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1、半導(dǎo)體器件物理半導(dǎo)體器件物理 半導(dǎo)體器件物理半導(dǎo)體器件物理 第第3 3章章 載流子輸運(yùn)現(xiàn)象載流子輸運(yùn)現(xiàn)象 1 電子濃度隨電子濃度隨x方向變方向變 化,如右圖所示?;?,如右圖所示。 由于半導(dǎo)體處于特定由于半導(dǎo)體處于特定 的溫度,所以電子平的溫度,所以電子平 均熱能不會(huì)隨均熱能不會(huì)隨x而變,而變, 只有濃度只有濃度n(x)的改變的改變 。 擴(kuò)散電流:擴(kuò)散電流:半導(dǎo)體中,載流子的濃度有一個(gè)空間上的變化,半導(dǎo)體中,載流子的濃度有一個(gè)空間上的變化, 傾向于從高濃度的區(qū)域移往低濃度的區(qū)域,形成的電流。傾向于從高濃度的區(qū)域移往低濃度的區(qū)域,形成的電流。 3.2 載流子擴(kuò)散載流子擴(kuò)散 電流電流 電子電子 電子
2、濃度電子濃度n(x) 距離距離x - l 0 l nl n l 0n 3.2.1 擴(kuò)散過程擴(kuò)散過程 半導(dǎo)體器件物理半導(dǎo)體器件物理 第第3 3章章 載流子輸運(yùn)現(xiàn)象載流子輸運(yùn)現(xiàn)象 2 考慮單位時(shí)間及單位面積中穿過考慮單位時(shí)間及單位面積中穿過x=0平面的電子數(shù)目。平面的電子數(shù)目。T0K, 電子隨機(jī)熱運(yùn)動(dòng),平均熱運(yùn)動(dòng)速度電子隨機(jī)熱運(yùn)動(dòng),平均熱運(yùn)動(dòng)速度vth,平均自由程,平均自由程l(l=vthc)。)。 電子在電子在x=-l向左或向右移動(dòng)的幾率相等,因此在一個(gè)平均自由向左或向右移動(dòng)的幾率相等,因此在一個(gè)平均自由 時(shí)間時(shí)間c內(nèi)有一半的電子將會(huì)向右移動(dòng)穿過內(nèi)有一半的電子將會(huì)向右移動(dòng)穿過x=0平面,其單位面
3、積平面,其單位面積 電子流平均速率電子流平均速率F1為為 同樣,電子在同樣,電子在x=l從右邊穿過從右邊穿過x=0平平 面的單位面積電子流平均速率面的單位面積電子流平均速率F2 1 1 1 2 2 th c nl l Fnl v 2 1 . 2 th Fn l v 電流電流 電子電子 電子濃度電子濃度n(x) 距離距離x - l 0 l nl n l 0n 半導(dǎo)體器件物理半導(dǎo)體器件物理 第第3 3章章 載流子輸運(yùn)現(xiàn)象載流子輸運(yùn)現(xiàn)象 3 泰勒級(jí)數(shù)展開,取前兩項(xiàng),并將泰勒級(jí)數(shù)展開,取前兩項(xiàng),并將x=l處的濃度作近似,得處的濃度作近似,得 因此,從左至右(與坐標(biāo)軸定義一致),載流子流的凈速率為因此,
4、從左至右(與坐標(biāo)軸定義一致),載流子流的凈速率為 12 1 2 th FFFvnln l 1 00 2 ththn dndndndn Fvnlnlv lD dxdxdxdx 其中,其中,Dn=vthl稱為電子稱為電子擴(kuò)散系數(shù)擴(kuò)散系數(shù)。 nn dn JqFqD dx 同理,對(duì)空穴存在同樣關(guān)系同理,對(duì)空穴存在同樣關(guān)系 dx dp qDJ pp 每個(gè)電子帶電每個(gè)電子帶電-q,則載流子流動(dòng)產(chǎn)生一擴(kuò)散電流,則載流子流動(dòng)產(chǎn)生一擴(kuò)散電流 擴(kuò)散電流擴(kuò)散電流正比于正比于電子濃電子濃 度在空間上的導(dǎo)數(shù)。度在空間上的導(dǎo)數(shù)。 擴(kuò)散電流是由于載流子擴(kuò)散電流是由于載流子 在一個(gè)在一個(gè)濃度梯度下的隨濃度梯度下的隨 機(jī)熱運(yùn)動(dòng)
