基于微控制器的工具磨損自適應(yīng)診斷的英文翻譯

1、 自適應(yīng)診斷刀具的磨損和單片機 摘要 工具磨損監(jiān)測是非常重要的。摘要提出了一種新型的而且實惠解決方案。想法是可利用很容易找到的單片機硬件,這是很便宜的，原因在于它的大規(guī)模生產(chǎn)。便宜的硬件與先進的軟件結(jié)合在一起。使用回歸分析技術(shù)模糊邏輯,使系統(tǒng)自適應(yīng),也就是說,該系統(tǒng)可實時監(jiān)測新工具自動經(jīng)過短暫的學習周期。自動學習周期通常只維持秩序5%總數(shù)，使引進該方法很簡單有效。論述介紹基于單片機所使用硬件。但是,也覆蓋和總結(jié)了原則背后的這種新方法，這使得有可能使用硬件的能力。更多的詳細描述數(shù)學物理基礎(chǔ)中都能找到參考。本文提出的方法進行了數(shù)據(jù)鉆井測試。 關(guān)鍵詞：鉆穿、狀態(tài)監(jiān)測、多項式的回歸分析診斷模糊分類、單

2、片機 無人操縱的柔性制造系統(tǒng)是不可能用恰當方法來進行工具磨損監(jiān)測的，因為生產(chǎn)質(zhì)量是受工具本身性質(zhì)影響的，這就意味著只有可靠的工具的磨損自動檢測才能保證可接受表面光潔、連續(xù)的生產(chǎn)中沒有不必要的中斷。原則上在工具磨損監(jiān)控上有兩種方法即直接法和間接法。直接的方法用于測量，間接方法測量其他的物理現(xiàn)象如振動、聲音或力量,它們在功能上也隨之而變，這種情況下作為直接監(jiān)測是困難的和昂貴的，所以這時候采用間接的方法。Jantunen(2002)給出了一種在間接方法的開采的概要。概要還包括常用的信號分析和診斷方法。 工具磨損狀態(tài)監(jiān)測在技術(shù)上對控制參數(shù)要求是很苛刻,隨著切削參數(shù)變化和材料差異而變化的。此外,在切削液

3、及流量切割的晶片會出現(xiàn)很大的噪聲。一種克服挑戰(zhàn)的方法就是上面描述的用復雜的信號分析技術(shù)。然而,這些方法可以導致其他的問題,例如使分析緩慢而創(chuàng)造一個需要很多內(nèi)存存儲數(shù)據(jù)。 發(fā)達國家的做法，本文提出依靠相對簡單的分析參數(shù)，可以快速，容易計算出來。由Jantunen（2006年）提出來的使用回歸分析法解決該數(shù)據(jù)保存問題。此外，回歸分析使用，使信號分析更穩(wěn)定，并在一定程度上也使預后受監(jiān)視信號的發(fā)展。在相同的參考（Jantunen 2006）使用的模糊分類還建議制作一個自動診斷該工具是否已磨損。 MEMS傳感器的新的快速發(fā)展（微機電系統(tǒng)）和微控制器有減少潛在的測量系統(tǒng)價格。本文的方法，使得一個用鉆頭磨損

4、診斷提出了微控制器。該微控制器辦法是，在這個硬件所有必要的模塊，例如AD轉(zhuǎn)換器，足夠的計算能力和網(wǎng)絡(luò)連接中可以找到同一相對廉價的硬件部分。自然，基于對微控制器診斷系統(tǒng)的體積非常緊湊，從而易于安裝。據(jù)預計，開發(fā)這種方法適用于監(jiān)測環(huán)境的迅速發(fā)展加速磨損對被監(jiān)視組件的周期。這種磨損的發(fā)展工具，也能在其他典型如麻花鉆上使用，例如該方法可用于監(jiān)測車削刀具磨損。根據(jù)化驗（Jantunen和約基寧1996）銑削具磨損更難以監(jiān)測，即成功不能被隔離對所有類型的銑刀。這也許是有趣的，同種方法也可以成功地用于非常不同種監(jiān)測作為長期的發(fā)展任務(wù)的磨損遵循類似原則。其他典型的監(jiān)測領(lǐng)域是狀態(tài)監(jiān)測滾動軸承和齒輪。然而，更多的

