GB-T 43658.2-2024 無損檢測 管道腐蝕及沉積物X和伽馬射線檢測 第2部分：雙壁射線檢測

CCSJ04中華人民共和國國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T43658.2—2024/ISO20769-2:2018無損檢測管道腐蝕及沉積物X和伽馬射線檢測第2部分:雙壁射線檢測Non-destructivetesting—RadiographicinspectionofcorrosionanddepositsinpipesbyXandgammarays—Part2:Doublewallradiographicinspection(ISO20769-2:2018,IDT)2024-03-15發(fā)布2024-03-15實施國家市場監(jiān)督管理總局國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會GB/T43658.2—2024/ISO20769-2:2018前言 Ⅰ引言 Ⅱ1范圍 12規(guī)范性引用文件 13術(shù)語和定義 24射線檢測技術(shù)分級 35總體要求 46推薦的射線照相檢測技術(shù) 57射線底片/數(shù)字圖像的靈敏度、質(zhì)量和評定 148透照厚度差的測量 159數(shù)字圖像記錄、存儲、處理和顯示 1610檢測報告 17附錄A(規(guī)范性)最低像質(zhì)值 19附錄B(規(guī)范性)用圖像灰度檢測透照厚度 21附錄C(規(guī)范性)基本空間分辨率的確定 23參考文獻(xiàn) 26ⅠGB/T43658.2—2024/ISO20769-2:2018本文件按照GB/T1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則第1部分:標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。本文件是GB/T43658《無損檢測管道腐蝕及沉積物X和伽馬射線檢測》的第2部分。GB/T43658已經(jīng)發(fā)布了以下部分:—第1部分:切向射線檢測;—第2部分:雙壁射線檢測。本文件等同采用ISO20769-2:2018《無損檢測管道腐蝕及沉積物X和伽馬射線檢測第2部分:雙壁射線檢測》。請注意本文件的某些內(nèi)容可能涉及專利。本文件的發(fā)布機構(gòu)不承擔(dān)識別專利的責(zé)任。本文件由全國無損檢測標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(SAC/TC56)提出并歸口。本文件起草單位:上海材料研究所有限公司、湖北三江航天江北機械工程有限公司、北京航天特種設(shè)備檢測研究發(fā)展有限公司、航天智造(上海)科技有限責(zé)任公司、上海航天設(shè)備制造總廠有限公司、寧波市勞動安全技術(shù)服務(wù)有限公司、上?？臻g推進(jìn)研究所。ⅡGB/T43658.2—2024/ISO20769-2:2018小口徑管、壓力管、鍋爐汽包和壓力容器等管類產(chǎn)品在工業(yè)中應(yīng)用廣泛。隨著服役時間的增加,管內(nèi)外壁極易產(chǎn)生腐蝕性損傷并可能導(dǎo)致管線系統(tǒng)失效。當(dāng)管內(nèi)外壁出現(xiàn)腐蝕性損傷,損傷部位出現(xiàn)腐蝕結(jié)痂,實際管壁減薄。腐蝕部位和未腐蝕部位出現(xiàn)厚度差,采用射線檢測發(fā)現(xiàn)腐蝕損傷部位情況。相較其他無損檢測方法,射線檢測技術(shù)憑借其高靈敏度和直觀性的優(yōu)點,能及時發(fā)現(xiàn)管內(nèi)外壁腐蝕情況,這對保證管件安全運作具有重大意義。GB/T43658擬由兩個部分組成?！?部分:切向射線檢測。目的在于規(guī)定使用工業(yè)膠片射線照相、計算機射線照相(CR)和數(shù)字陣列探測器(DDA)在管道中心線上和偏離管道中心線上探測和測量壁厚方向厚度損失的切向檢測技術(shù)?！?部分:雙壁射線檢測。目的在于規(guī)定使用工業(yè)膠片射線照相、計算機射線照相(CR)、數(shù)字陣列探測器(DDA)探測和測量可能由腐蝕或侵蝕造成的管道內(nèi)部或外部材料損失的在役雙壁射線檢測技術(shù)。本文件是GB/T43658的第2部分,分別從射線檢測技術(shù)分級、總體要求、推薦的射線照相檢測技術(shù)、射線底片/數(shù)字圖像的靈敏度、質(zhì)量和評定、數(shù)字圖像記錄、存儲、處理和顯示等方面進(jìn)行規(guī)定。1GB/T43658.2—2024/ISO20769-2:2018無損檢測管道腐蝕及沉積物X和伽馬射線檢測第2部分:雙壁射線檢測1范圍本文件規(guī)定了滿足檢測要求以期獲得滿意、經(jīng)濟、重復(fù)性好的檢測結(jié)果的膠片和數(shù)字射線照相檢測的基本技術(shù)。本文件規(guī)定的技術(shù)以檢測基本理論和試驗為基礎(chǔ)。本文件適用于鋼管服役過程中引起的點狀腐蝕、面狀腐蝕和侵蝕等缺陷的射線檢測。本文件中使用的“管”除其常規(guī)含義外,也包括其他圓筒形物體,如小口徑管、壓力管、鍋爐汽包和壓力容器。本文件規(guī)定的檢測技術(shù)適用于腐蝕/侵蝕類缺陷的焊縫檢測,不適用于焊接過程產(chǎn)生典型缺陷的檢測。本文件描述了可能由腐蝕或侵蝕造成的管道內(nèi)部或外部材料損失的評價方法。管道可能含或不含保溫層。本文件規(guī)定了檢測壁厚損失的雙壁檢測技術(shù),包括雙壁單影技術(shù)(DWSI)和雙壁雙影技術(shù)(DW-DI)。注:本文件中描述的DWDI通常和ISO20769-1確定的切向射線照相技術(shù)聯(lián)合使用。本文件適用于使用工業(yè)膠片射線照相、計算機射線照相(CR)和數(shù)字陣列探測器(DDA)的在役雙壁射線檢測技術(shù)。2規(guī)范性引用文件下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件必不可少的條款。其中,注日期的引用文件,僅該日期對應(yīng)的版本適用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。ISO11699-1無損檢測工業(yè)射線照相膠片第1部分:工業(yè)射線照相膠片系統(tǒng)的分類(Non-de-structivetesting—Industrialradiographicfilm—Part1:Classificationoffilmsystemsforindustrialra-注:GB/T19348.1—2014無損檢測工業(yè)射線照相膠片第1部分:工業(yè)射線照相膠片系統(tǒng)的分類(ISO11699-1:2008,MOD)ISO11699-2無損檢測工業(yè)射線照相膠片第2部分:用參考值方法控制膠片處理(Non-de-structivetesting—Industrialradiographicfilms—Part2:Controloffilmprocessingbymeansofrefer-encevalues)注:GB/T19348.2—2003無損檢測工業(yè)射線照相膠片第2部分:用參考值方法控制膠片處理(ISO11699-2:1998,IDT)ISO16371-1無損檢測基于存儲磷光成像板的工業(yè)計算機射線照相檢測第1部分:系統(tǒng)分類(Non-destructivetesting—Industrialcomputedradiographywithstoragephosphorimagingplates—Part1:Classificationofsystems)1) 注:GB/T21355—2022無損檢測基于存儲磷光成像板的工業(yè)計算機射線照相檢測系統(tǒng)分類(ISO16371-1:1)2006年EN14784-1作廢,由ENISO16371-1代替。