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文檔簡介
ICSXX.XXX.XX
CCSXXXX
團體標準
T/CSTMXXXXX—202X
航天器用聚酰亞胺薄膜技術要求
Technicalrequirementsofpolyimidefilmforspacecraft
202X-XX-XX發(fā)布202X-XX-XX實施
中關村材料試驗技術聯(lián)盟發(fā)布
T/CSTMXXXXX—2023
航天器用均苯型聚酰亞胺薄膜技術要求
1范圍
本標準規(guī)定了航天器用均苯型聚酰亞胺薄膜的技術要求、試驗方法、質量保證規(guī)定、交貨準備、說
明事項等。
本標準適用于航天器用均苯型聚酰亞胺薄膜。其他用途應用的均苯型聚酰亞胺薄膜可參照本規(guī)范。
2規(guī)范性引用文件
下列文件中的內容通過文中的規(guī)范性引用而構成本文件必不可少的條款。其中,注日期的引用文件,僅
該日期對應的版本適用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。
GB/T1033.1-2008塑料非泡沫塑料密度的測定第1部分:浸漬法、液體比重瓶法和滴定法
GB/T1040.3-2006塑料拉伸性能的測定第3部分:薄膜和薄片的試驗條件
GB/T1408.1-2016絕緣材料電氣強度試驗方法第1部分:工頻下試驗
GB/T1410-2016固體電氣材料體積電阻率和表面電阻率實驗方法
GB/T6040-2002紅外光譜分析方法通則
GB/T6672-2001塑料薄膜和薄片厚度測定機械測量法
GB/T6673-2001塑料薄膜和薄片長度和寬度的測定
GB/T13542.1-2009電氣絕緣用薄膜第1部分:定義和一般要求
GB/T13542.2-2021電氣絕緣用薄膜第2部分:試驗方法
GB/T13542.6-2006電氣絕緣用薄膜第6部分:電氣絕緣用聚酰亞胺薄膜
GB/T16578.1-2008塑料薄膜和薄片耐撕裂性能的測定第1部分:褲形撕裂法
GB/T19466-2004塑料差示掃描量熱法(DSC)
GB/T22567-2008電氣絕緣材料測定玻璃化轉變溫度的試驗方法
GB/T27761-2011熱重分析儀失重和剩余量的試驗方法
GB/T31729-2015塑料薄膜單位面積質量試驗方法
GB/T36800.2-2018塑料熱機械分析法(TMA)第2部分:線性熱膨脹系數(shù)和玻璃化轉變溫度的
測定
GJB2502.5-2006航天器熱控涂層試驗方法第5部分:真空-紫外輻照試驗
GJB2502.6-2006航天器熱控涂層試驗方法第6部分:真空-質子輻照試驗
GJB2502.7-2006航天器熱控涂層試驗方法第7部分:真空-電子輻照試驗
GJB2704A-2006航天器熱控涂層通用規(guī)范
HB5469-1991民用飛機機艙內部非金屬材料燃燒試驗方法
QJ1558B-2016真空條件下材料揮發(fā)性能測試方法
3術語和定義
GB/T13542.2和GJB2502中界定的術語和定義適用于本文件。
4尺寸、外形、重量及允許偏差
1
T/CSTMXXXXX—2023
4.1外觀
薄膜表面應平整光潔,顏色均勻,不應有折皺、撕裂、顆粒、氣泡、針孔和外來雜質等缺
陷,邊緣整齊無破損。
4.2厚度
薄膜厚度及偏差應符合表1規(guī)定,其他規(guī)格尺寸由訂購方和承制方商定或按圖樣規(guī)定。
表1標稱厚度及厚度公差
項目要求
標稱厚度12.5202550100
μm
厚度公差±1±2±2±2±5
μm
注:其他厚度可由供需雙方協(xié)商確定。
4.3寬度
薄膜寬度及偏差應符合表2規(guī)定。
表2分切寬度要求
項目要求
寬度≥1500
mm
寬度公差0-3
mm
4.4膜卷直徑
膜卷直徑與近似長度應滿足GB/T13542.6-2006的7.0條規(guī)定。其他規(guī)格尺寸由訂購方
和承制方商定或按圖樣規(guī)定。
4.5接頭
每卷薄膜都不允許有接頭。
5技術要求
5.1面密度
薄膜面密度及公差應符合表3的規(guī)定,其他規(guī)格尺寸由訂購方和承制方商定或按圖樣
規(guī)定。
表3面密度及公差
項目要求
規(guī)格12.5202550100
μm
面密度18±228±336±371±3142±7
g/m2
5.2吸濕性
薄膜吸濕性應不大于4.0%。
5.3阻燃性能
薄膜阻燃性應滿足12s點火垂直燃燒試驗時材料必須自熄,平均燒焦長度不得超過
203mm,移去火源后的平均續(xù)燃時間不得超過15s,試樣上的滴落物在跌落后續(xù)燃時間平
2
T/CSTMXXXXX—2023
