機械測試技術實驗

1、 機械測試技術實驗 指導書 測控技術與儀器教研室 2003年9月 實驗一：應變片的粘貼 一、實驗目的： 1熟悉應變片的工作原理 2掌握應變片的粘貼工藝 3加深對傳感器結構的認識 二、實驗儀器： 鋸條、導線、電阻應變片、丙酮、藥棉、502膠水、鐵砂布、絕緣膠布、電烙鐵、萬用表等。 三、實驗原理： 1金屬的電阻應變效應 當金屬絲在外力作用下方式機械變形時，其電阻值將發(fā)生變化，這種現(xiàn)象稱為屬的電阻應變效應。 ?設有一根長度為Sl的金屬絲，在未受力時，原始電阻、截面積為、電阻率為l?R （1為： 1） S?l?S，電阻率，橫截面積相應減小F作用時，將伸長當金屬電阻絲受到軸向拉力?R。對式（1，故引起電

2、阻值的變化因晶格變化等因素的影響而改變1）全微分，?SR?l? （1并用相對變化量來表示，則有： 2） ?SlR?l?6?1?10mm1/mm）為電阻絲的軸向應變，用。表示，常用單位式中的（ lr?為：示表關系用泊松比電阻絲的縱向伸長和橫向收縮的應若徑向變?yōu)椋?rr?S?r?l?2)?(?為，：以寫成因），則（12式可 rSrl?l?ll?lR?)?(1?22?(1?k)? （13） 0 ?llRllk稱金屬電阻的靈敏系數(shù)，從式（133式（1）為“應變效應”的表達式。）可0?)?2(1k，它是材料的幾何尺寸變化引起的，另一個是受兩個因素影響，一個是見，0?隨應變引起的（稱“壓阻效應”），是材料

3、的電阻率。對于金屬材料而言，以前者 ?21k?k值主要是由電阻率相對變化所決定。實驗也表明，對半導體，為主，則00在金屬電阻絲拉伸比例極限，電阻相對變化欲軸向應變成正比。通常金屬絲的靈敏系數(shù)k?2左右。 02應變片的測量原理 用應變片測量受力應變時，將應變片粘貼于被測對象表面上。在外力作用下，被測對象表明產(chǎn)生微小機械變形時，應變片也隨同變形，其電阻值發(fā)生相應變化。通過轉換電路轉換為相應的電壓或電流的變化，根據(jù)式（13），可以得到被測對象的?E? （14）應變值 ，而根據(jù)引力應變關系：?測試的應力； E材料彈性模量。 式中 ?。通過彈性敏感元件，將位移、力、力矩、加速度、壓力等物理量轉可以測得應

4、力值 換為應變，因此可以用應變片測量上述各量，從而做成各種應變式傳感器。四、實驗容： 把電阻應變片粘貼到鋸條上，并焊接上引線。完成之后用萬用表分別測量鋸條不彎曲時從電阻應變片兩端引出的兩引線間的電阻值、鋸條分別往兩邊彎曲使得應變片發(fā)生形變時從電阻應變片兩端引出的兩引線間的兩個電阻值。 五、實驗步驟： 1將鋸條上粘貼的應變片拆除； 2用鐵砂布把鋸條打磨干凈； 3用藥棉粘上丙酮，將鋸條打磨光滑； 4用502膠水將電阻應變片平整的粘貼到打磨光滑的鋸條上； 5用電烙鐵把兩根導線分別焊接到電阻應變片的兩條引線上； 6絕緣：將兩根導線之間用絕緣膠布絕緣、將導線與鋸條之間也用絕緣膠布絕緣。 7用萬用表分別測

