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文檔簡介
1、第四部分: 6SE70變頻器系統(tǒng)中的通用模塊與元、器件,6SE70系列變頻器系統(tǒng)中的主控制模板(1,6SE70系列變頻器系統(tǒng)的主控制模板(CUX) 屬于變頻/逆變器中的通用性模板。在6SE70系列產(chǎn)品中 有多種,與北石頂驅(qū)產(chǎn)品及測試臺所用變頻器/逆變器項(xiàng)目有關(guān)的僅有以下3種: CUR用于H、K結(jié)構(gòu)尺寸整流單元與全系列整流/回饋單元的主控板,其主回路結(jié)構(gòu)為可控硅單整流反并聯(lián)形式的整流/回饋雙橋結(jié)構(gòu),所采用的微處理器為SAB80C166。對OCP的支持只有到達(dá)一定的硬件版本(V1.3)與軟件版本(V4.5)狀態(tài)后方才支持。 CUVC主要用于控制交流異步感應(yīng)電動機(jī)的控制主板,可實(shí)現(xiàn)帶或不帶速度反饋的
2、高性能矢量控制方式,也可實(shí)現(xiàn)F/V=C的各種控制及三相同步電動機(jī)的他控式調(diào)速。主處理器為2塊SAB 80C165。推出以來,系統(tǒng)軟件(Firmware)不斷更新升級,目前版本為V3.42。此主板可用于6SE70定貨號控制方式位為6的書本型和裝機(jī)、裝柜型的變頻器和逆變器。 CUSA為第二代6SE70產(chǎn)品中的AFE整流器的主控制模板。支持正弦型的脈寬調(diào)制方式(SPWM)并具有較強(qiáng)的處理和接口能力。 變頻器與逆變器系統(tǒng)在拔去主板以后,其剩下的裝置本體結(jié)構(gòu)都是一樣的,即:它們可以通過更換主控板改變自己的類型。在維修工作中有時也用其它類型的主控板測試某臺變頻器系統(tǒng)。但對于整流器,這一點(diǎn)是不成立的,CUR
3、與CUSA絕對不可互換使用,二者工作原理完全不同,CUVC/CUSA的接口,關(guān)于主控制板的現(xiàn)場檢測判斷,在現(xiàn)場條件下要全面地檢測、判斷主控制板的好壞是很難實(shí)現(xiàn)的,在維修部門,這要通過專用的測試設(shè)備與測試程序進(jìn)行檢測。 但在現(xiàn)場條件下,對一塊主控板的狀態(tài)進(jìn)行判斷,決定它是否可以使用卻又是一種現(xiàn)實(shí)的需要,也可以采用一些簡單的辦法加以判斷。 恢復(fù)出廠設(shè)置。相當(dāng)多的故障是由于參數(shù)設(shè)置不當(dāng)引起的,但由于查不出這種設(shè)置錯誤,往往懷疑是主控板損壞,擺脫這種狀態(tài)的最好辦法是保存參數(shù)文件,然后恢復(fù)出廠設(shè)置。其后對系統(tǒng)重新進(jìn)行設(shè)置,如可以用相對簡單的方式運(yùn)行系統(tǒng)并正常,就不必再懷疑主控制板。 如果系統(tǒng)用開環(huán)的F/
4、V=C之類的方式可正常運(yùn)行,而用閉環(huán)矢量控制方式的復(fù)雜控制不正常,則故障一般也不在主控板的硬件上。 當(dāng)系統(tǒng)報出FFXXX故障時,有較大的概率是主控板損壞。 主控板損壞,有不少僅是接口的損壞,這種情況用常規(guī)的方法可以檢查確定。 當(dāng)系統(tǒng)控制電源正常,又不在軟件升級過程中,但系統(tǒng)PMU上顯示“E”時,主板有相當(dāng)大的概率損壞。 用相同型號的主板加載相同的設(shè)定、連接相同的接口而比較其狀態(tài)的差異是現(xiàn)場判斷CU板損壞的常用方法。 對于一些低版本CU的Firmware,它們可能存在一些階段性的缺陷,在后續(xù)的升版本中會加以修正,對這些低版本軟件可以通過下載升級包加以升級,對于消除這類錯誤非常有效,變頻器系統(tǒng)中的
