X線頭影測量學培訓課件

X線頭影測量學定義

X線頭影測量是對標準化定位的X線片所得的軟硬組織影像進行定量的測量分析，從而了解牙合顱面軟硬組織的結構，使對牙合顱面的檢查診斷由表面形態(tài)深入到內(nèi)部的骨骼結構中去。2X線頭影測量學應用研究顱面生長發(fā)育牙合顱面畸形的診斷分析確定錯合畸形的矯治設計研究矯治過程中及矯治后的牙合顱面形態(tài)結構變化外科正畸預測手術及矯治效果下頜功能分析3X線頭影測量學4X線頭影測量學X線頭顱定位照相和頭影圖的描繪5X線頭影測量學1.頭顱定位X線照相

頭顱定位儀左、右耳塞及眶點指針構成與地面平行的平面自然頭位法

6X線頭影測量學

X線照相投照距離

X線球管至患者正中矢狀面應不小于150cm患者正中矢狀面至膠片約10cmX線中心線與頭顱定位儀左右耳塞成一直線

7X線頭影測量學8X線頭影測量學9X線頭影測量學患者體位：ICP位，唇自然放松

10X線頭影測量學2.頭影圖的描繪

描圖工具：觀片燈、硫酸紙、毫米尺、半圓儀及硬質(zhì)尖銳的鉛筆等注意：當左右影像不完全重合時，應取其平均中點來做描繪11X線頭影測量學12X線頭影測量學常用標志點及測量平面13X線頭影測量學一.顱部標志點（5個）鼻根點（N）：鼻額縫的最前點蝶鞍點（S）：蝶鞍影像的中心點14X線頭影測量學顱部標志點（5個）耳點（Po）：機械耳點---定位儀耳塞影像的最上點解剖耳點---骨性外耳道影像的最上點顱底點（Ba）：枕骨大孔前緣中點Bolton點（Bo）：枕骨髁突后切跡之最凹點15X線頭影測量學16X線頭影測量學二.上頜標志點（6個）眶點（Or）：眶下緣最下點翼上頜裂點（Ptm）：翼上頜裂影像的最下點前鼻棘點（ANS）：前鼻棘的尖端17X線頭影測量學上頜標志點（6個）后鼻棘點（PNS）：硬腭后部骨棘之尖上齒槽坐點（A）：前鼻棘與上齒槽緣間的最凹點上中切牙點（U1）：上中切牙切緣之最前點18X線頭影測量學注意：由于骨密度較低，ANS點和A點的定位較困難19X線頭影測量學上頜標志點20X線頭影測量學三.下頜標志點（7個）髁頂點（Co）：髁突影像最上點下頜角點（Go）：下頜角后下點頦下點（Me）：頦部之最下點21X線頭影測量學下頜標志點（7個）頦前點（Pog）：頦部之最前點頦頂點（Gn）：頦下點與頦前點之中點下齒槽座點（B）：頦前點與下齒槽緣之間的凹點下中切牙點（L1）：下中切牙切緣之最前點22X線頭影測量學下頜標志點23X線頭影測量學四.常用測量平面1.基準平面：相對穩(wěn)定前顱底平面（SN）:由蝶鞍點與鼻根點的連線組成眶耳平面（FH）:由耳點與眶點的連線組成

Bolton平面:由Bolton點與鼻根點的連線組成24X線頭影測量學常用基準平面前顱底平面（SN）眶耳平面（FH）Bolton平面25X線頭影測量學2.測量平面：

腭平面（PP）:由前鼻棘點與后鼻棘點的連線組成面平面（N-Pog）：由鼻根點與頦前點的連線組成Y軸（S-Gn）：蝶鞍點與頦頂點的連線組成26X線頭影測量學合平面合平面（OP）:解剖合平面

