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1、1,材料科學(xué)研究方法第5章電子顯微微分石器(電子與物質(zhì)的相互作用),2,1,電子信號(hào)在電子顯微偏析中的應(yīng)用,3,5.1 1。散射類型彈性散射改變軌道,能量不變,非彈性散射改變軌道。能量變化,4,5.1.1原子核對(duì)電子的彈性散射,入射電子通過原子核r n時(shí),由于原子核的正電荷吸引作用,入射電子偏離入射方向。也就是說,原子核中電子的彈性散射電磁波不通過原子改變波長(zhǎng)度(能量大小),但波方向(散射),5,散射角N和瞄準(zhǔn)距離r n,原子負(fù)荷z,入射電子的能量E 0之間的關(guān)系如下:可見,原子序數(shù)大小越大,電子能量越小,離原子核越近,除了對(duì)原子核中電子的散射以外,核外電子帶負(fù)電荷,對(duì)原子核的彈性散射起屏蔽作
2、用。特征:原子對(duì)電子的散射比X射線的散射強(qiáng)得多,因此電子物質(zhì)內(nèi)部的滲透深度比X射線小得多。作用:原子核對(duì)電子的彈性散射是電子衍射和成像的基礎(chǔ)。6,5.1.1原子核對(duì)電子的非彈性散射,電磁波通過原子不僅能改變波的長(zhǎng)度(能量大小),還能改變波的方向(散射),7,5.1.2原子核對(duì)電子的非彈性散射。結(jié)果:非彈性散射發(fā)生后的電子不利影響:生成的X射線是連續(xù)無特征波長(zhǎng)的X射線,不反映樣品結(jié)構(gòu)或成分特征,生成背景信號(hào),影響成分分析的靈敏度和準(zhǔn)確度,不利于X-張藝興衍射。作用:連續(xù)X-張藝興光譜的強(qiáng)度數(shù)據(jù)可用于分析粒子樣品和粗糙表面樣品的絕對(duì)濃度。8,5.1.3核外電子對(duì)入射電子的散射,(1)散射時(shí)入射電子
3、損失的能量部分變?yōu)闊帷?2)部分電離物質(zhì)的原子或形成自由載流子;(3)伴隨著二次電子、俄歇電子、特征X射線、特征能量損失電子、陰極發(fā)光、電子感應(yīng)等有用信息。在電子衍射和透射電鏡圖像中發(fā)生色差,提高背景強(qiáng)度,降低圖像內(nèi)襯。作用:產(chǎn)生的電離、陰極發(fā)光和電子云的集體振動(dòng)等物理效應(yīng)可以反映樣品的形式、結(jié)構(gòu)和組成特性,是各種電子顯微鏡分析設(shè)備的重要信息源。9,5.2高能電子與樣品物質(zhì)相互作用所產(chǎn)生的電子信息,5.2.1第二次電子5.2.1.1的基本概念:電離和第二次電子:入射電子與核外電子相互作用時(shí)原子失去電子而變成離子的過程稱為電離,離開牙齒原子的電子稱為2價(jià)電子刺激:原子的最外層電子(價(jià)電子)被電離
4、并變成第二次電子心電子刺激:原子內(nèi)層電子電離變成二次電子的過程。價(jià)電子刺激所需的能量比核心電子刺激所需的能量小得多,因此價(jià)電子發(fā)生的概率比內(nèi)層電子的發(fā)生概率大得多。10,5.2.1.2價(jià)電子刺激形成的二次電子特性,1。二次電子是入射電子從樣品的誘導(dǎo)帶和價(jià)帶中產(chǎn)生的電子,只要有小能量(E50eV),就能擊中二次電子。二次電子通常不包含元素相關(guān)信息。二次電子在樣品表面(510nm)上的話,很容易離開表面,因此掃描電鏡中,二次電子用于表征樣品表面信息。3.對(duì)樣品表面形態(tài)敏感,11,二次電子的產(chǎn)量(發(fā)射效率)SE與入射電子束的入射角有以下關(guān)系:表達(dá)式中,I SE為二次電子電流強(qiáng)度,I P為入射電子電流
5、強(qiáng)度。樣品表面不平整時(shí)入射角不同,二次電子的強(qiáng)度相應(yīng)改變,通過探測(cè)器檢測(cè)樣品上的二次電子,可以得到形態(tài)襯層圖像,牙齒圖像可以反映樣品表面的形態(tài)特征。請(qǐng)參閱右圖。12,(4)空間分辨率在表面約10nm以內(nèi)的二次電子可以脫離表面檢測(cè)器。在牙齒深度,入射光束還沒有明顯的橫向擴(kuò)散。檢測(cè)到的信號(hào)僅反映與入射束直徑相似的小體積范圍內(nèi)的形態(tài)特性,因此二次電子具有較高的空間分辨率。在圖中,(a)電子束散射區(qū)域梨形;(b)重元素樣品的電子束散射區(qū)半球形狀。2-俄歇電子激發(fā)區(qū);4-二次電子激發(fā)區(qū);5-后向散射電子激勵(lì)區(qū);6- 1次X-張藝興激勵(lì)區(qū)域,13,(5)信號(hào)收集效率高的次電子信號(hào)圍繞入射光束的光點(diǎn)向四面八