2GB/T43658.2—2024/ISO20769-2:20182011,IDT)ISO17636-2焊縫無損檢測射線檢測第2部分:使用數(shù)字化探測器的X和伽馬射線技術(shù)(Non-destructivetestingofwelds—Radiographictesting—Part2:X-andgamma-raytechniqueswithdigitaldetectors)注:GB/T3323.2—2019焊縫無損檢測射線檢測第2部分:使用數(shù)字化探測器的X和伽馬射線技術(shù)(ISO17636-2:2013,MOD)ISO19232-1無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第1部分:絲型像質(zhì)計像質(zhì)值的測定(Non-de-structivetesting—Imagequalityofradiographs—Part1:Determinationoftheimagequalityvalueusingwire-typeimagequalityindicators)注:GB/T23901.1—2019無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第1部分:絲型像質(zhì)計像質(zhì)值的測定(ISO19232-1:2013,IDT)ISO19232-5無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第5部分:雙絲型像質(zhì)計圖像不清晰度的測定(Non-destructivetesting—Imagequalityofradiographs—Part5:Determinationoftheimageunsharp-nessvalueusingduplexwire-typeimagequalityindicators)注:GB/T23901.5—2019無損檢測射線照相檢測圖像質(zhì)量第5部分:雙絲型像質(zhì)計圖像不清晰度的測定(ISO19232-5:2018,IDT)ISO20769-1無損檢測管道腐蝕及沉積物X和伽馬射線檢測第1部分:切向射線檢測(Non-destructivetestingofwelds—RadiographicinspectionofcorrosionanddepositsinpipesbyXandgam-marays—Part1:Tangentialradiographicinspection)注:GB/T43658.1—2024無損檢測管道腐蝕及沉積物X和伽馬射線檢測第1部分:切向射線檢測(ISO20769-1:2018,IDT)3術(shù)語和定義ISO20769-1界定的以及下列術(shù)語和定義適用于本文件。數(shù)字陣列探測器系統(tǒng)digitaldetectorarraysystemDDA接收的散射或透射射線轉(zhuǎn)換為離散的模擬信號,然后對模擬信號進(jìn)行模/數(shù)轉(zhuǎn)換,并傳遞到計算機和操作軟件處理顯示為對應(yīng)入射射線能量分布變化的數(shù)字圖像轉(zhuǎn)化裝置。3.2雙壁雙影技術(shù)doublewalldoubleimagetechniqueDWDI射線源位于管外側(cè)并距管一定距離,探測器位于射線源對面的管外側(cè),射線檢測圖像上顯示探測器和射線源兩側(cè)管壁細(xì)節(jié)的技術(shù)。3.3雙壁單影技術(shù)doublewallsingleimagetechniqueDWSI射線源位于管外側(cè)并緊貼管壁,探測器位于射線源對面的管外側(cè),射線檢測圖像上僅顯示探測器側(cè)管壁細(xì)節(jié)的技術(shù)。注:見圖1。3GB/T43658.2—2024/ISO20769-2:20183.4工件—探測器距離object-to-detectordistanceb沿射線束中心線測出的射線源側(cè)被檢工件表面至探測器表面的距離。3.5透照厚度penetratedthicknessw按材料公稱厚度確定的射線透照方向上的材料厚度。注:對于管的雙壁射線檢測技術(shù),w的最小值為管壁厚度的兩倍。對于多壁檢測技術(shù)(管中管或襯套中管道),透照厚度為射線透照方向上按公稱厚度(t)計算確定。3.6射線源—工件距離source-to-objectdistancef沿射線束中心線測出的射線源(或焦點)至射線源側(cè)被檢工件表面的距離。3.7總有效透照厚度totaleffectivepenetratedthicknesswtot在射線透照方向上,按材料公稱厚度確定的金屬材料、管道中存在任何液體或其他材料以及任何保溫材料的有效透照厚度總和。4射線檢測技術(shù)分級雙壁射線照相檢測技術(shù)分為兩個等級:—基本技術(shù),DWA;—優(yōu)化技術(shù),DWB?；炯夹g(shù)是用于整體和局部管壁損失的雙壁射線照相檢測技術(shù)。對于基本技術(shù)DWA,當(dāng)使用Ir192射線源檢測透照厚度為15mm~35mm的管道時,管壁損失大于或等于管道透照厚度的5%,且管道中無液體或其他物質(zhì)情況下,則對直徑大于或等于2mm的缺陷具有很高的檢測靈敏度。當(dāng)使用Se75射線源時,管壁損失大于或等于管道透照厚度的4%,則對直徑大于或等于2mm缺陷具有較高的檢測靈敏度。缺陷顯示越大,檢測靈敏度越高,但由于液體或其他物品及外部含保溫層的存在,能導(dǎo)致管壁損失檢測靈敏度的降低,降低程度與物品材料特性相關(guān)。當(dāng)透照厚度小于15mm和大于35mm時,可協(xié)商使用不同的檢測靈敏度。由于外部腐蝕物的存在增加射線衰減,從而可能降低腐蝕的檢測靈敏度。外部腐蝕物對射線衰減的增加,甚至可能超過鋼的損失從而引起衰減系數(shù)降低。管道內(nèi)部固體物質(zhì)(如水垢)的積聚同樣能降低內(nèi)部腐蝕的檢測靈敏度。這些技術(shù)也能用于管道內(nèi)沉積物的檢測。優(yōu)化技術(shù)宜用于對檢測和定量具有更高檢測靈敏度等級的,如局部細(xì)小的點狀腐蝕X射線照相檢測。存在比本文件描述的優(yōu)化技術(shù)更好的技術(shù)。適用時,可由合同各方詳細(xì)規(guī)定適合的檢測技術(shù)參數(shù)。合同各方應(yīng)商定射線照相檢測技術(shù)的選擇。4GB/T43658.2—2024/ISO20769-2:20185總體要求5.1輻射安全防護(hù)警告—X射線或伽馬射線對人體健康造成重大傷害。