機械工業(yè)工程設(shè)計基本術(shù)語標準14計量與理化試驗

計量與理化試驗14.1計量14.1.1計量metering用一個規(guī)定的標準已知量作單位和同類型的未知量相比較而加以檢定的過程。14.1.2計量工作meteringwork為確保計量單位的統(tǒng)一及量值的準確一致所進行的全部工作。14.1.3計量單位unitofmeasurement用以定量表示同種量量值而約定采用的特定量。14.1.4計量器具meteringinstrument用于直接測量被測對象的測量器具。14.1.5計量儀器measuringinstrument將被測量值轉(zhuǎn)換成可直接觀察的示值或等效信息的計量器具。14.1.6計量裝置measuringapparatus為確定被測量值所必需的計量器具和輔助設(shè)備的總體。14.1.7計量器具準確度accuracyofameasuringinstrument計量器具給出的接近于被測量真值的能力。14.1.8測量measurement以確定被測對象量值為目的的全部操作。14.1.9測量范圍measuringrange使計量器具誤差處于允許極限內(nèi)的一組被測值的范圍，它的上、下限分別稱為上限值、下限值。14.1.10量值valuequantity用一個數(shù)和一個合適的計量單位表示的量。14.1.11工廠計量室metrologicalofficeoffactroy管理機械工廠計量工作的職能部門。14.1.12計量點measurementspot計量檢測監(jiān)控點。14.1.13計量技術(shù)measurementtechnique實現(xiàn)計量單位統(tǒng)一和量值準確的各種技術(shù)的總稱。14.1.14計量確認metrologicalconfirmation為保證計量檢測設(shè)備滿足預定使用要求所需的一組操作。14.1.15計量監(jiān)督metrologicalsupervision按照計量法律、法規(guī)的要求所進行的帶強制性的計量管理。14.1.16計量標準standardofmeasurement按國家計量檢定系統(tǒng)表規(guī)定的準確度等級，用于檢定較低等級計量標準或工作量器具的計量器具，在國家計量檢定系統(tǒng)表中，計量標準的位置在工作基準之下，在工作計量器具之上。14.1.17工作基準workingstandard通過與國家基準或副基準比對或校準，用以檢定計量標準的計量器具，在國家計量檢定系統(tǒng)表中，工作基準的位置在國家基準和副基準之下，在各等級計量標準之上。14.1.18國家計量基準器nationalmeteringprototype用來復現(xiàn)和保存計量單位，具有現(xiàn)代科學技術(shù)所能達到的最高準確度的計量器具。14.1.19量值傳遞disseminationofthevalueofquantity通過對計量器具的檢定或校準，將國家基準所復現(xiàn)的計量單位量值，通過各等級計量標準傳遞到工作計量器具，以保證被測對象量值的準確和一致的有關(guān)操作。14.1.20檢定verification為評定計量器具的計量性能并確定其是否合格所進行的全部工作。14.1.21檢定系統(tǒng)verificationsystem按規(guī)定程序批準由基準器或工作基準向標準器直到工作量器具傳遞量值的有關(guān)傳遞程序、范圍、器具、方法及準確度等一系列規(guī)定文件的總稱。14.1.22周期檢定periodicverification根據(jù)檢定規(guī)程規(guī)定的周期，對計量器具進行的隨后檢定。14.1.23檢定周期verificationperiod計量器具相鄰兩次周期檢定間的時間間隔。14.1.24檢定裝置verificationapparatus配備有標準計量器具和相應附屬設(shè)備的用于檢定較低等級計量標準和工作計量器具的計量裝置。14.1.25指示裝置Indicatingdevice測量儀器顯示示值的部件。