生產(chǎn)工序_超聲波探傷作業(yè)指導(dǎo)書

超聲波探傷作業(yè)指導(dǎo)書一、適用范圍超聲檢測(cè)適用于板材、復(fù)合板材、碳鋼和低合金鋼鍛件、管材、棒材、奧氏體不銹鋼鍛件等承壓設(shè)備原材料和零部件的檢測(cè)；也適用于承壓設(shè)備對(duì)接焊接接頭、T型焊接接頭、角焊縫以及堆焊層等的檢測(cè)。2、 引用標(biāo)準(zhǔn)JB/T4730.3 承壓設(shè)備無(wú)損檢測(cè) 第三部分：超聲檢測(cè)GB/T12604 無(wú)損檢測(cè)術(shù)語(yǔ)3、 一般要求1、超聲檢測(cè)人員應(yīng)具有一定的基礎(chǔ)知識(shí)和探傷經(jīng)驗(yàn)。并經(jīng)考核取得有關(guān)部門認(rèn)可的資格證書。2、探傷儀 采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀，其頻率應(yīng)為15MHz。 儀器至少應(yīng)在滿刻度的75%范圍內(nèi)呈線性顯示，垂直線性誤差不得大于5%。 儀器的水平線性、分辨力和衰減器的精度等指標(biāo)均應(yīng)復(fù)合JB/T 10061的規(guī)定。3、 探頭 縱波直探頭的晶片直徑應(yīng)在1030mm之間，工作頻率15MHz，誤差不得超過(guò)10%。 橫波斜探頭的晶片面積應(yīng)在100400mm之間，K值一般取13. 縱波雙晶直探頭晶片之間的聲絕緣必須良好。4、 儀器系統(tǒng)的性能 在達(dá)到所探工件的最大檢測(cè)聲程時(shí)，其有效靈敏度余量不得小于10dB。 儀器與探頭的組合頻率與公稱頻率誤差不得大于10%。 儀器與直探頭組合的始脈沖寬度（在基準(zhǔn)靈敏度下）：對(duì)于頻率為5MHz的探頭，寬度不大于10mm；對(duì)于頻率為2.5MHz的探頭，寬度不大于15mm。 直探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)不小于30dB，斜探頭的遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力應(yīng)不小于6dB。 儀器與探頭的系統(tǒng)性能應(yīng)按JB/T 9124和JB/T 10062的規(guī)定進(jìn)行測(cè)試。四、探傷時(shí)機(jī)及準(zhǔn)備工作1、探傷一般應(yīng)安排在最終熱處理后進(jìn)行。若因熱處理后工件形狀不適于超聲探傷，也可將探傷安排在熱處理前，但熱處理后仍應(yīng)對(duì)其進(jìn)行盡可能完全的探傷。2、工件在外觀檢查合格后方可進(jìn)行超聲探傷，所有影響超聲探傷的油污及其他附著物應(yīng)予以清除。3、探傷面的表面粗糙度Ra為6.3m。5、 探傷方法1、為確保檢測(cè)時(shí)超聲波聲束能掃查到工件的整個(gè)被檢區(qū)域，探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的15%。探頭的掃查速度不應(yīng)超過(guò)150mm/s。耦合劑應(yīng)透聲性好，且不損傷檢測(cè)表面，如機(jī)油，漿糊，甘油和水等。2、靈敏度補(bǔ)償 耦合補(bǔ)償 在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)由表面粗糙度引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償。 衰減補(bǔ)償 在檢測(cè)和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)材質(zhì)衰減引起的檢測(cè)靈敏度下降和缺陷定量誤差進(jìn)行補(bǔ)償。 曲面補(bǔ)償 對(duì)探測(cè)面是曲面的工件，應(yīng)采用曲率半徑與工件相同或相近的試塊，通過(guò)對(duì)比實(shí)驗(yàn)進(jìn)行曲率補(bǔ)償。六、系統(tǒng)校準(zhǔn)與復(fù)核1、一般要求 系統(tǒng)校準(zhǔn)應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行，校準(zhǔn)中應(yīng)使探頭主聲束對(duì)準(zhǔn)反射體的反射面，以獲得穩(wěn)定和最大的反射信號(hào)。