功能合平面27X線頭影測量學下頜平面（MP）：頦下點與下頜角下緣的切線通過下頜骨下緣最低點的切線下頜角點與頦頂點的連線（Go-Gn）28X線頭影測量學常用測量項目29X線頭影測量學常用的角度測量值上齒槽座角（SNA）：前顱底平面與鼻根點和上齒槽座點連線所形成的后下交角下齒槽座角（SNB）：前顱底平面與鼻根點和下齒槽座點連線所形成的后下交角上下齒槽座角（ANB）：SNA與SNB之差30X線頭影測量學下頜平面角（MP-FH）:下頜平面與FH平面的交角Y軸角：蝶鞍中心點與頦頂點連線與眶耳平面之前下交角面角（NPog-FH）：面平面與眶耳平面相交的后下交角31X線頭影測量學常用的面部高度測量值上前面高（N-ANS）：以FH為參照，N點和ANS點兩點間的垂直距離下前面高（ANS-ME）：以FH為參照，ANS點和ME點兩點間的垂直距離全面高（N-ME）：從前鼻棘至頦下點的距離33X線頭影測量學常用的頭影測量分析法34X線頭影測量學Tweed測量分析法華西醫(yī)大測量分析法Downs測量分析法Wylie測量分析法35X線頭影測量學Tweed分析法：

測量由眶耳平面（FH）、下頜平面（MP）、下中切牙長軸延長線所組成的代表面部形態(tài)結構的頜面三角形36X線頭影測量學

正常值

成都

白人眶耳平面－下頜平面角（FMA）28°25°下中切牙－眶耳平面角（FMIA）54°65°下中切牙－下頜平面角（IMPA）98°90°37X線頭影測量學意義：FMIA為54°是建立良好面形的重要條件正畸治療主要依靠改變下中切牙的位置和傾斜度來完成以下頜分析為依據(jù)38X線頭影測量學常用軟組織測量標志39X線頭影測量學額點（G）：額部之最前點軟組織鼻根點（Ns）：軟組織側面上相應之鼻根點鼻尖點（Prn）：鼻尖之最前突點鼻下點（Sn）：鼻小柱與上唇之連接點軟組織頦前點（Pog`）：軟組織頦部之最前點H線：軟組織頦前點與上唇間切線審美平面（E線）:通過鼻尖與頦部最凸點的切線40X線頭影測量學常用計測點41X線頭影測量學E線（審美平面）42X線頭影測量學43X線頭影測量學44X線頭影測量學THANKS!45X線頭影測量學X線頭影測量學定義

X線頭影測量是對標準化定位的X線片所得的軟硬組織影像進行定量的測量分析，從而了解牙合顱面軟硬組織的結構，使對牙合顱面的檢查診斷由表面形態(tài)深入到內(nèi)部的骨骼結構中去。47X線頭影測量學應用研究顱面生長發(fā)育牙合顱面畸形的診斷分析確定錯合畸形的矯治設計研究矯治過程中及矯治后的牙合顱面形態(tài)結構變化外科正畸預測手術及矯治效果下頜功能分析48X線頭影測量學49X線頭影測量學X線頭顱定位照相和頭影圖的描繪50X線頭影測量學1.頭顱定位X線照相

