電子元器件識(shí)別檢測與焊接（第2版） 課件 10.3 集成電路選用、檢測及代換

集成電路的選用、代換與檢測陳學(xué)平2024-09-17

01.3.1集成電路的選用與代換02.5.2集成電路的檢測目錄01ONE3.1集成電路的選用與代換

集成電路的選用在選用某種類型的集成電路之前，應(yīng)先認(rèn)真閱讀產(chǎn)品說明書或有關(guān)資料，全面了解該集成電路的功能、電氣參數(shù)、外形封裝（包括引腳分布情況）及相關(guān)外圍電路。絕對(duì)不允許集成電路的使用環(huán)境、參數(shù)等指標(biāo)超過廠家所規(guī)定的極限參數(shù)。選用集成電路時(shí)，還應(yīng)仔細(xì)觀察其產(chǎn)品型號(hào)是否清晰，外形封裝是否規(guī)范等，以免購到假貨。

集成電路的代換直接代換集成電路損壞后，應(yīng)優(yōu)先選用與其規(guī)格、型號(hào)完全相同的集成電路來直接更換。不可憑經(jīng)驗(yàn)或僅因引腳數(shù)、外觀形狀等相同便盲目直接代換。

集成電路的代換間接代換在無可直接代換集成電路的情況下，也可以用與原集成電路的封裝形式、內(nèi)部電路結(jié)構(gòu)、主要參數(shù)等相同，只是個(gè)別或部分引腳功能排列不同的集成電路來間接代換（通過改變引腳），做應(yīng)急處理。02ONE5.2集成電路的檢測

常用的檢測方法集成電路常用的檢測方法有在線測量法、非在線測量法和代換法。

常用的檢測方法在線測量法在線測量法是利用電壓測量法、電阻測量法及電流測量法等，通過在電路上測量集成電路的各引腳電壓值、電阻值和電流值是否正常，來判斷該集成電路是否損壞。①集成電路的電阻測量法。集成電路的電阻測量法分為在線測量和非在線測量，由于集成電路非在路電阻測量法不受外圍電路元器件的制約，因此是檢測集成電路好壞的常用方法。集成電路非在路電阻測量法是指集成電路在完全與外圍電路脫焊的狀態(tài)下，用萬用表電阻擋測量各引腳相對(duì)于接地引腳的正、反向電阻值，然后與正常值（可查閱相關(guān)資料）相比較，或結(jié)合內(nèi)部電路對(duì)測量結(jié)果進(jìn)行分析，以判斷集成電路是否正常。一般凡阻值差別較大的引腳，很可能是其內(nèi)部相應(yīng)的電路已經(jīng)損壞。②集成電路直流電壓測量法。這是一種判斷集成電路有無故障最常用的方法，具有簡捷、迅速、有效的特點(diǎn)。下面結(jié)合彩色電視機(jī)有關(guān)電路，具體介紹測量方法和注意事項(xiàng)。

常用的檢測方法非在線測量法非在線測量法是在集成電路未焊入電路時(shí)，通過測量其各引腳之間的直流電阻值與已知正常同型號(hào)集成電路各引腳之間的直流電阻值進(jìn)行對(duì)比，以確定其是否正常。

常用的檢測方法代換法代換法是用已知完好的同型號(hào)、同規(guī)格集成電路來代換被測集成電路，可以判斷出該集成電路是否損壞。

常用集成電路的檢測微處理器集成電路的檢測微處理器集成電路的關(guān)鍵測試引腳是VDD電源端、RESET復(fù)位端、XIN晶振信號(hào)輸入端、XOUT晶振信號(hào)輸出端及其他各線輸入、輸出端。不同型號(hào)微處理器的RESET復(fù)位電壓也不相同，有的是低電平復(fù)位，即在開機(jī)瞬間為低電平，復(fù)位后維持高電平；有的是高電平復(fù)位，即在開機(jī)瞬間為高電平，復(fù)位后維持低電平。

常用集成電路的檢測開關(guān)電源集成電路的檢測開關(guān)電源集成電路的關(guān)鍵腳電壓是電源端（VCC）、激勵(lì)脈沖輸出端、電壓檢測輸入端、電流檢測輸入端。測量各引腳對(duì)地的電壓值和電阻值時(shí)，若與正常值相差較大，在其外圍元器件正常的情況下，可以確定是該集成電路已損壞。內(nèi)置大功率開關(guān)管的厚膜集成電路，還可通過測量開關(guān)管C、B、E極之間的正、反向電阻值，來判斷開關(guān)管是否正常。

常用集成電路的檢測音頻功放集成電路的檢測對(duì)引起無聲故障的音頻功放集成電路，測量其電源電壓正常時(shí)，可用信號(hào)干擾法來檢查。測量時(shí)，萬用表應(yīng)置于R×1擋，將紅表筆接地，用黑表筆去點(diǎn)觸音頻輸入端，正常時(shí)揚(yáng)聲器中應(yīng)有較強(qiáng)的“喀、喀”聲。

常用集成電路的檢測運(yùn)算放大器集成電路的檢測用萬用表直流電壓擋，測量運(yùn)算放大器輸出端與負(fù)電源端之間的電壓值（在靜態(tài)時(shí)電壓值較高）。用手持金屬鑷子依次點(diǎn)觸運(yùn)算放大器的兩個(gè)輸入端（加入干擾信號(hào)），若萬用表表針有較大幅度的擺動(dòng)，則說明該運(yùn)算放大器完好；若萬用表表針不動(dòng)，則說明該運(yùn)算放大器已損壞。

常用集成電路的檢測時(shí)基集成電路的檢測用如圖10-16所示的測試電路來檢測時(shí)基集成電路的好壞。測試電路由阻容元件、發(fā)光二極管LED、6V直流電流、電源開關(guān)S和8引腳IC插座組成。將時(shí)基集成電路（例如NE555）插入IC插座后，按下電源開關(guān)S，若被測時(shí)基集