無(wú)損檢測(cè)期末試題

1、.1. 用顯像劑把滲入缺陷內(nèi)的滲透液吸附出來(lái)的原理是基于( 液體的毛細(xì)作用 )下列關(guān)于磁化電流方向與缺陷方向關(guān)系的敘述中，正確的是（B ）A、直接通電磁化時(shí)，與電流方向垂直的缺陷最易于檢出；B、直接通電磁化時(shí)，與電流方向平行的缺陷最易于檢出；C、直接通電磁化時(shí)，與電流方向無(wú)關(guān)，任何方向的缺陷都可以檢出；D、用線(xiàn)圈法磁化時(shí)，與線(xiàn)圈內(nèi)電流方向垂直的缺陷最易于檢出。3. 簡(jiǎn)述：無(wú)損檢測(cè)技術(shù)的概念？無(wú)損檢測(cè)目的是什么？無(wú)損檢測(cè)方法選擇的依據(jù)？無(wú)損檢測(cè)技術(shù)是在不損傷被檢測(cè)對(duì)象的條件下，利用材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)異常或缺陷存在所引起的對(duì)熱、聲、光、電、磁等反應(yīng)的變化，來(lái)探測(cè)各種工程材料、零部件、結(jié)構(gòu)件等內(nèi)部或表面缺

2、陷，并對(duì)缺陷的類(lèi)型、性質(zhì)、數(shù)量、形狀、位置、尺寸、分布及其變化做出判斷和評(píng)價(jià)的技術(shù)總稱(chēng)。（不損傷產(chǎn)品又能發(fā)現(xiàn)缺陷的檢測(cè)方法或技術(shù)）；無(wú)損檢測(cè)的目的：定量掌握缺陷與強(qiáng)度的關(guān)系，評(píng)價(jià)構(gòu)件的允許負(fù)荷、壽命或剩余壽命；檢測(cè)設(shè)備（構(gòu)件）在制造和使用過(guò)程中產(chǎn)生的結(jié)構(gòu)不完整性及缺陷情況，以便改進(jìn)制造工藝，提高產(chǎn)品質(zhì)量，及時(shí)發(fā)現(xiàn)故障，保證設(shè)備安全、高效可靠地運(yùn)行。（質(zhì)量管理、在役檢測(cè)、質(zhì)量鑒定）；依據(jù)：產(chǎn)品圖樣、相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)、技術(shù)文件、訂貨合同。（經(jīng)濟(jì)性原則：經(jīng)濟(jì)效益、制造成本、使用成本；技術(shù)方面：材料特性、零部件形狀、零部件中可能產(chǎn)生的缺陷的形態(tài)、缺陷在零部件中可能存在的部位）。4、簡(jiǎn)述：超聲波超聲場(chǎng)的近場(chǎng)區(qū)、

3、遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)、指向性的概念。（要求有相關(guān)的圖和公式）簡(jiǎn)述：超聲波聲衰減有幾種類(lèi)型？其中 D 為壓電晶片半徑，指向性：按直線(xiàn)傳播；束射性，即能集中在超聲場(chǎng)中定向輻射。.衰減類(lèi)型：吸收衰減、散射衰減、擴(kuò)散衰減。5. 簡(jiǎn)述：超聲波的特點(diǎn)？超聲波有哪些基本波型？超聲波的適用范圍？特點(diǎn)：良好的指向性，直線(xiàn)傳播，束射性（波長(zhǎng)越短，擴(kuò)散角越小，聲能越集中）；較強(qiáng)的穿透性，伴隨有衰減（擴(kuò)散、散射、吸收）?；静ㄐ危嚎v波（L）：固液氣態(tài)，介質(zhì)中質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向與波的傳播方向相同的超聲波；橫波（ S 或 T）：固態(tài)，介質(zhì)中質(zhì)點(diǎn)振動(dòng)方向垂直于波的傳播方向；表面波(R) 瑞利波：固態(tài)，沿介質(zhì)表面?zhèn)鞑ィ话宀?，蘭姆波，在板厚和波長(zhǎng)

4、相當(dāng)?shù)膹椥员“逯袀鞑ァ.S. 超聲縱波在特定的頻率下，被封閉在介質(zhì)側(cè)面之中的現(xiàn)象叫波導(dǎo)，此時(shí)的波叫導(dǎo)波。適用范圍：各種尺寸的鍛件、軋制件、焊縫或某些鑄件；無(wú)損檢測(cè)厚度、材料硬度、淬硬層深度、晶粒度、液位和流量、殘余應(yīng)力和膠接強(qiáng)度等。6. 簡(jiǎn)述： X 射線(xiàn)檢測(cè)的原理與方法和特點(diǎn)？對(duì)射線(xiàn)檢測(cè)中的防護(hù)要點(diǎn)？.原理：當(dāng)射線(xiàn)通過(guò)被檢物體時(shí)，物體中有缺陷的部位與無(wú)缺陷部位對(duì)射線(xiàn)的吸收能力不同，一般情況是透過(guò)有缺陷部位的射線(xiàn)強(qiáng)度高于無(wú)缺陷部位的射線(xiàn)強(qiáng)度，因此可以通過(guò)檢測(cè)透過(guò)被檢物體后的射線(xiàn)強(qiáng)度的差異，來(lái)判斷被檢物體中是否存在缺陷。方法：照相法、電離檢測(cè)法、熒光屏直接觀察法、電視觀察法。特點(diǎn)：可以根據(jù)不同檢

