ADC0809實(shí)驗(yàn).doc

實(shí)驗(yàn)3 ADC0809并行模數(shù)轉(zhuǎn)換實(shí)驗(yàn)【實(shí)驗(yàn)?zāi)康摹渴煜/D轉(zhuǎn)換的工作原理，學(xué)習(xí)使用并行模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片ADC0809進(jìn)行電壓信號(hào)的采集和數(shù)據(jù)處理?！緦?shí)驗(yàn)設(shè)備及器件】IBM PC機(jī) 一臺(tái)DP - 51PROC 單片機(jī)綜合仿真實(shí)驗(yàn)儀 一臺(tái)數(shù)字萬(wàn)用表 一臺(tái)【實(shí)驗(yàn)內(nèi)容】通過(guò)片外總線(xiàn)方式訪問(wèn)并行模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器芯片ADC0809，掌握模擬電壓的通用采集方法?！緦?shí)驗(yàn)要求】理解掌握ADC009的A/D轉(zhuǎn)換原理和并行A/D轉(zhuǎn)換器接口的編程方法，學(xué)會(huì)使用ADC0809并行模數(shù)轉(zhuǎn)換器實(shí)現(xiàn)電壓信號(hào)采集的方案設(shè)計(jì)?！緦?shí)驗(yàn)步驟】1. 使用210的排線(xiàn)連接D7區(qū)的J28接到A7區(qū)的J84；2. 將D2區(qū)1K電位器和10K電位器的左端金屬孔通過(guò)導(dǎo)線(xiàn)連接到該區(qū)的GND金屬孔，而右端金屬孔通過(guò)導(dǎo)線(xiàn)連接到該區(qū)的VCC金屬孔；3. 將D2區(qū)1K電位器的中間金屬孔連接到A7區(qū)的P2_IO2金屬孔，而D2區(qū)10K電位器的中間金屬孔連接到A7區(qū)的P2_IO1金屬孔；4. 將A7區(qū)的P2_IO3P2_IO5分別連接到A2區(qū)的A2A0；5. 將A7區(qū)的P2_CS連接到A2區(qū)的A15；6. 運(yùn)行編寫(xiě)好的軟件程序，每次跑到斷點(diǎn)就會(huì)停止，此時(shí)觀察轉(zhuǎn)換的結(jié)果和用數(shù)字萬(wàn)用表測(cè)量的結(jié)果相比較是否正確（所需觀察的存儲(chǔ)單元或者變量在程序中依照注釋執(zhí)行）；7. 改變1K電位器和/或10K電位器的旋鈕位置，用數(shù)字萬(wàn)用表測(cè)量中間金屬孔的電壓，再次運(yùn)行程序至斷點(diǎn)處， 觀察轉(zhuǎn)換的結(jié)果是否正確?！緦?shí)驗(yàn)預(yù)習(xí)要求】認(rèn)真預(yù)習(xí)本節(jié)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容，按照實(shí)驗(yàn)的要求提前做好實(shí)驗(yàn)準(zhǔn)備工作，認(rèn)真閱讀ADC0809的數(shù)據(jù)手冊(cè)。圖3.18155引腳接線(xiàn)圖【實(shí)驗(yàn)參考程序】匯編語(yǔ)言程序清單;使用該程序前請(qǐng)先按照實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)手冊(cè)連接好連線(xiàn),;運(yùn)行程序至斷點(diǎn)，觀察30H單元和31H單元轉(zhuǎn)換的十六進(jìn)制;數(shù)據(jù)換算成實(shí)際電壓值是否與萬(wàn)用表的測(cè)量結(jié)果相等？;扭動(dòng)電位器，改變IN0或/和IN1模擬輸入電壓，再次運(yùn)行程序至;斷點(diǎn)，觀察30H或/和31H單元的數(shù)值是否隨之改變，改變的是否正確？ ORG 8000H LJMP MAIN ORG 8100HMAIN: MOV SP,#70H MOV R1,#30H ;置數(shù)據(jù)區(qū)首地址，用于存放A/D轉(zhuǎn)換結(jié)果 MOV DPTR,#7FF8H ;P2.7=0，且指向通道0 MOV R7,#02H ;置通道數(shù)LOOP: MOVX DPTR,A ;啟動(dòng)A/D轉(zhuǎn)換 MOV R6,#20H ;軟件延時(shí)，等待轉(zhuǎn)換結(jié)束DELAY: NOP NOP NOP DJNZ R6,DELAY MOVX A,DPTR ;讀取轉(zhuǎn)換結(jié)果 MOV R1,A ;轉(zhuǎn)存 INC DPTR ;指向下一個(gè)通道 INC R1 ;修改數(shù)據(jù)區(qū)指針 DJNZ R7,LOOP ;IN0、IN1兩個(gè)通道全采樣完了嗎？ LJMP MAINENDC51程序清單/使用該程序前請(qǐng)先按照實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)手冊(cè)連接好連線(xiàn),/運(yùn)行程序至斷點(diǎn)，觀察result0和result1的轉(zhuǎn)換結(jié)果/浮點(diǎn)數(shù)值是否與數(shù)字萬(wàn)用表的測(cè)量結(jié)果相等？/扭動(dòng)電位器，改變IN0或/和IN1模擬輸入電壓，再次運(yùn)行程序至斷點(diǎn)，/觀察result0或/和result1的轉(zhuǎn)換結(jié)果浮點(diǎn)數(shù)值是否隨之改變，改變的是否正確？#include #include #include #define PIN0 XBYTE0x7ff8 #define PIN1 XBYTE0x7ff9 typedef unsigned char byte;typedef unsigned int word;void main(void) float result0,result1; /兩個(gè)通道A/D轉(zhuǎn)換結(jié)果的存儲(chǔ)變量float result0_reg,result1_reg; /浮點(diǎn)數(shù)據(jù)輸出存儲(chǔ) byte i,j;while(1) for(i=0;i2;i+) /對(duì)IN0、IN1兩個(gè)通道進(jìn)行采樣 if(!i) PIN0=0xff; /啟動(dòng)通道0的A/D轉(zhuǎn)換else PIN1=0xff; /啟動(dòng)通道1的A/D轉(zhuǎn)換for(j=0;j0x50;j+); /延時(shí)，等待轉(zhuǎn)換的完成if(!i) result0_reg=PIN0; /讀取通道0的轉(zhuǎn)換結(jié)果else result1_reg=PIN1; /讀取通道1的轉(zhuǎn)換結(jié)果result0=result0_reg*5/256; result1=result1_reg*5/256; 【實(shí)驗(yàn)思考題】1. 本實(shí)驗(yàn)采用了延時(shí)等待的方式等待ADC0809轉(zhuǎn)換結(jié)束，請(qǐng)用戶(hù)改用中