14.1.26記錄裝置ecordingdevice提供示值記錄的測量儀器部件。14.1.27誤差error量值與真值的差值。14.1.28相對誤差relativetolerance測量誤差除以被測量的真值。14.1.29形位誤差shapeandlocationerror形狀誤差和位置誤差。14.1.30測量誤差errorofmeasurement測量結(jié)果與被測量的真值之間的差。14.1.31測量過程processofmeasurement與給定的測量有關(guān)的全部信息、設(shè)備與操作14.1.32公差tolerance最大極限尺寸和最小極限尺寸代數(shù)差的絕對值。14.1.33量塊gaugeblock長度端面實物量具。14.1.34量塊的等gradeofgaugeblock根據(jù)對量塊長度測量誤差、量塊長度變動量和其他技術(shù)指標，我國計量檢定規(guī)程將量塊分成六等。14.1.35量塊的級classofgaugeblock根據(jù)量塊長度相對其標稱尺寸的偏差、量塊長度變動量和其他技術(shù)指標，將量塊分為：00，0，1，2，（3）及K級，其中K級稱校準級。14.1.36平晶opticalflat檢測用的園柱形透明玻璃平板.14.1.37熱電偶thermocouple利用熱電效應進行測溫的裝置。14.1.38熱電偶比較檢定法comparisonmethodforcalibratingthermo-couple將標準熱電偶與被檢熱電偶置于比較爐(管式爐)中進行比較檢定的方法。14.1.39熱電偶同名極檢定法same-polaritymethodofcalibratingther-mocouple將同型號的標準熱電偶和被檢熱電偶置于同一溫度下（即在管式比較爐中）進行同名極比較檢定的方法。14.1.40熱電偶微差檢定法differentialmethodforcalibratingther-mocouple將同型號的標準熱電偶和被檢熱電偶置于同一溫度下，反向串聯(lián)，直接測量其熱電勢的差值的檢定方法。14.1.41原器天平prototypebalance用于國家千克原器及千克副基準等高精確度砝碼量值比較的一種高精密度專用天平。14.1.42標準砝碼standardweight計量部門用于質(zhì)量量值傳遞的、準確度符合計量規(guī)程要求的一類砝碼。14.1.43標準電池standardcell一種電動勢非常穩(wěn)定，作電壓標準用的化學源電池。14.1.44標準電感器standardinductor復現(xiàn)、保存和傳遞電感量值的量具。14.1.45標準電容器standardcapacitor復現(xiàn)、保存和傳遞電容量值的量具。14.1.46標準電阻器standardresistor復現(xiàn)、保存和傳遞電阻單位量值的一組標準量具。14.1.47儀表準確度等級accuraryclassofinstrument按儀表允許誤差的大小分類的一種標準。14.1.48機械式測微儀mechanicalindicatorgauge一種將測量桿的微小直線位移通過相應的機械放大機構(gòu)轉(zhuǎn)換為指針的角位移，并由指針在刻度盤上指示出位移值的高精度長度測量儀器。14.1.49扭簧比較儀microcator采用軸向伸長量與回轉(zhuǎn)角在一定范圍內(nèi)呈線性關(guān)系的扭簧絲作為放大元件，將測桿的線位移轉(zhuǎn)換為指針角位移的機械式計量儀器。14.1.50測微儀檢定器calibratorforindcatorgauge用于檢定分度值為0.001mm，示值范圍不大于±0.1mm的各種測微儀的示值誤差和回程誤差的儀器。14.1.51萬能漸開線檢查儀universalinvolutetester在漸開線測量中，不因改變被測齒輪參數(shù)而要更換基園盤的漸開線檢查儀。14.1.52萬測測齒儀universalgeartester可測量圓柱齒輪、蝸輪和圓錐齒輪的齒距、公法線、齒厚、齒圈徑向跳動等多種參數(shù)誤差的齒輪量儀。