5、電解電容器組件,電解電容器是構(gòu)成直流母線的主要元件; 電解電容器組件的多電容器的串聯(lián)與并聯(lián); 電解電容器的主要特點(diǎn)、結(jié)構(gòu)、電特性; 電解電容器的主要參數(shù):電容量、耐壓、損耗角正切; 電解電容器絕對不可以接反; 電解電容器不可以用于交流電路; 電解電容器也不可以在交變成分很高,或諧波成分很高的電路中運(yùn)行; 電解電容器串聯(lián)的電壓分配與均壓問題; 由于阻值與功率的限制,均壓電阻的作用是有限的; 電解電容器的Forming的作用; 電解電容器的更換問題 :同容量、同耐壓、盡量同品牌、最好同批次; 在現(xiàn)場檢修條件下,電解電容器測試的局限性; 電容組件在裝入時的對位很重要,稍有不慎會損壞直流母線組件,電解
6、電容器的Forming,裝機(jī)裝柜型裝置直流母線電容的Forming,各種可控硅模塊,可控硅模塊的特點(diǎn)與現(xiàn)場測試(1,可控硅模塊是6SE70系列的變頻器、整流器與整流逆變器部分所采用的交直環(huán)節(jié)的主要功率器件。有長方型塑封(單、雙器件)與平板型兩種封裝形式,后者主要用在H與K兩種尺寸的RU與RRU中,以帶散熱器總成的形態(tài)出現(xiàn)。 可控硅器件的主要電參數(shù):UDSM、URSM、UDRM、URRM、掣位電流IL、門極電壓Ug、門極電流Ig、開通時間Ton與關(guān)斷時間Toff。 可控硅器件的工作特點(diǎn),可控硅模塊的特點(diǎn)與現(xiàn)場測試(2,可控硅器件的現(xiàn)場檢查方法1萬用表檢查的介紹。用萬用表可以簡單地判斷可控硅的好壞
7、。 可控硅器件的現(xiàn)場檢查方法2高阻表檢查的介紹。用高阻表可以檢查可控硅元件的正、反向耐壓是否已有問題。先根據(jù)可控硅標(biāo)牌型號獲知其耐壓,再決定將高阻表測量電壓調(diào)到何值。 注意!絕對不能用高阻表檢查柵極G,否則會損壞可控硅模塊。 可控硅器件的現(xiàn)場檢查方法3電池、小燈泡法的介紹。圖見右。 在安裝可控硅時,其安裝基面要清洗干凈,并在安裝面上均勻地涂覆導(dǎo)熱硅脂,緊固時螺釘緊固力的增加要均勻。對于H與K尺寸,整流器與整流/逆變器其功率模塊采用的是平板式,可控硅器件的安裝更需注意兩點(diǎn): 一是,平板型器件容易將極性裝反,一定要仔細(xì)核對。 二是,可控硅器件是由兩塊或三塊鋁質(zhì)散熱器夾持固定的緊固散熱器兩側(cè)的4組螺
8、釘,一定要以對角順序逐次加力緊固,可用6Nm、12Nm、25Nm,最后50Nm的緊固力矩進(jìn)行操作。 在檢查可控硅器件時,若發(fā)現(xiàn)其殼體上有裂縫,即便是很細(xì)微的,則此器件也不可再用,可控硅模塊的緊固,二極管模塊的特點(diǎn)與現(xiàn)場測試,二極管模塊的現(xiàn)場檢查方法: 在書本型與增強(qiáng)書本型的變頻器或整流器中,交直環(huán)節(jié)的元件大多是二極管模塊,且多數(shù)為6單元橋式電路結(jié)構(gòu)。這種結(jié)構(gòu)的模塊共有5個端子U、V、W、C、D,檢查時可用萬用表二極管檔檢測,必須確認(rèn)6個橋臂都是好的,此模塊方可使用,只要有一個橋臂損壞,此模塊只能報廢。 另外,要仔細(xì)觀察器件封裝塑殼的形態(tài),如有裂縫,哪怕是很細(xì)小的裂縫也意味著此器件可能已經(jīng)損壞或