5、測試對不同類型的工具和其他類型的監(jiān)測仍然是需要。 文章的第二章提供了一個關(guān)于刀具磨損的概述。第三章給出了一個簡短的關(guān)于在刀具磨損監(jiān)測方法上的概述。第四章討論如何用高階多項式回歸分析法以幫助狀態(tài)監(jiān)測進行診斷。在第五章是利用模糊集分類進行了討論。在第六章新的微控制器的硬件解決方案，由開發(fā)的狀態(tài)監(jiān)測主辦。第七章介紹了實驗室進行與系統(tǒng)檢測結(jié)果。第八章總結(jié)了文章 刀具的磨損刀具磨損是一個復雜的現(xiàn)象,不是一件容易的事情。本文刀具的磨損模型是本身的性質(zhì)和形狀的磨損曲線建模的描述因為這形式描述了訓練的基本理解診斷的快速增長的現(xiàn)象如最終診斷發(fā)生磨損速度相當快。Thangaraj和賴特（1988）解釋說，原則上，

6、Thangaraj和賴特（1988）解釋說，原則上，鉆穿是一個加速的過程，是由于外緣的密切接觸和高溫工具工件接觸這是一般人都知道并能接受的，切削力量增加了刀具的磨損，例如，見林及?。?995年）。這是由于增加工具和工件使得刀具之間的摩擦增大，從上面的一個很重要的發(fā)現(xiàn)：鉆頭磨損是漸進式，即磨損率調(diào)高磨損進展。因此，它可以使用一個類似簡化的理論方法，這種方法已被用來作為該案件。如何進行旋轉(zhuǎn)機械磨損深度可以發(fā)展成為功能的時候，這種模型就得到了發(fā)展（Jantunen2006年）。 基于多項研究，Onsoyen（1991）進行了歸納總結(jié)一個簡單的模型中顯示磨損深度的的簡單模型。 h(t) = h0 +

7、h t h(t)磨損深度 t時間 h磨損率 h0磨合初值在此基礎(chǔ)上的定義，給Jantunen Holmberg(1991年通過)和Poikonen(1993)選擇了一個非常簡化計算公式磨損率: h(t) = A tc/(tc t) (2) 其中A為系數(shù)不改變?yōu)橐粋€函數(shù)的時間 t通過整合上述公式計算表達的磨損深度可展開（Jantunen和Poikonen1993）： h(t) = A tc ln(1 t/tc) (3) 假設(shè)某些頻率的振動是由表面物理不規(guī)則引起的，即耐磨，初始振動是由不平衡引起的，加載在電動機等，作為時間的函數(shù)的格式如下振動磨損深度方程描述 3。這種發(fā)展振動水平示意圖如圖所示 1

8、。 雖然上面所描述的方法是非常簡化而不是一個真實的物理模型，它應(yīng)該指出的是給定的方法如下的趨勢，可看到與測量工具磨損監(jiān)測數(shù)據(jù)。這是典型的該參變化 圖1顯示的是歸一化振動的影響，顯示漸進磨損相對緩慢，然后在最后變化非?？?Jantunen（2003）或Jantunen和約基寧（1996年）。刀具磨損監(jiān)測由于刀具的磨損監(jiān)測的難度相當多，而且都是經(jīng)過測試的監(jiān)測方法和信號分析技術(shù)。當然也有好多已經(jīng)在這個領(lǐng)域發(fā)表的好的總結(jié)和例子，Rehorn et al. (2005) and Byrne et al. (1995). Dimla et al. (1997)給的評論神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)解決方案中就有傳感器信號的信息

