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Z 4329:2004 (1) 規(guī)格,工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)化法第 14 條準(zhǔn)用第 12 條第 1 項(xiàng)規(guī)定基,社団法人日本電気 計(jì)測(cè)器工業(yè)會(huì)(JEMIMA)財(cái)団法人日本規(guī)格協(xié)會(huì)(JSA),工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)原案具日本工業(yè)規(guī)格改正 申出,日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)査會(huì)審議経,経済産業(yè)大臣改正日本工業(yè)規(guī)格。 ,JIS Z 4329:1993 改正,規(guī)格置換。 改正當(dāng),日本工業(yè)規(guī)格國(guó)際規(guī)格対比,國(guó)際規(guī)格一致日本工業(yè)規(guī)格作成及日 本工業(yè)規(guī)格基礎(chǔ)國(guó)際規(guī)格原案提案容易,IEC 60325:2002,Radiation protection instrumentation-Alpha,beta and alpha/beta (beta energy 60 keV) contamination meters and monitors 基礎(chǔ) 用。 規(guī)格一部,技術(shù)的性質(zhì)特許権,出願(yuàn)公開(kāi)後特許出願(yuàn),実用新案権,又出願(yuàn)公開(kāi)後 実用新案登録出願(yuàn)抵觸可能性注意喚起。経済産業(yè)大臣及日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)査會(huì) ,技術(shù)的性質(zhì)特許権,出願(yuàn)公開(kāi)後特許出願(yuàn),実用新案権,又出願(yuàn)公開(kāi)後実用新 案登録出願(yuàn)確認(rèn),責(zé)任。 JIS Z 4329 ,次示附屬書(shū)。 附屬書(shū)(參考)JIS 対応國(guó)際規(guī)格対比表 Z 4329:2004 (2) 目 次 序文1 1. 適用範(fàn)囲1 2. 引用規(guī)格1 3. 定義2 4. 種類4 4.1 構(gòu)成裝置種類4 4.2 使用方法裝置種類4 4.3 電源裝置種類4 4.4 測(cè)定放射線裝置種類4 5. 性能4 5.1 相対基準(zhǔn)誤差4 5.2 機(jī)器効率4 5.3 検出限界4 5.4 線特性4 5.5 検出器入射窓面機(jī)器効率均一性4 5.6 自然計(jì)數(shù)率4 5.7 他放射線影響4 5.8 感光性4 5.9 指示値変動(dòng)4 5.10 応答時(shí)間5 5.11 溫度特性5 5.12 耐濕性5 5.13 電源電圧変動(dòng)対安定性6 5.14 耐衝撃性6 5.15 予熱時(shí)間6 5.16 特性7 5.17 分解時(shí)間7 5.18 高圧変化時(shí)指示値安定性(検出器) 7 5.19 入力感度安定性(検出器)7 5.20 警報(bào)動(dòng)作7 5.21 靜電気放電影響7 5.22 外部電磁界影響7 5.23 及無(wú)線周波數(shù)影響(交流電源駆動(dòng)) 7 5.24 影響(交流電源駆動(dòng)) 7 5.25 電源電圧低下及電源一時(shí)的遮斷影響(交流電源駆動(dòng))7 w w w . b z f x w . c o m Z 4329:2004 目次 (3) 5.26 放射電磁界強(qiáng)度特性7 6. 構(gòu)造7 6.1 構(gòu)造一般7 6.2 検出器8 6.3 測(cè)定裝置8 6.4 電源8 7. 試験8 7.1 試験條件8 7.2 試験方法9 8. 表示15 9. 