5、測(cè)厚度來(lái)調(diào)節(jié)能量（X 射線(xiàn)的強(qiáng)度可由管電流和管電壓靈活調(diào)節(jié)），靈敏度高；在垂直電子束的方向上最強(qiáng)，在平行電子束的方向上最弱。（ X 射線(xiàn)的強(qiáng)度在空間的分布是不均勻的，而且具有一定的擴(kuò)散角，并不是平行光。）防護(hù)要點(diǎn)：屏蔽防護(hù)法，利用各種屏蔽物體吸收射線(xiàn)，以減少射線(xiàn)對(duì)人體的傷害；距離防護(hù)法；時(shí)間防護(hù)法，讓射線(xiàn)照相檢測(cè)人員盡可能減少接觸射線(xiàn)的時(shí)間，以保證其在任一天都不超過(guò)國(guó)家規(guī)定的最大允許劑量當(dāng)量（17mrem）。7. 簡(jiǎn)述：磁粉檢測(cè)的原理？主要檢測(cè)工藝過(guò)程？原理：利用磁化材料或工件表面的漏磁場(chǎng)吸引磁粉顆?；虼艖乙褐械拇欧垲w粒，使其在具有較強(qiáng)漏磁場(chǎng)的位置集聚，從而形成磁痕達(dá)到顯示缺陷的效果。工藝過(guò)程

6、：預(yù)處理勵(lì)磁噴灑磁粉顆?；虼艖乙河^察磁痕拍照或記錄退磁后處理8. 簡(jiǎn)述：什么叫規(guī)一化阻抗？為什么要對(duì)檢測(cè)線(xiàn)圈阻抗進(jìn)行規(guī)一化處理？（要有圖）原因：若初級(jí)線(xiàn)圈本身的電參數(shù)略有變化，Z 的軌跡也會(huì)變化,為了消除初級(jí)線(xiàn)圈自身阻抗的變化對(duì)Z 的影響 , 所以進(jìn)行規(guī)一化處理。規(guī)一化阻抗：1. 先將圖 3-7 的坐標(biāo)向右平移 R1 距離，再用去除其 X和 R 坐標(biāo)，2. 使 Z 的半圓軌跡的直徑重合在X 軸上 ( 圖 3-8) ，軌跡上諸點(diǎn)位置則取決于變量L2 /( R2Rr ) 的實(shí)際取值。.P1169. 簡(jiǎn)述： 1 渦流檢測(cè)的原理 2 趨膚效應(yīng)概念？ 3 滲透深度概念？渦流檢測(cè)：（檢測(cè)線(xiàn)圈中通有交變電流

7、時(shí)，在線(xiàn)圈周?chē)a(chǎn)生交變磁場(chǎng)；當(dāng)此交變磁場(chǎng)相對(duì)導(dǎo)體運(yùn)動(dòng)時(shí)，導(dǎo)體中會(huì)感應(yīng)出渦狀流動(dòng)的電流，即渦流。）可利用電磁感應(yīng)原理，可通過(guò)測(cè)定被檢工件內(nèi)感生渦流的變化來(lái)無(wú)損評(píng)定導(dǎo)電材料及其工件的某些性能或發(fā)現(xiàn)缺陷。趨膚效應(yīng)：（當(dāng)激勵(lì)線(xiàn)圈中通以交變電流時(shí)，在試件某一深度上流動(dòng)的渦流會(huì)產(chǎn)生一個(gè)與原磁場(chǎng)反向的磁場(chǎng)，減少了原來(lái)的磁通，并導(dǎo)致了更深層的渦流的減少，所以渦流密度隨著離表面距離的增加而減少，其變化取決于激勵(lì)頻率、試件的電導(dǎo)率和磁導(dǎo)率，）在試件中感應(yīng)出的渦流集中在靠近激勵(lì)線(xiàn)圈的材料表面附近，這種現(xiàn)象叫做趨膚效應(yīng)。滲透深度：渦流檢測(cè)中，渦流密度衰減為其表面密度的1/e （ 36.8%）時(shí)對(duì)應(yīng)的深度。10. 簡(jiǎn)述：滲透檢測(cè)的基本原理？滲透檢測(cè)的幾大工藝過(guò)程？滲透檢測(cè)：當(dāng)將溶有熒光染料或著色染料的滲透液施加到零部件表面，由于毛細(xì)作用，滲.透液滲入到細(xì)小的表面開(kāi)口缺陷中，清除附在工件