9、使用。Cook (1980)在這個領(lǐng)域，列出直接法和間接法兩種方法是必需的用于刀具磨損監(jiān)測。在綜述Tlusty andAndrews (1983) 專注于傳感器。Li and Mathew (1990) 做出總結(jié)的監(jiān)測技術(shù)用于轉(zhuǎn)彎。Teti(1995)發(fā)表了數(shù)據(jù)庫(Teti 1995)的參考文獻，這鼓舞編制數(shù)據(jù)庫中備案報告(2001)Jantunen。一個評論(Jantunen2002)給人的總結(jié)方法,已經(jīng)使用了鉆頭磨損狀態(tài)監(jiān)測。最廣泛測試方法時的飼料的力量。然而,可以這樣說,測量力量不是很實際的整個產(chǎn)業(yè)的發(fā)展。、聲音、聲發(fā)射比較容易傳感器類型以及其定位是被考慮的范圍 Jantunen and

10、 Jokinen (1996) 測試了數(shù)量的測量方法在一起有大量的信號分析方法。結(jié)論是振動是最有效的解決辦法，號分析方法如FFT給有一個更可靠的估計刀具磨損比簡單的統(tǒng)計參數(shù)。然而，有相關(guān)的問題,利用更多的精密復雜的方法提出了新的更高要求他們對硬件,傾向是慢于更簡單方法。Jantunen and Jokinen (1996) 建議采用多種方法和參數(shù)可使診斷為刀具磨損具有更強的魯棒性。本文僅非常簡單,計算統(tǒng)計量從時間域數(shù)據(jù)如平方值使用。然而，這不是一個限制發(fā)達硬件方案,想法是可利用的最簡單的方法可得到的。在測試水平振動,大部分都是使用正因為它已經(jīng)被證明是最可靠的信號(1996)Jokinen Ja

11、ntunen.多項式回歸模型程度高與數(shù)量有限的條件:回歸分析是一個可能的方法來處理大量的所包含的數(shù)據(jù)如刀具磨損監(jiān)測(Jantunen 2003). 當回歸分析方法測量參數(shù)的趨勢的形式保存總結(jié)的條件. 這減少了存儲的數(shù)據(jù),數(shù)量有所限制不再的工具,可以處理的實踐中去。高階多項式回歸函數(shù)一定數(shù)量的術(shù)語可以很好模擬穿開發(fā)或開發(fā)的一種監(jiān)測參數(shù)圖1顯示的。Jantunen(2003)建議使用多項式回歸模型強調(diào)更高的學位,最近期的資料數(shù)量有限的條件。建議方法的好處(Jantunen2006). 高階功能充分反應(yīng)以便于一種破舊的工具可以注意到。. 強調(diào)最新數(shù)字是另一個工具能夠快速地做了分析,以適應(yīng)電流變化。這

12、意味著是可以處理切削參數(shù)的變化工件的變化,是可以接受的,如果它的診斷可以開始一段時間的限制,但是不能中斷同時假設(shè)發(fā)生和變化的信息傳遞給測量系統(tǒng)。強調(diào)最新數(shù)字也能減少錯誤,介紹了高多項式回歸函數(shù)訂單. 尤其適用于高階功能對刀具的磨損的末尾,刀具壽命發(fā)展指數(shù)增長,由于穿導致增加負荷增加,依次增強了磨損等的速度?；貧w函數(shù)的發(fā)展(Jantunen2003)遵循原則形容為榜樣彌爾頓、阿諾(1995年)。Jantunen(2003)建議使用以下類型的回歸功能。y(t) = a te+ b tf+ c tg+ d (4)其中y（t）是時間機能缺失監(jiān)測參數(shù)， a，b和c為回歸系數(shù)，t是時間參數(shù) e，f和g是函

13、數(shù)的程度系數(shù)， d是常數(shù)。當e = 9值時，f = 6和G = 3時，能是整個結(jié)果有很高的質(zhì)量。使用下列因素是教育署建議時要使用的摘要 條款計算（Jantunen2003） pi = q(ni ) (5) 其中n是當前總樣本數(shù)，i是在計算Q時的一個常數(shù)，定義在開始時會給出這個常數(shù)，結(jié)果是p與i相乘的結(jié)果，例如從查表中假設(shè)s=0.99，那么0.6就可能是最終的結(jié)果。模糊分類 為了分解高階多項式raoandrao制定出一個很簡單的模糊分類的方法。開始的想法是，從良好的實驗測量中得到的數(shù)據(jù)。從這些數(shù)據(jù)中拿出一些早期的數(shù)據(jù)用于分類界限的模糊定義。在該方法中集體數(shù)目與在良好的條件下八個二級相比是有限的，