9、通電后很快會損壞,這樣的器件不能使用。 高阻表也可用來檢查二極管模塊的反向電壓,但要注意,不論是萬用表還是高阻表,均有一定的檢測的局限性。 在檢查二極管模塊時,若發(fā)現(xiàn)其殼體上有裂縫,即便是很細(xì)微的,則此器件也不可再用,各種二極管模塊,預(yù)充電電阻與預(yù)充電繼電器的檢查,預(yù)充電電阻裝在書本型、增強(qiáng)書本型的二極管橋后面或裝機(jī)裝柜型變頻器的預(yù)充電二極管橋后面,限制系統(tǒng)啟動過程中由于直流母線電容器組充電而引起的過電流,正常情況下,啟動結(jié)束后,被預(yù)充電控制繼電器的接點(diǎn)短路(書本式),或在可控硅主橋的工作狀態(tài)建立后,二極管橋被反偏截止后斷流(裝機(jī)裝柜型)。 預(yù)充電電阻不能被用于正常帶負(fù)載。在電容器組充電完成后
10、,這些電阻如未被短掉或斷流。則系統(tǒng)啟動運(yùn)行后,它們立即會燒紅、冒煙直到燒斷。 出現(xiàn)這種現(xiàn)象時,要用測試盒的啟動電阻繼電器的檢查功能檢查。預(yù)充電繼電器的控制功能是否還正常。對架裝型則要考慮PCC模塊可能已經(jīng)損壞。 另外,預(yù)充電繼電器在運(yùn)行中突然跳斷也會引起它自身和預(yù)充電電阻的損壞,預(yù)充電繼電器的損壞,一般是主觸點(diǎn)拉弧,嚴(yán)重時可炸裂繼電器外殼,并熏黑線路板,IGBT模塊的特點(diǎn)及其現(xiàn)場檢查辦法,IGBT模塊是6SE70系列產(chǎn)品中的逆變器,制動單元AFE變流器與OCP保護(hù)器所使用的主要功率器件。基本上都是采用集成了橋臂續(xù)流二極管的模塊式封裝。在本產(chǎn)品系列中,采用的封裝形式和品牌均比較多。一個封裝內(nèi)的橋
11、臂數(shù)目有單、雙與全橋等結(jié)構(gòu)。 IGBT器件是集雙極型晶體管與MOS場效應(yīng)晶體管各自優(yōu)點(diǎn)于一身的新型器件,具有許多優(yōu)點(diǎn)。但在使用中也有一些特點(diǎn)需要加以注意。 IGBT器件的過電流能力一般小于同容量的BJT,后者允許4倍的額定值,且時間50s,而前者僅為2倍的額定值與20s。因此,線路上的快速熔斷器一類的保護(hù)是不能保護(hù)IGBT的,需要借助于系統(tǒng)方面軟、硬件結(jié)合的保護(hù)功能。例如,它對CT的要求就很高。 IGBT器件在C、E端已加有高電壓的情況下,不允許G、E端開路,否則會損壞器件。 IGBT器件在存貯與運(yùn)輸過程中,必須防止靜電導(dǎo)致的損壞,一般情況下,這時都要把它們的G、E兩極可靠地短路。另外,在操作
