大小、檢測(cè)信號(hào)類型及檢測(cè)部位的原子序數(shù)。（

）

答案:對(duì)樣品含有水分時(shí)，對(duì)其紅外光譜譜圖影響較小。（

）

答案:錯(cuò)在透射電鏡中主要有三種光闌：聚光鏡光闌、物鏡光闌、選區(qū)光闌。（

）

答案:對(duì)關(guān)于電磁透鏡分辨本領(lǐng)的影響因素中，敘述不正確的是（

）

答案:幾何像差是因?yàn)橥哥R磁場(chǎng)幾何形狀上的缺陷而造成的；主要指球差、像散與色差。隧道掃描顯微鏡主要利用下面哪種原理進(jìn)行微觀成像（

）

答案:隧道電流成像下列幾種測(cè)試方法，哪項(xiàng)可實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品元素組成測(cè)定？（

）

答案:EDS通過(guò)改變（

），可使得X射線特征譜線的波長(zhǎng)發(fā)生改變。

答案:陽(yáng)極靶靶材以下不屬于影響掃描電鏡分辨率的是（

）

答案:二次電子產(chǎn)生效率原子力顯微鏡作為一種高分辨率顯微系統(tǒng)，其對(duì)樣品的要求是（

）

答案:樣品具有高表面光潔度波譜儀主要用于檢測(cè)被測(cè)材料微區(qū)在高能電子作用下產(chǎn)生的（

）

答案:特征X射線石英在573度時(shí)由α石英轉(zhuǎn)化為β石英，其過(guò)程發(fā)生吸熱反應(yīng)，采用下面哪種測(cè)試手段能觀測(cè)到該相變（

）

答案:DSCX射線可用于材料的元素分析，它主要利用了X射線的哪種功能（

）

答案:X射線被物質(zhì)吸收效應(yīng)下面哪種儀器可用于材料的表面元素分析

（

）

答案:X射線光電子能譜儀以下不是紅外光譜測(cè)試時(shí)固體試樣制備方法的是（

）

答案:直接涂抹法X射線在穿透物質(zhì)后強(qiáng)度衰減，除大部分是因?yàn)槲兆饔?，還有一部分是（

）

答案:散射在熱分析中，DSC曲線與DTA曲線形狀相似，當(dāng)物體吸熱時(shí)，有（

）

答案:DSC曲線為上凸峰，

DTA曲線為下凹峰TMS分子中有12個(gè)氫核,所處的化學(xué)環(huán)境完全相同，在譜圖上是（

）個(gè)尖峰。

答案:1掃描電子顯微鏡主要利用下面哪種原理進(jìn)行微觀成像（

）

答案:透射電子成像某物質(zhì)能吸收紅外光波,

產(chǎn)生紅外吸收譜圖,

其分子結(jié)構(gòu)是（

）

答案:發(fā)生偶極矩的凈變化第一類應(yīng)力導(dǎo)致X射線衍射線位移，第二類應(yīng)力導(dǎo)致X射線衍射線線形變化，第三類應(yīng)力導(dǎo)致X射線衍射線強(qiáng)度（

）。

答案:降低電子波的波長(zhǎng)較短，軸對(duì)稱非均勻磁場(chǎng)能使電子波聚焦。其波長(zhǎng)取決于電子運(yùn)動(dòng)的速度和質(zhì)量，電子波的波長(zhǎng)要比可見(jiàn)光?。?/p>

）個(gè)數(shù)量級(jí)。

答案:5核磁共振氫譜規(guī)定，標(biāo)準(zhǔn)樣品四甲基硅δTMS

=（

）。

答案:0一組晶面間距從大到小的順序：2.02?，1.43?，1.17?，1.01

?，0.90

?，0.83?，0.76

?……，用波長(zhǎng)為λkα=1.94?的鐵靶照射時(shí)，產(chǎn)生衍射的晶面組有(

)個(gè)。

答案:4壓汞過(guò)程中，隨著外界壓力的增加，汞進(jìn)入更小的孔。

答案:對(duì)低壓系統(tǒng)主要用來(lái)注汞和測(cè)量（）的結(jié)構(gòu)。

答案:大孔中值孔徑指的是在孔隙網(wǎng)絡(luò)中數(shù)量最多的孔的孔徑，也就是在水泥石或固體材料中出現(xiàn)幾率最大的孔隙。

答案:錯(cuò)綜合考慮實(shí)驗(yàn)結(jié)果可靠性和成本，壓汞試驗(yàn)建議樣品數(shù)量取為（）個(gè)

答案:3貫通孔和和墨水瓶效應(yīng)的連通孔，可以通過(guò)第一次進(jìn)汞曲線和第一次退汞曲線得到。第二次進(jìn)汞時(shí)，有效孔徑的大小分布以及孔結(jié)構(gòu)其它參數(shù)可獲得。

答案:對(duì)壓汞試驗(yàn)注意事項(xiàng)

