手機(jī)可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

1、可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)1 、 目的此可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的目的是盡可能的挖掘設(shè)計(jì)、制造過(guò)程中潛 在的問(wèn)題，在正式投產(chǎn)之前找到改善的方法并解決上述問(wèn)題點(diǎn)， 為 正式生產(chǎn)在產(chǎn)品質(zhì)量上作必要的保證； 并檢測(cè)產(chǎn)品是否具備設(shè)計(jì)上 的成熟性， 使用上的可靠性。 具體包括新產(chǎn)品的實(shí)驗(yàn)， 物料的實(shí)驗(yàn) 以及例行抽檢實(shí)驗(yàn)等。2、 適用范圍 此標(biāo)準(zhǔn)只適合輝燁通訊技術(shù)有限公司生產(chǎn)的移動(dòng)通訊產(chǎn)品。3、 可靠性測(cè)試項(xiàng)目及方法3.1 高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)試驗(yàn)?zāi)康模簷z驗(yàn)產(chǎn)品在高溫環(huán)境條件下存儲(chǔ)的適應(yīng)性。 試驗(yàn)設(shè)備：恒溫恒濕試驗(yàn)箱試驗(yàn)樣機(jī)： 24PCS試驗(yàn)內(nèi)容：試驗(yàn)樣機(jī)帶電池及電池后蓋，不插 SIM 卡關(guān)機(jī)狀態(tài) 以正常位置放進(jìn)試驗(yàn)箱內(nèi)。 使試驗(yàn)箱在

2、 30 分鐘內(nèi)溫 度達(dá)到70士 2 C,溫度穩(wěn)定后持續(xù)48小時(shí)。持續(xù)期 滿后將試驗(yàn)樣機(jī)在正常大氣條件下放置 2 小時(shí)，之 后對(duì)試驗(yàn)樣機(jī)進(jìn)行試驗(yàn)后檢查。判定標(biāo)準(zhǔn)：通過(guò)基本功能測(cè)試，外觀及結(jié)構(gòu)正常。3.2 低溫儲(chǔ)存試驗(yàn)試驗(yàn)?zāi)康模簷z驗(yàn)產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下存儲(chǔ)的適應(yīng)性。試驗(yàn)設(shè)備：恒溫恒濕試驗(yàn)箱試驗(yàn)樣機(jī)：24PCS試驗(yàn)內(nèi)容：試驗(yàn)樣機(jī)（需包裝）帶電池及電池后蓋，不插 SIM卡關(guān)機(jī)狀態(tài)以正常位置放進(jìn)試驗(yàn)箱內(nèi)。使試驗(yàn)箱在30分鐘內(nèi)溫度達(dá)到-20 士 3 C,溫度穩(wěn)定后持續(xù) 48小時(shí)。持續(xù)期滿后將試驗(yàn)樣機(jī)在正常大氣條件下放置 2 小時(shí)，之后對(duì)試驗(yàn)樣機(jī)進(jìn)行試驗(yàn)后檢查。判定標(biāo)準(zhǔn)：通過(guò)基本功能測(cè)試，外觀及結(jié)構(gòu)正常。3

3、.3 高溫工作試驗(yàn)試驗(yàn)?zāi)康模簷z驗(yàn)產(chǎn)品在高溫環(huán)境條件下使用的適應(yīng)性試驗(yàn)設(shè)備：恒溫恒濕試驗(yàn)箱試驗(yàn)樣機(jī)：24PCS試驗(yàn)內(nèi)容：試驗(yàn)樣機(jī)帶電池及電池后蓋，插上 SIM 卡及 T 卡， 處于待機(jī)狀態(tài)（滑 /翻蓋處于打開(kāi)狀態(tài)） ，以正常位 置放進(jìn)試驗(yàn)箱內(nèi)。使試驗(yàn)箱在 30 分鐘內(nèi)溫度達(dá)到 55士 2C,溫度穩(wěn)定后持續(xù)8小時(shí)。持續(xù)期滿后立即 對(duì)測(cè)試樣機(jī)進(jìn)行試驗(yàn)后檢查。判定標(biāo)準(zhǔn)：通過(guò)基本功能測(cè)試，外觀及結(jié)構(gòu)正常。3.4 低溫工作試驗(yàn)試驗(yàn)?zāi)康模簷z驗(yàn)產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下使用的適應(yīng)性試驗(yàn)設(shè)備：恒溫恒濕試驗(yàn)箱 試驗(yàn)樣機(jī)： 24PCS 試驗(yàn)內(nèi)容：試驗(yàn)樣機(jī)帶電池及電池后蓋，插上 SIM 卡及 T 卡， 處于待機(jī)狀態(tài)（滑 /

