DL∕T 821-2017 金屬熔化焊對(duì)接接頭射線檢測(cè)技術(shù)和質(zhì)量分級(jí)

備案號(hào)：61609-2018DL/T821—2017代替DL/T821—2002金屬熔化焊對(duì)接接頭射線檢測(cè)技術(shù)和質(zhì)量分級(jí)國家能源局發(fā)布IDL/T821—2017前言 Ⅱ1范圍 12規(guī)范性引用文件 13術(shù)語和定義 14一般規(guī)定 2 2 2 5 8 85透照及成像技術(shù) 6膠片暗室處理 7結(jié)果評(píng)定及質(zhì)量分級(jí) 8技術(shù)資料 附錄A(規(guī)范性附錄)系統(tǒng)分辨率的核查及雙線型像質(zhì)計(jì)可識(shí)別率的測(cè)量 附錄B(資料性附錄)數(shù)字影像灰度的確定 附錄C(資料性附錄)數(shù)字影像歸一化信噪比的計(jì)算 附錄D(規(guī)范性附錄)專用像質(zhì)計(jì)、深度對(duì)比塊的形式和規(guī)格 附錄E(規(guī)范性附錄)透照厚度的計(jì)算方法 附錄F(資料性附錄)射線檢測(cè)報(bào)告格式 DL/T821—2017本標(biāo)準(zhǔn)按照GB/T1.1—2009《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分：標(biāo)準(zhǔn)的結(jié)構(gòu)和編寫》給出的規(guī)則起草。本標(biāo)準(zhǔn)是對(duì)DL/T821—2002《鋼制承壓管道對(duì)接焊接接頭射線檢驗(yàn)技術(shù)規(guī)范》的修訂，與DL/T 本標(biāo)準(zhǔn)由電力行業(yè)電站焊接標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)(DL/TC18)本標(biāo)準(zhǔn)參加起草單位：云南電力試驗(yàn)研究院(集團(tuán))有限公司、中國能源建設(shè)集團(tuán)黑龍江省火電第三工程有限公司、中國能源建設(shè)集團(tuán)天津電力建設(shè)有限公司、中國能源建設(shè)集團(tuán)浙江火電建設(shè)有限本標(biāo)準(zhǔn)首次發(fā)布時(shí)間為1985年，1996年第一次修訂，2002年第二次修訂，本次為第三次修訂。本標(biāo)準(zhǔn)在執(zhí)行過程中的意見或建議反饋至中國電力企業(yè)聯(lián)合會(huì)標(biāo)準(zhǔn)化管理中心(北京市白廣路二1DL/T821—2017金屬熔化焊對(duì)接接頭射線檢測(cè)技術(shù)和質(zhì)量分級(jí)GB/T12604.2無損檢測(cè)術(shù)語射線照相檢測(cè)GB/T12604.11無損檢測(cè)術(shù)語X射線數(shù)字成像檢測(cè)GB/T19348.1無損檢測(cè)工業(yè)射線照相膠片第1部分：工業(yè)射線照相膠片系統(tǒng)的分類GB/T19348.2無損檢測(cè)工業(yè)射線照相膠片第2部分：用參考值方法控制膠片處理GB/T19802無損檢測(cè)工業(yè)射線照相觀片燈最低要求GB/T23901.1無損檢測(cè)射線照相底片像質(zhì)第1部分：線型像質(zhì)計(jì)像質(zhì)指數(shù)的測(cè)定GB/T23901.5無損檢測(cè)射線照相底片像質(zhì)第5部分：雙線型像質(zhì)計(jì)陽像不清晰度的測(cè)定3術(shù)語和定義2DL/T821—2017把射線光子轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)的電子裝置(平板)和俘獲射線光子產(chǎn)生電子和空穴的電子膠片(IP板),以下簡稱為成像器。缺陷的長寬比大于3,為條形缺陷；缺陷的長寬比小于或等于3,為圓形缺陷。專指利用直接數(shù)字平板射線成像系統(tǒng)(digitalradiography;DR)或電子膠片射線成像系統(tǒng)(computerradiography;CR)進(jìn)行的射線檢測(cè)。透照厚度比rationofmax.andmin.penetratedthickness4一般規(guī)定4.1.1檢測(cè)人員應(yīng)具有良好的身體素質(zhì)，裸眼或矯正視力按GB11533的方法測(cè)試，視力應(yīng)不低于5.04.1.2檢測(cè)人員應(yīng)經(jīng)過技術(shù)培訓(xùn)，按D測(cè)人員應(yīng)經(jīng)過系統(tǒng)的培訓(xùn)，掌握與射線數(shù)字成像技術(shù)相關(guān)的計(jì)算機(jī)知識(shí)、數(shù)字影像處理知識(shí)，以及相應(yīng)的檢測(cè)系統(tǒng)基本操作方法，并在36個(gè)灰度塊中至少能分辨出4個(gè)連續(xù)變化的灰度塊。