均不得超過5s。
5.4力學性能
薄膜室溫常態(tài)下的力學性能應符合表4的規(guī)定,其他規(guī)格尺寸由訂購方和承制方商定
或按圖樣規(guī)定。
表4室溫常態(tài)下的拉伸強度、斷裂伸長率
項目要求
規(guī)格12.5202550100
μm
拉伸強度≥240≥240≥240≥240≥150
MPa
斷裂伸長率≥50≥80≥80≥50≥50
%
薄膜高、低溫下的力學性能應符合表5的規(guī)定,其他規(guī)格尺寸由訂購方和承制方商定
或按圖樣規(guī)定。
表5高、低溫下拉伸強度、斷裂伸長率
條件項目要求
溫度/℃規(guī)格/μm12.5202550100
100拉伸強度/MPa--≥180≥180-
斷裂伸長率/%--≥80≥80-
200拉伸強度/MPa--≥140≥140-
斷裂伸長率/%--≥100≥120-
-196拉伸強度/MPa--≥300≥300-
斷裂伸長率/%--≥30≥30-
-100拉伸強度/MPa--≥280≥280-
斷裂伸長率/%--≥60≥60-
-50拉伸強度/MPa--≥300≥280-
斷裂伸長率/%--≥80≥80-
0拉伸強度/MPa--≥240≥240-
斷裂伸長率/%--≥80≥80-
5.5抗撕裂性能
薄膜褲型撕裂強度應符合表6的規(guī)定,其他規(guī)格尺寸由訂購方和承制方商定或按圖樣
規(guī)定。
表6褲型撕裂強度
項目要求
規(guī)格12.5202550100
μm
撕裂強度≥3.0≥3.0≥3.0≥3.0≥4.5
N/mm
3
T/CSTMXXXXX—2023
5.6電氣強度
薄膜電氣強度應符合表7的規(guī)定,其他規(guī)格尺寸由訂購方和承制方商定或按圖樣規(guī)定。
表7電氣強度
項目要求
厚度規(guī)格12.5202550100
μm
電氣強度≥240≥280≥280≥220≥120
kV/mm
5.7電阻率
薄膜表面電阻率(室溫)不低于1.0×1015Ω,表面電阻率(200℃)不低于1.0×1013Ω。
薄膜體積電阻率(室溫)不低于1.0×1014Ω·cm,體積電阻率(200℃)不低于
1.0×1012Ω·cm。
5.8漏電點
薄膜要求表面無漏電點。
5.9平均線膨脹系數(shù)
薄膜平均線膨脹系數(shù)應符合表8規(guī)定,其他規(guī)格尺寸由訂購方和承制方商定或按圖樣
規(guī)定。
表8平均線膨脹系數(shù)
項目要求(×10-6/K)
厚度12.5μm20μm25μm50μm100μm
-100℃-0℃≤40≤40≤40≤45≤45
0℃-150℃≤40≤40≤40≤45≤45
150℃-400℃≤40≤40≤40≤45≤45
-100℃-400℃≤40≤40≤40≤45≤45
5.10玻璃化轉變溫度
薄膜的玻璃化轉變溫度要求不低于400℃。
5.11熱失重
薄膜要求失重5%時溫度不低于550℃。
5.12耐熱性能
薄膜經250℃耐熱144h試驗后,電氣強度較初始值的保持百分比應符合表9規(guī)定,其
他規(guī)格尺寸由訂購方和承制方商定或按圖樣規(guī)定。
表9250℃耐熱性能-電氣強度
項目電氣強度保持率
厚度規(guī)格12.5202550100
μm
保持率≥75≥75≥75≥75≥75
%
薄膜經250℃耐熱144h試驗后,力學較初始值的保持百分比應符合表10規(guī)定,其他
規(guī)格尺寸由訂購方和承制方商定或按圖樣規(guī)定。
表10250℃耐熱性能-力學性能
項目力學性能保持率
厚度規(guī)格12.520μm25μm50μm100μm
μm
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T/CSTMXXXXX—2023
拉伸強度保持率≥80≥80≥80≥80≥80
%
斷裂伸長率保持率≥80≥80≥80≥80≥80
%
5.13真空揮發(fā)性能
薄膜可補償質量損失(RML)要求不高于1%。
薄膜可凝揮發(fā)物(CVCM)要求不高于0.1%。
5.14電子、質子綜合輻照性能
輻照后外觀完好。
6取樣
按GB/T13542.2-2021中第3.1條進行。從薄膜卷上取樣時,應至少先剝去最外三層薄膜,取樣時
的環(huán)境條件同試驗條件,并按性能要求進行制樣。
7試驗方法
7.1外觀
目測
7.2厚度
按GB/T6672-2001的規(guī)定測定厚度。
7.3寬度
按GB/T6673-2001的規(guī)定測定寬度。
7.4長度
按GB/T6673-2001的規(guī)定測定長度。
7.5面密度
參照GB/T31729-2015,沿試樣寬度方向取3個試樣,分別測試三個試樣的面密度,取平均值做為試