5、機(jī)熱運(yùn)動(dòng)所造成的。所造成的。 半導(dǎo)體器件物理半導(dǎo)體器件物理 第第3 3章章 載流子輸運(yùn)現(xiàn)象載流子輸運(yùn)現(xiàn)象 4 例:假設(shè)例:假設(shè)T=300K,一個(gè),一個(gè)n型半導(dǎo)體中,電子濃度在型半導(dǎo)體中,電子濃度在0.1cm的的 距離中從距離中從11018cm-3至至71017cm-3作線性變化,計(jì)算擴(kuò)散電作線性變化,計(jì)算擴(kuò)散電 流密度。假設(shè)流密度。假設(shè)Dn=22.5cm2/s。 解:解: 根據(jù)相關(guān)公式,得到擴(kuò)散電流密度為根據(jù)相關(guān)公式,得到擴(kuò)散電流密度為 x n qD dx dn qDJ nnn 1817 192 1 107 10 1.6 1022.5 0.1 A cm 2 10.8 A cm 半導(dǎo)體器件物理半
6、導(dǎo)體器件物理 第第3 3章章 載流子輸運(yùn)現(xiàn)象載流子輸運(yùn)現(xiàn)象 5 3.2.2 愛因斯坦關(guān)系式愛因斯坦關(guān)系式 一維空間,由能量均分理論可得一維空間,由能量均分理論可得 2 11 22 nth m vkT c n n q m 利用上式和利用上式和 及及 cth vl 可得可得 2 nnnn nthth n mmkT Dv lv qmq 即即 nn kT D q 意義意義 把描述半導(dǎo)體中載流子擴(kuò)散及漂移運(yùn)輸特征的兩個(gè)重要把描述半導(dǎo)體中載流子擴(kuò)散及漂移運(yùn)輸特征的兩個(gè)重要 常數(shù)(擴(kuò)散系數(shù)及遷移率)聯(lián)系起來。常數(shù)(擴(kuò)散系數(shù)及遷移率)聯(lián)系起來。 同理可得同理可得 pp kT D q 半導(dǎo)體器件物理半導(dǎo)體器件物
7、理 第第3 3章章 載流子輸運(yùn)現(xiàn)象載流子輸運(yùn)現(xiàn)象 6 上式中上式中“-”是因?yàn)閷?duì)于一個(gè)正空穴梯度,空穴將會(huì)朝是因?yàn)閷?duì)于一個(gè)正空穴梯度,空穴將會(huì)朝-x方向擴(kuò)散,這方向擴(kuò)散,這 個(gè)擴(kuò)散導(dǎo)致一個(gè)同樣朝個(gè)擴(kuò)散導(dǎo)致一個(gè)同樣朝-x方向流動(dòng)的空穴流。方向流動(dòng)的空穴流??倐鲗?dǎo)電流密度總傳導(dǎo)電流密度 當(dāng)濃度梯度與電場(chǎng)同時(shí)存在時(shí),總電流密度即為漂移及擴(kuò)散成當(dāng)濃度梯度與電場(chǎng)同時(shí)存在時(shí),總電流密度即為漂移及擴(kuò)散成 分的總和,因此電子電流為分的總和,因此電子電流為 3.2.3 電流密度方程式電流密度方程式 其中,其中,E為為x方向的電場(chǎng)方向的電場(chǎng) 。 nnn dn JqnEqD dx 對(duì)空穴流有相似關(guān)系:對(duì)空穴流有相似
8、關(guān)系: ppp dp JqpEqD dx 適用適用 低電場(chǎng)狀態(tài)低電場(chǎng)狀態(tài)。高電場(chǎng)時(shí),。高電場(chǎng)時(shí),nE及及pE應(yīng)以飽和速度應(yīng)以飽和速度vs替代。替代。 dx dp qDpEq dx dn qDnEqJJJ ppnnpncond 半導(dǎo)體器件物理半導(dǎo)體器件物理 第第3 3章章 載流子輸運(yùn)現(xiàn)象載流子輸運(yùn)現(xiàn)象 7 在熱平衡下,在熱平衡下,pn=ni2。 如果有超量載流子導(dǎo)入半導(dǎo)體中,如果有超量載流子導(dǎo)入半導(dǎo)體中,pnni2,此狀態(tài)稱為,此狀態(tài)稱為非非 平衡狀態(tài)。平衡狀態(tài)。 載流子注入載流子注入 導(dǎo)入導(dǎo)入超量超量載流子過程,稱為載流子過程,稱為載流子注入載流子注入。大部分半導(dǎo)體器件。大部分半導(dǎo)體器件 是通