膠片系統(tǒng)類別梯度最小值Gmin最小梯度與顆粒度比顆粒度最大值D=2.0D=4.0D=2.0D=2.04.50.0183DL/T821—2017膠片系統(tǒng)類別梯度最小值Gmin最小梯度與顆粒度比顆粒度最大值D=2.0D=4.0D=2.0D=2.04.30.0204.10.0234.10.0280.0320.039注：D為黑度，指不包括灰霧度的凈黑度值，即為在本底灰霧度D?以上的光學(xué)密度。4.2.2.3每批膠片使用前應(yīng)按照GB/T19348.2的規(guī)定或其他方法進(jìn)行測(cè)試和評(píng)估。a)成像器動(dòng)態(tài)范圍應(yīng)不小于2000:1,A/D轉(zhuǎn)換位數(shù)應(yīng)不小于14bit。b)顯示器應(yīng)滿足：亮度不低于250cd/m2;灰度等級(jí)不小于8bit;影像顯示分辨率不低于1024×768;顯示器像素點(diǎn)距不大于0.25mm。每3個(gè)月應(yīng)至少核查一次系統(tǒng)分辨率。系統(tǒng)分辨率的核查應(yīng)按附錄A規(guī)定的方法進(jìn)行。主要性能應(yīng)符合GB/T19802的有關(guān)規(guī)定，最大亮度應(yīng)能滿足觀察黑度為4.5底片的要求。觀片燈a)打開測(cè)量開關(guān)，預(yù)熱10min左右。c)按照b)的規(guī)定反復(fù)測(cè)量3次。4DL/T821—2017標(biāo)準(zhǔn)密度片應(yīng)至少有8個(gè)一定間隔的不同黑度基準(zhǔn)值，且能覆蓋0.3～a)通用線型像質(zhì)計(jì)和等徑線型像質(zhì)計(jì)的型號(hào)和規(guī)格應(yīng)符合JB/T7902和GB/T23901.1的規(guī)定。b)雙線型像質(zhì)計(jì)的型號(hào)和規(guī)格應(yīng)符合GB/T23901.5的規(guī)定。計(jì)材料的吸收系數(shù)應(yīng)盡可能地接近或等同于被檢材料的吸收系數(shù)，任何情況下不能高于被檢材料的吸像質(zhì)計(jì)材料代號(hào)FeAlNiTi像質(zhì)計(jì)材料碳素鋼工業(yè)純鋁純銅鎳-鉻合金工業(yè)純鈦適用材料范圍鋼鋁、鋁合金銅、鋅、錫及其合金鎳、鎳合金鈦、鈦合金壓力來確保膠片與金屬增感屏緊密貼合，膠片與金屬增感屏之間不能夾雜異物。金屬增感屏的選用應(yīng)符合表3的規(guī)定。射線能量材料前屏厚度mm后屏厚度mm管電壓或加速電壓UU≤100kV鉛不用或不大于0.03100kV<U≤150kV鉛0.02～0.100.02～0.15150kV<U≤250kV鉛0.02～0.150.02～0.15250kV<U≤500kV鉛0.02～0.200.02～0.201MeV<U≤4MeV鋼或銅0.25～0.700.25～0.700.50～2.00.50～2.04MeV<U≤12MeV銅、鋼或鉭銅、鋼不大于1.0鉭不大于0.500.50～1.00.50～1.0γ射線源種類Tm170鉛不用或不大于0.03不用或不大于0.03Yb169鉛0.02～0.150.02～0.15Se75鉛A級(jí)0.02～0.20A級(jí)0.02～0.205射線能量材料前屏厚度后屏厚度γ射線源種類鉛鉛A級(jí)0.02～0.20A級(jí)0.02～0.20鋼或銅0.50～2.00.50～2.0如果AB級(jí)、B級(jí)使用前屏不大于0.03mm的真空包裝膠片，應(yīng)在工件和膠片之間加0.07mm～0.15mm厚的附加b采用Co60射線源透照有延遲裂紋傾向或標(biāo)準(zhǔn)抗拉強(qiáng)度下限值Rm≥540MPa材料時(shí)，AB級(jí)和B級(jí)應(yīng)采用鋼或銅4.3工藝通用要求4.3.1.2檢測(cè)技術(shù)等級(jí)的選擇應(yīng)符合相關(guān)法規(guī)、規(guī)范、標(biāo)準(zhǔn)和設(shè)計(jì)技術(shù)文件的要求，同時(shí)還應(yīng)滿足合同雙方商定的其他技術(shù)要求。一般應(yīng)采用AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)進(jìn)行檢測(cè)。