傳輸測試大全

1、時鐘單元1+1保護測試矩陣單元1+1保護測試 電源單元：工作電壓范圍 電源單元：電源供電保護1 光口指標1.1 平均發(fā)送光功率1.1.1 指標含義發(fā)送機的發(fā)射光功率和所發(fā)送的數據信號中“1”占的比例有關，“1”越多，光功率也就越大。當發(fā)送偽隨機信號時，“1”和“0”大致各占一半，這時測試得到的功率就是平均發(fā)送光功率。1.1.2 指標定義1)STM-1接口局內、短距：-8dbm -15dbm；長距 ：0dbm -5dbm。2)STM-4接口局內、短距：-8dbm -15dbm；長距 ：2dbm -3dbm。3)STM-16接口局內：-3dBm -10dBm；短距：0dBm -5dBm；長距：3d

2、Bm -2dBm。 1.1.3 測試步驟1)從發(fā)送機引出光纖，接到光功率計上；2)在光功率計上設置被測光的波長，待輸出功率穩(wěn)定，讀出平均發(fā)送光功率。1.2 發(fā)送機眼圖1.2.1 指標含義眼圖把信號的上升時間、下降時間、脈沖過沖、脈沖下沖以及震蕩等特性都包含了，其典型測試結果如下：這個眼圖可以這樣來理解：時間軸為一個周期的長度，眼圖由四個部分組成：?！?”，“1”電平，“0”電平，?！?”電平?！?”電平和“0”電平并不是理想中的方波，而是有一定的上升和下降坡度，因此將這四種波形疊加起來，則就形成上面的眼圖。我們測試的要求是不能有點子落在這個眼圖模板內，否則，經過一定的光纖衰減，在接受機處很難分

3、辯出該點是“1”還是“0”。a.803C測試裝置圖：b.754、784測試裝置圖：注：a.光功率過大時（特別是2500M光以上），測試時光纖的輸入要加一定的衰減，以免燒壞儀器；b.由于784和754的光電轉換模塊有從光信號中提取時鐘的能力，因此不需要155M時鐘觸發(fā)線，但803C沒有能力提取時鐘，因此需要155M時鐘觸發(fā)線。1.1 接收機靈敏度1.1.1 指標含義這個參數指接收機在達到規(guī)定的比特差錯率所能接收到的最低平均光功率，考慮到余度，一般要求出廠的靈敏度比要求的還要小3dB，比如：L-16.2接收機的靈敏度為-28dBm，余度為3dB，因此出廠的接收機的靈敏度的指標應該為-31dBm。1

4、.1.2 測試儀表SDH分析儀，光衰減器，光功率計。1.1.3 指標定義1)STM-1：局內：-23dBm；短距：-28dBm；長距：-34dBm。2)STM-4：局內 ：-23dBm；短距、長距：-28dBm；3)STM-16：局內、短距：-18dBm；長距：L-16.1：-27dBm；L-16.2：-28dBm；L-16.3：-27dBm；1.1.4 測試裝置圖：1.2 接收機過載功率1.2.1 指標含義這個參數指接收機在達到規(guī)定的比特差錯率所能接收到的最高平均光功率。1.2.2 測試儀表SDH分析儀，光衰減器，光功率計。1.2.3 指標定義1)STM-1：局內、短距：-8dBm；長距 ：

5、-10dBm；2)STM-4：-8dBm；3)STM-16：局內、短距：1dBm；長距：L-16.1：1dBm；L-16.2：2dBm；L-16.3：1dBm；1.2.4 測試裝置圖：。1.3 光輸入口允許頻偏1.3.1 指標含義這個指標主要是測試接收機的鎖相環(huán)能力，對光口輸入頻偏的允許能力。1.3.2 指標定義20ppm。1.3.3 測試裝置圖：測試要求：SDH系統(tǒng)的時鐘跟蹤儀表的時鐘。1.4 輸出抖動1.4.1 指標含義所謂抖動，是指下面的意思：一個信號由于系統(tǒng)的時鐘、芯片的門限等的影響，因此引起了輸出數據的前后移動，當前后移抖動的頻率大于10HZ時，我們就認為，這一種現象是一種抖動，抖動

6、不能很大，否則會對下游站產生很不利的影響。抖動的單位為UI，所謂UI指光傳送比特率的倒數：STM-1：UI=6.43ns；STM-4：UI=1.61ns；STM-16：UI=0.40ns；1.4.2 測試儀表MP1550、MP1552B、MP3620、ANT-20、ANT-20E、HP-37717、HP-37718。1.4.3 指標定義等級最大輸出抖動峰峰值UIp-p測量濾波器參數B1B2f1（Hz）f2（kHz）f3（MHz）STM-10.750.15500651.3STM-40.750.151,0002505STM-160.750.155,0001,000201.1.1 測試裝置圖：測試要

7、求：SDH系統(tǒng)的時鐘跟蹤儀表的時鐘。1.2 抖動漂移容限1.2.1 指標含義簡單地說，就是指：SDH分析儀在光的輸入口對輸入數據加抖動或者漂移，設備所能容忍最大的抖動或者漂移峰峰值應該不小于規(guī)范的數值。1.2.2 測試儀表MP1550、MP1552B、MP3620、ANT-20、ANT-20E、HP-37717、HP-37718。1.2.3 指標定義這個指標是在G.825規(guī)定的，其模板為G.825模板。下面是抖動和漂移的參數：STM等級峰峰抖動和漂移幅度（UI）頻率（Hz）A0(18爉s)A1(2 ms)A2(0.25 ms)A3A4f0f12f11f10f9f8f1f2f3f4STM-102