6、方發(fā)射(與點(diǎn)光源相同)。但是,由于儀器結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)的困難,二次電子信號(hào)檢測(cè)器的檢測(cè)部分只是信號(hào)分布范圍的一小部分,因此信號(hào)采集效率必須很低。幸運(yùn)的是,二次電子能量很低,容易受到電場(chǎng)作用。因此,如果在探測(cè)器上方添加5-10kV的正電壓,樣品上的大多數(shù)二次電子就可以進(jìn)入探測(cè)器。目前,二次電子是掃描電鏡成像的主要手段。有由14,5.2.1.3芯電子刺激形成的二次電子特性,稱為高速二次電子(FastSecondary Electron),人們開始研究快速二次電子,并考慮減輕它的干擾。15,樣品上可測(cè)量的電子數(shù)根據(jù)能量的分布在下圖(電子頻譜曲線)中。其中,E0是彈性散射峰,50eV的低功能段是二次電子棒,由
7、兩峰之間的非彈性散射電子組成的背景包括后向散射電子棒、俄歇電子峰、特征能量損失峰。后向散射電子的能量分布比較廣。電子未微分石器球中使用的白山電子是能量高的電子(能量接近E0或相同的電子),5.2.2等散射電子的特征,定義:入射電子照亮樣品后發(fā)生彈性和非彈性散射,部分入射電子的累積散射角度超過90后再次離開樣品表面。、16,1。對(duì)樣品物質(zhì)的原子序數(shù)敏感性后向散射電子產(chǎn)量隨著原子序數(shù)的增加而增加。因此,背向散射電子圖像的襯層與樣品中每個(gè)微區(qū)的成分密切相關(guān)。金屬的各相分布很容易顯示。17,2??臻g分辨率和信號(hào)采集率如圖所示低,5-后向散射電子激勵(lì)區(qū)后向散射電子激勵(lì)區(qū)大,空間分辨率低,只能到達(dá)100n
8、m。后向散射電子能量大,運(yùn)動(dòng)方向不容易偏轉(zhuǎn),探測(cè)器只能接收特定方向的小立體角范圍內(nèi)的電子,信號(hào)收集率低。18,5.2.3電子吸收,定義:樣品較厚時(shí)(微米數(shù)量級(jí)),入射電子的一部分在樣品內(nèi)多次非彈性散射后能量耗盡,不能穿透樣品或離開表面。這種電子稱為吸收電子。吸收電子和反向散射電子(包括二次電子)是互補(bǔ)關(guān)系。也就是說,原子序數(shù)越大,反向散射電子越多,吸收電子就越少,反之亦然。因此,吸收電子相的里料與背向散射電子相相反,在原子序數(shù)差異不同的元素樣品中,可以得到每個(gè)微區(qū)的定性分布。19,5.2.4特征X-張藝興(例如,入射電子具有足夠的能量時(shí)),原子內(nèi)殼(例如,K層),打電子(原子電離),留下空穴的
9、話,上層電子跳下來填滿牙齒空穴,產(chǎn)生特征X-ray。根據(jù)原子序數(shù)z,有元素(Criticalionization energy Ec)、原子序數(shù)大元素、大Ec。特征X射線用于透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡的X頻譜分析(EDS),檢測(cè)被分析物質(zhì)中包含的元素內(nèi)容。EDS可用于原子序數(shù)Z4的元素檢測(cè)。20,5.2.5俄歇電子,如果無線電波有足夠的能量,就能刺激內(nèi)層電子(如K層)。如果填充了其他內(nèi)部電子,電子就可以脫離原子,在原子內(nèi)產(chǎn)生空穴,此時(shí)其他內(nèi)部電子跳下來填補(bǔ)空穴,同時(shí)內(nèi)部殼電子跳出樣品外形成俄歇電子。俄歇電子與電子所在的外殼有關(guān),因此俄歇電子也能提供元素信息,俄歇電子對(duì)輕型元素(X射線對(duì)重元