取扱説明書(shū)16 附屬書(shū)(參考)JIS 対応國(guó)際規(guī)格対比表17 w w w . b z f x w . c o m 日本工業(yè)規(guī)格 JIS Z 4329:2004 放射性表面汚染 Portable radiation surface contamination meters and monitors 序文 規(guī)格, 2002年第2版発行IEC 60325, Radiation protection instrumentation - Alpha, beta and alpha/beta (beta energy 60 keV) contamination meters and monitors 元,技術(shù)的內(nèi)容変更作 成日本工業(yè)規(guī)格。 ,規(guī)格點(diǎn)線下線施箇所,原國(guó)際規(guī)格変更事項(xiàng)。変更一覧 表説明付,附屬書(shū)(參考)示。 1. 適用範(fàn)囲 規(guī)格,物體表面上線放出核種,又最大60 keV 以上線放出 線放出核種汚染密度測(cè)定放射性表面汚染又警報(bào)付放射性表面汚染 (以下。 )規(guī)定。 ,検出器計(jì)測(cè)部含,検出器測(cè)定裝置接続 ,又測(cè)定裝置內(nèi)蔵。 備考 規(guī)格対応國(guó)際規(guī)格,次示。 ,対応程度表記號(hào),ISO/IEC Guide 21 基,IDT(一致) ,MOD (修正) ,NEQ(同等)。 IEC 60325:2002, Radiation protection instrumentation -Alpha,beta and alpha/beta (beta energy 60 keV) contamination meters and monitors (MOD) 2. 引用規(guī)格 次掲規(guī)格,規(guī)格引用,規(guī)格規(guī)定一部構(gòu)成 。引用規(guī)格,最新版(追補(bǔ)含。 )適用。 JIS C 61000-4-2 電磁両立性第 4 部:試験及測(cè)定技術(shù)第 2 節(jié):靜電気放電試験 備考 IEC 61000-4-2:1995 Electromagnetic compatibility (EMC)Part 4-2: Testing and measurement techniquesElectrostatic discharge immunity test ,規(guī)格一致。 JIS C 61000-4-3 電磁両立性第 4 部:試験及測(cè)定技術(shù)第 3 節(jié):放射無(wú)線周波電磁界 試験 備考 IEC 61000-4-3:1995 Electromagnetic compatibility (EMC)Part 4-3: Testing and measurement techniquesRadiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test ,規(guī)格一致 。 JIS C 61000-4-4 電磁両立性第 4 部:試験及測(cè)定技術(shù)第 4 節(jié):電気的 試験 w w w . b z f x w . c o m 2 Z 4329:2004 備考 IEC 61000-4-4:1995 Electromagnetic compatibility (EMC)Part 4-4:Testing and measurement techniquesElectrical fast transient/burst immunity test 引用事項(xiàng),規(guī)格該當(dāng)事項(xiàng) 同等。 JIS C 61000-4-5 電磁両立性第 4 部:試験及測(cè)定技術(shù)第 5 節(jié):試験 備考 IEC 61000-4-5:1995 Electromagnetic compatibility (EMC)Part 4-5: Testing and measurement techniquesSurge immunity test 引用事項(xiàng),規(guī)格該當(dāng)事項(xiàng)同等。 JIS C 61000-4-6 電磁両立性第 4 部:試験及測(cè)定技術(shù)第 6 節(jié):無(wú)線周波電磁界誘導(dǎo) 伝導(dǎo)妨害対 備考 IEC 61000-4-6:1996 Electromagnetic compatibility(EMC)Part 4-6: Testing and measurement techniquesImmunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields 引用事 項(xiàng),規(guī)格該當(dāng)事項(xiàng)同等。 