14.1.53齒輪雙面嚙合綜合檢查儀doubletooth-pitchtestingdevice測得徑向一齒綜合誤差的一種齒輪測量儀器。14.1.54齒輪單面嚙合綜合檢查儀singletooth-pitchtestingdevice綜合反映齒輪各項誤差的一種齒輪測量儀。14.1.55內(nèi)齒輪檢查儀internalgeartester用于測量內(nèi)齒輪齒距、基園齒距、齒圈跳動量等參數(shù)及漸開線檢查等的齒輪量儀。14.1.56基節(jié)儀basepitchgauge測量齒輪基節(jié)偏差的齒輪量儀。14.1.57周節(jié)儀circularpitchgauge測量齒輪周節(jié)偏差和周節(jié)累積誤差的齒輪量儀。14.1.58激光準直儀lasercollimator一種以激光束為基準線，測量軸孔同心度和導軌直線性的光學測量儀器。14.1.59自準直儀autocollimator利用光學自準直原理測量微小角度變化的高精度測量儀器。14.1.60激光量塊干涉儀lasergaugeblockinterferometer以He－Ne激光波長為基準，利用干涉法檢定量塊長度的精密計量儀器。14.1.61接觸式干涉儀contactinterferometer根據(jù)光波干涉原理，采用相對測量法，用以檢定尺寸小于150mm的量塊和精密工件的光學量儀。14.1.62光學分度頭opticaldividinghead精密角度測量和分度的一種光學儀器。14.1.63投影儀projector將工件的輪廓外形進行光學放大，并投影到儀器的影屏上的一種光學儀器。14.1.64投影式光學比較儀projectionalopticalcomparator由自準直光管和正切杠桿機構(gòu)組合而成，在其光路中增加了利用光線多次反射放大的原理制成的光學儀器。14.1.65光學計optimeter一種應用正切杠桿結(jié)合光學自準直原理設(shè)計而成，用于長度計量的高精度光學儀器。14.1.66立式光學計verticaloptimeter一種長度計量用的高精度光學儀器，可用于量塊長度、圓柱形塞規(guī)直徑或其它相應高精度零件外尺寸的測量。14.1.67臥式光學計horizontaloptimeter一種長度計量用的高精度光學儀器，可用于量塊長度、圓柱形塞規(guī)外徑、環(huán)規(guī)內(nèi)徑或其它相應高精度零件內(nèi)、外尺寸的測量。14.1.68阿貝原則Abbeprinciple1890年，德國科學家阿貝(ErnstAbbe)提出,要使儀器得出準確的測量結(jié)果，就要將儀器的標準線紋尺安裝在工件被測尺寸的延長線上，這條原則在長度測量儀器設(shè)計中具有重要的指導意義。14.1.69阿貝測長儀Abbemetroscope根據(jù)阿貝原則設(shè)計，以一精密刻線尺為標準，并利用顯微鏡讀數(shù)的一種長度計量儀器。14.1.70萬能測長儀universallengthmeasuringmachine一種用于對內(nèi)、外尺寸進行絕對測量或相對測量的顯微鏡式光學計量儀器。14.1.71測長機lengthmeasuringmachine帶有長度基準，用絕對測量或比較測量方法，測量和傳遞各種工件的內(nèi)外尺寸，測量范圍較大的長度計量儀器。14.1.72三坐標測量機coordinatemeasuringmachine按空間三維坐標的測量原理設(shè)計，可用直角坐標和極坐標法測量各種復雜形狀輪廓尺寸的一種精密光學機械量儀。14.1.73孔徑測量儀boremeasuringinstrument測量內(nèi)孔直徑的光學計量儀器。14.1.74平直度測量儀flatnessandstraightnessmeasuringinstrument測量零、部件的平面度、直線度、同軸度以及作導向用的光學計量儀器。14.1.75萬能工具顯微鏡universaltoolmakersmicroscope一種采用顯微鏡光學系統(tǒng)，主要用于螺紋塞規(guī)、刀具、樣板、絲桿及其它精密零件的測量儀器。