對(duì)重要設(shè)備、結(jié)構(gòu)、特殊材料和特殊焊接工藝制作的對(duì)接接頭，可采用B級(jí)技術(shù)進(jìn)行檢測(cè)。有效補(bǔ)償措施的前提下(如選用更高類別的膠片、適當(dāng)提高底片黑度、采用最佳透照方式、最大限度控制散射線、選用更好的射線源等),若影像的像質(zhì)計(jì)靈敏度達(dá)到了AB級(jí)或B級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)的規(guī)定，則可認(rèn)為按AB級(jí)或B級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)進(jìn)行了檢測(cè)；若采用A級(jí)檢測(cè)技術(shù)進(jìn)行射線檢測(cè)，應(yīng)同時(shí)采用其他無損檢測(cè)方法進(jìn)行補(bǔ)充檢測(cè)。4.3.2射線源至工件表面的最小距離4.3.2.1射線源至工件表面的最小距離應(yīng)滿足式(1)～式(3)的要求：b)AB級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)：c)B級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)：f——源至工件表面的距離，mm;d——源的有效焦點(diǎn)尺寸，mm;b工件表面至膠片或成像器的距離，mm。4.3.2.2射線源置于被檢工件內(nèi)部單壁透照時(shí)，在滿足像質(zhì)計(jì)指數(shù)和底片黑度(影像灰度)要求的前提下，射線源至工件表面的最小距離允許減小一定的幅度。源偏心時(shí)最小距離減小不應(yīng)超過f的20%,源6DL/T821—2017在中心時(shí)最小距離減小不應(yīng)超過f的50%。代表返修次數(shù)),加倍抽檢的應(yīng)有“JB”標(biāo)記。4.3.5.3定位標(biāo)記應(yīng)包括中心標(biāo)記和搭接標(biāo)記等。中心標(biāo)記應(yīng)采用“”表示，搭接標(biāo)記可采用“1”4.3.5.5標(biāo)記應(yīng)置于距焊縫邊緣大于或等于5mm的位置，所有標(biāo)記不應(yīng)重疊，且不應(yīng)影響影像評(píng)定。力和檢測(cè)范圍的前提下，宜采用較低的射線能量。不同材料、不同透照厚度采用的最高管電壓不應(yīng)超過圖1的規(guī)定。射線數(shù)字成像檢測(cè)時(shí)，最高管電壓不宜超過圖1規(guī)定值的85%。3——代表鈦及其合金；4——代表鋁及其合金。74.3.6.2γ射線和高能X射線對(duì)鋼、銅和鎳及其合金材料適用的透照厚度范圍應(yīng)符合表4的規(guī)定。透照厚度TmmA級(jí)、AB級(jí)B級(jí)Tm170T,≤5T≤5Yb169Se75b20≤T≤100Co6040≤Ta≤200X射線(1MeV～4MeV)50≤Ta≤180X射線(≥4MeV～12MeV)Ta≥50對(duì)于鋁和鈦，A級(jí)和AB級(jí)透照厚度為10<T?<70,B級(jí)透照厚度為25<T<55。b對(duì)于鋁和鈦，A級(jí)和AB級(jí)透照厚度為35<T?<120。4.3.6.3被檢工件透照厚度大于或等于10mm且透照厚度差較大、小直徑管壁厚大于8mm時(shí)，宜采用γ射線源透照，但膠片等級(jí)或成像器的空間分辨率應(yīng)提高一個(gè)等級(jí)。小直徑管壁厚大于或等于10mm時(shí)，不宜采用膠片成像檢測(cè)，可采用射線數(shù)字成像檢測(cè)或超聲波等其他方法檢測(cè)。4.3.6.4采用中心透照時(shí)，在保證像質(zhì)計(jì)靈敏度滿足要求的前提下，允許γ射線最小透照厚度取表4下限值的50%。4.3.6.5當(dāng)采用其他方式透照時(shí)，在保證像質(zhì)計(jì)靈敏度滿足要求的前提下，經(jīng)合同雙方商定，A級(jí)、AB級(jí)技術(shù)的Ir192和Se75射線源最小透照厚度可取表4中相應(yīng)下限值的50%。a)X射線透照焦距為700mm時(shí)，A級(jí)、AB級(jí)曝光量不宜小于15mA·min,B級(jí)曝光量不宜小于20mA·min。當(dāng)焦距發(fā)生改變時(shí)可按平方反比定律對(duì)曝光量進(jìn)行換算。b)小直徑管采用橢圓成像或垂直成像透照，焦距為700mm時(shí)，曝光量宜控制在7.5mA·min以內(nèi)，且管子內(nèi)壁輪廓應(yīng)清晰顯示在底片上。