4、翻蓋處于打開(kāi)狀態(tài)） ，以正常位 置放進(jìn)試驗(yàn)箱內(nèi)。使試驗(yàn)箱在 30 分鐘內(nèi)溫度達(dá)到 -20 士 3 C,溫度穩(wěn)定后持續(xù)8小時(shí)。持續(xù)期滿后立 即對(duì)測(cè)試樣機(jī)進(jìn)行試驗(yàn)后檢查。判定標(biāo)準(zhǔn)：通過(guò)基本功能測(cè)試，外觀及結(jié)構(gòu)正常。3.5 滑蓋壽命試驗(yàn)試驗(yàn)?zāi)康模候?yàn)證機(jī)殼材料、FPG滑軌的壽命以及滑蓋組件結(jié)構(gòu) 的配合壽命。試驗(yàn)設(shè)備：滑蓋壽命測(cè)試機(jī)試驗(yàn)樣機(jī)： 24PCS 試驗(yàn)內(nèi)容：試驗(yàn)樣機(jī)帶電池及電池后蓋，插上 SIM 卡，處于待 機(jī)狀態(tài)；以 2535次/ 分的速度滑動(dòng)滑蓋， 來(lái)回為一 次；要求滑蓋須達(dá)到最大活動(dòng)位置及最小活動(dòng)位置； 每 2萬(wàn)次進(jìn)行外觀功能全檢。 試驗(yàn)總數(shù)為 10萬(wàn)次（出 貨為 6 萬(wàn)次）。判定標(biāo)準(zhǔn)：滑

5、蓋壽命至少 10 萬(wàn)次；外觀和結(jié)構(gòu)正常，未有明顯 的裂紋/破損；無(wú)明顯異常響聲； 允許打開(kāi)時(shí)有阻滯 感，打開(kāi)滑蓋后整個(gè)滑蓋組件可前后左右輕微晃動(dòng)； 必須通過(guò)基本功能測(cè)試。3.6 翻蓋壽命試驗(yàn)試驗(yàn)?zāi)康模候?yàn)證機(jī)殼材料、FPC轉(zhuǎn)軸的壽命以及翻蓋組件結(jié)構(gòu)的配合壽命。試驗(yàn)設(shè)備：翻蓋壽命測(cè)試機(jī)試驗(yàn)樣機(jī)： 24PCS 試驗(yàn)內(nèi)容：試驗(yàn)樣機(jī)帶電池及電池后蓋，插上SIM 卡，處于待機(jī)狀態(tài)；以 2535次/ 分的速度翻動(dòng)翻蓋， 來(lái)回為一 次；要求翻蓋須達(dá)到最大活動(dòng)位置；每 2 萬(wàn)次進(jìn)行 外觀功能全檢。試驗(yàn)總數(shù)為 10萬(wàn)次（出貨為 6 萬(wàn)次）。判定標(biāo)準(zhǔn)： 翻蓋壽命至少 10 萬(wàn)次；外觀和結(jié)構(gòu)正常， 未有明顯 的裂紋/

6、 破損；無(wú)明顯異常響聲； 允許打開(kāi)時(shí)有阻滯 感，打開(kāi)翻蓋后整個(gè)翻蓋組件可前后左右輕微晃動(dòng)； 必須通過(guò)基本功能測(cè)試。3.7 靜電放電抗擾度試驗(yàn)試驗(yàn)?zāi)康模簷z驗(yàn)產(chǎn)品的抗靜電性能試驗(yàn)設(shè)備：靜電儀、綜測(cè)儀試驗(yàn)樣機(jī)： 24PCS試驗(yàn)內(nèi)容：1）試驗(yàn)環(huán)境為溫度15 35oC;濕度3060%RH2 ）試驗(yàn)時(shí)要求手機(jī)處于開(kāi)機(jī)充電通話狀態(tài)， 在正負(fù) 電壓、帶與不帶充電器、 翻 / 滑蓋閉合與滑開(kāi)幾種狀 態(tài)下試驗(yàn)。3 ）對(duì)于裸露在機(jī)身表面的金屬部分使用接觸放電， 其他區(qū)域則使用空氣放電; 每個(gè)測(cè)試點(diǎn)放電 10 次為 一組，共進(jìn)行兩組。4 ）空氣放電標(biāo)準(zhǔn)為士 8KV接觸放電標(biāo)準(zhǔn)為士 4KV。5 ）試驗(yàn)完畢檢查手機(jī)的各項(xiàng)