驗結果。
7.6吸濕性
按GB/T13542.2-2021中第30章的規(guī)定進行測定,經室溫、相對濕度93%±2%處理24h。試驗前需將
試樣經過120℃±2℃、30min干燥處理
7.7阻燃性能
參照HB5469-91的規(guī)定進行測定。
7.8拉伸強度和斷裂伸長率
5
T/CSTMXXXXX—2023
按GB/T1040.3-2006中第6章的規(guī)定進行測定。拉伸速度為(50±5)mm/min,標線間距為100mm。
試樣寬度為(15±1)mm,試樣數(shù)量5個,取5個試樣的中值作為試驗結果,并報告每個方向的最大值
和最小值。
7.9撕裂強度
按GB/T16578.1-2008的規(guī)定進行測定。沿薄膜縱橫向、縱向分別裁取寬度50mm、長度150mm的試
樣各5片,取5個試樣的平均值作為試驗結果。
7.10表面電阻率
按GB/T1410-2016的規(guī)定進行測定。樣品經120℃±2℃、30min干燥處理再測試,試驗電壓250V,
電化時間為1min,測量電極直徑為50mm,間隙為2mm的三電極系統(tǒng)測量。取5個試樣的中值作為試
驗結果,保留兩位有效數(shù)字。
7.11體積電阻率
按GB/T1410-2016的規(guī)定進行測定。樣品經120℃±2℃、30min干燥處理再測試,試驗電壓250V,
電化時間為1min,測量電極直徑為25mm,高壓電極直徑為27mm的兩電極系統(tǒng)測量。取5個試樣的
中值作為試驗結果,保留兩位有效數(shù)字。
7.12電氣強度
按GB/T1408.1-2016的規(guī)定進行測定。試驗在空氣中進行,升壓速度為500V/s,所使用的電極為
上、下直徑6mm的電極系統(tǒng),取5次試驗的中值作為試驗結果。試驗前需將試樣經過120℃±2℃、30min
干燥處理,在常態(tài)空氣中10min內完成試驗。
7.13漏電點
按GB/T13542.2-2021中第22.4方法C-寬條成卷試驗法進行測定,通過濕海綿法來評價薄膜是否
存在穿孔缺陷。
7.14平均線膨脹系數(shù)
按GB/T36800.2-2018的規(guī)定進行測定。取值范圍為-100℃-0℃、0℃-150℃、150℃-400℃、-100℃
-400℃,升溫速率為10℃/min。
7.15玻璃化轉變溫度
按GB/T22567-2008的規(guī)定進行測定。測試模式為拉伸,測試頻率為1Hz,升溫速率為5℃/min。
7.16熱失重溫度
按GB/T19466-2004的規(guī)定進行測定。測試氛圍為N2,升溫速率為10℃/min,保護氣20ml/min,
吹掃氣60ml/min,取失重5%的溫度作為試驗結果。
7.17可補償質量損失
6
T/CSTMXXXXX—2023
按QJ1558B-2016的規(guī)定進行測定。
7.18可凝揮發(fā)物含量
按QJ1558B-2016的規(guī)定進行測定。
8檢驗規(guī)則
8.1檢驗分類
本標準規(guī)定的檢驗分類如下:
a)鑒定檢驗;
b)質量一致性檢驗。
8.2檢驗項目
檢驗的項目見表11所示。
表11檢驗項目表
序號檢驗項目鑒定檢驗質量一致性檢驗要求章條號檢驗方法章條號
1外觀●●4.17.1
2厚度●●4.27.2
3寬度●●4.37.3
4膜卷直徑●●4.47.4
5接頭●●4.57.4
6面密度●●5.17.5
7吸濕性●●5.27.6
8阻燃性能●—5.37.7
9力學性能●●5.47.8
10抗撕裂性能●●5.57.9
11電氣強度●●5.67.12
12電阻率●—5.77.10、7.11
13漏電點●●5.87.13
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T/CSTMXXXXX—2023
14平均線膨脹系數(shù)●—5.97.14
15玻璃化轉變溫度●—5.107.15
16熱失重●—5.117.16
17耐熱性能●—5.127.8、7.12
18真空揮發(fā)性能●—5.137.17、7.18
19電子、質子綜合輻照性能●—5.147.1
注:●檢驗項目,—不檢項目。
8.3鑒定檢驗
有下列情況之一時,應進行鑒定檢驗:
a)首次生產時;
b)正式生產后,如設備、原材料、工藝改變影響產品性能時;
c)停產兩年以上,恢復生產時;
d)產品轉產生產時;
e)質量一致性檢驗結果與上次鑒定檢驗結果有較大差異時。
8.4組批規(guī)則和抽樣方案
溫馨提示
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