無論何時,開展射線檢測工作時,應(yīng)嚴(yán)格防護(hù),確保人員安全和健康。5.2人員資格射線照相檢測應(yīng)由技術(shù)熟練、受過適當(dāng)培訓(xùn)且資格鑒定合格的檢測人員實施。在合適的情況下,檢測應(yīng)由雇主任命有資格的人員進(jìn)行監(jiān)督,或由雇主委托的檢測機構(gòu)實施檢測。按照本文件實施射線檢測的人員宜按ISO9712或合同各方認(rèn)可的體系取得相關(guān)工業(yè)門類的資格等級證書。檢測人員的操作授權(quán)應(yīng)由雇主按照書面工藝規(guī)程簽發(fā)。除非另有規(guī)定,NDT操作應(yīng)由雇主任命的具備能力和資格的NDT主管人員(3級或同等資格)授權(quán)。如果使用數(shù)字探測器,檢測人員應(yīng)完成附加的工業(yè)數(shù)字射線檢測技術(shù)的培訓(xùn)和資格鑒定。5.3射線照相影像標(biāo)識射線照相檢測管道的每一個區(qū)段均應(yīng)放置識別標(biāo)記。這些識別標(biāo)記的影像應(yīng)位于射線照相圖像的有效評定區(qū)之外,應(yīng)確保清晰識別每一區(qū)段標(biāo)記。5.4工件標(biāo)記為確保每一張射線照相圖像的定位準(zhǔn)確性,宜在工件表面作永久性標(biāo)記。若材料性質(zhì)和/或使用條件不準(zhǔn)許在工件表面上作永久性標(biāo)記,可通過精確的示意圖等方式記錄透照位置。5.5膠片或數(shù)字圖像的搭接當(dāng)在同一透照區(qū)域采用兩張及兩張以上膠片或一個探測器分次檢測時,每張膠片或探測器影像應(yīng)具有充分的搭接區(qū)域,以確保整個受檢區(qū)域得到射線照相檢測。應(yīng)將高密度搭接標(biāo)記置于搭接區(qū)的工件表面驗證搭接有效性,并使標(biāo)記顯示在每張射線底片或探測器影像上。如果底片影像或數(shù)字圖像按照順序進(jìn)行透照,那么每張底片影像或每幅數(shù)字圖像上均應(yīng)顯示高密度搭接標(biāo)記。5.6像質(zhì)計(IQI)的類型與使用5.6.1絲型像質(zhì)計應(yīng)按照ISO19232-1確定的絲型像質(zhì)計(IQI)驗證圖像質(zhì)量。對于DWDI,絲型像質(zhì)計應(yīng)優(yōu)先放置于被檢工件射線源側(cè)表面有效評定區(qū)中心位置。絲型像質(zhì)計應(yīng)緊貼工件表面。當(dāng)絲型像質(zhì)計不能滿足以上條件(含保溫層管道)置于射線源側(cè)時,則應(yīng)放置于探測器側(cè)。應(yīng)至少進(jìn)行一次對比試驗驗證圖像質(zhì)量。在射線源側(cè)和探測器側(cè)各放置一個像質(zhì)計,采用相同的條件透照,觀察所得圖像的像質(zhì)值以驗證圖像質(zhì)量。對于DWSI,絲型像質(zhì)計應(yīng)放置于被檢工件探測器側(cè)表面有效評定區(qū)中心位置。絲型像質(zhì)計應(yīng)緊貼工件表面。如果由于含保溫層等原因不能實現(xiàn),絲型像質(zhì)計應(yīng)緊貼膠片或數(shù)字探測器。對于DWDI和DWSI,絲型像質(zhì)計應(yīng)橫跨管道,絲的長軸正交于管軸,傾斜一定的角度(2°~5°)。絲型像質(zhì)計宜放置于厚度均勻部位,并靠近管道中心線。對于DWDI,像質(zhì)計放置于探測器側(cè)時,應(yīng)緊貼像質(zhì)計放置鉛字“F”,并應(yīng)在檢測報告中注明。對于在相同條件下重復(fù)透照非常相似的工件,應(yīng)由合同各方商定其圖像質(zhì)量驗證的像質(zhì)值要求。5GB/T43658.2—2024/ISO20769-2:20185.6.2雙絲型像質(zhì)計(數(shù)字射線照相)宜按照ISO19232-5確定的雙絲型像質(zhì)計測定CR/DDA檢測系統(tǒng)的基本空間分辨率,見7.1.2和附錄C。雙絲型像質(zhì)計應(yīng)放置于IP或陣列探測器射線源側(cè)表面上,擺放時與數(shù)字圖像的行或列傾斜一定的角度(2°~5°)。6推薦的射線照相檢測技術(shù)6.1透照布置6.1.1總體要求應(yīng)采用6.1.2和6.1.3規(guī)定的透照布置。6.1.2規(guī)定的射線照相技術(shù)通常用于較大直徑管道的檢測。6.1.3規(guī)定的射線照相技術(shù)通常用于較小直徑的管道(通常外徑小于150mm)檢測。膠片或數(shù)字探測器應(yīng)靠近管道。6.1.2DWSI該透照布置使用曲面數(shù)字探測器或膠片,射線源位于管道附近外側(cè),膠片/探測器位于管道對面的另一側(cè),不含保溫層的管道透照布置見圖1a),含保溫層的管道透照布置見圖1b)。布置圖還顯示了確定射線源到探測器距離SDD(見6.6)的相關(guān)距離。a)不含保溫層的管道b)含保溫層的管道標(biāo)引序號說明:1—探測器。圖1使用曲面探測器進(jìn)行雙壁單影射線照相檢測的透照布置(DWSI)6GB/T43658.2—2024/ISO20769-2:2018管壁損失可能位于靠近探測器的管壁內(nèi)表面、外表面或兩個表面上。管道射線源側(cè)的管壁損失在圖像中沒有顯示。對于平面探測器,DWSI也能使用,雙壁單影透照布置見圖2a)和圖2b)。這樣的透照布置能在每個位置檢測管道周長的一小部分。a)不含保溫層的管道b)含保溫層的管道標(biāo)引序號說明:1—探測器。圖2使用平面探測器進(jìn)行雙壁單影射線照相檢測的透照布置(DWSI)6.1.3DWDI該透照布置射線源位于管道外前方,膠片/平面探測器位于管道對面的另一側(cè),見圖3a)(不含保溫層的管道)和圖3b)(含保溫層的管道)。7GB/T43658.2—2024/ISO20769-2:2018a)不含保溫層的管道b)含保溫層的管道標(biāo)引序號說明:1—探測器。圖3雙壁雙影射線照相檢測的透照布置(DWDI)對于DWDI,管壁損失可能位于管道射線源測或探測器側(cè)的內(nèi)表面、外表面或兩側(cè)表面上。如果DWDI射線照相檢測技術(shù)和切向射線照相檢測技術(shù)結(jié)合應(yīng)用,應(yīng)符合ISO20769-1的規(guī)定。6.1.4射線束和膠片/探測器的方向射線束中心應(yīng)指向透照區(qū),宜與被檢管道軸線垂直。對于DWDI射線照相檢測,膠片或數(shù)字探測器宜對準(zhǔn)中心射線束。在存在障礙物的特殊情況下,可能需要對6.1.2和6.1.3給出的透照布置進(jìn)行調(diào)整。其他射線照相檢測透照布置可由合同各方商定。6.2射線源的選擇X射線和伽馬射線透照厚度范圍見表1和圖4。經(jīng)合同各方商定,這些透照范圍能擴展。圖4給出的透照不同材料和不同厚度時允許使用的最高管電壓是焊縫膠片射線照相檢測的最佳實踐值。如果使用經(jīng)過精確校正的DDAs,采用高于圖4給出的管電壓限值也能獲得滿足要求的圖像質(zhì)8GB/T43658.2—2024/ISO20769-2:2018量。針對CR檢測,使用的X射線管電壓限值宜在圖4的基礎(chǔ)上至少降低20%。在使用伽馬射線進(jìn)行檢測時,輸送射線源的往返時間不應(yīng)超過總曝光時間的10%。