9、過創(chuàng)造出超出熱平衡時(shí)的帶電載流子來工作??捎檬峭ㄟ^創(chuàng)造出超出熱平衡時(shí)的帶電載流子來工作。可用光激光激 發(fā)發(fā)或或p-n結(jié)加正向電壓結(jié)加正向電壓來導(dǎo)入超量載流子。來導(dǎo)入超量載流子。 3.3 產(chǎn)生與復(fù)合過程產(chǎn)生與復(fù)合過程 半導(dǎo)體器件物理半導(dǎo)體器件物理 第第3 3章章 載流子輸運(yùn)現(xiàn)象載流子輸運(yùn)現(xiàn)象 8 熱平衡狀態(tài)受到擾動(dòng)時(shí)(熱平衡狀態(tài)受到擾動(dòng)時(shí)(pnni2),會(huì)出現(xiàn)一些使系統(tǒng)回復(fù)平),會(huì)出現(xiàn)一些使系統(tǒng)回復(fù)平 衡的機(jī)制(衡的機(jī)制(pn=ni2);超量載流子注入下,回復(fù)平衡的機(jī)制是);超量載流子注入下,回復(fù)平衡的機(jī)制是 注入的少子與多子復(fù)合。注入的少子與多子復(fù)合。 按是否通過復(fù)合中心進(jìn)行復(fù)合來分:按是否通
10、過復(fù)合中心進(jìn)行復(fù)合來分: 復(fù)合類型復(fù)合類型 按復(fù)合過程釋放能量的方式來分:按復(fù)合過程釋放能量的方式來分: l輻射復(fù)合:輻射復(fù)合:能量以光子的形式輻射出的復(fù)合過程。能量以光子的形式輻射出的復(fù)合過程。 l非輻射復(fù)合:非輻射復(fù)合:能量對(duì)晶格產(chǎn)生熱而消耗掉的復(fù)合過程。能量對(duì)晶格產(chǎn)生熱而消耗掉的復(fù)合過程。 l直接復(fù)合直接復(fù)合(帶至帶復(fù)合):通常在直接禁帶的半導(dǎo)體中較為顯(帶至帶復(fù)合):通常在直接禁帶的半導(dǎo)體中較為顯 著,如著,如GaAs。 l間接復(fù)合:間接復(fù)合:通過禁帶復(fù)合中心進(jìn)行的復(fù)合,通常在間接禁帶的通過禁帶復(fù)合中心進(jìn)行的復(fù)合,通常在間接禁帶的 半導(dǎo)體中較為顯著,如半導(dǎo)體中較為顯著,如Si。 半導(dǎo)體
11、器件物理半導(dǎo)體器件物理 復(fù)合率復(fù)合率Rth 產(chǎn)生速率產(chǎn)生速率Gth 第第3 3章章 載流子輸運(yùn)現(xiàn)象載流子輸運(yùn)現(xiàn)象 9 3.3.1 直接復(fù)合直接復(fù)合 EC EV GthRth (a) 熱平衡時(shí)熱平衡時(shí) 熱平衡下的直接禁帶半導(dǎo)體。熱平衡下的直接禁帶半導(dǎo)體。 熱能使得一個(gè)價(jià)電子向上移至導(dǎo)帶,而留下熱能使得一個(gè)價(jià)電子向上移至導(dǎo)帶,而留下 一個(gè)空穴在價(jià)帶,這個(gè)過程稱為一個(gè)空穴在價(jià)帶,這個(gè)過程稱為載流子產(chǎn)生載流子產(chǎn)生,可以用,可以用產(chǎn)生產(chǎn)生 速率速率Gth(每立方厘米每秒產(chǎn)生的電子(每立方厘米每秒產(chǎn)生的電子-空穴對(duì)數(shù)目)表示??昭▽?duì)數(shù)目)表示。 當(dāng)一個(gè)電子從導(dǎo)帶向當(dāng)一個(gè)電子從導(dǎo)帶向 下移至價(jià)帶,一個(gè)電子下