5、量應變片未發(fā)生形變及發(fā)生正形變和負形變時的電阻值變化情況。 六、實驗報告： 要求如下格式詳細記錄整個實驗的過程，并要求有實驗結論和對實驗進行分析和總結，達到別人根據(jù)你的實驗報告能把實驗重復做出來的要求。 一、實驗目的 二、實驗儀器 三、實驗原理 四、實驗步驟 五、實驗結論 六、實驗分析及誤差分析 實驗二：電橋特性 一、實驗目的： 掌握半橋、全橋組橋方法1 熟悉電阻應變片的原理、使用方法2 掌握半橋、全橋組橋原理及其應用3 二、實驗儀器： 靜態(tài)電阻應變儀等。電橋盒、應變片、砝碼、BZ2206三、實驗原理： 電橋原理1電容等參量的變化變成電壓或電流輸出的一種測量電感、電橋是將電阻、 電路，其輸出既

6、可用指示儀表直接測量，也可以送入放大器進行放大。因此在測量裝置中廣泛并具有較高精確度盒靈敏度，橋式測量電路簡單， 應用。電橋電路如下圖所示。 1 2圖 四個電阻依次接R、RR、 測量電路有多種，最常用的是橋式測量電路。R、 4213接）之間，構成電橋的四橋臂。電橋的對角AC、3、41CA在、B、D （或、2E表示?？梢宰CUBD 為電橋的輸出端，其輸出電壓用電源，電源電壓為；對角DB U與橋臂電阻有如下關系：明DB）（E=U DB 若4個橋臂電阻由貼在構件上的4枚電阻片組成，而且初始電阻R1 = R2 = R3 = R4，當輸出電壓U = 0時，電橋處于平衡狀態(tài)。構件變形時，各電阻的變化DB量分

7、別為R、R、R、R。輸出電壓的相應變化為： 4132 E( )=+UU DBDB在小應變 1的條件下，可以證明橋路輸出電壓為： U=（+） DBR僅由機械變形引起、與溫度影響無關，而且4 如果枚電阻片的靈敏系數(shù)K相等時，根據(jù) ，可以寫成： s）U=Ks（ 4231DBE不變，那么構件變形引起的電壓輸出U 與4如果供橋電壓個橋臂的應DB、是代數(shù)值，其符號由變形變值成線性關系。式中各4231方向決定。一般拉應變?yōu)檎簯優(yōu)樨?。根?jù)這一特性：相鄰兩橋臂的）、或 （符號一致時，兩應變相抵消；如符號相反，4321則兩應變的絕對值相加。 ） （ 、 、或符號一致時，兩應變的相對兩橋臂的 4123絕對值相

8、加；如符號相反，則兩應變相抵消。 實驗如果能很好地利用電橋的這一特性，合理布片、靈活組橋，將直接影響電橋輸出電壓的大小，從而有效地提高測量靈敏度、并減少測量誤差。這種作用稱做橋路的加減特性。電阻應變儀是測量應變的專用儀器，橋路輸出電壓UDB可由應變對應的應變值是按應變直接標定來顯示的。的大小，因此與U儀DB 儀直接讀出來。 組橋方式2一般貼在構件上參與機械變形的電阻片稱做工作片，在不考慮溫度影響的前提下，應變片接入各橋臂的組橋方式不同、與工作片相應的輸出電壓也不同。幾種典型的組橋方式如下： 單臂測量 只有一枚工作片R接在AB橋臂上。其它3個橋臂的電阻片都不參與變形應1變e為零。這時電橋的輸出電

9、壓為： ）=K（U=（） 1sDB單臂測量的結果U代表被測點的真實工作應變。 DB 半橋測量 兩枚工作片R、 R分別接在相鄰兩個橋臂AB、BC上。其它兩個橋臂是應21變儀的接電阻。這時電橋的輸出電壓為： ）（=KU=（ ） DB 2s1 對臂測量 兩枚工作片R、 R分別接在對臂AB、CD上。溫度補償片R、 R分別接在4213其它兩對臂BC、AD上。這時： ）（U =（）=K +31sDB一般貼在構件上參與機械變形的電阻片稱做工作片，在不考慮溫度影響的前提下，應變片接入各橋臂的組橋方式不同、與工作片相應的輸出電壓也不同。幾種典型的組橋方式如下： 單臂串聯(lián)測量 兩枚串聯(lián)的工作片2R接AB臂。而兩枚