經(jīng)合同各方商定,采用Ir192和Se75透照鋼時,最小透照厚度可為5mm。表1伽馬射線源和高能X射線對鋼管的總有效透照厚度范圍射線源總有效透照厚度wtot限值DWA級DWB級Yb1691≤wtot≤15 Se75a5≤wtot≤5510≤wtot≤40Ir19210≤wtot≤10020≤wtot≤90Co6040≤wtot≤200X射線1MeV~4MeV30≤wtot≤200X射線4MeV~12MeVwtot≥50X射線>12MeVwtot≥80a鋁和鈦采用DWA級和DWB級檢測時,總有效透照厚度為35mm≤wtot≤120mm。標(biāo)引符號說明:1—銅、鎳及其合金;2—鋼;3—鈦及其合金;4—鋁及其合金;w—透照厚度,單位為毫米(mm);U—X射線管電壓,單位為千伏(kV)。圖41000kV及以下X射線機透照不同材料和厚度允許使用的最高管電壓9GB/T43658.2—2024/ISO20769-2:2018對于含填充物的管道,應(yīng)核實填充物引起射線衰減對射線源選擇的影響。采用Ir192檢測含水鋼管時,wtot應(yīng)再增加大約水的九分之一穿透路徑長度。采用Ir192檢測含油鋼管時,wtot應(yīng)再增加大約油的十一分之一穿透路徑長度。對于含保溫層的管道,應(yīng)核實保溫層引起的射線衰減對射線源選擇的影響。6.3膠片系統(tǒng)和金屬屏射線照相檢測所使用的膠片系統(tǒng)類別應(yīng)符合ISO11699-1的規(guī)定。不同射線源射線照相檢測選用的膠片系統(tǒng)類別和金屬屏見表2和表3。使用金屬屏?xí)r,膠片與金屬屏之間應(yīng)良好接觸。這能通過使用真空包裝的膠片或適當(dāng)按壓方法實現(xiàn)。表2鋼、銅和鎳基合金雙壁射線照相檢測適用的膠片系統(tǒng)類別和金屬屏射線源膠片系統(tǒng)類別a金屬屏類型和厚度DWA級DWB級X射線≤250kVC5C4鉛屏(前后)0.02mm~0.15mmX射線>250kV~500kVC5C4鉛屏(前)0.1mm~0.2mmb鉛屏(后)0.02mm~0.2mmX射線>500kV~1000kVC5C4鋼或銅屏(前后)0.25mm~0.7mmcSe75Ir192C6C5鉛屏(前后)0.02mm~0.2mmbCo60C6C5鋼或銅屏(前后)0.25mm~0.7mmcX射線>1MeV~4MeVC6C5鋼或銅屏(前后)0.25mm~0.7mmcX射線>4MeVC6C51mm的銅、鋼或鈦屏(前)1mm銅或鋼屏和0.5mm的鈦屏(后)da可使用更好的膠片系統(tǒng)類別。b如果使用前屏厚度為0.03mm的真空包裝膠片,則可在工件與膠片之間放置厚度為0.1mm附加鉛屏。c針對DWA級,可使用厚度為0.5mm~2mm鉛屏。d針對DWA級,經(jīng)合同各方商定,可使用厚度為0.5mm~1mm鉛屏。表3鋁和鈦射線照相檢測所適用的膠片系統(tǒng)類別和金屬屏射線源膠片系統(tǒng)類別a金屬屏類型和厚度DWA級DWB級X射線≤150kVC5C4不用屏或用鉛屏(前)≤0.03mm;鉛屏(后)≤0.15mmX射線>150kV~500kV鉛屏(前后)0.02mm~0.2mmbSe75Ir192c鉛屏(前后)0.02mm~0.2mmba可使用更好的膠片系統(tǒng)類別。b可使用2個厚度為0.1mm鉛屏替代1個厚度為0.2mm鉛屏。c經(jīng)合同各方商定,可使用Ir192射線源。10GB/T43658.2—2024/ISO20769-2:2018在滿足7.2規(guī)定的底片黑度和最小像質(zhì)值符合附錄A規(guī)定的情況下,經(jīng)合同各方商定,也可使用不同類別的膠片系統(tǒng)。6.4成像板用金屬屏與防護(hù)板(僅適用于計算機射線照相)當(dāng)使用金屬前屏?xí)r,IP感光面應(yīng)與前屏緊貼。能采用真空包裝的IP或按壓方法實現(xiàn)。鉛屏與IP之間的間隙可能導(dǎo)致圖像不清晰度增大。使用IP與鉛屏透照的增感作用明顯小于膠片照相。多數(shù)IP對低能量背散射線和背散射線防護(hù)鉛板發(fā)出的X射線熒光非常敏感,這將導(dǎo)致影像邊界不清晰度增加和信噪比降低,因此,宜采用銅或鋼防護(hù)板放在IP后防護(hù)背散射線,或者在背防護(hù)鉛板與IP間插入鋼或銅防護(hù)板,以改善圖像質(zhì)量。在設(shè)計制造IP暗盒時考慮將銅或鋼防護(hù)板直接放入到暗盒內(nèi),從而避免使用額外的鋼或銅防護(hù)板。注:高能量射線檢測時,由于IP感光層與鉛屏之間存在保護(hù)層,從而導(dǎo)致增感作用大幅度下降,根據(jù)所使用的射線能量和IP保護(hù)層的設(shè)計,增感效果僅相當(dāng)于不放置鉛屏情況下的20%~100%之間。當(dāng)不使用鉛屏?xí)r,鉛屏對IP所產(chǎn)生的較小的增感作用損失能通過增加曝光量進(jìn)行補償。如果檢測使用鉛屏,在IP掃描前應(yīng)仔細(xì)地去除鉛屏,否則導(dǎo)致IP產(chǎn)生劃痕,宜將鉛屏放置在暗袋或暗盒外側(cè)作為中間濾光板濾除散射線。透照厚度小于12mm的鋼制工件時,不宜使用中間濾光板。不同射線源宜使用的金屬屏材料和厚度見表4和表5。根據(jù)所需達(dá)到的圖像質(zhì)量,經(jīng)合同各方商定后也可使用其他厚度的金屬屏。在IP前面宜放置金屬屏,金屬屏與數(shù)字陣列探測器DDAs一起使用能減少散射線的影響。表4鋼、銅和鎳基合金管道雙壁CR檢測適用的金屬前屏射線源金屬前屏類型和厚度/mmX射線a≤250kV鉛屏0~0.1X射線a>250kV~1000kV鉛屏0~0.3Ir192Se75aDWA級:鉛屏0~0.3cDWB級:鋼或銅屏0.3~0.8Co60b鋼或銅屏0.3~0.8+鉛屏0.6~2.0X射線a>1MeV鋼或銅屏0.3~0.8+鉛屏0.6~2.0a可全部或部分采用鋼或銅屏替代鉛屏,此時鋼或銅屏的等效厚度為鉛屏的3倍。b使用多種材料金屬屏?xí)r(如鋼+鉛屏),鋼屏應(yīng)放置在IP與鉛屏之間。使用銅、鈦或鎢屏替代鋼或鋼+鉛屏?xí)r,可通過驗證試驗確認(rèn)圖像質(zhì)量。c總有效透照厚度大于50mm時,前屏宜使用厚度大于0.1mm的鉛屏。表5鋁和鈦管道雙壁CR檢測適用的金屬前屏射線源金屬前屏類型和厚度X射線<150kV鉛屏≤0.03a,bX射線150kV~500kV鉛屏≤0.02a,bSe75Ir192c鉛屏≤0.03a,ba例如,在暗盒外部使用附加的兩片厚度為0.1mm的鉛屏可替代一片厚度為0.2mm的鉛屏。b可全部或部分采用鋼或銅屏替代鉛屏。鋼或銅屏等效厚度應(yīng)為鉛屏等效厚度的3倍。c經(jīng)合同各方商定后,可使用Ir192射線源。11GB/T43658.2—2024/ISO20769-2:20186.5散射線的防護(hù)6.5.1濾光板和準(zhǔn)直器為減少背散射線的影響,透照時的中心射線束應(yīng)對準(zhǔn)被檢區(qū)域。對于計算機射線照相檢測和數(shù)字陣列探測器DDAs射線檢測技術(shù),采用Ir192、Co60射線源和其他高能(MeV)的X射線源或存在邊緣散射情況下,在管道與數(shù)字陣列探測器DDA或CR暗盒之間放置一個鉛質(zhì)濾光板濾除低能的散射線。根據(jù)透照厚度的不同,濾光板厚度可在選擇。