當(dāng)壁厚大于或等于8mm時(shí)，應(yīng)按照4.3.6.3的要求執(zhí)行；如選用X射線在保證穿透力和檢測(cè)范圍的前提下，焦距為700mm時(shí)曝光量可大于c)采用γ射線源透照時(shí)，曝光時(shí)間不應(yīng)少于輸送射線源往返所需時(shí)間的10倍。曝光量可按式(4)計(jì)算。K——常數(shù)(C5膠片取0.026,C4膠片取0.038);F——焦距，mm;8DL/T821—2017后放置厚度為2mm～3mm的鉛板，以減少背散射線對(duì)底片質(zhì)量的影響。透照管排時(shí)，如因管子間散射管排鉛板4.4.2放射工作人員應(yīng)佩戴個(gè)人劑量計(jì)，工作現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)配置射線報(bào)警儀，γ射線檢測(cè)時(shí)還應(yīng)配置輻射監(jiān)4.5成像質(zhì)量和觀察4.5.1.3觀片燈在底片評(píng)定范圍內(nèi)透過的亮度大于或等于10cd/m2時(shí)，底片允許黑度的上限可適當(dāng)9DL/T821—20174.5.2.1A級(jí)、AB級(jí)影像的灰度值應(yīng)控制在滿量程的20%～80%;B級(jí)影像的灰度值應(yīng)控制在滿量程的40%～80%。4.5.2.2影像灰度的確定方法見附錄B。4.5.3.3雙線型像質(zhì)計(jì)可識(shí)別率測(cè)量應(yīng)按附錄A的規(guī)定進(jìn)行。4.5.4.2底片上不應(yīng)出現(xiàn)驗(yàn)證背散射屏蔽效果標(biāo)記“B”黑度低于周圍背景黑度的影像。4.5.4.4數(shù)字影像信噪比應(yīng)滿足表5和表6歸一化信噪比的最低要求。數(shù)字影像歸一化信噪比的計(jì)算方法參見附錄C。表5適用于鋼、鎳、鈦及其合金的歸一化信噪比的最低要求透照厚度mm歸一化信噪比A級(jí)、AB級(jí)B級(jí)管電壓UU<50—γ射線種類表6適用于鋁及其合金的歸一化信噪比的最低要求歸一化信噪比A級(jí)、AB級(jí)B級(jí)U<150150≤U<250250≤U<500γ射線種類Se75DL/T821—20174.5.5.1評(píng)片人員在評(píng)片前應(yīng)經(jīng)歷一定的暗適應(yīng)時(shí)間，從陽光下進(jìn)入評(píng)片的暗適應(yīng)時(shí)間一般為5min~10min;從一般的室內(nèi)進(jìn)入評(píng)片的暗適應(yīng)時(shí)間應(yīng)不少于30s。b)當(dāng)?shù)灼u(píng)定范圍內(nèi)的黑度D大于2.5時(shí)，透過底片評(píng)定范圍內(nèi)的亮度應(yīng)不低于10cd/m2。4.5.5.3評(píng)定時(shí)允許使用放大倍數(shù)小于或等于5倍的放大鏡。4.5.5.4數(shù)字影像觀察時(shí)，應(yīng)在光線柔5透照及成像技術(shù)5.1透照方法5.1.1縱縫透照法射線源置于工件一側(cè)，膠片或成像器放置在工件另一側(cè)相應(yīng)對(duì)接接頭的區(qū)域上，并與其貼緊。縱縫透照法示意圖見圖3。L工件表面至膠片或成像器的距離；圖3縱縫透照法示意圖射線源應(yīng)置于金屬管外，膠片或成像器應(yīng)放置在射線源側(cè)鋼管內(nèi)壁相應(yīng)對(duì)接接頭的區(qū)域上，并與其貼緊。單壁單投影法示意圖見圖4。DL/T821—2017射線源射線源3mm~10mm為宜，見圖6a)。射線源射線源射線源射線源圖6雙壁雙投影法示意圖DL/T821—2017使用γ射線源時(shí)，射線源應(yīng)置于環(huán)縫縱向切面中心位置；采用周向X射線機(jī)時(shí)，應(yīng)使膠片或成像器射線源應(yīng)置于環(huán)縫縱向切面中心以外的位置，膠片或成像器應(yīng)放置工件外表面對(duì)接接頭上，并與膠片或成像器膠片或成像器sff5.2.1.1板及外徑大于89mm的管道，其對(duì)接接頭透照應(yīng)采用JB/T7902中規(guī)定的線型像質(zhì)計(jì)。5.2.1.2外徑大于76mm且小于或等于89mm的管子，其對(duì)接接頭透照應(yīng)采用附錄D規(guī)定的I型專用5.2.1.3外徑小于或等于76mm的管子，其對(duì)接接頭透照應(yīng)采用附錄D規(guī)定的Ⅱ型或I型專用像質(zhì)計(jì)。5.2.1.4透照厚度Ta應(yīng)根據(jù)透照方法，按附錄E的規(guī)定計(jì)算。5.2.1.5像質(zhì)指數(shù)的選擇應(yīng)符合表7的規(guī)定。