環(huán)境監(jiān)測崗位技能培訓(xùn)總結(jié)交流ppt課件

1、LOGO20212021年年7 7月月1212日日 蘇州大學(xué)環(huán)境監(jiān)測崗位技藝培訓(xùn)蘇州大學(xué)環(huán)境監(jiān)測崗位技藝培訓(xùn)總結(jié)交流總結(jié)交流LOGO目目 錄錄LOGO1.1.數(shù)據(jù)處置數(shù)據(jù)處置1.1.11.1.1定義：定義：探測限是指在一定置信度程度下，某種丈量方法所能監(jiān)測到放射性活探測限是指在一定置信度程度下，某種丈量方法所能監(jiān)測到放射性活度度的最小期望值。的最小期望值。由于放射性活度的丈量都是經(jīng)過凈計數(shù)的丈量再由相關(guān)的公式計算得由于放射性活度的丈量都是經(jīng)過凈計數(shù)的丈量再由相關(guān)的公式計算得出出，因此通常所說的均為凈計數(shù)的探測限，給出的普通公式為：，因此通常所說的均為凈計數(shù)的探測限，給出的普通公式為：其中：其中

2、： 為最小可探測計數(shù)的期望值，為最小可探測計數(shù)的期望值， 為樣品丈量時間為樣品丈量時間與本與本底丈量時間一樣時，本底計數(shù)的期望值。底丈量時間一樣時，本底計數(shù)的期望值。1.11.1低程度放射性丈量中的探測限及其計算低程度放射性丈量中的探測限及其計算bDML65.4DLbMLOGO1.1.數(shù)據(jù)處置數(shù)據(jù)處置探測下限探測下限LLDnLLDn：最小可探測樣品的凈計數(shù)，當(dāng)樣品丈量時間和：最小可探測樣品的凈計數(shù)，當(dāng)樣品丈量時間和本底丈量時間相等時，采用泊松分布規(guī)范，統(tǒng)計置信程度本底丈量時間相等時，采用泊松分布規(guī)范，統(tǒng)計置信程度95%95%。最小可探測樣品凈計數(shù)最小可探測樣品凈計數(shù)LLDnLLDn由下式計算：

3、由下式計算：小于探測下限數(shù)據(jù)的處置有兩種方法：第一種是假設(shè)丈量結(jié)果小于探測下限數(shù)據(jù)的處置有兩種方法：第一種是假設(shè)丈量結(jié)果小小于探測下限，那么結(jié)果用于探測下限，那么結(jié)果用“LLD“LLD表示；第二種是在對結(jié)果進表示；第二種是在對結(jié)果進展展統(tǒng)計分析時，對丈量結(jié)果低于探測下限的數(shù)據(jù)，常規(guī)監(jiān)測思索統(tǒng)計分析時，對丈量結(jié)果低于探測下限的數(shù)據(jù)，常規(guī)監(jiān)測思索到最大平安原那么，取到最大平安原那么，取LLDLLD參與統(tǒng)計。參與統(tǒng)計。 1.2.1 1.2.1 計數(shù)率的誤差計數(shù)率的誤差bbntnLLD65. 4LOGO1.1.數(shù)據(jù)處置數(shù)據(jù)處置1.1.21.1.2計算：計算：在實踐丈量任務(wù)中，探測限的計算關(guān)鍵在于如何了

4、解本底計數(shù)在實踐丈量任務(wù)中，探測限的計算關(guān)鍵在于如何了解本底計數(shù) 。本底計數(shù)不能簡單的了解為空白本底或空盒本底的丈量計數(shù)。不本底計數(shù)不能簡單的了解為空白本底或空盒本底的丈量計數(shù)。不同的丈量方法，其詳細含義有著很大的差別，但無論什么丈量方同的丈量方法，其詳細含義有著很大的差別，但無論什么丈量方法，它都是計算待測樣品凈計數(shù)時，從總計數(shù)中應(yīng)該扣除的一切法，它都是計算待測樣品凈計數(shù)時，從總計數(shù)中應(yīng)該扣除的一切本底計數(shù)。如環(huán)境本底、康普頓散射本底、其他核素的干擾等。本底計數(shù)。如環(huán)境本底、康普頓散射本底、其他核素的干擾等?？偪偤涂偤涂傉闪恐械谋镜子嫈?shù)指的是探測系統(tǒng)對空樣品盤丈量的計數(shù)丈量中的本底計數(shù)指的是

5、探測系統(tǒng)對空樣品盤丈量的計數(shù)。但該當(dāng)留意的是當(dāng)樣品厚度較大時，由于樣品本身對。但該當(dāng)留意的是當(dāng)樣品厚度較大時，由于樣品本身對、射射線有屏蔽作用，從而使實踐丈量時應(yīng)扣除的本底計數(shù)減少，所以線有屏蔽作用，從而使實踐丈量時應(yīng)扣除的本底計數(shù)減少，所以 需做適當(dāng)修正。需做適當(dāng)修正。1.11.1低程度放射性丈量中的探測限及其計算低程度放射性丈量中的探測限及其計算bMbMLOGO1.1.數(shù)據(jù)處置數(shù)據(jù)處置1.1.21.1.2計算：計算：當(dāng)用液體閃爍計數(shù)系統(tǒng)丈量某種當(dāng)用液體閃爍計數(shù)系統(tǒng)丈量某種放射性核素時，放射性核素時， 指的是探測指的是探測系統(tǒng)對不含待測核素的系統(tǒng)對不含待測核素的“純液體加進閃爍液后所測得的本