除鉛外的其他材料如錫、銅、鎢、鈦或鋼等,都能用于制造濾波材料。在使用鉛、鎢或鈦濾光板時,宜在金屬屏和探測器之間附加厚度為0.3mm~1.0mm的鋼或銅濾光板。濾光板宜與探測器感光面貼合。6.5.2背散射的屏蔽對于每個新的檢測項目,每個膠片暗袋或CR暗盒后應(yīng)背貼放鉛字“B”(高度不小于10mm,厚度不小于1.5mm),以驗證是否存在背散射線。如果標(biāo)識“B”在射線底片或數(shù)字圖像(負(fù)片顯示)中顯示的影像較亮,表明背散射線屏蔽不符合要求;若標(biāo)識“B”影像較暗或不可見,表明散射線屏蔽良好。對于數(shù)字射線照相檢測,為防止探測器背散射線的影響,如必要,應(yīng)在探測器后面貼放至少1mm厚的鉛板或至少1.5mm厚的錫板。針對某些特殊結(jié)構(gòu)檢測,鉛板厚度能達(dá)到6mm。為減少X射線與鉛作用產(chǎn)生的熒光輻射影響,應(yīng)在屏蔽鉛板和探測器之間放置一個鋼屏或銅屏(厚度約0.5mm)。當(dāng)采用超過80keV的X射線檢測時,在探測器后面不應(yīng)放置屏蔽鉛板。6.6射線源—探測器距離6.6.1雙壁單影技術(shù)對于DWSI,射線源—探測器距離見圖1。對于DWA級,射線源—探測器距離SDD(單位為毫米)應(yīng)按公式(1)計算:SDD≥…………(1)式中:b—工件—探測器距離,單位為毫米(mm);d—射線源尺寸,單位為毫米(mm)。對于優(yōu)化技術(shù)DWB級,射線源到探測器距離SDD(單位為毫米)應(yīng)按公式(2)計算:SDD≥…………(2)公式(1)和公式(2)分別給出投影到管道中心對應(yīng)平面位置的幾何不清0.3mm,投影為靠近探測器管壁的射線源側(cè)對應(yīng)面上。由于投影放大的原因,在探測器影像上測量得到的幾何不清晰度值比實際值稍大。注:管外徑通常意味著實際射線源—探測器距離大于公式(1)和公式(2)的計算值。6.6.2雙壁雙影技術(shù)對于DWDI,射線源—探測器距離,見圖3a)和圖3b)。檢測面是靠近探測器的管壁射線源側(cè)的平面。對于DWA級,射線源—探測器距離SDD應(yīng)按公式(1)計算。對于DWB級,射線源—探測器距離12GB/T43658.2—2024/ISO20769-2:2018SDD應(yīng)按公式(2)計算。DWSI和DWDI測量b的方法不同,具體技術(shù)分別見圖1、圖2和圖3。如果雙壁雙影成像與切向射線照相檢測相結(jié)合,則射線源—探測器距離宜參考按ISO20679-1給出的切向射線照相檢測技術(shù)確定的值。應(yīng)取兩個值中的較大值。6.7軸向檢測范圍和搭接每幅圖像或每張底片的最大軸向檢測范圍以被檢區(qū)域邊緣厚度增長20%確定(見圖5)。標(biāo)引序號說明:1—探測器。圖5相對單個射線源透照位置,在探測器上允許的最大軸向評定長度Ld和射線源側(cè)管道最大允許軸向透照長度Lp在膠片或數(shù)字探測器上一次透照檢測評定區(qū)域的軸向總長度Ld宜按公式(3)計算:Ld≤1.32SDD (3)在射線源側(cè)管道表面上一次透照檢測評定區(qū)域的軸向總長度Lp宜按公式(4)計算:Lp≤1.32f (4)對于DWSI,應(yīng)測定f,見圖5。管道射線照相檢測的一次透照檢測評定區(qū)域的軸向總長度宜按公式(4)計算。如果伽馬射線源準(zhǔn)直器或X射線準(zhǔn)直窗口小于±35°,則Lp和Ld隨著錐形射線束的最大輻射角變小而減少。為確保有效檢測構(gòu)件任何部位,任何分區(qū)透照的底片或數(shù)字圖像之間應(yīng)有充分的搭接區(qū)域。除非另有規(guī)定,在射線源側(cè)的透照檢測區(qū)域軸向兩端任一側(cè)的最小搭接長度應(yīng)為25mm。6.8周向透照次數(shù)當(dāng)使用DWDI和DWSI時,通過對管道沿圓周方向進(jìn)行多次透照以實現(xiàn)管道整個圓周全覆蓋檢測。13GB/T43658.2—2024/ISO20769-2:20186.8.2DWSI由于被檢測區(qū)域的兩邊緣是傾斜透照,因此DWSI的周向曝光次數(shù)是基于透照厚度20%的增量確定。曝光次數(shù)通過射線源—管中心距離(SPD)、管道外徑De和管道公稱厚度t計算確定。基于兩個變量—t/De和De/SPD計算曝光次數(shù),見圖6。此圖適用于探測器偏移檢測含保溫層的管道。圖6沿管道圓周方向進(jìn)行DWSI檢測所需的最少曝光次數(shù)(t/De和De/SPD的比值)對于DWSI,宜按公式(5)計算獲得不同的圓周透照角Δθ(單位為度):Δθ=°…………(5)式中:N—曝光次數(shù),見圖6。經(jīng)合同各方商定,也可使用其他值。6.8.3DWDI對于DWDI,為了檢測管道的整個圓周,至少需要2次透照。圓周透照角度至少間隔45°(為了獲得最佳結(jié)果,間隔角度為90°)。如果只需要檢測圓周的一小部分,一次透照就能滿足檢測要求。經(jīng)合同各方商定,也可采用其他圓周透照間隔角度。6.9數(shù)字射線照相檢測設(shè)備的選擇6.9.1總體要求對于DWA級,探測器基本空間分辨率不應(yīng)大于200μm。對于DWB級,探測器基本空間分辨率不應(yīng)大于130μm,且不應(yīng)超過管道公稱厚度t的5%。經(jīng)合同各方商定能采用其他不同數(shù)值。6.9.2CR檢測系統(tǒng)CR掃描儀的像素尺寸不應(yīng)大于100μm。對于給定的射線照相曝光,增加CR掃描儀增益或靈敏度增加圖像灰度級別,對圖像質(zhì)量采用歸一化信噪比(SNRN)評價圖像質(zhì)量的影響忽略不計。應(yīng)通過增加曝光量來提高SNRN,而不是增加掃描儀增益。14GB/T43658.2—2024/ISO20769-2:2018對于輻射劑量與灰度級別之間具有線性響應(yīng)關(guān)系的CR掃描儀,使用低的增益/靈敏度設(shè)置將降低圖像飽和的可能性。對于較高的掃描增益,特別是在射線光子強的區(qū)域能產(chǎn)生圖像飽和,對于相對較短的曝光時間,不能提供足夠高的SNRN值滿足7.1規(guī)定的圖像質(zhì)量要求。6.9.3DDA系統(tǒng)對于DWA級,數(shù)字陣列探測器的像素尺寸不應(yīng)大于200μm。對于DWB級,像素尺寸不應(yīng)大于130μm。也能使用合同各方商定的其他不同數(shù)值。7射線底片/數(shù)字圖像的靈敏度、質(zhì)量和評定7.1最低像質(zhì)值7.1.1絲型像質(zhì)計采用Ir192和Se75射線源對選定厚度范圍鋼管進(jìn)行射線照相檢測時,像質(zhì)值應(yīng)符合附錄A的規(guī)定。厚度范圍、射線源、管道材料和高吸收保溫?zé)釋涌砂碔SO19232-3的A級或ISO19232-4的要求確定。對于DWDI,如果像質(zhì)計不能放置于射線源側(cè)工件表面(如存在保溫層),像質(zhì)計應(yīng)放置于探測器側(cè),DWSI的最低像質(zhì)值應(yīng)符合表A.2和表A.4的要求。宜根據(jù)被檢材料種類、材料厚度、射線類型、濾光板、金屬屏和探測器確定射線照相檢測技術(shù)。