10、串聯(lián)的溫度補償片2R接BC臂。其他 兩個橋臂接儀器的接電阻這時：U=（） DB工作片串聯(lián)后R = 2R，同樣R= 2R ，因此U的測量結果不變，與兩枚DB11阻片電阻變化率的平均值成正比。 圖表1 典型的組橋方式 組橋方輸出電橋臂系 B溫度補DB臂需接一枚補償1單臂測不需接補償片溫度=半橋測B=2響自動消B=2非工作對臂接補償對臂測不接補償=溫度影全橋測B=4可自動消阻值與工作片相會(串聯(lián)測B=1B補償片串聯(lián)后接 四、實驗容： 從實驗一中所做的電阻應變片中取兩個，加上電橋盒里的兩個固定電阻組成半橋，并通過電橋盒把相應的應變輸入到BZ2206靜態(tài)電阻應變儀，并逐步的增加砝碼使其發(fā)生應變，記錄下每

11、加一次的砝碼重量和BZ2206靜態(tài)電阻應變儀中顯示的應變；同樣，取四個實驗一中所做的電阻應變片組成全橋，并通過電橋盒把相應的應變輸入到BZ2206靜態(tài)電阻應變儀，并逐步的增加砝碼使其發(fā)生應變，記錄下每加一次的砝碼重量和BZ2206靜態(tài)電阻應變儀中顯示的應變。最后以增加的砝碼重量為橫軸，應變?yōu)榭v軸，做圖。 五、實驗步驟： 1 在電橋盒上組建半橋； 2 把BZ2206靜態(tài)電阻應變儀調(diào)零； 3 逐步增減砝碼，并記錄砝碼重量和BZ2206靜態(tài)電阻應變儀顯示的應變； 4 在電橋盒上組建全橋； 5 把BZ2206靜態(tài)電阻應變儀調(diào)零； 靜態(tài)電阻應變儀顯示的應變；BZ2206逐步增減砝碼，并記錄砝碼重量和 6

12、六、實驗報告： 要求如下格式詳細記錄整個實驗的過程，并要求有實驗結論和對實驗進行分析和總結，達到別人根據(jù)你的實驗報告能把實驗重復做出來的要求。 一、實驗目的 二、實驗儀器 三、實驗原理 四、實驗步驟 五、實驗結論 六、實驗分析及誤差分析 實驗三：測試系統(tǒng)靜態(tài)特性分析 一、實驗目的： 1熟悉靈敏度、回程誤差、線性誤差等的定義 2掌握靈敏度、回程誤差、線性誤差等的測量方法 加深對電橋電路的認識3 二、實驗儀器： BZ2206靜態(tài)電阻應變儀等。電橋盒、應變片、砝碼、三、實驗原理： 靜態(tài)測量時，測試裝置表現(xiàn)出的響應特性稱為靜態(tài)響應特性。 靜態(tài)方程與定度曲線? 靜態(tài)方程? yx不隨時間而變化，它們的測試

13、裝置處于靜態(tài)測量時，輸入量 和輸出量 系統(tǒng)微分方程變?yōu)椋焊麟A微分等于0。b 00?sx,sy?x? aa00 靜態(tài)方程。該方程稱為裝置的靜態(tài)（傳遞）特性方程，簡稱 實際測量裝置并非理想的定常線性系統(tǒng)，在靜態(tài)測量中，上式實際變?yōu)椋?232x)?Lsx?sxssx?x?L?(s?y?sx? 312123靜特性就是在靜態(tài)測量情況下描述實際測試裝置與理想定常線性系統(tǒng)的接近 程度。? 定度曲線 表示靜態(tài)（或動態(tài)）方程的圖形稱為測試裝置的定度曲線（特性曲線、校xy作為作為自變量，對應輸出準曲線、標定曲線）。習慣上，定度曲線是以輸入因變量，在直角坐標系中繪出的圖形。 yyy yxxxxy=sx 2 4 3