14.1.76光電式輪廓儀photo-electricalprofilometer一種將觸針位移轉(zhuǎn)換為光電信號的表面粗糙度測量儀。14.1.77干涉顯微鏡interferencemicroscope顯微鏡與光波干涉術(shù)結(jié)合起來的一種特殊顯微鏡。14.1.78量具materialmeasure以固定形式復現(xiàn)量值的計量器具。14.1.79游標卡尺verniercaliper帶有測量卡爪并用游標讀數(shù)的量尺。14.1.80游標深度尺vernierdepthgauge用游標讀數(shù)的深度量尺。14.1.81游標高度尺vernierheightgauge用游標讀數(shù)的高度量尺。14.1.82百分表dialgauge刻度值為0.01mm,指針可轉(zhuǎn)一周以上的機械式量表。14.1.83千分表dialgauge刻度值為0.001mm，指針可轉(zhuǎn)一周以上的機械式量表。14.1.84千分尺micrometer用微分筒讀數(shù)的示值為0.001mm的量尺。14.1.85粗糙度樣板roughnesssampleplate用比較法評定工件表面粗糙度的樣塊。14.1.86角度塊angulargaugeblock復現(xiàn)或提供給定的一個或多個已知角度量值的量具。14.1.87萬能角度尺universalbevelprotractor用游標讀數(shù)，可測任意角度的量尺。14.1.88正弦規(guī)sinebar根據(jù)正弦原理設(shè)計的用于精密測量角度的計量器具。14.1.89塞尺thicknessgage測量間隙的薄片量尺。14.1.90位置量規(guī)gaugeformeasuringposition用以檢驗位置誤差的量具。14.1.91螺紋量規(guī)screwgauge用通端和止端綜合檢驗螺紋的量具。14.1.92圓錐量規(guī)conicalgauge用以綜合檢驗圓錐的量具。14.1.93花鍵綜合量規(guī)splinegauge用以綜合檢驗花鍵的量具。14.1.94量程span標稱范圍兩極限之差的模。14.1.95法定計量單位legalunitofmeasurement由國家法律承認、具有法定地位的計量單位。14.2理化試驗14.2.1化學分析chemicalanalysis確定物質(zhì)化學成分或組成的方法。14.2.2定性分析qualitativeanalysis研究或鑒定物質(zhì)是由那些元素、離子、原子和化合物組成但不確定其含量的分析化學方法。14.2.3定量分析quantitativeanalysis研究測定物質(zhì)中各種成份含量的分析化學方法。14.2.4重量分析gravimetricanalysis化學分析中的測定組分含量分析方法。14.2.5容量沉淀法volumetricprecipitationmethod將測定劑定量地加入到待測成分的溶液中，使其沉淀為難溶鹽，用指示劑等方法確定反應終點，計算求出待測成分含量的容量分析方法。14.2.6點滴分析spotanalysis定性分析中的一種微量檢測方法，一般是在小片濾低或點滴板上用一滴或數(shù)滴待測溶液與試劑進行反應，借斑點或有色物質(zhì)的生成，從而確定被測物中含有那些元素，離子或官能團。14.2.7點滴比色法spotcolorimetry在濾紙上進行點滴試驗，將其斑點與標準系列比色，以估計樣品的濃度或含量的半定量分析方法。14.2.8光譜分析spectrumanalysis應用光譜學的原理和實驗方法以確定物質(zhì)的結(jié)構(gòu)、化學成分及含量，包括發(fā)射光譜化學分析和吸收光譜化學分析。14.2.9比色分析colorimetricanalysis物質(zhì)對單色光有選擇性吸收的特性，同種有色物質(zhì)溶液的顏色深淺與該有色物質(zhì)濃度有關(guān)，通過被測試樣溶液與標準試驗溶液顏色深淺的比較來測定該有色物質(zhì)的含量的分析方法。