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文檔簡介

1《智能計算憶阻器基礎(chǔ)特性測試方法》委員會主管，全國智能計標(biāo)準(zhǔn)化算工作組（SAC/SWG32）和全國半導(dǎo)體器件標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會（SAC/TC78）歸口。本項目是制定項目，2院等十余家單位在內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)編制組。對《智能計算憶阻器基礎(chǔ)特性3（3）科學(xué)性原則。本標(biāo)準(zhǔn)多次召開標(biāo)準(zhǔn)起草會、專家研討會，4本文件規(guī)定了不同結(jié)構(gòu)和材料的雙極型憶阻器件理和寫操作的測試步驟和計算方法，同時對單晶體管單電阻（1T1R）目前標(biāo)志組圍繞憶阻器及其陣列的基礎(chǔ)特性的測試方法展開研5），tdelaytreadIreadG01236a)1T1M單元的forming操作tformingVforming01723a)1T1M單元的SET操作8tdelaytSET0123a)1T1M單元的RESET操作tdelaytRESETVRESET01239tdelaytread12301234KB本標(biāo)準(zhǔn)后續(xù)將陸續(xù)開展憶阻器及其陣列的基礎(chǔ)特性測試方的驗該標(biāo)準(zhǔn)的制定和實施，對于測試和評價憶阻器件及陣列的基礎(chǔ)特性起著重要作用。標(biāo)準(zhǔn)的制定初期，就與國際標(biāo)準(zhǔn)的水平一致，并且在國際標(biāo)準(zhǔn)的基礎(chǔ)上增加了憶阻器陣列的測試方法，實現(xiàn)憶阻器基礎(chǔ)特性的測試方法與國際接軌。通過本標(biāo)準(zhǔn)的制修訂對憶阻器件的研究、生產(chǎn)、檢驗和使用具有重要意義，同時可以憶阻器測試等國際廠商都在開展憶阻器的研究和生產(chǎn)，在國內(nèi)昕原半導(dǎo)體、知存科技以及眾多科研機構(gòu)也紛紛布局科研和產(chǎn)業(yè)化，因此同過本標(biāo)準(zhǔn)及后續(xù)相關(guān)的憶阻器系列測試標(biāo)準(zhǔn)的制定將用戶

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