14、5 234 +? ?x+s +sx x=?x=? ? y sx+sx+s?+ ? ysx+s ?xxx+s=ys+s+ 4154213312 ? 測試裝置的主要靜特性參數(shù) ? 非線性度：通常定度曲線并非直線。工程上，用一條反映定度數(shù)據(jù)的一般趨勢而誤差絕對值為最小的擬合直線作為參考理想直線。線性度即是定度曲線A ，表示，即用裝置標稱輸出圍（全量程）接近擬合直線的程度，用線性誤差B 表示?；虮硎境上鄬φ`差形式： 定度曲線與擬合直線的最大偏差 B非線性度（誤差）?100% A ? 靈敏度、鑒別力閾、分辨力 用來描述測量裝置對被測量變化的反應能力。xy 即：與引起該變化的輸入量的變化靈敏度：輸出量的變

15、化D之比。?yconstan理想情況下：0 實際總是用定度曲線的擬合直線的斜率作為該裝置的靈敏度。 靈敏度的單位取決于輸入、輸出量的單位，當輸入輸出量綱相同時，靈敏度就是該測量系統(tǒng)的放大倍數(shù)。 注意：靈敏度越高，測量系統(tǒng)的穩(wěn)定性也往往越差。 ? 鑒別力閾：引起測量裝置輸出值產(chǎn)生一個可察覺變化的最小被測量變化值，也稱為靈敏閾或靈敏限。用來描述裝置對輸入微小變化的響應能力。 ? 分辨力：測試裝置有效地辨別緊密相鄰量值的能力。 ? 回程誤差（滯后、遲滯、滯差、變差 輸入量由小到大與由大到小變化時，測試裝置對同一輸入量所得輸出量不一致的程度。 hmaxA之比同一輸入量下所得輸出的最大差值與量程回程誤差

16、用全量程圍，的百分數(shù)表示。 y A y 20yh ymax?100%回程誤差?10A0 x 。四、實驗容： 由實驗二所得實驗數(shù)據(jù)，進行相應靈敏度、回程誤差、線性誤差等的計算， 并畫出相應曲線。五、實驗步驟： 1由實驗二所得半橋數(shù)據(jù)進行相應靜態(tài)特性分析； 2由實驗二所得全橋數(shù)據(jù)進行相應靜態(tài)特性分析； 3分別畫出半橋、全橋各靜態(tài)特性相應的曲線圖； 六、實驗報告： 要求如下格式詳細記錄整個實驗的過程，并要求有實驗結論和對實驗進行分析和總結，達到別人根據(jù)你的實驗報告能把實驗重復做出來的要求。 一、實驗目的 二、實驗儀器 三、實驗原理 四、實驗步驟 五、實驗結論 六、實驗分析及誤差分析 實驗四 虛擬儀器

17、信號處理系統(tǒng) 一、實驗目的1.在理論學習的基礎上，通過本實驗熟悉典型信號的波形特征，加深對相關分析概念、性質(zhì)、作用的理解。 2.熟悉典型信號的頻譜特征，能夠從信號頻譜中讀取所需的信息，也就是具備讀譜圖的能力。 3.通過對虛擬儀器信號處理系統(tǒng)的設計，使學生了解利用虛擬儀器建立信號處理系統(tǒng)的設計方法，同時了解Lab Windows/CVI提供的信號產(chǎn)生函數(shù)及信號分析函數(shù)的使用。 二、實驗儀器 1.計算機 1臺 1套2.Lab Windows/CVI虛擬儀器軟件 三、實驗原理 虛擬儀器通過軟件在通用的計算機平臺上定義和設計儀器的功能，用戶操作計算機的同時就是在使用一臺專門的電子儀器。虛擬儀器以計算機