14、高級則意味著監(jiān)視的組件越來越成為一個嚴重的條件。一類是保留給監(jiān)視的參數(shù)值越低意味著可能在開始時在不同的切削條件下極限被定義在第一個地方。這一類使用下面的定義每個集（i=1.8）和平均值類的上限和下限定義根據(jù)下面的定義：集體集i = (i 2) j + (6)低級i = 集體集i j (1 + k) /2低高級i= 集體集i j (1 k) /2高低級i= 集體集i + j (1 k) /2高高集i=集體集i + j (1 + k) /其中，j是系數(shù)，k是類型， 是平均值，第一個標準差測量參數(shù)。限制數(shù)量的選擇是一些相關(guān)的后處理和神經(jīng)流程網(wǎng)絡(luò)，這個過程中參數(shù)很多，最大的使用模糊集優(yōu)勢，是在一些限制

15、需要作出更多魯棒性.然而發(fā)達的后處理功能的方法與模糊clas的好處本文不討論。硬件解決方案在微控制器一個硬件解決方案基于使用的微型控制器， 微型控制器的發(fā)展是有優(yōu)勢的，邊緣路由器是種非常小微型控制器而且很廉價，假設(shè)它履行一個最佳的技術(shù)任務(wù)要解決安裝到機床的工具磨損。應(yīng)當指出的是另一個同時發(fā)展的的硬件即發(fā)展微機電系統(tǒng)，傳感器（微機電系統(tǒng)）。相對于傳統(tǒng)的測量傳感器MEMS傳感器預計會更便宜，就要有便宜的硬體診斷的任務(wù)。 為了快速而且簡單的能夠做分析的后續(xù)的診斷解決方案荷蘭國際集團開發(fā)的硬件解決方案的邊界條件已經(jīng)確定：A / D轉(zhuǎn)換頻率可高達2kHz與1024points兩個輸入通道可能使FFT轉(zhuǎn)換

16、通過CAN與PC接口通信極少使用外部元件，無需外從技術(shù)角度上來看，一個單片機芯片的微控制器解決方案是RAM的數(shù)量（隨機存取記憶體），RAM能保存測量的數(shù)據(jù)、棧和項目。其他一些大的要測量的變量有10位模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器的使用將2048個字節(jié)的RAM加成為1024個1024個數(shù)據(jù)點是存儲在16bitWORD格式。如果只時域統(tǒng)計特征的計算此內(nèi)存空間一些額外的棧和程序參數(shù)存儲器是需要的，那么功能計算在頻域更多的內(nèi)存也是需要。頻率和參數(shù)的計算采用快速傅立葉變換（FFT）。從1024數(shù)據(jù)點的FFT結(jié)果分為兩部分。各1024含單精度浮點。數(shù)據(jù)類型是用于這些數(shù)字的FFT結(jié)果是8192字節(jié) .如果有超過8192節(jié)的

17、微控制器RAM是需要的.應(yīng)該指出，這一數(shù)額與4096字節(jié)的RAM內(nèi)存可以測量的數(shù)據(jù)點，頻域的形成是沒有必要的。.在計算過程中，有某些行為需要做，使可用內(nèi)存擴大。例如，如果需要時域和頻域性時域特性先計算該程序使用兩個時間相同的內(nèi)存空間，頻率做主要數(shù)據(jù).在時域數(shù)據(jù)計算主要使用FFT， FFT后就沒有主要的數(shù)據(jù)時間遺留，當用傅里葉計算完頻譜同樣的記憶空間也被使用了。 該診斷軟件的開發(fā)流程如下.當微控制器上的電源被打開時，微控制器等待操作指令10秒。如果沒有收到指令時它開始自己運行參數(shù)編程.否則，該操作將根據(jù)接收到得參數(shù)啟動。 之后系統(tǒng)將每個周期自定義還將計算平均值直到模糊集的限制。 該解決方案在每1