2、 儀器校準(zhǔn) 每隔3個(gè)月至少對(duì)儀器的水平線性和垂直線性進(jìn)行一次測(cè)定。3、 新購(gòu)探頭測(cè)定 新購(gòu)探頭應(yīng)有探頭性能參數(shù)說(shuō)明書，新探頭使用前應(yīng)進(jìn)行前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力等主要參數(shù)的測(cè)定。4、 檢測(cè)前儀器和探頭系統(tǒng)測(cè)定 使用儀器-斜探頭系統(tǒng)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定前沿距離、K值和主聲束偏離，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。 使用儀器-直探頭系統(tǒng)，檢測(cè)前應(yīng)測(cè)定始脈沖寬度、靈敏度余量和分辨力，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃查量程和掃查靈敏度。5、 檢測(cè)過(guò)程中儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核 遇到下述情況應(yīng)對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行復(fù)核： 校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時(shí)； 檢測(cè)人員懷疑掃描量程或掃描靈敏度有變化時(shí)； 連續(xù)工作4h以上時(shí)； 工作結(jié)束時(shí)。6、 檢測(cè)結(jié)束前儀器與探頭系統(tǒng)的復(fù)核 每次檢測(cè)結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃描量程進(jìn)行復(fù)核。如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過(guò)掃描線讀數(shù)的10%，則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢。 每次掃描結(jié)束前，應(yīng)對(duì)掃查靈敏度進(jìn)行復(fù)核。一般對(duì)距離-波幅曲線的校核不應(yīng)少與3點(diǎn)。如曲線上任何一點(diǎn)幅度下降2dB，則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢測(cè)部位進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升2dB，則應(yīng)對(duì)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。7、 校準(zhǔn)、復(fù)核的有關(guān)注意事項(xiàng) 校準(zhǔn)、復(fù)核和對(duì)儀器進(jìn)行線性檢測(cè)時(shí)，任何影響儀器線性的控制器（如抑制或?yàn)V波開關(guān)等）都應(yīng)放在“關(guān)”的位置或處于最低水平上。7、 探傷方法1、探測(cè)方向 一般在探測(cè)面上兩相互垂直的方向上進(jìn)行并盡量掃查到工件的整個(gè)體積 閥門鋼鍛件的探測(cè)方向如下圖是所示 2、 工件材質(zhì)衰減系數(shù)的確定 在工件無(wú)缺陷完好區(qū)域選擇三處探測(cè)面與底面平行且具有代表性的部位，調(diào)節(jié)儀器使第一次底面回波幅度（B1）為滿刻度的50%，記錄此時(shí)衰減器讀數(shù)；再調(diào)節(jié)衰減器，使第二次底面回波幅度（B2）為滿刻度的50%，兩次衰減器讀數(shù)之差即為（B1-B2）的dB的差值。 衰減系數(shù)的計(jì)算公式為： 式中：表示衰減系數(shù)，dB/m; B1-B2表示兩次衰減器讀數(shù)之差，dB； T表示工件的探測(cè)聲程，m。 