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1、1,Xi an Polytechnic University,應(yīng)用物理教研室,第5章 超聲檢測(cè)方法分類(lèi)及特點(diǎn),2,5.1 按原理分類(lèi) 5.2 按缺陷顯示類(lèi)型分類(lèi) 5.3 按波型分類(lèi) 5.4 按探頭數(shù)目分類(lèi) 5.5 按探頭接觸方式分類(lèi),Xi an Polytechnic University,主要內(nèi)容,3,脈沖反射法 穿透法 共振法 衍射時(shí)差法,Xi an Polytechnic University,5.1 按原理分類(lèi),4,一.脈沖反射法,1. 缺陷回波法,根據(jù)示波屏上顯示的缺陷波進(jìn)行判斷的方法叫作缺陷回波法。該方法以回波傳播的時(shí)間對(duì)缺陷進(jìn)行定位,以回波幅度對(duì)缺陷進(jìn)行定量,是脈沖反射法的基本方

2、法,Xi an Polytechnic University,5,2.底波高度法,當(dāng)工件的材質(zhì)和厚度不變時(shí),底面回波高度應(yīng)是基本不變的。如果工件內(nèi)存在缺陷,底面回波高度下降甚至消失。這種依據(jù)底面回波的高度變化判斷工件缺陷情況的檢測(cè)方法,稱(chēng)為底波高度法。,該方法適合于檢測(cè)垂直于表面的裂紋缺陷。,Xi an Polytechnic University,6,3.多次底波法,當(dāng)透入工件的超聲能量較大,而工件厚度較小時(shí),超聲可在檢測(cè)面與底面之間往復(fù)傳播多次,示波屏上出現(xiàn)多次底波B1、B2、B3、 。如果工件存在缺陷,則由于缺陷的反射以及散射而增加了聲能的損耗,底面回波次數(shù)減少,同時(shí)也打亂了各次底面回波

3、高度依次有規(guī)律的降低。多用于薄板檢測(cè)。,Xi an Polytechnic University,7,二.穿透法,穿透法是依據(jù)脈沖波或連續(xù)波穿透工件之后的能量變化來(lái)檢測(cè)工件缺陷的方法。采用兩個(gè)探頭,一個(gè)用做發(fā)射,一個(gè)用做接收,分別放置在試件相對(duì)的兩個(gè)端面進(jìn)行檢測(cè)。,Xi an Polytechnic University,8,超聲波(連續(xù)波)垂直入射到平板工件底面,產(chǎn)生全反射。當(dāng)工件的厚度為超聲波半波長(zhǎng)的整數(shù)倍時(shí),入射波與反射波同相位其振幅疊加,從而在工件中產(chǎn)生共振而形成駐波。常用于共檢測(cè)測(cè)厚。,三.共振法,工件中超聲波共振現(xiàn)象,Xi an Polytechnic University,9,X

4、i an Polytechnic University,5.2 按缺陷顯示類(lèi)型分類(lèi),A型顯示 B型顯示 C型顯示,10,縱波法 橫波法 表面波法 板波法,5.3 按波型分類(lèi),Xi an Polytechnic University,11,一.縱波法,使用縱波直探頭進(jìn)行檢測(cè)的方法,稱(chēng)為縱波直探頭法。 波束垂直入射至工件檢測(cè)面,以不變的波型和方向透入工件,所以又稱(chēng)垂直入射法,簡(jiǎn)稱(chēng)垂直法,Xi an Polytechnic University,12,二.橫波法,將縱波通過(guò)楔塊、水等介質(zhì)傾斜入射至試件探測(cè)面,利用波型轉(zhuǎn)換得到橫波進(jìn)行檢測(cè)的方法,稱(chēng)為橫波法。,Xi an Polytechnic Uni

5、versity,13,三.表面波法,使用表面波進(jìn)行檢測(cè)的方法,稱(chēng)為表面波法。在探傷中,表面波沿著工件表面?zhèn)鞑サ倪^(guò)程中,遇到裂紋、表面劃痕或棱角等均會(huì)發(fā)生反射。在反射的同時(shí),部分表面波仍繼續(xù)向前傳播。,Xi an Polytechnic University,14,四. 板波法,蘭姆波探傷是使蘭姆波沿著薄板(或薄壁管)兩表面及中間傳播來(lái)進(jìn)行探傷的方法。當(dāng)工件中有缺陷時(shí),在缺陷處產(chǎn)生反射,熒光屏上出現(xiàn)缺陷波,當(dāng)蘭姆波遇到端面時(shí),亦會(huì)產(chǎn)生端面反射波,,Xi an Polytechnic University,15,5.4 按探頭數(shù)目分類(lèi),單探頭法 雙探頭法 多探頭法,Xi an Polytechni

6、c University,16,一.單探頭法,使用一個(gè)探頭兼作發(fā)射和接收超聲波的檢測(cè)方法稱(chēng)為單探頭法。,二.雙探頭法,使用兩個(gè)探頭(一個(gè)發(fā)射,一個(gè)接收)進(jìn)行檢測(cè)的方法稱(chēng)為雙探頭法。主要用于單探頭法難以檢出的缺陷檢測(cè)。,Xi an Polytechnic University,17,雙探頭法排列方式:,Xi an Polytechnic University,18,三.多探頭法,使用兩個(gè)以上的探頭組合在一起進(jìn)行檢測(cè)的方法稱(chēng)為多探頭法。多探頭法的應(yīng)用,主要是通過(guò)增加聲束來(lái)提高檢測(cè)速度或發(fā)現(xiàn)各種取向的缺陷。通常與多通道儀器和自動(dòng)掃查裝置配合,Xi an Polytechnic University,19,5.4 按探頭接觸方式分類(lèi),接觸法 液浸法 電磁耦合法,Xi an Polytechnic University,20,接觸法:探頭與工件檢測(cè)之間,涂有很薄的耦合劑層,因此可以看作兩者是直接接觸的,這種檢測(cè)方法稱(chēng)為直接接觸法,或簡(jiǎn)稱(chēng)接觸法。,一.接觸法,Xi an Polytechnic University,21,液浸法:將探頭和工件浸于液體中以液體作耦合劑進(jìn)行檢測(cè)的方法,稱(chēng)為液浸法。耦合劑可以是水,也可以是油。當(dāng)以水作耦合劑時(shí),稱(chēng)為水浸法。,一.液浸法,Xi a

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