18、0次用其自己的記憶之后創(chuàng)造他當前狀態(tài)備份，斷電后備份信息系統(tǒng)可以按照他之前的狀態(tài)繼續(xù)運作。該診斷解決方案已建成使用富士通MB91F362 微控制器。16K字節(jié)RAM和512K字節(jié)ROM的（只讀存儲器）這是為了能充分解決ADC、AC等等實驗測試：所開發(fā)的診斷系統(tǒng)已經(jīng)過測試與數(shù)據(jù)用麻花鉆測試。該測試已進行了一新瀉加工中心和錄音機記錄的文書。廣泛的試驗和測量程序是由Jantunen和約基寧（1996）詳細描述。在測試中，有26個具有不同鉆頭直徑從3.3到10.0mm，鉆頭的材料是高速鋼材料和工件材料Fe52。切削深度為30毫米左右變化且切割速度為每分鐘22到40m。這兒所有摘要的案例都是來自一個直徑

19、為10.2mm的鉆頭的測試結(jié)果。該測試系統(tǒng)是建立在分析中使用兩個通道。一個通道是用來測試水平震動的數(shù)據(jù)，而另外一個通道是用于觸發(fā)用途的。觸發(fā)電流用于主軸。觸發(fā)對時序分析是那樣的急需以至于當鉆探發(fā)生時它已經(jīng)被做好了。觸發(fā)信號同樣也可以用于實際數(shù)據(jù)的測量。受理程序是用來確保觸發(fā)不是由于主軸電流信號的測量的干擾而去放棄測量，這是鉆探過之后才知道的。后者指的情況是在測量過程中停止鉆探，例如當孔完成。八個時域參數(shù)進行了統(tǒng)計分析。它們都是些平均值、最大值、峰峰值、波峰因數(shù)、均方根、標準偏差、偏度和峰度。在回歸分析中下面這些參數(shù)值e=9,f=6,g=3andd=1(seeEq. 4)被作用于鉆探數(shù)據(jù)中，因此

20、這些值有很大利用價值。在分析中重點考慮的還是當前被利用的參數(shù)q=0.99 (5)。該方法行之有效，亦與其他參數(shù)組合的很好。作為一個經(jīng)驗法則，如果多項式回歸函數(shù)的高階，例如電子= 9則Q值較高的因素，如Q = 0.99運轉(zhuǎn)良好，如果參數(shù)E有一個較低的值，如6還q能較好地有較低如Q值= 0.95。然而，該系統(tǒng)是不是很敏感，多項式回歸函數(shù)及之后的監(jiān)測參數(shù)和一些測試一選擇了回歸函數(shù)的參數(shù)組合選擇參數(shù)值的選擇應(yīng)該可以用于所有受監(jiān)控工具。參數(shù)中強度的選擇其實是很好被看到尤其是當相同的組合也適用時，例如，在滾動軸承監(jiān)測。在與單片機的數(shù)據(jù)進行的分析數(shù)據(jù)結(jié)果通過現(xiàn)場總線收集到PC。在分析執(zhí)行標準差和均方根值分別

21、為刀具磨損的最佳指標。圖2所示為測試系統(tǒng)和均方根值的關(guān)系曲線的一個例子。應(yīng)當指出，在實踐中這只是在當時相當困難的觸發(fā)系統(tǒng)來進行研究分析時，鉆頭鉆在一個恒定狀態(tài)。在上述這種說法下，那就意味著在鉆孔剛開始和即將完成階段都會影響這個分析數(shù)據(jù)的。這個現(xiàn)象在圖2中很容易就能看出來，因為大約每五個值都很接近。然而，因為回歸曲線像一個低通濾波器的行為分析這一現(xiàn)象并不妨礙最終的分析。從另一個方面來說，如果這種現(xiàn)象是在工業(yè)環(huán)境監(jiān)測情況時可能被淘汰，連接到機床的監(jiān)控分析將工作做得更好。 最高值和峰值到峰值也反應(yīng)到工具磨損，但使用這些參數(shù)的問題是，他們也很敏感，在信號噪聲峰值，并因此有點太不穩(wěn)定。其余測試參數(shù)沒有作