14.2.10極譜分析polarographicanalysis用滴汞電極電解被分析物質(zhì)的稀溶液，并根據(jù)電解過程中所記錄得到的電壓─電流圖（極譜波）進行的定性、定量分析。14.2.11快速分析rapidanalysis在保持一定精確度的情況下，為適應生產(chǎn)需要而簡化操作步驟，盡可能縮短測定時間的一種化學分析方法。14.2.12爐前分析bathanalysis在鑄造或熱處理車間中進行的快速質(zhì)量分析，包括化學成分分析和金相組織分析。14.2.13色譜分析chromatographicanalysis以不同物質(zhì)在兩相中不同分配系數(shù)為基礎(chǔ)，使不同組分得到分離，從而進行定性和定量分析的分析方法。14.2.14分光光度分析spectrophotometricanalysis利用單色儀或特殊光源提供的特定波長的單色光，通過標樣和被分析樣品，比較兩者的光強度來分析物質(zhì)成分的分析方法。14.2.15Ｘ射線熒光光譜分析x-rayfluorescencespectrometry試樣在Ｘ射線激發(fā)下，產(chǎn)生組成元素的特征的Ｘ射線，依次測量出各種元素所產(chǎn)生的Ｘ射線波長和強度，以進行定性分析和定量分析。14.2.16吸收光譜分析absorptionspectrometricanalysis基于物質(zhì)對光的選擇性吸收的分析方法。14.2.17電子能譜分析electronicspectroscopy以一定能量的電子、Ｘ射線或紫外光作用于樣品，來分析試樣表面層元素的分析工作。通常有光電能譜和俄歇電子能譜兩種類型。14.2.18電子探針Ｘ射線顯微分析electronprobex-raymicroanalysis以細電子束為激發(fā)源的Ｘ射線光譜微區(qū)分析方法。14.2.19滴定分析titrimetricanalysis用一已知濃度的標準溶液定量地加到被測物質(zhì)的溶液中，直到按化學計量定量反應完全為止。根據(jù)標準溶液的濃度和用量計算出被測物質(zhì)含量的方法。14.2.20原子吸收分光光度法atomicabsorptionspectrophotometry從光源輻射出待測元素的特征光譜線，求出待測試樣某元素的含量的分析方法。14.2.21電子衍射分析electrondiffractionanalysis通過觀測固體表面對電子束衍射來研究固體表面的技術(shù)。14.2.22熒光光度分析fluorometricanalysis測量物質(zhì)所產(chǎn)生的熒光強度，以確定物質(zhì)含量的分析方法。14.2.23比色計colorimeter用可見光作為光源，對有色溶液的顏色深度進行比較或測量的分析儀器。14.2.24分光光度計spectrophotometer利用單色儀或特殊光源提供的特殊波長的單色光通過標樣和被分析樣品，比較兩者的光強度來分析物質(zhì)成分的光譜儀器。14.2.25分析天平analyticalbalance用于實驗室精密衡量試樣或物質(zhì)質(zhì)量的天平。14.2.26原子吸收分光光度計atomicabsorptionspectrophotometer由測量蒸汽相中基態(tài)原子吸收特定波長的單色光，實現(xiàn)對物質(zhì)的定性和定量分析的儀器。14.2.27Ｘ射線熒光光譜分析儀X-rayfluorescencespectrometer用以進行Ｘ射線熒光光譜分析的儀器14.2.28攝譜儀spectrograph將復合光分解成為一定次序排列的光譜線,并進行攝影記錄的精密光學儀器。14.2.29色譜儀chromatograph應用色譜法進行物質(zhì)的定性、定量分析以及研究物質(zhì)的物理化學特性的儀器。14.2.30看譜鏡spectroscope用各種元素在受激狀態(tài)下，能發(fā)出各種特定波長的光的特性，使被分析物激發(fā)發(fā)光，由氣散元件色散成光譜，用目視方法觀察，對物質(zhì)成分作分析的發(fā)射光譜儀器。