DL/T821—2017像質(zhì)指數(shù)mm單壁透照(像質(zhì)計(jì)置于源側(cè))雙壁雙影透照(像質(zhì)計(jì)置于源側(cè))雙壁單影或雙壁雙影透照(像質(zhì)計(jì)置于膠片或成像器側(cè))AB級(jí)AB級(jí)AB級(jí)一—一98765—4一一3一一2一一一直，細(xì)絲置于外側(cè)。當(dāng)射線源側(cè)無法放置像質(zhì)計(jì)時(shí)，也可放在膠片側(cè)的工件表面上，但像質(zhì)指數(shù)應(yīng)提高一級(jí)，或通過對(duì)比試驗(yàn)使實(shí)際像質(zhì)指數(shù)達(dá)到規(guī)定的要求。像質(zhì)計(jì)放在膠片側(cè)工件表面時(shí)，應(yīng)附加“F”標(biāo)記。DL/T821—20175.2.1.8I型專用像質(zhì)計(jì)在透照單根管子時(shí)應(yīng)放在距射線源最近的焊縫表面，金屬絲應(yīng)橫跨焊縫并與焊縫垂直。透照排管時(shí)，按5.2.1.6執(zhí)行。5.2.1.9Ⅱ型專用像質(zhì)計(jì)的金屬絲應(yīng)置于焊縫中心，圍繞全周。5.2.2.1雙線型像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在成像器側(cè)被檢工件檢測(cè)區(qū)中心位置，金屬絲與成像器的行或列成2°~505.2.2.2數(shù)字影像中應(yīng)顯示雙線型像質(zhì)計(jì)。在透照參數(shù)和檢測(cè)對(duì)象不變連續(xù)檢測(cè)的情況下，可僅在第一幅影像中顯示雙線型像質(zhì)計(jì)。5.2.2.3若雙線型像質(zhì)計(jì)無法放置在規(guī)定的位置，應(yīng)采用表8、表9中厚度下限值的對(duì)比試件代替被檢工件，但其數(shù)字影像分辨率不得低于表8、表9中的規(guī)定值。公稱厚度T或透照厚度Ta范圍mm影像分辨率Lp/mm絲號(hào)絲徑mm2<TIT?≤3.56.25D110.18D100.105<TIT≤10D90.1310<TIT.≤253.125D80.16D70.2055<T/T≤150D60.25150<T/T,≤250D50.32T/T?>250D40.40注：對(duì)于雙壁單影透照方式，應(yīng)取公稱厚度T。表9B級(jí)檢測(cè)技術(shù)等級(jí)像質(zhì)應(yīng)達(dá)到的影像分辨率公稱厚度T或透照厚度Ta范圍mm影像分辨率Lp/mm絲號(hào)絲徑mm2<T/T.≤4D130.05D120.0636.25D110.08D100.1040<TIT?≤120D90.13120<TIT≤2003.125D80.16T/T.>200D70.20注：對(duì)于雙壁單影透照方式，應(yīng)取公稱厚度T。5.3深度對(duì)比塊小直徑管對(duì)接接頭的未焊透和內(nèi)凹深度的測(cè)定，應(yīng)采用附錄D的I型深度對(duì)比塊。當(dāng)管子外徑大于89mm時(shí)，采用附錄D的Ⅱ型深度對(duì)比塊。對(duì)比塊應(yīng)平行于焊縫放置，且距焊縫邊緣大于或等于DL/T821—20175.4.1采用雙壁單影法透照時(shí)，射線源至工件外表面的距離，當(dāng)小于或等于15mm時(shí)，至少分3段透照，即每段對(duì)應(yīng)的中心角應(yīng)小于或等于120°;當(dāng)大于15mm時(shí)，至少分4段透照，即每段對(duì)應(yīng)的中心5.4.2對(duì)外徑大于76mm且小于或等于89mm的管子，其焊縫采用雙壁雙影法透照時(shí)，相隔90°透照a)環(huán)形對(duì)接焊縫的K值不大于1.1。b)縱向?qū)雍缚p的K值不大于1.03。DL/T821—2017母材公稱厚度TmmT≤2525<T≤100T>100評(píng)定區(qū)尺寸mm×mm表11缺陷點(diǎn)數(shù)換算表缺陷長徑點(diǎn)數(shù)1236母材公稱厚度Tmm缺陷長徑mmT≤25≤0.525<T≤50≤0.7T>50c)應(yīng)根據(jù)表13對(duì)對(duì)接接頭質(zhì)量進(jìn)行評(píng)級(jí)。DL/T821—2017評(píng)定區(qū)尺寸mm×mm母材公稱厚度mm點(diǎn)數(shù)質(zhì)量級(jí)別T≤1025<T≤5050<T≤100T>100I123456369Ⅲ6點(diǎn)數(shù)大于Ⅲ級(jí)者；長徑大于T/2者；深孔缺陷焊縫質(zhì)量的分級(jí)應(yīng)降低1級(jí)。