頭顱定位儀左、右耳塞及眶點指針構成與地面平行的平面自然頭位法

51X線頭影測量學

X線照相投照距離

X線球管至患者正中矢狀面應不小于150cm患者正中矢狀面至膠片約10cmX線中心線與頭顱定位儀左右耳塞成一直線

52X線頭影測量學53X線頭影測量學54X線頭影測量學患者體位：ICP位，唇自然放松

55X線頭影測量學2.頭影圖的描繪

描圖工具：觀片燈、硫酸紙、毫米尺、半圓儀及硬質(zhì)尖銳的鉛筆等注意：當左右影像不完全重合時，應取其平均中點來做描繪56X線頭影測量學57X線頭影測量學常用標志點及測量平面58X線頭影測量學一.顱部標志點（5個）鼻根點（N）：鼻額縫的最前點蝶鞍點（S）：蝶鞍影像的中心點59X線頭影測量學顱部標志點（5個）耳點（Po）：機械耳點---定位儀耳塞影像的最上點解剖耳點---骨性外耳道影像的最上點顱底點（Ba）：枕骨大孔前緣中點Bolton點（Bo）：枕骨髁突后切跡之最凹點60X線頭影測量學61X線頭影測量學二.上頜標志點（6個）眶點（Or）：眶下緣最下點翼上頜裂點（Ptm）：翼上頜裂影像的最下點前鼻棘點（ANS）：前鼻棘的尖端62X線頭影測量學上頜標志點（6個）后鼻棘點（PNS）：硬腭后部骨棘之尖上齒槽坐點（A）：前鼻棘與上齒槽緣間的最凹點上中切牙點（U1）：上中切牙切緣之最前點63X線頭影測量學注意：由于骨密度較低，ANS點和A點的定位較困難64X線頭影測量學上頜標志點65X線頭影測量學三.下頜標志點（7個）髁頂點（Co）：髁突影像最上點下頜角點（Go）：下頜角后下點頦下點（Me）：頦部之最下點66X線頭影測量學下頜標志點（7個）頦前點（Pog）：頦部之最前點頦頂點（Gn）：頦下點與頦前點之中點下齒槽座點（B）：頦前點與下齒槽緣之間的凹點下中切牙點（L1）：下中切牙切緣之最前點67X線頭影測量學下頜標志點68X線頭影測量學四.常用測量平面1.基準平面：相對穩(wěn)定前顱底平面（SN）:由蝶鞍點與鼻根點的連線組成眶耳平面（FH）:由耳點與眶點的連線組成

Bolton平面:由Bolton點與鼻根點的連線組成69X線頭影測量學常用基準平面前顱底平面（SN）眶耳平面（FH）Bolton平面70X線頭影測量學2.測量平面：

腭平面（PP）:由前鼻棘點與后鼻棘點的連線組成面平面（N-Pog）：由鼻根點與頦前點的連線組成Y軸（S-Gn）：蝶鞍點與頦頂點的連線組成71X線頭影測量學合平面合平面（OP）:解剖合平面

功能合平面72X線頭影測量學下頜平面（MP）：頦下點與下頜角下緣的切線通過下頜骨下緣最低點的切線下頜角點與頦頂點的連線（Go-Gn）73X線頭影測量學常用測量項目74X線頭影測量學常用的角度測量值上齒槽座角（SNA）：前顱底平面與鼻根點和上齒槽座點連線所形成的后下交角下齒槽座角（SNB）：前顱底平面與鼻根點和下齒槽座點連線所形成的后下交角上下齒槽座角（ANB）：SNA與SNB之差75X線頭影測量學下頜平面角（MP-FH）:下頜平面與FH平面的交角Y軸角：蝶鞍中心點與頦頂點連線與眶耳平面之前下交角面角（NPog-FH）：面平面與眶耳平面相交的后下交角76X線頭影測量學常用的面部高度測量值上前面高（N-ANS）：以FH為參照，N點和ANS點兩點間的垂直距離下前面高（ANS-ME）：以FH為參照，ANS點和ME點兩點間的垂直距離全面高（N-ME）：從前鼻棘至頦下點的距離78X線頭影測量學常用的頭影測量分析法79X線頭影測量學Tweed測量分析法華西醫(yī)大測量分析法Downs測量分析法Wylie測量分析法80X線頭影測量學Tweed分析法：

測量由眶耳平面（FH）、下頜平面（MP）、下中切牙長軸延長線所組成的代表面部形態(tài)結構的頜面三角形81X線頭影測量學

正常值

成都

白人眶耳平面－下頜平面角（FMA）28°25°下中切牙－眶耳平面角（FMIA）54°65°下中切牙－下頜平面角（IMPA）98°90°82X線頭影測量學意義：FMIA為54°是建立良好面形的重要條件正畸治療主要依靠改變下中切牙的位置和傾斜度來完成以下頜分析為依據(jù)83X