JIS Z 4001 原子力用語(yǔ) 備考 ISO 921:1997 Nuclear energyVocabulary, IEC 60050-393 :1996 International Electrotechnical VocabularyChapter 393 及 IEC 60050-394:1995 International Electrotechnical Vocabulary Chapter 394 引用事項(xiàng),規(guī)格該當(dāng)事項(xiàng)同等。 JIS Z 4334 放射性表面汚染計(jì)校正用線源 備考 ISO 8769:1988 Reference sources for the calibration of surface contamination monitors Beta-emitters (maximum beta energy greater than 0.15 MeV) and alpha-emitters 引用事項(xiàng), 規(guī)格該當(dāng)事項(xiàng)同等。 JIS Z 8103 計(jì)測(cè)用語(yǔ) IEC 61000-4-11 Electromagnetic compatibility (EMC)Part 4-11:Testing and measuring techniques Voltage dips, short interruption and voltage variations immunity tests 3. 定義 規(guī)格用主用語(yǔ)定義,JIS Z 4001 及 JIS Z 8103 ,次。 a) 有効測(cè)定範(fàn)囲 (effective range of measurement) 規(guī)格性能満測(cè)定範(fàn)囲。 b) 検出器入射窓面積 (A) (sensitive area of the detector) 線又線検出器実際入射 部分面積。保護(hù)格子部分含。 c) 表面放出率 (surface emission rate) 線源表面又線源窓放出単位時(shí)間當(dāng)粒子又 粒子數(shù)。 d) 線源効率 (source efficiency) 線源(飽和層厚以上線源飽和層厚)中,単位時(shí)間當(dāng) 放出同種類放射線粒子數(shù)対表面放出率比。 e) 機(jī)器効率 (i) (instrument efficiency) 標(biāo)準(zhǔn)線源対一定幾何學(xué)的條件測(cè)定, 線又線表面放出率対正味計(jì)數(shù)率比。 f) 指示値 (indication) 計(jì)數(shù)(率)指示値。 g) 指示誤差 (indication error) 表面放出率機(jī)器効率乗計(jì)數(shù)率基準(zhǔn)計(jì)數(shù)率 Mt, 指 示値 Mi基準(zhǔn)計(jì)數(shù)率差。MiMt。 h) 相対指示誤差 ( I )(relative error of indication) 指示誤差基準(zhǔn)計(jì)數(shù)率比。 %100 )( = t ti M MM I w w w . b z f x w . c o m 3 Z 4329:2004 i) 相対基準(zhǔn)誤差 (relative intrinsic error) 相対指示誤差表面放出率不確和。(I+U)。 ,U包含係數(shù)2。 備考 表面放出率不確,拡張不確表。拡張不確合成標(biāo)準(zhǔn)不確包含係數(shù) 乗求。合成標(biāo)準(zhǔn)不確各不確成分標(biāo)準(zhǔn)偏差(標(biāo)準(zhǔn)不確)自乗和 平方根。 j) 応答時(shí)間 (response time) 応答,出力信號(hào)最終値90 時(shí)間。 k) (R) (response) 指示値Mi基準(zhǔn)計(jì)數(shù)率Mt比。 R M i / M t。 l) (decade) 対數(shù)目盛又準(zhǔn)目盛(以下,対數(shù)目盛。 )目盛範(fàn)囲表単 位。例,二目盛値比常用対數(shù)D,2目盛間目盛範(fàn)囲D 。 m) 変動(dòng)係數(shù) (V) (coefficient of variation) n個(gè)指示値xi標(biāo)準(zhǔn)偏差推定値S平均値x対比, 次式。 () 1 1 1 2 = ? = n xx xx S V n i i n) 単位面積當(dāng)最小検出表面放出率 (DL) (detection limit of the surface emission rate per unit area) 単位面積當(dāng)最小検出表面放出率,次式。 AS R DL n = (nuclide) , Rn: 限界計(jì)數(shù)率 S(nuclide): 表面放出率 A: 検出器入射窓面積 単位面積當(dāng)最小検出表面放出率DL単位,s-1/cm2表。 ,限界計(jì)數(shù)率Rn,次式。 ? ? ? ? ? ? ? ? += b n tt RkkR 11 )( 0 011 , R0: 計(jì)數(shù)率 t0: 測(cè)定時(shí)間 tb: 計(jì)測(cè)時(shí)間 k1-: 差引計(jì)數(shù)有意限界(棄卻 限界)係數(shù) k1-: 線源係數(shù)有意限界(感度限界)係數(shù) ,0.05,k1-k1-1.645 ? ? ? ? ? ? ? ? += b n tt RR 11 1.645)(1.645 0 0 與。 o) 検出器 (detection assembly) 検出部含裝置表示機(jī)能。 p) 測(cè)定裝置 (measurement assembly) 検出器含裝置,測(cè)定汚染表示機(jī)能 裝置。 q) ,及/線表面汚染 (alpha, beta or alpha/beta surface contamination meters and monitors) 一又複數(shù)検出器測(cè)定裝置,又/線表面汚染測(cè)定 w w w . b z f x w . c o m 4 Z 4329:2004 裝置。警報(bào)機(jī)能。 4. 種類 種類,次。 4.1 構(gòu)成裝置種類 a) 検出器測(cè)定裝置一體形,又接続交換不可能。 b) 検出器測(cè)定裝置接続,検出器交換可能。 4.2 使用方法裝置種類 a) 攜帯形裝置 b) 移動(dòng)可能形裝置 4.3 電源裝置種類 a) 交流電源用 b) 一次電池又二次電池用 4.4 測(cè)定放射線裝置種類 a) 線用 b) 線用 c) /線用 5. 性能 5.1 相対基準(zhǔn)誤差 7.2.3 試験,相対基準(zhǔn)誤差許容範(fàn)囲,次。 5.1.1 有効測(cè)定範(fàn)囲,(25+U)。,各試験 相対基準(zhǔn)誤差最小値最大値差50 超。 5.1.2 測(cè)定裝置 有効測(cè)定範(fàn)囲,(10+U)。 5.2 機(jī)器効率 7.2.4 試験, 機(jī)器効率, 製造業(yè)者公稱値25 満足 。,検出器機(jī)器効率製造業(yè)者公稱値20 。 5.3 検出限界 7.2.5 試験,単位面積當(dāng)最小検出表面放出率,製造業(yè)者公稱値以下 。 5.4 線特性 7.2.6 試験,各機(jī)器効率求,橫軸線最大 ,縦軸機(jī)器効率取扱説明書(shū)図示。 5.5 検出器入射窓面機(jī)器効率均一性 7.2.7 試験,各機(jī)器効率,平均値 50 。 5.6 自然計(jì)數(shù)率 7.2.8 試験,及検出器自然計(jì)數(shù)率,製造業(yè)者公稱値以 下。,場(chǎng)合自然計(jì)數(shù)率回路系雑音計(jì)數(shù)率含。 5.7 他放射線影響 5.7.1 線影響 線及線測(cè)定用線影響,次。 a) 線測(cè)定用 7.2.9 a) 1)試験,指示値変化,25 。 b) 線測(cè)定用 7.2.9 a) 2)試験,指示値変化,製造業(yè)者公稱値以內(nèi)。 5.7.2 線影響 7.2.9 b)試験,指示値変化,25 。 5.7.3 線影響 7.2.9 c)試験,指示値変化,製造業(yè)者公稱値以內(nèi)。 5.8 感光性 7.2.10 試験,自然計(jì)數(shù)率増加,線測(cè)定時(shí)0.01A(s-1)以下,線測(cè) 定時(shí)0.1A(s-1)以下。,A入射窓面積(単位cm2) 。 5 Z 4329:2004 5.9 指示値変動(dòng) 7.2.11 試験,変動(dòng)係數(shù),0.2以下。 5.10 応答時(shí)間 7.2.12 試験, 応答時(shí)間, 上昇7秒以下, 下降10秒以下。 