1)缺陷的矩形評(píng)定區(qū)長度由質(zhì)量級(jí)別確定，Ⅱ級(jí)時(shí)為12T、Ⅲ級(jí)時(shí)為67。2)缺陷的矩形評(píng)定區(qū)寬度確定：T≤25mm,寬度為4mm;25mm<T≤100mm,寬度為6mm;T>100mm,寬度為8mm。表14含有條形缺陷的對(duì)接接頭質(zhì)量分級(jí)質(zhì)量級(jí)別母材厚度Tmm條狀缺陷總長連續(xù)長度ⅡT≤124在矩形評(píng)定區(qū)內(nèi)，相鄰兩缺陷間距均不超過6L的任何一組缺陷，其累計(jì)長度在12T焊縫長度內(nèi)不超過TT/3T≥60ⅢT≤96在矩形評(píng)定區(qū)內(nèi)，相鄰兩缺陷間距均不超過3L的任何一組缺陷，其累計(jì)長度在6T焊縫長度內(nèi)不超過T9<T<45T≥45大于Ⅲ級(jí)者注1:L為該組條形缺陷最長者的長度，T為母材公稱厚度。注2:當(dāng)被檢焊縫長度小于12T(Ⅱ級(jí))或6T(Ⅲ級(jí)),可按被檢焊縫長度小于12T(Ⅱ級(jí))或6T(Ⅲ級(jí))的比例折算出被檢焊縫的長度內(nèi)的允許值。當(dāng)折算的條形缺陷總長度小于單個(gè)條形缺陷長度時(shí)，以單個(gè)條形缺陷長度為允許值。注3:當(dāng)兩個(gè)或兩個(gè)以上條形缺陷在矩形評(píng)定區(qū)內(nèi)且相鄰間距小于或等于較小條形缺陷時(shí)，應(yīng)作為單個(gè)連續(xù)條形缺陷處理，其間距也應(yīng)計(jì)入條形缺陷長度，否則應(yīng)分別評(píng)定。DL/T821—2017表15含有未焊透缺陷的對(duì)接接頭質(zhì)量分級(jí)質(zhì)量級(jí)別未焊透深度未焊透總長mm占壁厚百分比%極限深度mm連續(xù)未焊透長度斷續(xù)未焊透長度ⅡT≤12時(shí)，不大于4;12<T<36時(shí)，不大于T/3;T≥36時(shí)，不大于12在任意直線上，相鄰兩缺陷間距均不超過6L的任何一組缺陷，其累計(jì)長度在12T焊縫長度內(nèi)不超過TⅢT≤9時(shí)，不大于6;9<T<30時(shí)，不大于2T/3;T≥30時(shí)，不大于20在任意直線上，相鄰兩缺陷間距均不超過3L的任何一組缺陷，其累計(jì)長度在6T焊縫長度內(nèi)不超過T大于Ⅲ級(jí)者注1:L為斷續(xù)未焊透中最長者的長度，T為母材公稱厚度。間距也應(yīng)計(jì)入條形缺陷長度，否則應(yīng)分別評(píng)定。注3:當(dāng)被檢焊縫長度小于12T(Ⅱ級(jí))或6T(Ⅲ級(jí)),可按被檢焊縫長度小于12T(Ⅱ級(jí))或6T(Ⅲ級(jí))的比例折個(gè)(連續(xù))未焊透缺陷長度為允許值。注4:按DL/T869規(guī)定，適用氬弧焊打底的對(duì)接接頭不允許有根部未焊透缺陷。c)含有未焊透缺陷的小直徑管對(duì)接接頭質(zhì)量分級(jí)應(yīng)符合表16的規(guī)定。質(zhì)量級(jí)別未焊透深度連續(xù)或一條直線上斷續(xù)未焊透占焊縫總長的百分比%占壁厚百分比%極限深度mmⅡ≤1.5Ⅲ大于Ⅲ級(jí)者注1:當(dāng)兩個(gè)或兩個(gè)以上未焊透在一條直線上且相鄰小于或等于較小條形缺陷時(shí)，應(yīng)作為單個(gè)連續(xù)條形缺陷處理，其間距也應(yīng)計(jì)入條形缺陷長度，否則應(yīng)分別評(píng)定。注2:按DL/869規(guī)定，適用氬弧焊打底的對(duì)接接頭不允許有根部未焊透缺陷。含有根部內(nèi)凹缺陷的對(duì)接接頭質(zhì)量分級(jí)應(yīng)符合表17的規(guī)定。質(zhì)量級(jí)別內(nèi)凹深度內(nèi)凹總長占焊縫總長的百分比%占壁厚百分比%極限深度mmIⅡ≤1.5Ⅲ大于Ⅲ級(jí)者注：對(duì)斷續(xù)內(nèi)凹，以其本身長度累加計(jì)算總長度。DL/T821—2017在評(píng)定區(qū)內(nèi)同時(shí)存在幾種類型缺陷時(shí)，應(yīng)先按各類缺陷分別對(duì)對(duì)接接頭進(jìn)行分級(jí)，然后將各自評(píng)7.3.1.1檢測(cè)結(jié)果評(píng)定和質(zhì)量分級(jí)適用于厚度2mm～80mm的}}區(qū)尺寸見表18。