14.2.31質(zhì)譜儀massspectroscope利用電磁學原理，使離子按照質(zhì)荷比分離并測定離子流強度的，用以進行物質(zhì)的定性、定量和結(jié)構(gòu)分析的儀器。14.2.32氣相色譜儀gaschromatograph進行氣相色譜分析的一種儀器。14.2.33極譜儀polarograph根據(jù)指示電極電位與通過電解池的電流之間的關(guān)系（極譜圖）進行定性、定量分析的化學式分析儀器。14.2.34Ｘ射線能量色譜儀x-rayenergydispersionspectrometer(EDS)將不同能量的Ｘ射線展譜的儀器。14.2.35電子衍射儀electrondiffractometer用電子束轟擊樣品，并在所得衍射圖上顯示晶體圖樣和其他物理性屬的分析儀器。14.2.36電子能譜儀electronspectrometer為研究材料表面組成和結(jié)構(gòu)用以測量低能電子能譜的現(xiàn)代分析儀器。14.2.37鉑坩堝platinumcrucible用化學性質(zhì)穩(wěn)定的鉑金屬制成的坩堝14.2.38定碳儀carbometer用于測定鋼鐵中碳元素含量的儀器。14.2.39金相分析(金相檢驗)metallographicexamination用放大鏡或顯微鏡等對金屬材料的組織和缺陷進行分析、判斷的實驗方法。14.2.40定量金相quantitivemetallography對金屬及其合金在顯微鏡下所觀察到的某些金相組織作定量測量的實驗方法。14.2.41斷口fracture金屬斷裂后的破斷面14.2.42斷口檢驗fracturetest將鋼樣打斷，檢查斷口情況來確定鋼的質(zhì)量、晶粒大小，以及鋼內(nèi)是否有白點，內(nèi)裂、嚴重夾雜、氣孔等缺陷的檢驗方法。14.2.43相phase體系中具有同一成份，同一聚集狀態(tài)，彼此間以界面分開和各個均勻組成部分。14.2.44相圖phasediagram系統(tǒng)處于平衡狀態(tài)時，相與溫度、壓力及成份之間的關(guān)系圖。14.2.45斷口宏觀分析visualexaminationoffracture用肉眼、放大鏡、低倍率立體顯微鏡分析斷口的方法。14.2.46氣相沉積法vapour-depositedfilmsmethod顯示金相組織的一種方法。14.2.47金相學metallography用各種物理方法、特別是光學、電子顯微鏡和Ｘ射線衍射方法研究金屬和合金成份、加工狀態(tài)、組成與結(jié)構(gòu)的一門科學。14.2.48過熱overheating工件鍛造或熱處理時，若加熱溫度過高，加熱時間過長或爐溫不均勻，造成局部或整體晶粒粗大，力學性能惡化的現(xiàn)象。14.2.49燒毀buring當工件的加熱溫度遠高于其正常加熱溫度，表層晶界氧化或晶界低熔點相開始熔化的現(xiàn)象。14.2.50偏析segregation鑄件或鑄(鋼)錠凝固后，各部份以及晶粒內(nèi)部的化學成分、金相組織不均勻的現(xiàn)象。14.2.51白口chill鑄件的邊緣或薄壁處，部份或全部出現(xiàn)亮白色的組織。14.2.52碳當量carbonequivalent將鑄鐵中硅、磷等元素按其影響石墨化能力折算為碳量，并將其折算值加上實用的總碳含量。14.2.53共析體eutectoid指合金中固熔體冷卻時共析轉(zhuǎn)變的產(chǎn)物。14.2.54共晶體eutectic共晶轉(zhuǎn)變的產(chǎn)物。14.2.55高溫金相metallographyatelevatedtemperatures利用高溫顯微鏡或帶有真空高溫臺的金相顯微鏡來觀察和研究高溫下的顯微組織的方法。14.2.56Ｘ射線顯微照相術(shù)microradiography研究金相組織、缺陷及其形態(tài)的一種顯微Ｘ射線技術(shù)。14.2.57偏光顯微鏡polarizationmicroscope用偏振光作為反射光的金相顯微鏡。