5.11 溫度特性 溫度特性,次。 a) 溫度安定度 7.2.13 a) 試験,指示値変化,表 1,表 2 及表 3 許容範(fàn)囲適合 。 b) 溫度衝撃 7.2.13 b) 試験,指示値変化,表 1,表 2 及表 3 許容範(fàn)囲適合 。 表 1 溫度特性許容範(fàn)囲 許容範(fàn)囲 用途 溫度範(fàn)囲 溫度安定度 溫度衝撃 室內(nèi)用 1035 15 30 室外用 1040 20 40 表 2 測(cè)定裝置溫度特性許容範(fàn)囲 許容範(fàn)囲 用途 溫度範(fàn)囲 測(cè)定項(xiàng)目 溫度安定度 溫度衝撃 指示変化 5 10 高圧変化 1 2 室內(nèi)用 1035 入力感度変化5 10 指示変化 7 14 高圧変化 2 4 室外用 1040 入力感度変化5 10 表 3 検出器溫度特性許容範(fàn)囲 許容範(fàn)囲 用途 溫度範(fàn)囲 溫度安定度 溫度衝撃 室內(nèi)用 1035 5 10 室外用 1040 10 20 c) 最低溫度起動(dòng)試験(室外用) 7.2.13 c) 試験,動(dòng)作可能。 5.12 耐濕性 7.2.14 試験,指示値変化,表 4 許容範(fàn)囲適合。 6 Z 4329:2004 表 4 耐濕性許容範(fàn)囲 種類 測(cè)定項(xiàng)目 許容範(fàn)囲 指示変化 7.5 指示変化 2.5 高圧変化 0.5 測(cè)定裝置 入力感度変化 2.5 検出器 指示変化 2.5 5.13 電源電圧変動(dòng)対安定性 電源電圧変動(dòng)対安定性許容範(fàn)囲,次。 5.13.1 交流電源使用時(shí) 7.2.15 a) 試験, 指示値変化, 表 5 許容範(fàn)囲適合 。 表 5 交流電源電圧変動(dòng)対許容範(fàn)囲 種類 測(cè)定項(xiàng)目 許容範(fàn)囲 指示変化 10 指示変化 5 高圧変化 1 測(cè)定裝置 入力感度変化 10 5.13.2 電池使用時(shí) 7.2.15 b)試験,指示値変化,表 6 許容範(fàn)囲適合 。 表 6 電源電圧変動(dòng)許容範(fàn)囲 動(dòng)作條件 許容範(fàn)囲 連続動(dòng)作 10 電圧低下表示直前動(dòng)作 12 5.14 耐衝撃性 耐衝撃性,次。 a) 種 7.2.16 a) 試験,相対基準(zhǔn)誤差,5.1 満足。 b) 種 7.2.16 b) 試験,相対基準(zhǔn)誤差,5.1 満足。 5.15 予熱時(shí)間 予熱時(shí)間許容範(fàn)囲,次。 5.15.1 7.2.17 a) 試験, 指示値変化, 表 7 許容範(fàn)囲適合 。 表 7 予熱時(shí)間許容範(fàn)囲 電源投入後時(shí)間 許容範(fàn)囲 60 秒 25 120 秒 20 5.15.2 測(cè)定裝置 7.2.17 b)試験, 指示値変化, 表 8 許容範(fàn)囲適合。 7 Z 4329:2004 表 8 予熱時(shí)間許容範(fàn)囲 電源投入後時(shí)間 測(cè)定項(xiàng)目 許容範(fàn)囲 入力感度変化 10 60 秒 高圧変化 2 入力感度変化 5 120 秒 高圧変化 1 ,GM計(jì)數(shù)管専用測(cè)定裝置,高圧変化,60秒,120秒場(chǎng)合5 % 。 5.16 特性 7.2.18 試験, 及測(cè)定裝置 時(shí)間,5秒以下。,入力信號(hào)遮斷,指示値,狀態(tài) 30秒以內(nèi)復(fù)帰。測(cè)定範(fàn)囲復(fù)帰5分後相対基準(zhǔn)誤差,5.1 性能満足 。 5.17 分解時(shí)間 7.2.19 試験,分解時(shí)間,製造業(yè)者公稱値以下。 5.18 高圧変化時(shí)指示値安定性(検出器) 7.2.20 試験,高圧変化時(shí)指示値変 化,15 。,測(cè)定指示値変化,高圧変化及 変化含狀態(tài)50 以下。 5.19 入力感度安定性(検出器) 7.2.21 試験,変化時(shí) 指示値変化,2 。 5.20 警報(bào)動(dòng)作 7.2.22 試験,警報(bào)動(dòng)作,表 9 。 表 9 警報(bào)動(dòng)作試験 測(cè)定項(xiàng)目 動(dòng)作內(nèi)容 警報(bào)設(shè)定値 80 信號(hào)入力 8 時(shí)間連続入力対警報(bào)作動(dòng) 警報(bào)設(shè)定値 120 信號(hào)入力 10 秒以內(nèi)警報(bào)作動(dòng) 5.21 靜電気放電影響 7.2.23 試験,指示値変化,10 %。