7.1.2雙絲型像質(zhì)計(數(shù)字射線照相)根據(jù)附錄C的參考圖像,應(yīng)使用雙絲型像質(zhì)計(見ISO19232-5)確定數(shù)字陣列探測器的基本空間分辨率(見7.1.3)。7.1.3最小歸一化信噪比(數(shù)字射線照相)在欠佳條件下(例如曝光時間短)進(jìn)行透照導(dǎo)致數(shù)字圖像產(chǎn)生“噪聲”。過度的圖像噪聲阻礙獲得可接受的測量精度。為確保CR或DDA系統(tǒng)的數(shù)字圖像具有可接受的噪聲水平,應(yīng)按照ISO16371-1規(guī)定的適當(dāng)軟件和方法測量SNRN,測量歸一化信噪比的區(qū)域至少為55像素(垂直)×20像素(水平)。應(yīng)至少在4個不同位置測量SNRN值,并取其平均值。按照ISO19232-5規(guī)定的方法或附錄C規(guī)定的等效方法,用雙絲型像質(zhì)計測定圖像系統(tǒng)的基本空間分辨率SRb,再由SRb導(dǎo)出SNRN值。如果不能實現(xiàn)每次透照檢測時都使用雙絲型像質(zhì)計,對于相同的檢測系統(tǒng),只要在使用完全相同的系統(tǒng)設(shè)置條件下(對于CR系統(tǒng),這些設(shè)置包括相同的CR掃描儀、成像板、像素尺寸、射線源。掃描速度、掃描增益和激光功率),可預(yù)先確定基本空間分辨率。對基本技術(shù)DWA級,在管道中心線上測量的SNRN應(yīng)至少為50。對于優(yōu)化技術(shù)DWB級,SNRN應(yīng)至少為80。SNRN應(yīng)在管道中心線均勻厚度和灰度的區(qū)域內(nèi)測量。對于某些包含大量不規(guī)則腐蝕或壁厚變化的其他形式的工件,沒有均勻區(qū)域適合進(jìn)行SNRN測量。此時,應(yīng)測量管道中心線處的圖像平均灰度。這個平均灰度值應(yīng)超過校準(zhǔn)檢測時發(fā)現(xiàn)的灰度值,該SNRN值的最小灰度值(DWA級為50,DWB級為80)(見ISO17636-2:2013的附錄D)。在任何情況下測量SNRN,圖像灰度值與射線強度成正比非常重要,否則SNRN值測量值是不正確的。15GB/T43658.2—2024/ISO20769-2:20187.2底片黑度選擇的曝光條件宜使射線檢測區(qū)域的底片最小黑度大于或等于2.0,允許測量誤差為±0.1。經(jīng)合同各方商定,底片最小黑度可降到1.5。當(dāng)觀片燈亮度滿足7.4的要求,能采用較高的底片黑度。為避免膠片因老化、顯影或溫度等因素引起的灰霧度過大,應(yīng)定期從度,用與實際透照相同的暗室條件進(jìn)行處理,所得灰霧度不應(yīng)大于0.3?；异F度是指未經(jīng)曝光即進(jìn)行暗室處理的膠片(乳劑和片基)的總黑度。當(dāng)采用多膠片透照時,每張底片的黑度應(yīng)符合上述要求。如果規(guī)定兩張底片重疊觀察評定時,單張底片黑度不應(yīng)小于1.3。7.3膠片處理膠片的暗室處理按照膠片及化學(xué)試劑制造商推薦的條件進(jìn)行,以獲得選定的膠片系統(tǒng)特性。應(yīng)關(guān)注膠片處理溫度、顯影時間和沖洗時間。膠片處理應(yīng)按照ISO11699-2確定的方法進(jìn)行定期核查。射線底片上不宜存在由于膠片在暗室處理或其他原因產(chǎn)生影響評定的缺陷或虛假顯示。7.4評片條件宜在光線較暗的室內(nèi),使用亮度可調(diào)節(jié)且符合ISO5580規(guī)定的觀片燈進(jìn)行底片評定。觀片燈宜有遮屏蔽非評定區(qū)的遮光板。8透照厚度差的測量8.1技術(shù)原理穿透工件后的射線強度與透照厚度之間的關(guān)系見公式(6):I(w)=I(0)exp(-μw)…………(6)式中:I(w)—穿透厚度w后的射線強度;I(0)—入射射線強度;μ—物體材料的有效線衰減系數(shù)。因此,工件內(nèi)透照厚度差引起底片黑度或數(shù)字圖像灰度的相應(yīng)改變。原理上,通過軟件分析數(shù)字圖像兩個不同的穿透厚度值w1和w2相應(yīng)的灰度值估算透照厚度變化。如果這兩個透照厚度值的入射射線強度和衰減系數(shù)相同,根據(jù)公式(6)推導(dǎo)出公式(7):w2-w1=刁…………(7)根據(jù)公式(7),從兩個射線強度比值和材料的有效線衰減系數(shù)導(dǎo)出透照厚度差w2-w1。根據(jù)公式(8),應(yīng)采用測量的最小黑度差比值確定膠片射線照相的輻射強度比:刁…………(8)式中:D0—片基黑度與灰霧度之和。這種方法運用到數(shù)字射線檢測時,確保圖像灰度與檢測到的射線強度成正比是重要條件。8.2衰減系數(shù)的測量被測材料的有效線衰減系數(shù)可能受到散射線影響,因此每個被檢測工件應(yīng)通過一個小階梯試塊進(jìn)16GB/T43658.2—2024/ISO20769-2:2018行測量。階梯試塊的每層臺階應(yīng)具有10mm×10mm的區(qū)域,并且每個臺階宜具有精確加工的已知厚度(如1mm和2mm)。階梯試塊應(yīng)放置于管道上,且透照時靠近檢測評定區(qū)域。對于DWDI,階梯試塊能放置于管道的射線源側(cè)或探測器側(cè)表面。對于DWSI,階梯試塊放置于管壁和探測器之間。宜避免IP或膠片的任何過度扭曲/彎曲。8.3射線源和探測器的定位采用該射線照相檢測技術(shù)時,射線源和探測器的定位應(yīng)使檢測評定區(qū)域接近管道中心線并位于射線圖像的中心位置。這對于小徑管尤為重要,因為小徑管的透照厚度隨著與管道中心線距離的偏移而迅速增加。8.4圖像灰度曲線如必要,應(yīng)按附錄B的規(guī)定,評估被測量圖像中兩個區(qū)域之間的圖像基礎(chǔ)灰度曲線。8.5驗證測量穿透厚度變化技術(shù)應(yīng)通過使用與檢測管道密切相關(guān)的驗證對比試件進(jìn)行透照來驗證。驗證對比試件的直徑、壁厚和材料應(yīng)與被檢管道相同,并具有已知精確深度的機加工平底孔。平底孔的深度覆蓋小于和大于被檢管道壁厚損失。驗證對比試件射線照相檢測的透照條件應(yīng)與被檢管道射線照相檢測條件相同,使用可用的軟件工具對壁厚損失的平底孔進(jìn)行測量,測量值應(yīng)與已知孔深數(shù)值一致,以確認(rèn)達(dá)到測量精度要求。8.6測量要點以下為測量穿透厚度變化技術(shù)的要點:—只能測量射線檢測圖像上兩個不同位置之間的透照厚度變化,而不是透照厚度絕對值;—數(shù)字圖像灰度應(yīng)線性化,使灰度與入射射線強度成正比;—小階梯試塊應(yīng)放置于靠近被檢厚度變化區(qū)域測定工件的有效衰減系數(shù);—評估兩個測試位置之間的基本圖像灰度曲線,并考慮其任何的變化;—應(yīng)通過與被檢管道尺寸接近的驗證對比試件的檢測尺寸分析來驗證方法的準(zhǔn)確性;驗證對比試件使用的射線檢測條件和軟件工具應(yīng)與實際檢測被檢管道的條件和工具相同;—外部腐蝕物的存在增加射線衰減,降低腐蝕的檢測靈敏度。外部腐蝕物增加射線衰減,甚至可能超過鋼的損失從而引起衰減系數(shù)降低。管道內(nèi)部固體物質(zhì)(如水垢)的積聚同樣可能降低內(nèi)部腐蝕的檢測靈敏度。9數(shù)字圖像記錄、存儲、處理和顯示9.1圖像掃描與讀出數(shù)字探測器或掃描儀按探測器或掃描儀制造商推薦的條件使用,以獲得選定的圖像質(zhì)量。