【計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)】JJG754-2005光學(xué)傳遞函數(shù)測量裝置檢定規(guī)程.pdf

中華人民共和國國家計(jì)量檢定規(guī)程 JJG7542005 光學(xué)傳遞函數(shù)測量裝置 MeasuringEquipmentforOpticalTransferFunction 2005-09-05發(fā)布 2006-03-05實(shí)施 國 家 質(zhì) 量 監(jiān) 督 檢 驗(yàn) 檢 疫 總 局 發(fā) 布 中 華 人 民 共 和 國 國 家 計(jì) 量 檢 定 規(guī) 程 光學(xué)傳遞函數(shù)測量裝置 JJG7542005 國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局發(fā)布 * 中 國 質(zhì) 檢 出 版 社 出 版 發(fā) 行北京市朝陽區(qū)和平里西街甲 號(hào) 2 (100029) 北京市西城區(qū)三里河北街 號(hào) 16 (100045) 網(wǎng)址 : 服務(wù)熱線 :400-168-0010 年 月第二版 2018 2 * 書號(hào) :155026J-1998 版權(quán)專有 侵權(quán)必究 JJG7542005 光學(xué)傳遞函數(shù) 測量裝置檢定規(guī)程 JJG7542005 代替JJG754 1991 VerificationRegulationofMeasuring EquipmentforOpticalTransferFunction 本檢定規(guī)程經(jīng)國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局于 年 月 日批準(zhǔn) 2005 09 05 ,并自 年 月 日起施行 2006 03 05 。 歸 口 單 位 全國光學(xué)計(jì)量技術(shù)委員會(huì) : 主要起草單位 中國計(jì)量科學(xué)研究院 : 參加起草單位 中國兵器工業(yè)第二零五所 : 本規(guī)程委托全國光學(xué)計(jì)量技術(shù)委員會(huì)負(fù)責(zé)解釋 JJG7542005本規(guī)程主要起草人 : 陳 燕 中國計(jì)量科學(xué)研究院 ( ) 王莉茹 中國計(jì)量科學(xué)研究院 ( ) 參加起草人 : 楊 紅 中國兵器工業(yè)第二零五所 ( ) 楊朋利 中國兵器工業(yè)第二零五所 ( ) JJG7542005 目 錄 范圍1 (1) 引用文獻(xiàn)2 (1) 術(shù)語3 (1) 最佳像面3.1 (1) 基準(zhǔn)像面3.2 (1) 概述4 (1) 物方和像方均處于有限遠(yuǎn)4.1 (1) 物方處于無限遠(yuǎn)4.2 (2) 物方和像方均處于無限遠(yuǎn)4.3 (2) 計(jì)量性能要求5 (3) 示值5.1 MTF (3) 示值5.2 PTF (3) 通用技術(shù)要求6 (4) 計(jì)量器具控制7 (5) 檢定條件7.1 (5) 檢定項(xiàng)目7.2 (8) 檢定方法7.3 (8) 紅外波段光學(xué)傳遞函數(shù)測量裝置 示值的校準(zhǔn)7.4 MTF (9) 檢定結(jié)果的處理7.5 (10) 檢定周期7.6 (10)附錄 光學(xué)傳遞函數(shù)測量裝置檢定證書 檢定結(jié)果通知書內(nèi)頁格式 A 、 (11)附錄 光學(xué)傳遞函數(shù)測量裝置檢定記錄格式 B (12)附錄 紅外光學(xué)傳遞函數(shù)測量裝置的校準(zhǔn) C (13)附錄 光學(xué)傳遞函數(shù)測量結(jié)果不確定度的評(píng)定 D (15) JJG7542005 光學(xué)傳遞函數(shù)測量裝置檢定規(guī)程1 范圍 本規(guī)程適用于各種原理的 基于可見光波段的光學(xué)傳遞函數(shù)測量裝置 以下簡稱傳 、 (函測量裝置 的首次檢定 后續(xù)檢定和使用中檢驗(yàn) ) 、 。 注:基于紅外波段的光學(xué)傳遞函數(shù)測量裝置的校準(zhǔn)可參照本規(guī)程附錄 進(jìn)行。 C2 引用文獻(xiàn) 測量不確定度評(píng)定與表示 JJF10591999 光學(xué)傳遞函數(shù) 術(shù)語 符號(hào) GB4315.11984 、 紅外光學(xué)傳遞函數(shù)測量裝置檢定規(guī)程 GJB/J52272003 光學(xué)和光學(xué)儀器 光學(xué)傳遞函數(shù) 原理和測量過程 ISO93351995 使用本規(guī)程時(shí) 應(yīng)注意使用上述引用文獻(xiàn)的現(xiàn)行有效版本 , 。3 術(shù)語 最佳像面3.1 Optimum FocalPlane 在軸上某一特定孔徑和空間頻率下取得調(diào)制傳遞函數(shù)最大峰值的像面 。 基準(zhǔn)像面3.2 Datum FocalPlane 對(duì)最佳像面進(jìn)行離焦 向靠近樣品一方 后得到峰值 的像面 ( ) 50% 。4 概述 傳函測量裝置用于對(duì)在等暈區(qū)內(nèi)滿足線性條件的照相物鏡 望遠(yuǎn)系統(tǒng) 復(fù)印機(jī)用鏡 、 、頭 電視和電影攝像鏡頭 航測鏡頭 紅外成像鏡頭 人工晶體 視覺矯正鏡片等各類 、 、 、 、 、光學(xué)系統(tǒng)的成像質(zhì)量進(jìn)行評(píng)價(jià)和測量 光學(xué)傳遞函數(shù) 以下簡稱 是一個(gè)復(fù)函數(shù) 。 ( OTF) ,它由調(diào)制傳遞函數(shù) 以下簡稱 和相位傳遞函數(shù) 以下簡稱 兩部分組成 ( MTF) ( PTF) 。 光學(xué)傳遞函數(shù)表示為 : rs rs i rs OTF( ,)=MTF( ,)exp- PTF( ,) (1) 傳函測量裝置按工作原理又分為光電傅立葉分析法和數(shù)字法等 。 傳函測量裝置一般由光學(xué)工作臺(tái) 或?qū)к?測試目標(biāo) 被測樣品夾持器 像分析 ( )、 、 、器 輔助成像系統(tǒng)等幾部分組成 、 。 根據(jù)被測樣品的不同特性要求 傳函測量裝置的測試目標(biāo)一般有圓孔 狹縫 刀 , 、 、口 光柵或自發(fā)光系統(tǒng)等幾種不同的方式 、 。 像分析器一般采用狹縫