工件上三處部位衰減系數(shù)的平均值即為該工件的衰減系數(shù)。 3、探傷靈敏度的確定 縱波直探頭探傷靈敏度的確定 當(dāng)被探部位的厚度不大于探頭的3倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，一般選用底波確定探傷靈敏度。由于幾何形狀所限，不能獲得底波者或是探測(cè)厚度大于45mm而小于3倍近場(chǎng)區(qū)時(shí)，可直接采用試塊法確定探傷靈敏度。 縱波雙晶直探頭靈敏度的確定 按需要選擇不同直徑平底孔的試塊，并測(cè)試一組不同探測(cè)距離的平底孔。調(diào)節(jié)衰減器，使其中最高的回波幅度達(dá)到滿刻度的80%。不改變儀器的參數(shù)，測(cè)出其他平底孔回波的最高點(diǎn)，將其標(biāo)定在熒光屏上，連接這些點(diǎn)，即是對(duì)應(yīng)于不同平底孔的縱波雙晶直探頭的距離波幅曲線。 4、補(bǔ)償 表面粗糙度補(bǔ)償 在探傷和缺陷定量時(shí)，應(yīng)對(duì)由表面粗糙度引起的能量消耗進(jìn)行補(bǔ)償。 曲面補(bǔ)償 對(duì)于探測(cè)面是曲面的工作，可采用曲率與工件相同或相近（0.91.5倍）的參考試塊，否則應(yīng)補(bǔ)償因曲率不同引起的聲能損失。 探傷靈敏度一般不低于工件最大探測(cè)距離出的2mm平底孔當(dāng)量。 5、探傷靈敏度的復(fù)查 探傷中應(yīng)檢查探傷靈敏度，發(fā)現(xiàn)探傷靈敏度有改變時(shí)應(yīng)重新調(diào)整。當(dāng)增益電平降低2dB以上時(shí)，應(yīng)對(duì)上一次校準(zhǔn)以來(lái)所檢查的工件進(jìn)行復(fù)探；當(dāng)增益電平升高2dB以上時(shí)，應(yīng)對(duì)所有缺陷進(jìn)行重新定量。8、 缺陷記錄 1、缺陷當(dāng)量的確定 采用A、V、G計(jì)算法確定當(dāng)量。對(duì)位于近場(chǎng)區(qū)不能用上述方法確定當(dāng)量的，可以采用雙晶直探頭，利用不同直徑平底孔的試塊通過(guò)比較法來(lái)確定缺陷當(dāng)量。 缺陷密集區(qū)和單個(gè)大缺陷的邊界可利用半波高度法來(lái)確定。 計(jì)算缺陷當(dāng)量時(shí)若材質(zhì)衰減系數(shù)超過(guò)4dB/m，應(yīng)進(jìn)行修正。 2、缺陷記錄 記錄當(dāng)量平底孔徑超過(guò)4mm的單個(gè)缺陷的位置和波幅。 記錄當(dāng)量平底孔直徑超過(guò)3mm的缺陷密集區(qū)及其最大缺陷的位置和分布，缺陷密集區(qū)面積以30mm30mm的方塊作為最小度量單位。 記錄由缺陷引起的底面回波降低區(qū)域和數(shù)值。 記錄材質(zhì)衰減系數(shù)。 不屬于上述情況，但探傷人員能判定是否危害性的缺陷也予以記錄。9、 缺陷等級(jí)分類 1、單個(gè)缺陷的等級(jí)分類按表1規(guī)定 表1mm等級(jí)1234缺陷當(dāng)量直徑4688 2、缺陷密集區(qū)的等級(jí)分類按表2規(guī)定 表2 %等級(jí)1234 缺陷密集區(qū)占探傷總面積的百分比00551010 3、由缺陷引起的底波降低量等級(jí)分類按表3規(guī)定 表3 dB等級(jí)1234底波降低量BG/BF8814142020 4、表1、2、3的等級(jí)在評(píng)定工件質(zhì)量時(shí)應(yīng)作為獨(dú)立的等級(jí)分別使用。 5、被探傷人員判定為危險(xiǎn)性的缺陷應(yīng)評(píng)為4級(jí)。10、 探傷報(bào)告探傷報(bào)告應(yīng)包括下述內(nèi)容：1、 委托探傷的單位，探傷報(bào)告編號(hào)，簽發(fā)日期。2、 鍛鋼件的名稱、編號(hào)、材料牌號(hào)、熱處理狀態(tài)、探傷面的表面粗糙度。3、 探傷儀的型號(hào)、探頭型號(hào)、探傷頻率、耦合劑、探傷靈敏度和掃查方式。4、 在草圖上標(biāo)明檢測(cè)區(qū)域，如有因幾何形狀限制而檢測(cè)不到的部位也必須在草圖上標(biāo)明。5