22、出多么可靠的反應(yīng)，或者反應(yīng)很少或刀具磨損，因此并不好指標。在幾個不同的測試距離的因素 = 0.5-2.5（seeEq. 6）進行了測試。與RMS值非常好的分類結(jié)果獲得了使用J = 1.7見圖.三. 與峰峰值這個距離是不是最佳的，因為分類值只達到4級或5的也是如圖所示.三. 如果距離的因素是調(diào)整到J = 1.0兩均方根值和峰值到峰值的分類值表示刀具的磨損。它的rms值不像 = 1.7那樣穩(wěn)定，但是因為峰對峰的反應(yīng)是刀具磨損也可以聲稱 = 1.0，因而能也較好地反應(yīng)。在此基礎(chǔ)上也可以聲稱，定義的分類界限最佳的解決辦法是使用更敏感的參數(shù)，即參數(shù)，給出了更高的刀具磨損指示不同的限制，相對而言較不敏感的

23、那個。通過這種方式，對每個功能的分類類別的界限可以定義自動計算更精確的結(jié)果，這將提高當參數(shù)都混合在一起時對一些參數(shù)的計算能力。參數(shù)相同的選擇將適合大多數(shù)工具，有對成功的影響力最大的一個監(jiān)測工具和工件材料的數(shù)量，這是可以預期的。在之前測量數(shù)量被限制的時候，計算是非常重要的一種診斷手段。如果測量次數(shù)過于稀少，在第一輪中有無關(guān)緊要的特征值成為峰寬的標準偏差增加（seeEq. 7），由于廣泛的特征值中的類休閑峰的模糊分類沒有給予更高班比4和5。為了讓在鉆頭磨損監(jiān)測系統(tǒng)的工作至少20個測量，則在之前應(yīng)定義模糊分類類別。也有不同的采樣率和樣本數(shù)已經(jīng)過測試。如果在分析中的值的定義，使該系統(tǒng)能做到在一個鉆孔至

24、少4次測量和計算，那結(jié)果無疑是比較好的。如果分析被執(zhí)行的比較緩慢，那就會帶來磨損增加影響工具的壽命，從而增加了計算參數(shù)發(fā)展非常迅速正如本文前面，因此系統(tǒng)無法遵循這一不夠快的趨勢，因此只有較低的類（4and5）被認為在該工具的壽命結(jié)束。測量設(shè)置，其中一個樣本數(shù)為1024和采樣頻率為2000Hz證明運行良好。有了這些測量值之一約需0.5秒，以及所有的八個方面特點及其摘要整個計算過程中，隨著回歸分析法和模糊分類值的定義一起花了大約2-3 s。作為一個洞鉆了大約12秒的系統(tǒng)是在鉆井過程中的一個能夠使4-5測量孔。在這一分析，如快速傅立葉變換（FFT）的功能，因為進行這種分析花費的時間，所以使用更復雜的

25、問題似乎并不在分析有利的光鉆穿。還應(yīng)當指出的是，采樣頻率的增加將不會帶來很大的幫助，因為還有計算等等功能，支配時間的使用。還應(yīng)該指出的是更為復雜的參數(shù)計算與分析功能不一樣遭受噪音更簡單的統(tǒng)計參數(shù)多，比有用的鉆穿進程要慢的多。自然地，一個更快的處理器或受監(jiān)視的參數(shù)數(shù)目減少與樣本數(shù)的減少和增加采樣頻率一起使用可以使整個過程更快?；旧显阢@井系統(tǒng)應(yīng)配置，以便作為最低系統(tǒng)應(yīng)在一個鉆孔加工能力至少一個周期。實驗測試：所開發(fā)的診斷系統(tǒng)已經(jīng)過測試與數(shù)據(jù)用麻花鉆測試。該測試已進行了一新瀉加工中心和錄音機記錄的文書。廣泛的試驗和測量程序是由Jantunen和約基寧（1996）詳細描述。在測試中，有26個具有不同