18、為核心，充分利用計算機強大的圖形界面和數(shù)據(jù)處理能力，通過軟件實現(xiàn)對數(shù)據(jù)的顯示、存儲以及分析處理。軟件直接面對操作用戶，提供直觀、友好的操作界面，通過使用相關函數(shù)來實現(xiàn)豐富的數(shù)據(jù)分析與處理功能。 用傅立葉變換將信號變換到頻率域：x(t)=a0/2 + a1*sin(2f0t)+b1*cos(2f0t) + a2*sin(2f0t)+b2*cos(2f0t) +. 通過調(diào)用函數(shù)庫中提供的傅立葉變換函數(shù)來實現(xiàn)將信號變換到頻率域，并 在Lab Windows/CVI前面板上顯示出信號的幅值譜曲線，從信號幅值譜判斷信號特征。 四、實驗容 正弦波、方波、三角波和白噪聲信號是實際工程測試中常見的典型信號，這

19、 些信號時域、頻域之間的關系很明確，并且都具有一定的特性，通過對這些典型信號的頻譜進行分析，對掌握信號的特性，熟悉信號的分析方法大有益處，并且這些典型信號也可以作為實際工程信號分析時的參照資料。本次實驗利用Lab Windows/CVI快速可重組虛擬儀器平臺可以很方便的對上述典型信號作頻譜分析。分析結果用圖形在計算機上顯示出來，也可通過打印機打印出來。 利用面向虛擬儀器的軟件開發(fā)平臺Lab Windows/CVI設計基于虛擬儀器的典型信號處理系統(tǒng)。 源程序代碼如下：其中黑體為所要添加的代碼 #include #include #include #include 椣據(jù)畬敤尠相關分析.h stat

20、ic int panelHandle; static double *wave; static double *wave2; static int samples; static int samples2; int main (int argc, char *argv) if (InitCVIRTE (0, argv, 0) = 0) return -1; /* out of memory */ 晩?瀨湡汥慈摮敬?慯偤湡汥?尠相關分析.uir, PANEL) 0) return -1; DisplayPanel (panelHandle); RunUserInterface (); Disca

21、rdPanel (panelHandle); return 0; int CVICALLBACK GenerWave (int panel, int control, int event, void *callbackData, int eventData1, int eventData2) double phase; double cycnum; int sampcyc; double amp; double f; double phase2; double cycnum2; int sampcyc2; double amp2; double f2; switch (event) case

22、EVENT_COMMIT: GetCtrlVal (panelHandle, PANEL_AMP, &); GetCtrlVal (panelHandle, PANEL_NUMPCYC, &sampcyc); f=1.0/sampcyc; GetCtrlVal (panelHandle, PANEL_CYCNUM, &cycnum); GetCtrlVal (panelHandle, PANEL_PHASE, &phase); samples=cycnum*sampcyc; wave=malloc (samples*sizeof(double); SineWave (samples, a

23、mp, f, &phase, wave); GetCtrlVal (panelHandle, PANEL_AMP_2, &2); GetCtrlVal (panelHandle, PANEL_NUMPCYC_2, &sampcyc2); f2=1.0/sampcyc2; GetCtrlVal (panelHandle, PANEL_CYCNUM_2, &cycnum2); GetCtrlVal (panelHandle, PANEL_PHASE_2, &phase2); samples2=cycnum2*sampcyc2; wave2=malloc (samples2*sizeof(do

24、uble) ; SineWave (samples2, amp2, f2, &phase2, wave2); DeleteGraphPlot(panelHandle,PANEL_GRAPH,-1, VAL_IMMEDIATE_DRAW); PlotY (panelHandle, PANEL_GRAPH, wave, samples, VAL_DOUBLE, VAL_THIN_LINE, VAL_EMPTY_SQUARE,VAL_SOLID, 1, VAL_RED); PlotY (panelHandle, PANEL_GRAPH, wave2, samples2, VAL_DOUBLE, VA