7、基本功能， 并進(jìn)行電性 能檢查。判定標(biāo)準(zhǔn)：樣機(jī)出現(xiàn)功能暫時(shí)性（失效時(shí)間大于 3 秒）或永久 性失效（故障不恢復(fù)）判為不合格。樣機(jī)出現(xiàn)閃屏 或 3 秒內(nèi)可自行恢復(fù)之故障判為合格。 樣機(jī)出現(xiàn)射頻對(duì)比測(cè)試數(shù)據(jù)異常（接收?qǐng)?bào)告電平與 功率相差大于 3）判為不合格。樣機(jī)出現(xiàn)嚴(yán)重外觀 不良（ 如鏡片及裝飾牌等嚴(yán)重掉漆 ） ，應(yīng)判定為不合 格。3.8 10 cm裸機(jī)微跌試驗(yàn)試驗(yàn)?zāi)康模簷z驗(yàn)產(chǎn)品在使用中產(chǎn)生輕微撞擊的適應(yīng)性。 試驗(yàn)設(shè)備：手機(jī)跌落測(cè)試機(jī) 試驗(yàn)樣機(jī)： 24PCS試驗(yàn)內(nèi)容：試驗(yàn)樣機(jī)插SIM卡開(kāi)機(jī)，翻/滑蓋機(jī)閉合狀態(tài)；跌落 面為鋁板；跌落高度為10 cm；跌落方式：樣機(jī) 6 個(gè)面每面跌落 500 次為一循

8、環(huán)，共 4 個(gè)循環(huán)；每完 成一個(gè)循環(huán)檢查一次試驗(yàn)樣機(jī)的外觀及基本功能； 測(cè)試速度為 15 次/分；判定標(biāo)準(zhǔn)： 通過(guò)基本功能測(cè)試， 未有明顯的裂紋 / 破損，內(nèi)部無(wú) 零件松動(dòng)或異常。3.9 1m 裸機(jī)跌落試驗(yàn) 試驗(yàn)?zāi)康模簷z驗(yàn)產(chǎn)品多次跌落的適應(yīng)性 試驗(yàn)設(shè)備：手機(jī)跌落測(cè)試機(jī) 試驗(yàn)樣機(jī)： 24PCS試驗(yàn)內(nèi)容：試驗(yàn)樣機(jī)插SIM卡處于通電待機(jī)狀態(tài)，從1m高度（如果 LCM 面積超過(guò)手機(jī)表面積 60%，跌落高度為 50cm）,初速度為0并自由跌落于光滑混凝土地面上；6個(gè)面，每個(gè)面跌落 2次，共 12 次（翻蓋機(jī)型增加 跌翻蓋打開(kāi) 2 面， 8 個(gè)面共 16 次）；試驗(yàn)結(jié)束對(duì)試 驗(yàn)樣機(jī)進(jìn)行全面檢測(cè)。判定標(biāo)準(zhǔn)： 通過(guò)基本功能測(cè)試， 未有明顯的裂紋 / 破損，內(nèi)部無(wú) 零件松動(dòng)或異常。3.10 1.5m 裸機(jī)跌落試驗(yàn)試驗(yàn)?zāi)康模簷z驗(yàn)產(chǎn)品多次跌落的適應(yīng)性 試驗(yàn)設(shè)備：手機(jī)跌落測(cè)試機(jī)試驗(yàn)樣機(jī)： 24PCS試驗(yàn)內(nèi)容：試驗(yàn)樣機(jī)插SIM卡處于通電待機(jī)狀態(tài)，從1.5m高度（如果 LCM 面積超過(guò)手機(jī)表面積 60%，跌落高度 為75