宜避免人為操作和其他問題對數(shù)字射線檢測結(jié)果產(chǎn)生影響。9.2DDAs校正使用DDAs時,應(yīng)按照制造商推薦的程序校正探測器。探測器校正包括偏置(背景)校正(暗場校正—無射線)和增益校正(亮場校正—有射線并均勻曝光),增益校正至少進(jìn)行一次。多次增益校正有利17GB/T43658.2—2024/ISO20769-2:2018于探測器SNRN的提高和線性改善,但時間較長。為降低校正產(chǎn)生的噪聲,增益校正所使用的曝光量(mA·min或GBq·min)應(yīng)至少為工件最終射線檢測時的兩倍。校正圖像應(yīng)作為質(zhì)量控制原始圖像保存。應(yīng)定期或在曝光條件顯著改變時對探測器進(jìn)行偏置、增益及壞像素校正。9.3DDAs壞像素插值校正壞像素是DDAs陣列中性能不佳的單元。ASTME2597給出了詳細(xì)說明。使用DDAs時,應(yīng)按制造商的規(guī)則確定和記錄壞像素分布圖。使用壞像素插值校正,是使用DDAs檢測的重要過程。宜使用感興趣區(qū)域(ROI)中沒有群核像素(CKP)的數(shù)字陣列探測器。9.4圖像處理數(shù)字檢測圖像應(yīng)采用一定灰階的灰度值表示方法進(jìn)行評價,其灰度值與探測器所接收的射線劑量成正比。理想的數(shù)字檢測圖像應(yīng)對SNR、SRb和SNRN進(jìn)行評價。宜通過對比度和亮度的交互式調(diào)整,使數(shù)字檢測圖像具有最佳顯示。檢測軟件中一般宜集成有積分降噪、調(diào)制傳遞函數(shù)曲線測定SRb測定)和信噪比或SNRN測定工具,用于評價數(shù)字圖像質(zhì)量。分析重要圖像時,應(yīng)通過電子縮放功能實現(xiàn)1∶1(一個顯示器像素顯示一個數(shù)字圖像像素)至1∶2(4個顯示器像素顯示一個數(shù)字圖像像素)的圖像顯示。應(yīng)明確記錄對存儲的原始圖像進(jìn)行的任何處理(如高通或低通濾波),并得到合同各方的許可,且不應(yīng)修改原始圖像數(shù)據(jù)。9.5數(shù)字圖像記錄和存儲CR/DDA圖像宜以至少12位/像素的文件格式存儲。數(shù)字射線檢測原始圖像應(yīng)以探測器系統(tǒng)提供的全分辨率進(jìn)行存儲。數(shù)字原始圖像存儲前,僅允許與數(shù)字探測器校正相關(guān)的圖像處理(如偏置校正、增益校正和壞像素校正,見ASTME2597),應(yīng)提供無人為干預(yù)的圖像。應(yīng)以無丟失原始數(shù)據(jù)的方式存儲數(shù)據(jù),并進(jìn)行定期備份,以確?！盁o損”數(shù)據(jù)存儲。用于數(shù)據(jù)存儲的任何數(shù)據(jù)壓縮技術(shù)都應(yīng)是“無損”,并應(yīng)從壓縮數(shù)據(jù)中準(zhǔn)確重建原始數(shù)據(jù)。9.6數(shù)字圖像顯示條件數(shù)字圖像應(yīng)在較暗的室內(nèi)觀察,應(yīng)采用合適的測試圖像來驗證顯示器設(shè)置。用于圖像評價的顯示器應(yīng)滿足以下最低要求:a)最低亮度為250cd/m2;b)最少顯示灰度級為256;c)最小可顯示的亮度比為1∶250;d)顯示器的分辨率至少為100萬像素,像素尺寸小于0.3mm。10檢測報告每次或每組檢測,應(yīng)提供一份檢測報告,注明射線照相檢測技術(shù)和任何特殊情況,以便理解檢測結(jié)果。檢測報告應(yīng)至少包含以下內(nèi)容。a)引用本文件(GB/T43658.2)。b)檢測單位名稱。c)工件名稱與管道的布置圖及管道信息。18GB/T43658.2—2024/ISO20769-2:2018d)管道材質(zhì)、外徑De和公稱厚度t。e)保溫層材料、厚度和條件。f)檢測規(guī)范,包括IQI及驗收要求。g)射線檢測技術(shù)和等級。h)依據(jù)6.1的透照布置。i)所使用的標(biāo)記系統(tǒng)。j)探測器平面位置示意圖。k)射線源、焦點類型和尺寸、設(shè)備型號。m)使用的管電壓和管電流或射線源活度。n)曝光時間、SDD和PDD。o)膠片類型、膠片系統(tǒng)和膠片處理。p)CR系統(tǒng)、IP類型、掃描儀型號、掃描儀參數(shù)如掃描速度、增益、激光強度、激光光斑尺寸、像素尺寸。q)數(shù)字陣列探測器類型、工作參數(shù)、像素尺寸。r)數(shù)字探測器的基本空間分辨率。s)圖像控制參數(shù):1)測量管道中心的底片黑度;2)測量管道中心的歸一化信噪比;3)像質(zhì)值。t)實測壁厚在穿透方向的差異。u)附加評定。v)合同各方商定的與本文件的偏離。w)檢測人員的姓名、資格及簽名。x)透照日期和檢測報告日期。19GB/T43658.2—2024/ISO20769-2:2018附錄A (規(guī)范性)最低像質(zhì)值Ir192和Se75對所選厚度范圍的鋼管檢測時,最低像質(zhì)值要求應(yīng)符合表A.1~表A.4。其他厚度范圍、射線源、管道材料和高衰減的保溫層檢測時最低像質(zhì)值可符合ISO19232-4的規(guī)定。表A.1Ir192射線DWDI透照—絲型像質(zhì)計位于源側(cè)DWA級DWB級總有效透照厚度/mm像質(zhì)值總有效透照厚度/mm像質(zhì)值5≤wtot<15W95≤wtot<8W1215≤wtot<25W88≤wtot<12W1125≤wtot<40W712≤wtot<15W1040≤wtot<60W615≤wtot<20W9——20≤wtot<35W8表A.2Ir192射線DWSI透照—絲型像質(zhì)計位于探測器側(cè)DWA級DWB級總有效透照厚度/mm像質(zhì)值總有效透照厚度/mm像質(zhì)值5≤wtot<10W1115≤wtot<20W1010≤wtot<15W1020≤wtot<35W915≤wtot<25W935≤wtot<60W825≤wtot<30W8——30≤wtot<60W7——表A.3Se75射線DWDI透照—絲型像質(zhì)計位于源側(cè)DWA級DWB級總有效透照厚度/mm像質(zhì)值總有效透照厚度/mm像質(zhì)值5≤wtot<12W115≤wtot<10W1212≤wtot<18W1010≤wtot<20W1118≤wtot<25W9——25≤wtot<35W8——20GB/T43658.2—2024/ISO20769-2:2018表A.4Se75射線DWSI透照—絲型像質(zhì)計位于探測器側(cè)DWA級DWB級總有效透照厚度/mm像質(zhì)值總有效透照厚度/mm像質(zhì)值5≤wtot<15W115≤wtot<25W1115≤wtot<25W1025≤wtot<40W1025≤wtot<30W940≤wtot<45W930≤wtot<55W8 21GB/T43658.2—2024/ISO20769-2:2018附錄B(規(guī)范性)用圖像灰度檢測透照厚度以下因素導(dǎo)致整個射線檢測圖像的空間灰度變化:a)與射線源發(fā)出的射線束透照角度相關(guān);b)工件透照厚度變化;c)射線源與探測器上不同點的距離變化。透照厚度變化的測量,應(yīng)確認(rèn)公式(6)定義的入射射線強度I0對兩個測量厚度值是相同的。