DB14∕T 1332-2017 虹膜識別系統(tǒng)環(huán)境適應(yīng)性測試方法

DB14Environmentaladaptabilitytestingmethodsforirisrecognitionsyst山西省質(zhì)量技術(shù)監(jiān)督局發(fā)布I 1 1 1 2 3 3 3 4 4 4 5 5 5 7 8 本標(biāo)準(zhǔn)按照GB/T1.1-2009給本標(biāo)準(zhǔn)起草單位：山西天地科技有限公司、北京建1虹膜識別系統(tǒng)環(huán)境適應(yīng)性測試方法本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了虹膜識別系統(tǒng)環(huán)境適應(yīng)性的試驗?zāi)勘緲?biāo)準(zhǔn)適用于具有虹膜圖像采集、處理、識別、貯存等功能的虹膜識別系統(tǒng)的終端設(shè)凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）GB/T2421.1-2008電工電子產(chǎn)品GB/T2423.3電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Cab：恒定濕熱方法(GB/T2423.3-2006,IEC60068-2-78:GB/T2423.5電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法試驗Ea和導(dǎo)則:沖擊(GB/T2423.5-1995,IEC60068-2-27:GB/T2423.10電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法試驗Fc:振動(正弦)(GB/T2423.10-2008,IEC60068-2-6:GB4208-2008外殼防護等級(IP代碼)(IEC605GB/T15211-2013安全防范報警設(shè)備環(huán)境適應(yīng)性要求和試驗方法(IEC62599-1:2010,MOGB/T17626.2-2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)靜電放電抗擾度試驗(IEC610GB/T17626.3-2006電磁兼容試驗和測量技術(shù)射頻電磁場輻射抗擾度試驗(IEC6GB/T17626.11電磁兼容試驗和測量技術(shù)電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗(GB/T2環(huán)境適應(yīng)性environmentaladapta便攜式設(shè)備portableequip使用環(huán)境workingenviro4環(huán)境類別ⅠⅡⅢⅣ注：類別Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ的試驗條件嚴(yán)酷等級依次遞增，適于環(huán)境類別3◆額定電壓允差：±10%;◆額定電壓允差：±1%;），ⅠⅡⅢⅣ4），試驗要求及測試方法應(yīng)按照GB/T2423.3中的規(guī)定進行。受試產(chǎn)品應(yīng)進行初始檢測。嚴(yán)酷等級見備試驗要求及測試方法應(yīng)按照GB/T2423.3中的規(guī)定進行。受試產(chǎn)品應(yīng)進行初始檢測。嚴(yán)酷等級取5試驗樣品在標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境條件下放置于可調(diào)電磁環(huán)境干擾大小的試驗環(huán)境，實施功能測試和/或監(jiān)測。6間允許功能短暫喪失或降低，在騷擾停止后能自行恢方法：接觸放電應(yīng)施加在受試樣品導(dǎo)電表面，空氣放電應(yīng)對絕緣表面進行，對每個放電，每次放電時間間隔不是受試樣品上容易觸碰到的地方，例如采集窗、金屬螺間允許功能短暫喪失或降低，在騷擾停止后能自行恢定，采用（電壓波形： 8/20μs）組合波發(fā)生器，開路試驗電壓采用1等級等級（2kV開路輸出電壓容差±10%，試驗期間不能產(chǎn)生誤動作或功能暫時喪失而能自動恢復(fù)，試驗后工作正常。法進行，試驗期間不能產(chǎn)生誤動作或功能暫時喪失而能7固定式設(shè)備、可移動式設(shè)備和便攜3>50a應(yīng)符合GB/T2423.8-199在標(biāo)準(zhǔn)試驗條件下，打開包裝檢查樣品情況，根據(jù)樣品規(guī)定接通電源，檢驗樣品各項功819試驗樣品置于輻照度為1120W/m2的環(huán)境光Ⅳ2檢驗試驗樣品在室外太陽輻射環(huán)境下虹膜識別終端設(shè)備長期經(jīng)受太陽輻射時虹膜識別終端設(shè)備抵試驗樣品置于輻照度為1120W/m2的環(huán)境光間的溫度─輻射─時間的關(guān)系應(yīng)與GB/TⅣ2；2；確保生產(chǎn)廠指定的產(chǎn)品密封和其他意義上的防塵保護措施處于防護a8a該試驗