b)應(yīng)先按表19將評(píng)定區(qū)內(nèi)的圓形缺陷換算成點(diǎn)數(shù)并累計(jì)計(jì)算點(diǎn)數(shù)，再按表20的規(guī)定評(píng)定對(duì)接接表18圓形缺陷評(píng)定區(qū)尺寸母材公稱厚度TmmT≤2020<T≤80評(píng)定區(qū)尺寸mmXmm表19圓形缺陷點(diǎn)數(shù)換算表缺陷長徑點(diǎn)數(shù)1236評(píng)定區(qū)mm×mm母材公稱厚度TmmT≤520<T≤4040<T≤80I級(jí)4688Ⅲ級(jí)IV級(jí)缺陷點(diǎn)數(shù)大于Ⅲ級(jí)者注1:單個(gè)圓形缺陷評(píng)定：I級(jí)：缺陷尺寸不大于TI5,且不大于4mm的缺陷，在1000mm2區(qū)域不超過1個(gè)。Ⅱ級(jí)：缺陷尺寸不大于T/4,且不大于6mm的缺陷，在1000mm2區(qū)域不超過1個(gè)。Ⅲ級(jí)：缺陷尺寸不大于T/3,且不大于8mm的缺陷，在1000mm2區(qū)域不超過1個(gè)。注2:當(dāng)母材公稱厚度不同時(shí)，取較薄側(cè)的厚度。DL/T821—2017c)當(dāng)缺陷的尺寸小于表21的規(guī)定時(shí)，分級(jí)評(píng)定不計(jì)該缺陷點(diǎn)數(shù)。但對(duì)于1級(jí)對(duì)接接頭和母材公稱厚度T≤5mm的2級(jí)對(duì)接接頭，不計(jì)點(diǎn)數(shù)的缺陷在圓形評(píng)定區(qū)內(nèi)不得多于10個(gè)，超過時(shí)對(duì)接接頭質(zhì)量應(yīng)降一級(jí)。母材公稱厚度Tmm缺陷長徑mmT≤10≤0.320<T≤40≤0.77.3.2.5含有未焊透、根部內(nèi)凹和咬邊缺陷的對(duì)接接頭質(zhì)量分級(jí)應(yīng)按表22的規(guī)定評(píng)定對(duì)接接頭的質(zhì)量質(zhì)量級(jí)別未焊透深度占壁厚百分比%連續(xù)或一條直線上斷續(xù)未焊透占焊縫周長%任意500mm長度內(nèi)ⅡⅢ大于Ⅲ級(jí)者注1:當(dāng)兩個(gè)或兩個(gè)以上未焊透在一條直線上且相鄰小于或等于較小條形缺陷時(shí)，應(yīng)作為單個(gè)連續(xù)條形缺陷處理，其間距也應(yīng)計(jì)入條形缺陷長度，否則應(yīng)分別評(píng)定。注2:按DL/T869規(guī)定，適用氬弧焊打底的對(duì)接接頭不允許有根部未焊透缺陷。在評(píng)定區(qū)內(nèi)，同時(shí)存在幾種類型缺陷時(shí)，應(yīng)先按各類缺陷對(duì)對(duì)接接頭質(zhì)量分級(jí)，取質(zhì)量級(jí)別最低的級(jí)別作為綜合分級(jí)的級(jí)別；當(dāng)含有各類缺陷的對(duì)接接頭質(zhì)量級(jí)別相同時(shí)，則降低一級(jí)作為綜合分級(jí)7.4.1.1檢測(cè)結(jié)果評(píng)定及質(zhì)量分級(jí)適用于厚度為2mm～50mm鈦及鈦合金熔化焊對(duì)接接頭。DL/T821—2017表23圓形缺陷評(píng)定區(qū)評(píng)定區(qū)尺寸mm×mmb)在評(píng)定區(qū)內(nèi)或與評(píng)定區(qū)邊界線相割的缺陷均應(yīng)劃入評(píng)定區(qū)內(nèi)。評(píng)定圓形缺陷時(shí)應(yīng)按表24換算成點(diǎn)數(shù)在評(píng)定區(qū)域內(nèi)累計(jì)計(jì)算，按表25的表24缺陷點(diǎn)數(shù)換算表缺陷尺寸mm缺陷點(diǎn)數(shù)1248評(píng)定區(qū)mm×mm母材公稱厚度TmmT≤33<T≤520<7≤3030<T≤50I級(jí)1234562468Ⅲ級(jí)48IV級(jí)缺陷點(diǎn)數(shù)大于Ⅲ級(jí)或缺陷長徑大于T/2。注：當(dāng)母材公稱厚度不同時(shí)，取較薄板的厚度。c)當(dāng)缺陷的尺寸小于表26的規(guī)定時(shí)，分級(jí)評(píng)定不計(jì)該缺陷點(diǎn)數(shù)。