12、過程中切忌用手觸摸G端。 使用SE70的測試盒可以比較有效地在現(xiàn)場檢查IGBT器件的狀態(tài),但前提是必須把模塊安裝到系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)上,IGBT模塊的主要參數(shù),現(xiàn)場條件下,用萬用表可以簡單地判斷IGBT器件的好壞,但檢查結(jié)果并不可靠。在G、E端可靠地短接后,用高阻表檢查IGBT的耐壓情況也是可以的,在DC1000V測試電壓下,其C、E端的電阻一般應(yīng)在幾百兆歐。 在檢查IGBT器件時,若發(fā)現(xiàn)其殼體上有裂縫,即便是很細(xì)微的,則此器件也不可再用。 IGBT主要參數(shù): UcesG、E短路情況下,允許的斷態(tài)集電極發(fā)射極最高電壓結(jié)點(diǎn);發(fā)射極電壓; Tj工作其間IGBT; Ic集電極電流(最大直流電流); Tm端子
13、螺栓的固定扭矩。 UIso所有端子短路條件下,基片與模塊端子間最大電壓。 Icm集電極峰值電流; Ie最大允許的續(xù)流二極管電流(直流); Pc集電極功耗,各種IGBT模塊,IGBT模塊的相關(guān)參數(shù)及故障,更換IGBT模塊,IGBT模塊的緊固要求,系統(tǒng)中熱敏電阻的特點(diǎn)與現(xiàn)場檢查,系統(tǒng)中的熱敏電阻用于檢測系統(tǒng)的過溫狀態(tài)。它們安裝于主元件的散熱器上。書本型與小的裝機(jī)、裝柜型只有一個熱敏元件隨著結(jié)構(gòu)尺寸的增大,最多可有三個熱敏電阻,均為NTC型(負(fù)溫度系數(shù))。 熱敏電阻的檢測可以借助于6SE70的測試盒進(jìn)行測試。 在系統(tǒng)通電以后,也可通過讀取r833參數(shù)值(系統(tǒng)散熱器的溫度)與環(huán)境實(shí)際溫度進(jìn)行比較而得出
14、判斷,但是需要注意的是當(dāng)時散熱器的溫度是否為冷態(tài)(即:環(huán)境溫度,系統(tǒng)中熱敏電阻的特點(diǎn)與現(xiàn)場檢查,電流互感器CT的特點(diǎn)與現(xiàn)場檢測,電流互感器是系統(tǒng)中重要的實(shí)際值測量元件。它不僅要提供電流實(shí)際值,在無傳感器的矢量控制方式中也需要和被控電機(jī)的矢量模型結(jié)合,從而提供速度實(shí)際值與電機(jī)反電勢實(shí)際值等測量計祘值。同時,它還要參與逆變器主回路的IGBT器件的保護(hù)。因此,逆變器側(cè)所使用的電流互感器精度高,反應(yīng)速度快,一般是采用霍爾效應(yīng)原理傳感器并在電流互感器的封裝中集成有信號處理電路,因此它在工作時還必須有15V的工作電源。 在現(xiàn)場條件下檢測電流互感器的狀態(tài),以采用測試盒比較有效。 相對而言,整流單元與整流/回饋單元的電流互感器就要簡單多了,一般難以損壞,對其特性的要求也不高。但要注意,它們的二次側(cè)不能開路;在更換A23模塊時則要把模塊上的電流互感器負(fù)載電阻也要一并移到新板上去,與逆變器電流有關(guān)的參數(shù)與故障,選件模塊的安裝,選件模塊的安裝,選件模塊的識別,CBP/SLB的故障判斷,在CBP/SLB 選件板前端有3 個發(fā)光二極管顯示燈,用來顯示當(dāng)前的狀態(tài)。所提供的顯 示燈如下: . CBP /SLB運(yùn)行(紅色顯示燈) . 與基本裝置進(jìn)行數(shù)據(jù)交換(黃色顯示燈) . 總線進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸(綠色顯示燈) . 正常運(yùn)行時所有的顯示燈同時閃亮,并以相同的頻率閃爍! . 如果一個顯示燈持續(xù)地亮或滅,就表明
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