26、鉆頭直徑從3.3到10.0mm，鉆頭的材料是高速鋼材料和工件材料Fe52。切削深度為30毫米左右變化且切割速度為每分鐘22到40m。這兒所有摘要的案例都是來自一個直徑為10.2mm的鉆頭的測試結(jié)果。該測試系統(tǒng)是建立在分析中使用兩個通道。一個通道是用來測試水平震動的數(shù)據(jù)，而另外一個通道是用于觸發(fā)用途的。觸發(fā)電流用于主軸。觸發(fā)對時序分析是那樣的急需以至于當鉆探發(fā)生時它已經(jīng)被做好了。觸發(fā)信號同樣也可以用于實際數(shù)據(jù)的測量。受理程序是用來確保觸發(fā)不是由于主軸電流信號的測量的干擾而去放棄測量，這是鉆探過之后才知道的。后者指的情況是在測量過程中停止鉆探，例如當孔完成。八個時域參數(shù)進行了統(tǒng)計分析。它們都是些平

27、均值、最大值、峰峰值、波峰因數(shù)、均方根、標準偏差、偏度和峰度。在回歸分析中下面這些參數(shù)值e=9,f=6,g=3andd=1(seeEq. 4)被作用于鉆探數(shù)據(jù)中，因此這些值有很大利用價值。在分析中重點考慮的還是當前被利用的參數(shù)q=0.99 (seeEq. 5)。該方法行之有效，亦與其他參數(shù)組合的很好。作為一個經(jīng)驗法則，如果多項式回歸函數(shù)的高階，例如電子= 9則Q值較高的因素，如Q = 0.99運轉(zhuǎn)良好，如果參數(shù)E有一個較低的值，如6還q能較好地有較低如Q值= 0.95。然而，該系統(tǒng)是不是很敏感，多項式回歸函數(shù)及之后的監(jiān)測參數(shù)和一些測試一選擇了回歸函數(shù)的參數(shù)組合選擇參數(shù)值的選擇應(yīng)該可以用于所有受

28、監(jiān)控工具。參數(shù)中強度的選擇其實是很好被看到尤其是當相同的組合也適用時，例如，在滾動軸承監(jiān)測。在與單片機的數(shù)據(jù)進行的分析數(shù)據(jù)結(jié)果通過現(xiàn)場總線收集到PC。在分析執(zhí)行標準差和均方根值分別為刀具磨損的最佳指標。圖2所示為測試系統(tǒng)和均方根值的關(guān)系曲線的一個例子。應(yīng)當指出，在實踐中這只是在當時相當困難的觸發(fā)系統(tǒng)來進行研究分析時，鉆頭鉆在一個恒定狀態(tài)。在上述這種說法下，那就意味著在鉆孔剛開始和即將完成階段都會影響這個分析數(shù)據(jù)的。這個現(xiàn)象在圖2中很容易就能看出來，因為大約每五個值都很接近。然而，因為回歸曲線像一個低通濾波器的行為分析這一現(xiàn)象并不妨礙最終的分析。從另一個方面來說，如果這種現(xiàn)象是在工業(yè)環(huán)境監(jiān)測情況時可能被淘汰，連接到機床的監(jiān)控分析將工作做得更好。 最高值和峰值到峰值也反應(yīng)到工具磨損，但使用這些參數(shù)的問題是，他們也很敏感，在信號噪聲峰值，并因此有點太不穩(wěn)定。其余測試參數(shù)沒有作出多么可靠的反應(yīng)，或者反應(yīng)很少或刀具磨損，因此并不好指標。在幾個不同的測試距離的因素 = 0.5-2.5（seeEq. 6）進行了測試。與RMS值非常好的分類結(jié)果獲得了使用J = 1.7見圖.三. 與峰峰值這個距離是不是最佳的，因為分類值只達到4級或5的也是如圖所示.三. 如果距離的