12、移至價(jià)帶,一個(gè)電子-空穴對(duì)則空穴對(duì)則 消失,這種反向的過程稱為消失,這種反向的過程稱為復(fù)合復(fù)合, 并以并以復(fù)合率復(fù)合率Rth表示。表示。 半導(dǎo)體器件物理半導(dǎo)體器件物理 第第3 3章章 載流子輸運(yùn)現(xiàn)象載流子輸運(yùn)現(xiàn)象 10 熱平衡下的產(chǎn)生與復(fù)合規(guī)律熱平衡下的產(chǎn)生與復(fù)合規(guī)律 熱平衡下,熱平衡下,Gth=Rth,所以載流子濃度維持常數(shù),且,所以載流子濃度維持常數(shù),且pn=ni2。 直接帶隙半導(dǎo)體,導(dǎo)帶底與價(jià)帶頂位于同一動(dòng)量線上,進(jìn)行直接帶隙半導(dǎo)體,導(dǎo)帶底與價(jià)帶頂位于同一動(dòng)量線上,進(jìn)行 復(fù)合時(shí)無需額外動(dòng)量,復(fù)合時(shí)無需額外動(dòng)量,直接復(fù)合率直接復(fù)合率R應(yīng)正比于導(dǎo)帶中的電子應(yīng)正比于導(dǎo)帶中的電子 數(shù)目及價(jià)帶中的
13、空穴數(shù)目數(shù)目及價(jià)帶中的空穴數(shù)目。 因此,對(duì)一熱平衡狀態(tài)的因此,對(duì)一熱平衡狀態(tài)的n型半導(dǎo)體,可得型半導(dǎo)體,可得 00 ththnn GRn p 其中,其中,為比例常數(shù),下標(biāo)為比例常數(shù),下標(biāo)0表示平衡表示平衡 量,量,nn0及及pn0分別表示熱平衡下分別表示熱平衡下n型半型半 導(dǎo)體中的電子及空穴濃度。導(dǎo)體中的電子及空穴濃度。 EC EV GthRth (a) 熱平衡時(shí)熱平衡時(shí) 半導(dǎo)體器件物理半導(dǎo)體器件物理 第第3 3章章 載流子輸運(yùn)現(xiàn)象載流子輸運(yùn)現(xiàn)象 11 非平衡狀態(tài)下的產(chǎn)生與復(fù)合規(guī)律非平衡狀態(tài)下的產(chǎn)生與復(fù)合規(guī)律 假設(shè)假設(shè)光照在光照在n型半導(dǎo)體上型半導(dǎo)體上,使其以,使其以GL速度產(chǎn)生電子速度產(chǎn)生電
14、子-空穴對(duì),載空穴對(duì),載 流子濃度將大于熱平衡時(shí)的值,因而復(fù)合與產(chǎn)生速率分別變?yōu)榱髯訚舛葘⒋笥跓崞胶鈺r(shí)的值,因而復(fù)合與產(chǎn)生速率分別變?yōu)?其中其中n及及p為超量載流子濃度。為超量載流子濃度。 且且n=p,以維持整體電中性。,以維持整體電中性。 ppnnpnR nnnn 00 Lth GGG 0nn nnn 0nn ppp EC EV GLRGth hv (b)光照下光照下 半導(dǎo)體器件物理半導(dǎo)體器件物理 第第3 3章章 載流子輸運(yùn)現(xiàn)象載流子輸運(yùn)現(xiàn)象 12 因此,凈復(fù)合率正比于超量少數(shù)載流子濃度。因此,凈復(fù)合率正比于超量少數(shù)載流子濃度。 小注入,即小注入,即p nn0,上式可簡(jiǎn)化為,上式可簡(jiǎn)化為 代
15、入,并考慮代入,并考慮 n=p 得得pppnU nn 00 0 0 0 1 n nn n n pp pnU 因此,凈復(fù)合率為因此,凈復(fù)合率為 th URG 00ththnn GRn pppnnR nn 00 和和將將 比例常數(shù)比例常數(shù)p稱為稱為超量少數(shù)載流子的壽命超量少數(shù)載流子的壽命。 令令 0 1 p n n 則則 0nn p pp U 半導(dǎo)體器件物理半導(dǎo)體器件物理 第第3 3章章 載流子輸運(yùn)現(xiàn)象載流子輸運(yùn)現(xiàn)象 13 通過器件在瞬間通過器件在瞬間 移去光源后的暫態(tài)響應(yīng)作說明。移去光源后的暫態(tài)響應(yīng)作說明。 如右圖,光照射在一如右圖,光照射在一n型樣品使其型樣品使其 以一個(gè)產(chǎn)生速率以一個(gè)產(chǎn)生速率