25、L_THIN_LINE, VAL_EMPTY_SQUARE, VAL_SOLID, 1, VAL_YELLOW); break; return 0; int CVICALLBACK Shut (int panel, int control, int event, void *callbackData, int eventData1, int eventData2) switch (event) case EVENT_COMMIT: free(wave); free (wave2); QuitUserInterface (0); break; return 0; int CVICALLBACK

26、Corr (int panel, int control, int event, void *callbackData, int eventData1, int eventData2) double *Rxy; double number; switch (event) case EVENT_COMMIT: number=samples+samples2; Rxy = malloc (number*sizeof(double); Correlate (wave, samples, wave2, samples2, Rxy); DeleteGraphPlot (panelHandle, PANE

27、L_CORRGRAPH, -1, VAL_IMMEDIATE_DRAW); PlotY (panelHandle, PANEL_CORRGRAPH, Rxy, number, VAL_DOUBLE, VAL_THIN_LINE,VAL_EMPTY_SQUARE, VAL_SOLID, 1, VAL_YELLOW); free (Rxy); break; return 0; 五、實驗步驟 1.啟動Lab Windows/CVI； 2.新建工程窗口； 3.在所建工程窗口，新建用戶界面； 4.在所建用戶界面上，建立各個控件：GRAPH控件一個、COMMAND控件3個（顯示波形、退出、相關分析）；NU

28、MERICK控件8個，STRING控件2個。 5.修改各控件的屬性，并保存用戶界面； 創(chuàng)建源代碼；6.7.添加程序代碼，保存程序代碼文件； 8.向工程窗口添加用戶界面文件及程序代碼文件，保存工程文件； 9.運行工程文件。 六、實驗報告要求 要求如下格式詳細記錄整個實驗的過程，并要求有實驗結論和對實驗進行分析和總結，達到別人根據(jù)你的實驗報告能把實驗重復做出來的要求。 一、實驗目的 二、實驗儀器 三、實驗原理 四、實驗步驟 五、實驗結論 六、實驗分析及誤差分析 實驗五 基于虛擬儀器的計算機測試系統(tǒng) 一、實驗目的 熟悉計算機的自動監(jiān)測系統(tǒng)1. 2.了解虛擬儀器技術的基本思想 二、實驗儀器 1 臺 1

29、.計算機 2. Lab Windows/CVI虛擬儀器軟件 1套 數(shù)據(jù)采集板及接線端子 套 13.PCI6024E 4.溫度傳感器 個 1 個 1 5.電源 三、實驗原理即通過模模塊化功能硬件和控制軟件組成，1.虛擬儀器通常由個人計算機、然后由控制軟件進行分塊化功能硬件將要測量的信號或數(shù)據(jù)采集并傳給計算機，再通過模塊化功析處理，傳給用戶；同時虛擬平臺通過人機界面獲取用戶指令， 能硬件傳給被控對象。虛擬儀器工作原理如圖1所示。 DADA板卡信號調(diào)接口儀GPIGPIPC虛擬儀器控 VXI儀器對 軟件開發(fā)平臺象 PLC 串行儀器 現(xiàn)場總線（Fieldbus）設備 其它計算機外圍設備 圖51 虛擬儀器

30、工作原理用軟件編程來實現(xiàn)實際的控制系統(tǒng)的功能2. 3.基于虛擬儀器的測控系統(tǒng)組線圖 模擬數(shù)字 溫度傳感器：采集器 A/D PC機 顯示 信號 信號 四、實驗容 通過溫度傳感器采集到信號，經(jīng)A/D轉換后，信號由PCI-6024E傳給計算機的虛擬儀器工作環(huán)境，就可以進行下一步的處理。PCI-6024E板可實現(xiàn)多路開關、放大、采樣/保持、A/D轉換等功能。Lab Windows/CVI將功能強大、使用靈活的C語言平臺與用于數(shù)據(jù)采集分析和顯示的測控專業(yè)工具有機地結合起來，利用它的集成化開發(fā)環(huán)境、交互式編程方法、函數(shù)面板和豐富的庫函數(shù)大大增強了C分析實現(xiàn)數(shù)據(jù)采集、能用來創(chuàng)建數(shù)據(jù)采集和儀器控制的應用程序，