應(yīng)將圖像中一個位置測量的灰度外推或插值到另一個相鄰位置,見圖B.1和圖B.2。管道的DWDI數(shù)字射線檢測圖像見圖B.1。圖中顯示了一個明顯的小面積圓形管壁損失區(qū)域和一個用于測量有效衰減系數(shù)的小階梯試塊。沿管道軸線方向的圖像線灰度曲線圖顯示,對應(yīng)于管道基體(無管壁損失)的圖像線灰度曲線近似為常數(shù)。在這種情況下,在與管軸平行方向上與管壁損失區(qū)域相鄰的位置(見圖B.1中管壁損失區(qū)域上方)進(jìn)行對應(yīng)基材的圖像線灰度值以合理的精度做一個參考測量。圖B.1顯示內(nèi)部孔洞和用于校準(zhǔn)衰減系數(shù)的階梯試塊的直徑為76mm管道CR檢測圖像圖B.1中,管道軸線方向的圖像灰度曲線顯示了一個相對恒定的背景灰度值,該背景灰度值能在缺陷一側(cè)的參考區(qū)域測量。圖B.1相同的數(shù)字射線圖像見圖B.2,但顯示的圖像灰度曲線圖為垂直穿過管道軸線方向。在這種導(dǎo)致。22GB/T43658.2—2024/ISO20769-2:2018圖B.2顯示內(nèi)部孔洞和用于校準(zhǔn)衰減系數(shù)的階梯試塊的直徑為76mm管道CR檢測圖像橫跨穿過管道軸線方向的圖像灰度曲線圖顯示了一條彎曲的背景線灰度曲線見圖B.2,使用單個參考區(qū)域無法充分的測量。在圖B.2中看出,由于圖像基體灰度曲線圖是彎曲的,在管壁損失的任何一側(cè)進(jìn)行測量,都無法在管壁損失區(qū)域的位置給出與基體對應(yīng)的灰度測量值。相反,需要采用更復(fù)雜的插值/外推技術(shù)測量圖B.2中輪廓上箭頭所示圖像位置的灰度。用于估算對應(yīng)基體灰度值所使用的任何軟件方法,宜有能力評價厚度變化區(qū)域位置。如必要,考慮狀,確定其對方法精確性的影響。單個參考區(qū)域不足以對圖B.2的彎曲灰度曲線進(jìn)行評價,但可足夠?qū)DB.1的幾乎恒定的灰度曲線進(jìn)行評價。從階梯試塊圖像上測量有效衰減系數(shù)時也應(yīng)關(guān)注類似問題的出現(xiàn)(如已知增加透照厚度的局部區(qū)域)。23GB/T43658.2—2024/ISO20769-2:2018附錄C(規(guī)范性)基本空間分辨率的確定數(shù)字圖像以一定的灰度顯示是正確測定基本空間分辨率的前提條件。數(shù)字圖像的灰度應(yīng)與射線曝光量成線性比例關(guān)系(由制造商的軟件支持)。符合ISO19232-5規(guī)定的雙絲型像質(zhì)計應(yīng)直接放置在數(shù)字探測器表面上,測定數(shù)字探測器的基本空間分辨率SRb。注:如果雙絲型像質(zhì)計放置在被檢工件表面上,而不是直接放置在數(shù)字探測器上,獲得的是檢測圖像空間分辨率SRbimage,而不是數(shù)字探測器基本空間分辨率SRbdetector。當(dāng)發(fā)現(xiàn)第一個不能清晰識別的線對時(見ISO19232-5),應(yīng)采用以調(diào)制度值20%為基準(zhǔn)的測定方法,具體如下。在數(shù)字檢測圖像的調(diào)制傳遞函數(shù)曲線上,將第一對雙峰調(diào)制度值小于20%(見圖C.1)的線對記錄為基本空間分辨率雙絲型像質(zhì)計測定結(jié)果[如圖C.1c)的D8所示為不可分辨線對]。應(yīng)使用具有調(diào)制傳遞函數(shù)曲線測定功能的數(shù)字射線檢測系統(tǒng)的圖像處理軟件,在數(shù)字檢測圖像雙絲型像質(zhì)計影像上截取輪廓[見圖C.1a)],生成調(diào)制傳遞函數(shù)曲線識別調(diào)制度值小于20%的線對[見圖C.1b)和圖C.1c)]。調(diào)制度測算方法見圖C.1d)。雙絲型像質(zhì)計影像上截取的輪廓應(yīng)至少具有21行像素寬度,以提高輪廓區(qū)域內(nèi)的信噪比(SNR)。采用符合ISO19232-5規(guī)定的雙絲型像質(zhì)計,測定圖像固有不清晰度ui,則數(shù)字探測器的基本空間分辨率SRb按公式(C.1)計算:SRb=μi…………(C.1)為避免產(chǎn)生混疊影像,雙絲型像質(zhì)計放置時應(yīng)與數(shù)字探測器像素的行或列成2°~5°的夾角,見圖C.1。數(shù)字探測器系統(tǒng)基本空間分辨率SRb測定應(yīng)在以下沒有物體的透照條件下進(jìn)行。a)檢測輕質(zhì)合金:1)管電壓為90kV;2)前置厚度為1mm的鋁濾光板。b)檢測透照厚度小于或等于20mm鋼、銅合金:1)管電壓為160kV;2)前置厚度為1mm的銅濾光板。c)檢測透照厚度大于20mm鋼、銅合金:1)管電壓為220kV;2)前置厚度為2mm的銅濾光板。d)伽馬射線或高能X射線檢測:1)規(guī)定的伽馬射線源或>1MeV的X射線源;2)對Ir192和Se75,前置厚度為2mm的銅濾光板或厚度為4mm的鋼濾光板;對Co60或>1MeV的X射線,前置厚度為4mm的銅濾光板或厚度為8mm的鋼濾光板。雙絲型像質(zhì)計應(yīng)直接放置在數(shù)字陣列探測器DDA或IP暗盒表面上,射線源—數(shù)字探測器距離應(yīng)為1000mm±50mm。數(shù)字圖像中的平均灰度值應(yīng)超過最大灰度值的50%。對于像素尺寸大于或等于80μm的標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng),數(shù)字圖像的信噪比應(yīng)大于100,對于像素值小于80μm的高分辨率系統(tǒng),數(shù)字圖像的信噪比應(yīng)大于70。基于數(shù)字檢測系統(tǒng)的參考數(shù)字圖像測定的基本空間分辨率[見公式(C.1)]和相關(guān)系統(tǒng)設(shè)置均應(yīng)記錄在測試報告中。24GB/T43658.2—2024/ISO20769-2:2018CR檢測系統(tǒng)的探測器IP基本空間分辨率應(yīng)在垂直和平行于激光掃描讀出的兩個方向測定;取兩個測定值的較高值作為探測器基本空間分辨率值SRb或SRbdetector。a)雙絲型像質(zhì)計圖像及21行以上像素寬度輪廓b)21行以上像素寬度輪廓疊加平均形成的調(diào)制傳遞函數(shù)曲線圖c)D7、D8線對放大圖d)調(diào)制度(%)計算方法示意圖dip=100×標(biāo)引符號說明:D7、D8—雙絲型像質(zhì)值;X—間距;Y—幅值。圖C.1以調(diào)制度20%為基準(zhǔn)測定雙絲型像質(zhì)計不可分辨線對(以D8線對為例)為了提高基本空間分辨率SRb的測定精度,應(yīng)采用雙絲型像質(zhì)計線對的調(diào)制度數(shù)據(jù)畫出如圖C.2b)的關(guān)系曲線,從曲線確定調(diào)制度為20%對應(yīng)的值作為系統(tǒng)基本空間分辨率值。圖C.2顯示了高分辨率CR系統(tǒng)的測定程序。25GB/T43658.2—2024/ISO20769-2:2018a)高分辨率系統(tǒng)雙絲型像質(zhì)計線對的調(diào)制傳遞函數(shù)曲線圖b)插入調(diào)制度20%測定雙絲型像質(zhì)計