,警報(bào), 作動(dòng)。 5.22 外部電磁界影響 7.2.24 試験,指示値変化,10 %。,警報(bào), 作動(dòng)。 5.23 及無(wú)線周波數(shù)影響(交流電源駆動(dòng)) 7.2.25 試験,指示値変化 ,10 %。,警報(bào),作動(dòng)。 5.24 影響(交流電源駆動(dòng)) 7.2.26 試験,指示値変化, 10 %。,警報(bào),作動(dòng)。 5.25 電源電圧低下及電源一時(shí)的遮斷影響(交流電源駆動(dòng)) 7.2.27 試験,指示 値変化,10 %。,警報(bào),作動(dòng)。 5.26 放射電磁界強(qiáng)度特性 7.2.28試験, 放射電磁界強(qiáng)度, 周波數(shù)範(fàn)囲1 kHz1 GHz 範(fàn)囲0.1 V/m以下。 6. 構(gòu)造 6.1 構(gòu)造一般 構(gòu)造,次。 a) 検出器,測(cè)定裝置及電源一體構(gòu)成,又接続,操作及持運(yùn)便 8 Z 4329:2004 利構(gòu)造。 b) ,放射性物質(zhì)汚染除去容易表面限滑突起 物少,堅(jiān)構(gòu)造。 c) 振動(dòng),衝撃,電磁誘導(dǎo)影響受構(gòu)造。 d) 指示回路系入力側(cè)試験信號(hào)入力構(gòu)造。 e) 計(jì)數(shù)値積算回路付加。 f) 表面汚染密度直接表示回路付加。 g) 必要応,計(jì)數(shù)裝置用出力端子,記録計(jì)用出力端子,警報(bào)信號(hào)出力端子備。 h) 次條件,規(guī)格満足。 1) (梱)包保管時(shí)耐溫度性 25 +50 環(huán)境3月間置狀態(tài)。 2) 包保管時(shí)耐衝撃性 保管狀態(tài),加速度300 m/s2,作用時(shí)間18 ms衝撃 (正弦半波)調(diào)和振動(dòng)3直交方向加後狀態(tài)。 6.2 検出器 検出器,次。 a) 検出部入射窓厚,入射窓線源表面又被測(cè)定物表面間空気層厚和,線 対2 mg/cm2以下,線対5 mg/cm2以下構(gòu)造。 b) 入射窓前面保護(hù)格子設(shè)。,検出器入射窓面積対格子占面 積割合45 以下。 6.3 測(cè)定裝置 測(cè)定裝置,次。 a) 指示値表示,式又式。,光又音計(jì)數(shù)(率)程度 示裝置付加。 b) 指示値単位,s-1又min-1目盛。,他Bq,Bq/cm2単位付 加。 c) 指示値判定基準(zhǔn)超場(chǎng)合,表示又音知機(jī)能付加。 6.4 電源 電源,次。 a) 交流電源又電池式。 b) 電源用電池消耗度容易機(jī)能。 c) 一次電池正極性接続,明示。 d) 二次電池場(chǎng)合,16時(shí)間以內(nèi)満充電。 7. 試験 7.1 試験條件 7.1.1 共通試験條件 7.2 各試験方法,基準(zhǔn)條件,表 10 第2欄。特指定場(chǎng) 合除規(guī)格試験,表 10 第3欄示標(biāo)準(zhǔn)試験條件。 w w w . b z f x w . c o m 9 Z 4329:2004 表 10 共通試験條件 項(xiàng)目 基準(zhǔn)條件 (製造業(yè)者指定) 標(biāo)準(zhǔn)試験條件 (製造業(yè)者指定) 予熱時(shí)間 min 15 15 環(huán)境溫度 20 1822(2) 相対濕度 % 65 5575(2) 気圧 kPa 101.3 86 106(2) 電源電圧(1) 正規(guī)電源電圧 正規(guī)電源電圧1 電源周波數(shù)(1) 正規(guī)電源周波數(shù) 正規(guī)電源周波數(shù)2 電源波形(1) 正弦波 正弦波5 線 Gy/h 0.2 以下 0.25 以下 放射線入射角度 製造業(yè)者指定方向 5 外部電磁波 無(wú)視 無(wú)視 外部磁気誘導(dǎo) 無(wú)視 地球磁界 2 倍以下 置方向 製造業(yè)者指定 照射方向?qū)? 放射性物質(zhì)汚染 無(wú)視 無(wú)視
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