8、 800311391.50.1512 m178 m1.6 m15.6 m0.1319.35006.5 k065 k1.3 MSTM-411 2001,2441561.50.1512 m178 m1.6 m15.6 m0.139.651,00025 k250 k05 MSTM-1644 7904,9776221.50.1512 m178 m1.6 m15.6 m0.1312.15,000100K1M20 M下面是抖動和漂移的模板： 這是93年以前規(guī)定的模板，93年以后的模板為G.958模板，這個模板將漂移去掉了，因為漂移在儀表上不能進行測試，儀表只能測試抖動容限，新的模板參數如下：STM-N l

9、evel (kHz)0 (kHz)A1 (UIp-p)A2 (UIp-p)STM-1 0065000 6.50.151.5STM-402501250.151.5STM-16 10001000.151.5新的G.958模板為：測試后出現的實際波形，應該在模板的上面，否則，定為不合格。注：以下測試都是測試的G.958模板。1.1.1 測試裝置圖：測試要求：SDH系統(tǒng)的時鐘跟蹤儀表的時鐘。1.1.2 測試步驟2)2M電接口比特率：2048kbit/s比特率容差：50ppm，即5010碼型：HDB33)34M電接口比特率：34368kbit/s比特率容差：20ppm，即2010碼型：HDB34)45M

10、電接口比特率：44736kbit/s比特率容差： 20ppm，即2010碼型：B3ZS5)140M電接口比特率：139264kbit/s比特率容差：15ppm，即1510碼型：CMI6)155M電接口比特率：155520kbit/s比特率容差： 20ppm，即2010碼型：CMI7)2MHz同步信號頻率：2048Hz頻率容差： 50ppm，即50101.1.3 測試配置圖支路輸出口測試線路輸出口測試1.1 輸入口允許頻偏1.1.1 指標含義指標含義是當輸入口接收到具有規(guī)定頻偏信號時，輸入口應能正常工作通常用設備不出現誤碼來判斷這個指標主要是測試接收機的鎖相環(huán)能力。指標定義各等級速率電輸入口允許

11、頻偏要求與相應輸出口比特率容差要求相同。1.1.2 測試配置圖支路輸入口測試線路輸入口測試1.1 映射抖動1.1.1 指標含義支路映射抖動是為了恢復支路信號，在SDH/PDH邊界，需要去掉塞入比特和通道開銷，從而留下了空隙，引入抖動和漂移。1.1.2 測試儀表HP37717、HP37718、ANT-20E1.1.3 指標定義PDH接口比特率容差范圍映射抖動濾波器特性F1F4UIF3F4UIF1高通F3高通F4低通2M500.40.07520Hz18kHz100kHz34M200.40.075100Hz10kHz800kHz45M200.40.1(建議)10Hz30kHz400kHz140M15

12、0.40.075200Hz10kHz3500kHz1.1.1 測試配置圖1.2 結合抖動1.2.1 指標含義由于指針調整是按單字節(jié)為單位或3字節(jié)為單位進行調整的，因而這種相位躍變會在SDH/PDH邊界處產生可觀的抖動和漂移。1.2.2 測試儀表HP37717、HP37718、ANT-20E注意測試結合抖動時應注意以下兩點：1、測試過程中應設置儀表和SDH設備同步。一般設置儀表使用內置時鐘，SDH設備跟蹤儀表時鐘；2、一般60秒作為一個測試周期，在測試過程中禁止更改儀表設置，包括增加凈荷的頻偏。1.2.3 指標定義PDH接口(kb/s)比特率容差范圍(ppm)結合抖動測試序列參數f1f4UIp-

13、pf3f4UIp-pT1(S)T2(ms)T3(ms)abcdabcd2,048500.40.40.4/0.0750.0750.075/=10750234,368200.40.40.40.750.0750.0750.0750.075=10340.5139,264150.40.40.40.750.0750.0750.0750.075=10340.5PDH接口(kb/s)比特率容差范圍(ppm)結合抖動（UI）f1f3f4f1-f4f3-f4（待研究）efiefi45M200.71.31.210HZ30KHZ400KHZt4=0.5ms 34ms=t510s，注意對于45M板應使用e、f、i（適用

14、于TUGS結構）指針系列測試，不能用g、h系列（適用于AU3結構）測試用指針序列a、b、c、d分別定義如下：a極性相反的單指針；b規(guī)則指針加一個雙指針；c漏掉一個指針的規(guī)則單指針；d極性相反的雙指針。下面以2M信號為例，解釋各個指針序列的定義：a指針序列：比如說目前的指針值為522相隔T1時間后將指針值減一即為521，再相隔T1時間后將指針值在加一即為522，就這樣循環(huán)往復就形成了指針序列a。b指針序列：比如說目前的指針值為522相隔T2時間后將指針值加一即為523，再相隔T2時間后將指針值加一即為524，如此循環(huán)4次后再隔T3的時間將指針值加一。就這樣按照四個T2加一個T3為一個循環(huán)周期，循環(huán)往復就形成了指針序列b。c指針序列：比如說目前的指針值為52