14.2.58金相顯微鏡metallographicmicroscope裝有照明光源的，利用反射光研究不透明金屬組織的光學顯微鏡。14.2.59掃描電子顯微鏡scanningelectronmicroscope(SEM)用細聚焦電子束在樣品表面逐點掃描,激發(fā)各種有用的物理信號來調(diào)制成象,獲得反映樣品表面特征的各種電子掃描像的一種電子光學儀器。14.2.60透射電子顯微鏡transmissionelectronmicroscope(TEM)電子束可透射過樣品的一種電子顯微鏡。14.2.61掃描透射電鏡scanningtransmissionelectronmicroscope(STEM)一種綜合透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡優(yōu)點的新型電子光學儀器。14.2.62型砂強度sandstrength型砂、芯砂抵抗外力破壞作用的能力。14.2.63濕強度greenstrength緊實過的砂型（芯）在室溫時的濕態(tài)強度，包括抗壓、抗剪、抗拉及彎曲強度。14.2.64型砂試驗sandtest評價型砂的鑄造條件下的工作性能而進行的物理和物理─化學試驗。14.2.65型砂膨脹試驗sandexpansiontest在試驗溫度下，測定標準砂樣的縱向總膨脹量。14.2.66透氣性測定儀permeabilitymeter用以測定型（芯）不可透氣性的儀器。14.2.67力學性能試驗mechanicaltesting測定金屬材料的彈性、塑性、韌性、強度等力學性能指標的試驗。14.2.68應力stress單位面積上的內(nèi)力。14.2.69應變strain材料或物體發(fā)生變形時，其各部份尺寸和幾何形狀變化程度的物理量。14.2.70彈性極限elasticlimit材料或物體在外力作用下產(chǎn)生變形、當外力除去后，變形能全部消失的極限應力值。14.2.71沖擊應力impactstress構(gòu)件受到具有一定速度的物體相碰撞時，或高速運動的構(gòu)件突然剎停時所產(chǎn)生的應力。14.2.72屈服強度yeildstrength試樣在拉伸過程中，標距部份殘余伸長達到原標距長度的0.2％的負荷,除以原始截面積所得的應力。14.2.73屈服應力yeildstress材料在單向拉伸或壓縮過程中，對應于變形過程某一瞬時，進行塑性流動所需的真實應力。14.2.74比例極限proportionallimit在應力─應變圖上，應力正比于應變時的最大應力。14.2.75應力─應變曲線stress-straindiagram變形過程中應力和應變之間的關(guān)系曲線。14.2.76抗拉強度tensilestrength，strengthlimit試樣在拉斷前所承受的最大負荷除以原始截面積所得的應力。14.2.77抗彎強度bendingstrength在彎曲試驗中,試樣斷裂時的變矩與試樣彎曲截面系數(shù)的比值。14.2.78抗壓強度compressivestrength對于脆性材料，試樣壓至破壞過程中的最大壓縮應力。14.2.79疲勞強度fatiguestrength在指定壽命下使試樣失效的應力水平。14.2.80蠕變抗力(蠕變極限)creepresistance在一定溫度和恒定拉力負荷下，試樣在規(guī)定時間間隔內(nèi)蠕變變形或蠕變速度不超過某一規(guī)定值的最大應力。14.2.81疲勞極限fatiguelimit材料抵抗交變應力(隨時間作周期性改變的應力)作用而不破壞的能力。14.2.82硬度hardness物體或材料抵抗其他較硬物體刻劃或壓入其表面的能力。14.2.83布氏硬度值Brinellhardnessvalueballhardness采用一定直徑的鋼球,以規(guī)定的載荷,壓入被試金屬表面,經(jīng)規(guī)定的時間后,去除載荷，測量壓痕的直徑,計算壓痕表面所承受應力而得出的硬度值。14.2.84洛氏硬度值Rockwellhardnessvalue應用壓入法，以一定的壓力將金鋼石圓錐體或淬火鋼球壓在被測試材料的表面，壓入凹痕