答案:操作時(shí)要穿工作服并配戴口罩及乳膠手套;保持室內(nèi)溫度低于25℃且處于良好的通風(fēng)狀態(tài);廢汞及被汞污染的樣品應(yīng)用水密封;出現(xiàn)汞滲漏應(yīng)立即清理并灑硫磺覆蓋壓力通過(guò)液壓油傳遞給汞，升壓方式有連續(xù)掃描加壓和步進(jìn)掃描加壓兩種方式

答案:對(duì)壓汞和氣體吸附法所測(cè)定的孔是開(kāi)口孔，閉口孔因流體不能滲入，不在測(cè)試范圍內(nèi)。

答案:對(duì)使用壓汞儀測(cè)定水泥基材料的孔隙結(jié)構(gòu)，需要建立試驗(yàn)數(shù)據(jù)與孔結(jié)構(gòu)之間的相關(guān)關(guān)系，因而首先要對(duì)水泥基材料的孔隙系統(tǒng)進(jìn)行必要的假設(shè)——孔結(jié)構(gòu)柱狀毛細(xì)管系統(tǒng)假定，即認(rèn)為材料中的孔隙是相互連通的具有一定半徑的圓柱狀孔隙。

答案:對(duì)總孔隙率高的混凝土，滲透性一定高。

答案:錯(cuò)核磁共振波譜是物質(zhì)與電磁波相互作用而產(chǎn)生的，屬于吸收光譜（波譜）范疇。

答案:對(duì)核自旋磁場(chǎng)與外磁場(chǎng)相互作用產(chǎn)生進(jìn)動(dòng)稱為簡(jiǎn)諧振動(dòng)。

答案:錯(cuò)所有的原子核均能產(chǎn)生核磁共振

答案:錯(cuò)自旋偶合不影響化學(xué)位移，但會(huì)使吸收峰發(fā)生裂分，使譜線增多。

答案:對(duì)O2能產(chǎn)生紅外吸收。

答案:錯(cuò)遠(yuǎn)紅外區(qū)：用來(lái)研究O-H、N-H及C-H鍵的倍頻吸收。

答案:錯(cuò)紅外光譜目前多數(shù)用在鑒別樣品作定性分析，定量分析不僅需要標(biāo)樣，同時(shí)也難精確，更主要的是，由于大多數(shù)帶的位置集中于指紋區(qū)使得譜帶重疊現(xiàn)象頻繁，解疊困難。

答案:對(duì)當(dāng)弱的倍頻峰位于某強(qiáng)的基頻峰附近時(shí)，它們的吸收峰強(qiáng)度常常隨之增加，或發(fā)生譜峰分裂。這種振動(dòng)耦合稱為費(fèi)米共振。

答案:對(duì)物質(zhì)吸收電磁輻射產(chǎn)生紅外光譜應(yīng)滿足兩個(gè)條件：一是輻射光子的能量與振動(dòng)躍遷所需能量相等；二是輻射與物質(zhì)之間有偶合作用。

答案:對(duì)拉曼活性取決于振動(dòng)中極化度是否變化，只有極化度有變化的振動(dòng)才是拉曼活性的。

答案:對(duì)紅外光譜與物質(zhì)結(jié)構(gòu)有關(guān)，不同分子吸收紅外線選擇性不同，故可用紅外光譜法檢驗(yàn)基團(tuán)，鑒定化合物及定量測(cè)定。

答案:對(duì)斯托克斯線或反斯托克斯線與入射光頻率之差為化學(xué)位移。

答案:錯(cuò)紅外光譜的強(qiáng)度與分子振動(dòng)時(shí)偶極矩變化的平方成正比。

答案:對(duì)拉曼位移的大小與入射光的頻率無(wú)關(guān)，只與分子的能級(jí)結(jié)構(gòu)有關(guān)。

答案:對(duì)熱機(jī)械分析法：在程序控制溫度下測(cè)量物質(zhì)的力學(xué)性質(zhì)隨溫度(或時(shí)間)變化的關(guān)系。

答案:對(duì)熱重曲線的基線漂移是指試樣沒(méi)有變化而記錄曲線卻指示出有質(zhì)量變化的現(xiàn)象，它造成試樣失重或增重的假象。

答案:對(duì)熱分析的幾大支柱（）。

答案:熱機(jī)械分析（TMA與DMA）;差熱分析（DTA）;示差掃描量熱分析（DSC）;熱重分析（TG）根據(jù)測(cè)量方法不同，DTA分為：功率補(bǔ)償型差示掃描量熱法和熱流型差示掃描量熱法。

答案:錯(cuò)差熱分析原理：將溫差熱電偶的一個(gè)熱端插在被測(cè)試樣中，另一個(gè)熱端插在參比物中，試樣和參比物同時(shí)升溫，測(cè)定升溫過(guò)程中兩者溫度差，得到溫度差隨溫度變化關(guān)系曲線。

答案:對(duì)熱重分析時(shí)氣相產(chǎn)物的逸出必然要通過(guò)試樣與外界空間的交界面，深而大的坩堝或者試樣充填過(guò)于緊密都會(huì)妨礙氣相產(chǎn)物的外逸，因此反應(yīng)受氣體擴(kuò)散速度的制約，結(jié)果使熱重曲線向低溫側(cè)偏移。

