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1、第六章課后習(xí)題解析1.一個(gè)Ge突變結(jié)的p區(qū)n區(qū)摻雜濃度分別為NA=1017cm-3和ND=5´1015cm-3,該pn結(jié)室溫下的自建電勢(shì)。解:pn結(jié)的自建電勢(shì) 已知室溫下,eV,Ge的本征載流子密度 代入后算得:4.證明反向飽和電流公式(6-35)可改寫為式中,和分別為n型和p型半導(dǎo)體電導(dǎo)率,為本征半導(dǎo)體電導(dǎo)率。證明:將愛因斯坦關(guān)系式和代入式(6-35)得因?yàn)?,上式可進(jìn)一步改寫為又因?yàn)榧磳⒋私Y(jié)果代入原式即得證 注:嚴(yán)格說,遷移率與雜質(zhì)濃度有關(guān),因而同種載流子的遷移率在摻雜濃度不同的p區(qū)和n區(qū)中并不完全相同,因而所證關(guān)系只能說是一種近似。2.試分析小注入時(shí),電子(空穴)在5個(gè)區(qū)域中的運(yùn)
2、動(dòng)情況(分析漂移和擴(kuò)散的方向及相對(duì)大?。┐穑赫蛐∽⑷胂拢琍區(qū)接電源正極,N區(qū)接電源負(fù)極,勢(shì)壘高度降低,P區(qū)空穴注入N區(qū),N區(qū)電子注入P區(qū)。 注入電子在P區(qū)與勢(shì)壘區(qū)交界處堆積,濃度高于P區(qū)平衡空穴濃度,形成流向中性P區(qū)的擴(kuò)散流,擴(kuò)散過程中不斷與中性P區(qū)漂移過來的空穴復(fù)合,經(jīng)過若干擴(kuò)散長(zhǎng)度后,全部復(fù)合。 注入空穴在N區(qū)與勢(shì)壘區(qū)交界處堆積,濃度比N區(qū)平衡電子濃度高,形成濃度梯度,產(chǎn)生流向中性N區(qū)的空穴擴(kuò)散流,擴(kuò)散過程中不斷與中性N區(qū)漂移過來的電子復(fù)合,經(jīng)過若干擴(kuò)散長(zhǎng)度后,全部復(fù)合。 3.在反向情況下坐上題。答:反向小注入下,P區(qū)接電源負(fù)極,N區(qū)接電源正極,勢(shì)壘區(qū)電場(chǎng)強(qiáng)度增加,空間電荷增加,勢(shì)壘區(qū)邊
3、界向中性區(qū)推進(jìn)。勢(shì)壘區(qū)與N區(qū)交界處空穴被勢(shì)壘區(qū)強(qiáng)電場(chǎng)驅(qū)向P區(qū),漂移通過勢(shì)壘區(qū)后,與P區(qū)中漂移過來的空穴復(fù)合。中性N區(qū)平衡空穴濃度與勢(shì)壘區(qū)與N區(qū)交界處空穴濃度形成濃度梯度,不斷補(bǔ)充被抽取的空穴,對(duì)PN結(jié)反向電流有貢獻(xiàn)。同理,勢(shì)壘區(qū)與P區(qū)交界處電子被勢(shì)壘區(qū)強(qiáng)電場(chǎng)驅(qū)向N區(qū),漂移通過勢(shì)壘區(qū)后,與N區(qū)中漂移過來的電子復(fù)合。中性P區(qū)平衡電子濃度與勢(shì)壘區(qū)與P區(qū)交界處電子濃度形成濃度梯度,不斷補(bǔ)充被抽取的電子,對(duì)PN結(jié)反向電流有貢獻(xiàn)。反向偏壓較大時(shí),勢(shì)壘區(qū)與P區(qū)、N區(qū)交界處的少子濃度近似為零,少子濃度梯度不隨外加偏壓變化,反向電流飽和。5.一硅突變pn結(jié)的n區(qū)rn=5W×cm,tp=1ms;p區(qū)rp
4、=0.1W×cm,tn=5ms,計(jì)算室溫下空穴電流與電子電流之比、飽和電流密度,以及在正向電壓0.3V時(shí)流過p-n結(jié)的電流密度。解:由,查得,由,查得,由愛因斯坦關(guān)系可算得相應(yīng)的擴(kuò)散系數(shù)分別為,相應(yīng)的擴(kuò)散長(zhǎng)度即為對(duì)摻雜濃度較低的n區(qū),因?yàn)殡s質(zhì)在室溫下已全部電離,所以對(duì)p區(qū),雖然NA=5´1017cm-3時(shí)雜質(zhì)在室溫下已不能全部電離,但仍近似認(rèn)為pp0=NA,于是,可分別算得空穴電流和電子電流為空穴電流與電子電流之比 飽和電流密度:當(dāng)U=0.3V時(shí):=6條件與上題相同,計(jì)算下列電壓下的勢(shì)壘區(qū)寬度和單位面積上的勢(shì)壘電容:10V;0V;0.3V。解:對(duì)上題所設(shè)的p+n結(jié),其勢(shì)壘寬