但對(duì)于1級(jí)對(duì)接接頭和母材公稱厚度T≤5mm的Ⅱ級(jí)對(duì)接接頭，不計(jì)點(diǎn)數(shù)的缺陷在圓形評(píng)定區(qū)內(nèi)不得多于10個(gè)，母材公稱厚度T>5min的Ⅱ級(jí)對(duì)接接頭，不計(jì)點(diǎn)數(shù)的缺陷在圓形評(píng)定區(qū)內(nèi)不得多于20個(gè)，母材公稱厚度T>5mm的Ⅲ級(jí)對(duì)接接頭，不計(jì)點(diǎn)數(shù)的缺陷在圓形評(píng)定區(qū)內(nèi)不得多于30個(gè)，超過上述規(guī)定表26不計(jì)點(diǎn)數(shù)的缺陷尺寸母材公稱厚度T缺陷長徑在評(píng)定區(qū)內(nèi)，同時(shí)存在幾種類型缺陷時(shí)，應(yīng)先按各類缺陷對(duì)對(duì)接接頭質(zhì)量分級(jí)，取質(zhì)量級(jí)別最低DL/T821—2017的級(jí)別作為綜合分級(jí)的級(jí)別；當(dāng)含有各類缺陷的對(duì)接接頭質(zhì)量級(jí)別相同時(shí)，則降低一級(jí)作為綜合分級(jí)8技術(shù)資料8.1檢測(cè)報(bào)告主要內(nèi)容應(yīng)包括：產(chǎn)品名稱、檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)、檢測(cè)部位、使用設(shè)備、成像條件、缺陷情況、驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)和質(zhì)量等級(jí)、返修情況、檢驗(yàn)人員及其資格等級(jí)和照相日期等，射線檢測(cè)報(bào)告格式參見附(規(guī)范性附錄)系統(tǒng)分辨率的核查及雙線型像質(zhì)計(jì)可識(shí)別率的測(cè)量A.1系統(tǒng)分辨率核查應(yīng)采用分辨率測(cè)試卡(平行排列形式、扇形排列形式)或雙線型像質(zhì)計(jì)。分辨率測(cè)試卡的最大線對(duì)數(shù)應(yīng)大于系統(tǒng)規(guī)定的性能指標(biāo)(見表8、表9)。A.2分辨率測(cè)試卡樣應(yīng)符合GB/T23903的規(guī)定。A.3雙線型像質(zhì)計(jì)式樣應(yīng)符合GB/T23901.5的規(guī)定。A.4分辨率測(cè)試卡和雙線型像質(zhì)計(jì)均應(yīng)有測(cè)試或鑒定證書。A.5核查方法。A.5.1應(yīng)將分辨率測(cè)試卡或雙線型像質(zhì)計(jì)緊貼在成像器表面中心區(qū)域，金屬絲應(yīng)與成像器的行或列成2°~5°夾角，按如下工藝進(jìn)行透照，并在計(jì)算機(jī)上成像：a)射線源焦點(diǎn)至成像器的距離為1000mm±50mm。b)不同材質(zhì)的曝光參數(shù)：1)對(duì)于輕合金材料：相當(dāng)于90kV的射線能量，1mm鋁濾波板；2)對(duì)于鋼、銅、鎳及其合金材料：厚度不大于20mm時(shí)，相當(dāng)于160kV的射線能量，1mm鋁濾波板；3)對(duì)于鋼、銅、鎳及其合金材料：厚度大于20mm時(shí)，相當(dāng)于220kV的射線能量，1mm鋁濾波板。c)灰度值不小于最大灰度值的50%。不小于140;像素值小于80μm時(shí)，SNR不小于100。A.5.2在顯示屏上觀察分辨率測(cè)試卡的影像，當(dāng)觀察到柵條剛好分離的一組線對(duì)，則該組線對(duì)所對(duì)應(yīng)的數(shù)值即為系統(tǒng)分辨率。A.6雙線型像質(zhì)計(jì)可識(shí)別率的測(cè)量方法。A.6.1雙線型像質(zhì)計(jì)的布置。雙線型像質(zhì)計(jì)的放置應(yīng)與影像(或成像器)的行或列成較小的夾角(20°~50°)。A.6.2雙線型像質(zhì)計(jì)的識(shí)別的測(cè)量應(yīng)在影像上灰度均勻的區(qū)域內(nèi)進(jìn)行，應(yīng)使用不少于21行像素疊加平均。A.6.3按照?qǐng)DA.1所示，在能夠清晰地分辨最細(xì)線對(duì)的影像處，按式(A.1)計(jì)算絲的可識(shí)別率R。BGV△GV圖A.1雙線型像質(zhì)計(jì)可識(shí)別率圖示DL/T821—2017DL/T821—2017灰度直方圖是灰度級(jí)的函數(shù)，描述的是影像中該灰度級(jí)的像素個(gè)數(shù)或該灰度級(jí)像素出現(xiàn)的頻率，反映了影像灰度分布的情況。橫坐標(biāo)表示灰度級(jí)，縱坐標(biāo)表示影像中該灰度級(jí)出現(xiàn)的個(gè)數(shù)或該灰度級(jí)B.2通過A/D轉(zhuǎn)換數(shù)值確定影像灰度灰度等級(jí)是對(duì)數(shù)字成像系統(tǒng)獲得的黑白影像明暗程度的定量描述，它由系統(tǒng)A/D轉(zhuǎn)換器(模/數(shù)轉(zhuǎn)DL/T821—2017JB/T7902的規(guī)定。其形式、線編號(hào)見圖D.1。圖D.1中編號(hào)由3位字母表示，第1、第2位表示材DL/T-821ADL/T-8212