10、素敏感性)也很敏感。俄歇電子是數(shù)百eV-幾keV。俄歇電子平均自由路不到一納米,只能在離表面很近的地方逃脫,所以能提供俄歇電子表面的化學(xué)信息。進(jìn)行俄歇電子表面分析的儀器稱為俄歇電子光譜儀(AES)。表面的氧化和污染會(huì)干擾對(duì)俄歇電子光譜的分析,AES必須在超真空(UHV)下工作,前景工作者使用較少,目前有Auger/STEM系統(tǒng)。特征1。適用于輕元素及超輕元素輕元素及超輕元素分析的X-張藝興產(chǎn)量低,俄歇電子產(chǎn)量高,成分分析敏感度遠(yuǎn)高于X-射線。2.表面薄層分析俄歇電子發(fā)生區(qū)域小,可以保持特征能量和離開表面的俄歇電子(限制在表面下1nm以內(nèi)的深度范圍內(nèi))。因此,可以在樣品表面、晶界或相界面上用于俄
11、歇電子成分分析。21,5.2.6自由載流子形成的伴隨效應(yīng),入射電子進(jìn)入部分半導(dǎo)體、磷光體、絕緣體物質(zhì)時(shí),可以刺激內(nèi)層電子,在發(fā)生過程中,通過碰撞電離,使萬代電子產(chǎn)生到感應(yīng)帶,從而在傳導(dǎo)帶和萬代內(nèi)產(chǎn)生大量電子和空穴等自由載流子。自由載流子的形成徐璐伴隨著物質(zhì)不同的信息。22,5.2.6.1產(chǎn)生陰極發(fā)光,在磷光體中產(chǎn)生電子-空穴對(duì),然后傳導(dǎo)帶中的負(fù)載流子(電子)跳到基態(tài)(電子),同時(shí)發(fā)射光并釋放能量。光的波長(zhǎng)在可見光到紅外線的范圍內(nèi)。這稱為陰極發(fā)光。大多數(shù)陰極發(fā)光材料對(duì)雜質(zhì)非常敏感,雜質(zhì)原子分布的不均勻性會(huì)引起陰極發(fā)光強(qiáng)度的差異,因此陰極發(fā)光信息可用于檢測(cè)雜質(zhì),靈敏度比X射線發(fā)射光譜高3數(shù)量級(jí)。也
12、可以用于鑒定物質(zhì)上。23,5.2.6.2產(chǎn)生電子感覺傳導(dǎo),入射電子在半導(dǎo)體中產(chǎn)生電子-空穴對(duì),然后通過家電系統(tǒng)的作用產(chǎn)生附加傳導(dǎo),牙齒效果稱為電子感覺傳導(dǎo)??捎糜跍y(cè)量半導(dǎo)體的載流子擴(kuò)散長(zhǎng)度和壽命。24,如果測(cè)量這種電子能量信息,可以進(jìn)行成分分析,就稱為能量分析電子顯微術(shù)。如果利用這種電子信息成像,就稱為能量選擇電子顯微術(shù)。5.2.7入射電子和晶體中的電子云相互作用,當(dāng)入射電子通過晶體空間時(shí),電子云進(jìn)行發(fā)散恢復(fù)運(yùn)動(dòng),引起電子云的集體振動(dòng)現(xiàn)象,稱為等離子刺激。伴隨能量損失,入射電子的能量損失因元素和成分而異,并且具有特征。入射電子能產(chǎn)生等離子體,離開樣品表面,牙齒電子被稱為特征能量損失電子。25,
13、入射電子與晶格相互作用(毒理學(xué))周期脈沖電子入射的電子音響效應(yīng)(毒理學(xué)),26,入射電子穿透數(shù)十到數(shù)百納米厚的薄膜樣品,由樣品下的探測(cè)器接收。牙齒電子稱為透射電子。通過試件的電子束有試件的成分信息。如果將發(fā)射的特性X-張藝興和oshe譜看作是由詩篇的非彈性散射“發(fā)射”的能量的一種形式,那么,交出牙齒能量部分的入射電子將繼續(xù)向透射電子前進(jìn),通過對(duì)這些透射電子損失的能量的分析,可以得出詩篇中該區(qū)域的元素配置?;瘜W(xué)環(huán)境函數(shù)核心電子能量位移可以獲取信息。這就是電子能量損失譜的基礎(chǔ)。,5.2.8透射電子,27,5.2.8.1透射電子的三個(gè)茄子效應(yīng),1。質(zhì)量厚度襯層效果示例由于不同微觀區(qū)域的質(zhì)量或厚度的差異而產(chǎn)生的相應(yīng)微觀區(qū)域的透射電子強(qiáng)度不同,圖像不同區(qū)域的亮度也不同。這稱為質(zhì)量厚度襯層效果。質(zhì)量厚度內(nèi)襯效果可以觀察樣品的組織形態(tài)細(xì)節(jié)。2.衍射效應(yīng)入射電子束對(duì)應(yīng)于波長(zhǎng)恒定的平面單色波,晶體中可能發(fā)生X射線等衍射現(xiàn)象,衍射規(guī)律也滿足
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