16、GL均勻地產(chǎn)生電均勻地產(chǎn)生電 子子-空穴對(duì),在穩(wěn)態(tài)下,有空穴對(duì),在穩(wěn)態(tài)下,有 x hv n型樣品恒定光照下型樣品恒定光照下 0nn L p pp GU 或或Lpnn Gpp 0 可得可得pn(t=0)=pn0+pGL、pn(t)=pn0, 假設(shè)假設(shè)t=0時(shí),光照突然停止,由式時(shí),光照突然停止,由式 pn=pn0+pGL 0nnn th p dppp GRU dt 其解為其解為 0 exp nnpL p t ptpG 0 t pn0 pn(t) pn(0) pL G p p的物理意義的物理意義 此時(shí)空穴濃度凈速率此時(shí)空穴濃度凈速率 半導(dǎo)體器件物理半導(dǎo)體器件物理 第第3 3章章 載流子輸運(yùn)現(xiàn)象載流
17、子輸運(yùn)現(xiàn)象 14 間接禁帶半導(dǎo)體間接禁帶半導(dǎo)體(如(如Si),導(dǎo)),導(dǎo) 帶底部的電子對(duì)于價(jià)帶頂端的帶底部的電子對(duì)于價(jià)帶頂端的 空穴有空穴有非零的晶格動(dòng)量非零的晶格動(dòng)量。因此。因此 通過禁帶中的局域能態(tài)所進(jìn)行通過禁帶中的局域能態(tài)所進(jìn)行 的間接躍遷的間接躍遷便成為此類半導(dǎo)體便成為此類半導(dǎo)體 中主要的復(fù)合過程,而這些局中主要的復(fù)合過程,而這些局 域能態(tài)則扮演著導(dǎo)帶及價(jià)帶間域能態(tài)則扮演著導(dǎo)帶及價(jià)帶間 的踏腳石。的踏腳石。 3.3.2 間接復(fù)合,表面復(fù)合,俄歇復(fù)合間接復(fù)合,表面復(fù)合,俄歇復(fù)合 2 1 0 1 2 3 4 g E 價(jià)帶 111100 導(dǎo)帶 能量/eV Si p動(dòng)量 0 pc 間接復(fù)合間接復(fù)
18、合 半導(dǎo)體器件物理半導(dǎo)體器件物理 第第3 3章章 載流子輸運(yùn)現(xiàn)象載流子輸運(yùn)現(xiàn)象 15 右圖顯示,通過中間右圖顯示,通過中間 能態(tài)(能態(tài)(復(fù)合中心復(fù)合中心)而)而 發(fā)生于復(fù)合過程中的發(fā)生于復(fù)合過程中的 各種躍遷。在此描述各種躍遷。在此描述 四個(gè)基本躍遷發(fā)生前四個(gè)基本躍遷發(fā)生前 后復(fù)合中心的帶電情后復(fù)合中心的帶電情 形。此圖示只針對(duì)形。此圖示只針對(duì)單單 一能級(jí)的復(fù)合中心一能級(jí)的復(fù)合中心 (Et),且假設(shè)當(dāng)此),且假設(shè)當(dāng)此 能級(jí)未被電子占據(jù)時(shí)能級(jí)未被電子占據(jù)時(shí) 為中性;若被電子占為中性;若被電子占 據(jù),則帶負(fù)電。據(jù),則帶負(fù)電。 電子俘獲電子俘獲 (a) 電子發(fā)射電子發(fā)射 (b) 空穴俘獲空穴俘獲 (c) 空穴發(fā)射空穴發(fā)射 (d) 之前之前 之后之后 EC Et EV EC Et EV RaRb Rc Rd 該過程的復(fù)合率,除了與載流子濃度相關(guān)還該過程的復(fù)合率,除了與載流子濃度相關(guān)還 與缺陷密度、缺陷俘獲載流子的能力相關(guān)與缺陷密度、缺陷俘獲載流子的能力相關(guān) 半導(dǎo)體器件物理半導(dǎo)體器件物理 第第3 3章章 載流子輸運(yùn)現(xiàn)象載流子輸運(yùn)現(xiàn)象 16 如圖顯示半導(dǎo)體表面的如圖顯示半導(dǎo)體表面的 鍵。由于晶體
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