5、度 式中,外加偏壓U后,勢(shì)壘高度變?yōu)?,因?U=10V時(shí),勢(shì)壘區(qū)寬度和單位面積勢(shì)壘電容分別為 U=0V時(shí),勢(shì)壘區(qū)寬度和單位面積勢(shì)壘電容分別為 U=0.3V 正向偏壓下的pn結(jié)勢(shì)壘電容不能按平行板電容器模型計(jì)算,但近似為另偏壓勢(shì)壘電容的4倍,即7.計(jì)算當(dāng)溫度從300K增加到400K時(shí),硅pn結(jié)反向電流增加的倍數(shù)。解:根據(jù)反向飽和電流JS對(duì)溫度的依賴關(guān)系(講義式(626)或參考書p.193):式中,Eg(0)表示絕對(duì)零度時(shí)的禁帶寬度。由于比其后之指數(shù)因子隨溫度的變化緩慢得多,主要是由其指數(shù)因子決定,因而9.已知突變結(jié)兩邊的雜質(zhì)濃度為NA=1016cm-3,ND=1020cm-3。求勢(shì)壘高度和勢(shì)壘寬
6、度 畫出E(x)和V(x)圖。解:平衡勢(shì)壘高度為11.分別計(jì)算硅n+p結(jié)在正向電壓為0.6V、反向電壓為40V時(shí)的勢(shì)壘區(qū)寬度。已知NA=5*1017cm-3,VD=0.8V。解:對(duì)n+-p結(jié)勢(shì)壘區(qū)寬度當(dāng)時(shí),當(dāng)時(shí),12分別計(jì)算硅p+n結(jié)在平衡和反向電壓45V時(shí)的最大電場(chǎng)強(qiáng)度。已知VD=0.7V,。解:勢(shì)壘寬度:平衡時(shí),即U=0V時(shí) 最大場(chǎng)強(qiáng):時(shí): 最大場(chǎng)強(qiáng)13.求題5所給硅p+n的反向擊穿電壓、擊穿前的空間電荷區(qū)寬度及其中的平均電場(chǎng)強(qiáng)度。解:按突變結(jié)擊穿電壓與低摻雜區(qū)電阻率的關(guān)系,可知其雪崩擊穿電壓UB = 95.1495.14´751/4=318 V或按其n區(qū)摻雜濃度9´1
7、014/cm3按下式算得UB =60=60´ (100/9)3/4=365(V)二者之間有計(jì)算誤差。以下計(jì)算取300V為擊穿前的臨界電壓。擊穿前的空間電荷區(qū)寬度空間電荷區(qū)中的平均電場(chǎng)強(qiáng)度注:硅的臨界雪崩擊穿電場(chǎng)強(qiáng)度為3´105 V/cm,計(jì)算結(jié)果與之基本相符。14.設(shè)隧道長(zhǎng)度,求硅、鍺、砷化鎵在室溫下電子的隧穿幾率。解:隧穿幾率 對(duì)硅:,爾格 對(duì)鍺:, 對(duì)砷化鎵:,第七章課后習(xí)題解析1求Al-Cu、Au-Cu、W-Al、Cu-Ag、Al-Au、Mo-W、Au-Pt的接觸電勢(shì)差,并標(biāo)出電勢(shì)的正負(fù)。解:題中相關(guān)金屬的功函數(shù)如下表所示:元素AlCuAuWAgMoPt功函數(shù)4.18
8、4.595.204.554.424.215.43 對(duì)功函數(shù)不同的兩種材料的理想化接觸,其接觸電勢(shì)差為:故: 2、兩種金屬A和B通過金屬C相接觸,若溫度相等,證明其兩端a、b的電勢(shì)差同A、B直接接觸的電勢(shì)差一樣。如果A是Au,B是Ag,C是Cu或Al,則Vab為多少伏?解:溫度均相等,不考慮溫差電動(dòng)勢(shì),兩式相加得:顯然,VAB與金屬C無關(guān)。若A為Au,B為Ag,C為Al或Cu,則VAB與Cu、Al無關(guān),其值只決定于WAu=5.2eV,WAg=4.42eV,即3、求ND=1017cm-3的n型硅在室溫下的功函數(shù)。若不考慮表面態(tài)的影響,它分別同Al、Au、Mo接觸時(shí),形成阻擋層還是反阻擋層?硅的電子
9、親和能取4.05ev。解:設(shè)室溫下雜質(zhì)全部電離,則其費(fèi)米能級(jí)由n0=ND=5´1015cm-3求得:其功函數(shù)即為:若將其與功函數(shù)較小的Al(WAl=4.18eV)接觸,則形成反阻擋層,若將其與功函數(shù)較大的Au(WAu=5.2eV)和Mo(WMo=4.21eV)則形成阻擋層。5、某功函數(shù)為2.5eV的金屬表面受到光的照射。 這個(gè)面吸收紅色光或紫色光時(shí),能發(fā)射電子嗎? 用波長(zhǎng)為185nm的紫外線照射時(shí),從表面發(fā)射出來的電子的能量是多少?解:設(shè)紅光波長(zhǎng)l700nm;紫光波長(zhǎng)l400nm,則紅光光子能量其值小于該金屬的功函數(shù),所以紅光照射該金屬表面不能令其發(fā)射電子;而紫光光子能量:其值大于該金屬的功函數(shù),所以紫光照射該金屬表面能令其發(fā)射電子。 l185nm的紫外光光子能量為:發(fā)射出來的電子的能量:6、電阻率為的n型
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