GB2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)a低溫

犐犆犛 犓 中 華 人 民 共 和 國 國 家 標(biāo) 準(zhǔn) 犌犅犜犐犈犆： 代替 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn) 犃：低溫 犈狀狏犻狉狅狀犿犲狀狋犪犾狋犲狊狋犻狀犵犳狅狉犲犾犲犮狋狉犻犮犪狀犱犲犾犲犮狋狉狅狀犻犮狆狉狅犱狌犮狋狊 犘犪狉狋：犜犲狊狋犿犲狋犺狅犱狊犜犲狊狋狊犃：犆狅犾犱 （：， ：，）發(fā)布 實(shí)施 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 發(fā) 布 中 國 國 家 標(biāo) 準(zhǔn) 化 管 理 委 員 會 書犌犅犜犐犈犆： 目次 前言 ! 范圍 ! 規(guī)范性引用文件 ! 術(shù)語和定義 ! 非散熱試驗(yàn)樣品與散熱試驗(yàn)樣品試驗(yàn)方法應(yīng)用對比 ! 試驗(yàn)描述 ! 試驗(yàn)程序 ! 相關(guān)規(guī)范應(yīng)給出的信息 ! 試驗(yàn)報(bào)告中應(yīng)給出的信息 ! 附錄 （資料性附錄）標(biāo)準(zhǔn)的組成部分 ! 附錄 （資料性附錄）試驗(yàn) ：低溫和試驗(yàn) ：高溫的分類代號小寫字母之間的關(guān)系 ! 書 犌犅犜犐犈犆： 前言是 標(biāo)準(zhǔn)的第部分，標(biāo)準(zhǔn)的組成部分見資料性附錄 。 本部分等同采用：環(huán)境試驗(yàn)第部分：試驗(yàn)試驗(yàn) ：低溫（英文版）。 本部分與：相比，主要做了下列編輯性修改： 本部分的名稱改為：電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn) ：低溫； “本標(biāo)準(zhǔn)”一詞改為“本部分”； 刪除了：前言； 刪除了：引言，將其內(nèi)容轉(zhuǎn)化為增加的資料性附錄 的內(nèi)容； 增加了資料性附錄“標(biāo)準(zhǔn)的組成部分”（見附錄 ）； 增加了資料性附錄“試 驗(yàn) ：低溫 和 試驗(yàn) ：高 溫 的 分 類 代 號 小 寫 字 母 之 間 的 關(guān) 系”（見 附 錄 ）； 刪除了第章第段中的“對于非散熱試驗(yàn)樣品，”； 第章中最后兩段的內(nèi)容移到中； 標(biāo)題“非散熱試驗(yàn)樣品”改為“非散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)”； 最后一段原文為正文，本部分改為注。 為清晰起見，上述修改已在正文相應(yīng)位置加了腳注。 本部分代替 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn) ：低溫，與之相比，主要變化如下： 刪除了試驗(yàn) ：非散熱試驗(yàn)樣品溫度突變的低溫試驗(yàn)； 刪除了附錄 、附錄 、附錄 、附錄 、附錄 ； 增加了試驗(yàn) ：散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的低溫試驗(yàn)試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程通電。 本部分的附錄 、附錄 為資料性附錄。 本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會（）提出并歸口。 本部分由廣州電器科學(xué)研究院負(fù)責(zé)起草。 本部分主要起草人：張志勇。 本部分所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為： 、。 犌犅犜犐犈犆： 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn) 犃：低溫范圍 的本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。試驗(yàn) 和試驗(yàn) 與早期 版本無實(shí)質(zhì)性的差異），增加試驗(yàn) 的目的主要是檢測那些要求在整個(gè)試驗(yàn)過程包括降溫調(diào)節(jié)期間都 要通電運(yùn)行的設(shè)備。 本低溫試驗(yàn)的目的僅限于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。 本低溫試驗(yàn)不能用來評價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這種情 況下，應(yīng)采用 。 本低溫試驗(yàn)方法細(xì)分為以下幾種： 非散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn)： 試驗(yàn) ，溫度漸變。 散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn)： 試驗(yàn) ，溫度漸變； 試驗(yàn) ，溫度漸變，試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過程通電。 本部分給出的試驗(yàn)方法通常用于試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。規(guī)范性引用文件 下列文件中的條款通過 的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文 件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成 協(xié)議的各方研究是否可 使用這 些文件 的 最新 版本。凡是 不 注 日期 的引用文 件，其最 新版本適 用 于 本 部分。 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分：總則（，：） 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)術(shù)語（，：） 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn) ：溫度變化（，：，） 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則（，：，） 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)（，：，） 電 工 電 子 產(chǎn) 品 環(huán) 境 試 驗(yàn) 試 驗(yàn) 和 試 驗(yàn) （帶 負(fù) 載