答案:錯(cuò)熱電效應(yīng)：兩種不同材料的金屬絲組成回路，結(jié)點(diǎn)處溫度T和T0不相同時(shí)，可把熱能轉(zhuǎn)換成電能。

答案:對(duì)微商熱重分析又稱導(dǎo)數(shù)熱重分析(Derivativethermogravimetry，簡(jiǎn)稱DTG)，它是記錄熱重曲線對(duì)溫度或時(shí)間的一階導(dǎo)數(shù)的一種技術(shù)。

答案:對(duì)是在程序溫度(升／降／恒溫及其組合)過(guò)程中，由熱天平連續(xù)測(cè)量樣品重量的變化并將數(shù)據(jù)傳遞到計(jì)算機(jī)中對(duì)時(shí)間／溫度進(jìn)行作圖，即得到熱重曲線。

答案:對(duì)線膨脹系數(shù)α為溫度升高1℃時(shí)，沿試樣某一方向上的相對(duì)伸長(zhǎng)(或收縮)量為△t。

答案:錯(cuò)二次電子數(shù)量和原子序數(shù)有明顯的關(guān)系，但對(duì)微區(qū)表面的幾何形狀十分敏感。

答案:錯(cuò)透射電鏡的分辨率既受衍射效應(yīng)影響，也受透鏡的像差影響。

答案:對(duì)掃描隧道顯微鏡的橫向分辨率可達(dá)

答案:0.1nm透射電子顯微鏡配置選區(qū)電子衍射裝置，使得薄膜樣品的結(jié)構(gòu)分析與形貌觀察有機(jī)結(jié)合，是X射線衍射無(wú)法比擬的優(yōu)點(diǎn)。

答案:對(duì)明場(chǎng)像是質(zhì)厚襯度，暗場(chǎng)像是衍襯襯度。

答案:錯(cuò)掃描電鏡的分辨率：是通過(guò)測(cè)定圖像中兩個(gè)顆粒(或區(qū)域)間的最小距離來(lái)確定的。

答案:對(duì)電子探針顯微分析對(duì)樣品的損傷程度為()

答案:無(wú)損傷影響掃描電鏡分辨率的因素是（）。

答案:其它選項(xiàng)都正確透射電鏡的主要性能指標(biāo)有分辨本領(lǐng)、放大倍數(shù)和加速電壓。

答案:對(duì)當(dāng)入射電子束作光柵掃描時(shí)，若電子束在樣品表面掃描的幅度為As，相應(yīng)地在熒光屏上陰極射線同步掃描的幅度為Ac，掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)為Ac和As的比值

答案:對(duì)對(duì)于同一放大倍數(shù)的物鏡，其數(shù)值孔徑越小，分辨率越高

答案:錯(cuò)光率體是表示光波在晶體中傳播時(shí)，光波振動(dòng)方向與相應(yīng)折射率值之間關(guān)系的一種光學(xué)立體圖形（光性指示體）

答案:對(duì)一束自然光穿過(guò)各向異性的晶體時(shí)分成兩束偏振光的現(xiàn)象，稱為雙折射現(xiàn)象。

答案:對(duì)介質(zhì)的折射率與光在介質(zhì)中的傳播速度成反比。

答案:對(duì)目鏡是顯微鏡最重要的光學(xué)元件，顯微鏡的分辨能力及成像質(zhì)量主要取決于其性能。

答案:錯(cuò)折射率色散:同一介質(zhì)的折射率因?yàn)樗貌ㄩL(zhǎng)的不同而不同；對(duì)于同一介質(zhì)，波長(zhǎng)與折射率成反比。

答案:對(duì)晶體在正交偏光鏡下呈現(xiàn)黑暗的現(xiàn)象，稱為消光現(xiàn)象。

答案:對(duì)顯微鏡總放大倍數(shù)=目鏡放大倍數(shù)×物鏡放大倍數(shù)

答案:對(duì)可見(jiàn)光的波長(zhǎng)在390-760nm之間，最佳情況下，光學(xué)玻璃透鏡分辨本領(lǐng)的理論極限可達(dá)200nm。

答案:對(duì)只在平行于光的傳播方向的平面內(nèi)的某一方向振動(dòng)稱為偏振光。

答案:錯(cuò)結(jié)構(gòu)因數(shù)：結(jié)構(gòu)因數(shù)是表征單細(xì)胞對(duì)衍射強(qiáng)度的影響，只與原子的種類，在晶胞中的位置有關(guān)，而與晶胞大小和形狀無(wú)關(guān)。

答案:對(duì)在入射電子束作用下被轟擊出來(lái)并離開(kāi)樣品表面的核外電子叫做（）

答案:二次電子布拉格方程式：散射線發(fā)生相干衍射，也可以稱為晶面反射所必需滿足的條件。方程式為2dsinθ=nλ.

答案:對(duì)當(dāng)一個(gè)K層電子被激發(fā)而形成空位時(shí)，一個(gè)M