31、語言的功能，和顯示。 利用Lab Windows/CVI編程設計基于虛擬儀器的測試系統(tǒng)。 源程序代碼如下：其中黑體為所要添加的代碼 #include #include #include /* Needed if linking in external compiler; harmless otherwise */ #include #include #include #include #include empsys.h #define ON 1 #define OFF 0 #define NUM_SCANS 100 #define UPPER_LIMIT 12.0 #define LOWER_

32、LIMIT -12.0 #define SCAN_RATE 500.0 #define MAX_CHANNELS 3 int hist_array10, y_array10; double datapoints3 = 22.0, 20.0, 12.0; double temp_history10, x_array10; double upper_limit=22.0, lower_limit =12.0; double rate = 0.5; int handle; static short device=1; static unsigned long numChannels; static

33、double waveformsNUM_SCANS; int main (int argc, char *argv) if (InitCVIRTE (0, argv, 0) = 0) /* Needed if linking in external compiler; harmless otherwise */ return -1; /* out of memory */ handle = LoadPanel (0, empsys.uir, PANEL); DisplayPanel (handle); RunUserInterface(); return 0; int CVICALLBACK

34、ProcessLoop (int panel, int control, int event, void *callbackData, int eventData1, int eventData2) double mean, std_dev, voltage; int i; int j;/采集點數(shù) static int count; double tempNUM_SCANS; if (event = EVENT_TIMER_TICK) /* simulate temperature reading */ / temp = (double) rand()/RAND_MAX * 5 + 75;/程

35、序仿真調(diào)試時使用 AIAcquireWaveforms (device, UPPER_LIMIT, LOWER_LIMIT, &rate,GROUP_BY_SCAN, waveforms);/測試程序運行時使用 for(j=0;j= upper_limit) SetCtrlVal (handle, PANEL_ALARM_HIGH, ON); else SetCtrlVal (handle, PANEL_ALARM_HIGH, OFF); if (tempj = lower_limit) SetCtrlVal (handle, PANEL_ALARM_LOW, ON); else SetCtr

36、lVal (handle, PANEL_ALARM_LOW, OFF); /* Every 10 readings, perform analysis */ if (count = 10) count = 0; StdDev (temp_history, 10, &mean, &std_dev); SetCtrlVal (handle, PANEL_MEAN, mean); SetCtrlVal (handle, PANEL_STD_DEV, std_dev); Histogram (temp_history, 10, 15, 45, hist_array, x_array, 10); for

37、 (i=0;i10;i+) y_arrayi = y_arrayi + hist_arrayi; PlotXY (handle, PANEL_TEMP_HIST, x_array, y_array, 10, VAL_DOUBLE,VAL_INTEGER,VAL_VERTICAL_BAR,VAL_EMPTY_SQUARE, VAL_SOLID, 1, VAL_YELLOW); return 0; int CVICALLBACK UpdateRate(int panel, int control, int event, void *callbackData, int eventData1, int

38、 eventData2) double readings; switch (event) case EVENT_COMMIT : GetCtrlVal (handle, PANEL_RATE, &readings); rate = 1.0 / readings; SetCtrlAttribute(handle,PANEL_PROCESSTIMER,ATTR_INTERVAL, rate); break; return 0; int CVICALLBACK Reset(int panel, int control, int event, void *callbackData, int event

39、Data1, int eventData2) int i; switch (event) case EVENT_COMMIT : DeleteGraphPlot (handle, PANEL_TEMP_HIST, -1, 1); for (i=0;i10;i+) y_arrayi = 0; break; return 0; int CVICALLBACK SetAlarms(int panel, int control, int event, void *callbackData, int eventData1, int eventData2) if (event = EVENT_VAL_CHANGED) switch (control) case PANEL_UPPER_LIMIT : GetCtrlVal (handle, PANEL_UPP