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文檔簡介

1、1多晶硅片外觀檢驗方法培訓2多晶硅片外觀主要缺陷項目項目內容內容易檢方位易檢方位晶體微晶、雪花晶、分布晶硅片正面完整度廢片、缺角、缺口、裂紋、側面表面線痕、崩邊、污片、穿孔、凹坑、色差硅片正面、側面31. 1. 穿上工作服，按規(guī)定戴上手套、口罩、頭罩。穿上工作服，按規(guī)定戴上手套、口罩、頭罩。按規(guī)范穿戴戴兩層手套42. 翻轉片盒，垂直提起片盒，取出硅片 。 翻轉片盒取出硅片53. 檢查四邊，挑選：缺口、缺角、碎片、廢片、崩邊、裂紋。檢查四邊挑出不良品64. 將硅片展開：整體檢查硅片邊緣的線痕、崩邊、污片情況。展 開污 片75. 扇形打開，逐片檢驗硅片正反面：微晶、雪花晶、分布晶線痕、污片、凹坑、

2、崩邊、裂紋、穿孔、色差、廢片(注意：此環(huán)節(jié)一定要每一片從上而下，自左而右認真檢驗，25pcs一面檢驗完畢，再打開檢驗另一面）微 晶展開，逐片檢驗86.左手執(zhí)片，右手撮動硅片數數，25pcs1個單位，數好放置于備有太陽能級墊片紙的潔凈泡沫盒內。數 數 25pcs放置97.檢驗合格后4個25片，放一打，再整體檢驗四邊，有無崩邊、缺口等，數量補齊放置盒中。復檢四邊 挑 出 崩 邊 100pcs108.套上塑料袋、加上白卡和外袋套上內層pvc袋放入裝有白卡的外袋119.300pcs歸入一個泡沫盒，并稱重確認數量10.確認好的硅片送至包裝區(qū)包裝.300pcs稱重、計數12小小 結結結合實際操作結合實際操作,個人總結出多晶硅片外觀檢驗的動作要點為個人總結出多晶硅片外觀檢驗的動作要點為: 1提2取， 3看四邊,4查邊緣； 5檢表面分正反； 6數二五（25pcs)歸入盒 ； 7要四個二五(25pcs)并成百 (100pcs) ； 8（把）好關口再復檢(四

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