6、底計純液體加進閃爍液后所測得的本底計數(shù)。實踐上絕對純的液體是不存在的，因此用這種數(shù)。實踐上絕對純的液體是不存在的，因此用這種“純液體所純液體所丈量本底所得的探測限比應(yīng)有的探測限高。丈量本底所得的探測限比應(yīng)有的探測限高。當(dāng)用當(dāng)用HPGeHPGe譜儀分析某種待測核素時，本底計數(shù)不但包含空本底凈計譜儀分析某種待測核素時，本底計數(shù)不但包含空本底凈計數(shù)，還包括丈量待測樣品的康普頓散射本底計數(shù)，普通情況下，數(shù)，還包括丈量待測樣品的康普頓散射本底計數(shù)，普通情況下，核素的全能峰滿足正態(tài)分布，這樣可以導(dǎo)出覆蓋全能峰時應(yīng)取的核素的全能峰滿足正態(tài)分布，這樣可以導(dǎo)出覆蓋全能峰時應(yīng)取的譜線本底寬度為譜線本底寬度為2.5

7、4FWHM2.54FWHM半頂峰寬。半頂峰寬。1.11.1低程度放射性丈量中的探測限及其計算低程度放射性丈量中的探測限及其計算bMLOGO1.1.數(shù)據(jù)處置數(shù)據(jù)處置放射性丈量，由于核衰變事件本身的統(tǒng)計性和探測器記錄粒子放射性丈量，由于核衰變事件本身的統(tǒng)計性和探測器記錄粒子的隨機性，丈量數(shù)據(jù)本身也服從統(tǒng)計規(guī)律。各次丈量數(shù)據(jù)總圍的隨機性，丈量數(shù)據(jù)本身也服從統(tǒng)計規(guī)律。各次丈量數(shù)據(jù)總圍繞其平均值上下動搖，當(dāng)丈量次數(shù)足夠多時，放射性丈量數(shù)據(jù)繞其平均值上下動搖，當(dāng)丈量次數(shù)足夠多時，放射性丈量數(shù)據(jù)依然服從高斯分布。依然服從高斯分布。 對于一次丈量對于一次丈量N N，其規(guī)范誤差：，其規(guī)范誤差： 相對規(guī)范誤差：相

8、對規(guī)范誤差：1.2 1.2 統(tǒng)計誤差統(tǒng)計誤差NNNNNNNN1LOGO1.1.數(shù)據(jù)處置數(shù)據(jù)處置設(shè)在時間設(shè)在時間t t內(nèi)記錄了內(nèi)記錄了N N個計數(shù)，那么計數(shù)率個計數(shù)，那么計數(shù)率n=N/tn=N/t，根據(jù)誤差傳，根據(jù)誤差傳播播公式，計數(shù)率公式，計數(shù)率n n的規(guī)范誤差：的規(guī)范誤差：計數(shù)率的相對誤差：計數(shù)率的相對誤差： 1.2.1 1.2.1 計數(shù)率的誤差計數(shù)率的誤差Nntnnnn1/tntNtNn222LOGO1.1.數(shù)據(jù)處置數(shù)據(jù)處置由于本底的存在，會使探測器測得的計數(shù)添加，所以應(yīng)將它們由于本底的存在，會使探測器測得的計數(shù)添加，所以應(yīng)將它們扣除，這時，為求得凈計數(shù)率需求進展兩次丈量：第一次在時扣除，

9、這時，為求得凈計數(shù)率需求進展兩次丈量：第一次在時間間tbtb內(nèi)測得本底計數(shù)為內(nèi)測得本底計數(shù)為NbNb，第二次在時間，第二次在時間tsts內(nèi)測得樣品計數(shù)內(nèi)測得樣品計數(shù)NsNs，凈計數(shù)率：凈計數(shù)率：凈計數(shù)率的規(guī)范誤差：凈計數(shù)率的規(guī)范誤差： 1.2.2 1.2.2 存在本底時誤差的計算存在本底時誤差的計算bsbstNtNnnnbs0bsbstntntNtNbsbsn220LOGO1.1.數(shù)據(jù)處置數(shù)據(jù)處置1.3.11.3.1有效數(shù)字的位數(shù)和數(shù)位：有效數(shù)字的位數(shù)和數(shù)位：當(dāng)用一個近似數(shù)表示一個量值時，通常規(guī)定其誤差的絕對值不得超當(dāng)用一個近似數(shù)表示一個量值時，通常規(guī)定其誤差的絕對值不得超 過末尾有效數(shù)字的過

10、末尾有效數(shù)字的0.5(0.5(只保管一位可疑數(shù)字只保管一位可疑數(shù)字) )。對某一丈量數(shù)據(jù)，從該數(shù)左邊第一個不為零的數(shù)字算起到包括零的最末對某一丈量數(shù)據(jù)，從該數(shù)左邊第一個不為零的數(shù)字算起到包括零的最末一位數(shù)字為止的全部數(shù)字，都稱為有效數(shù)字。一位數(shù)字為止的全部數(shù)字，都稱為有效數(shù)字。某一數(shù)據(jù)有效數(shù)字的位數(shù)是指該數(shù)據(jù)的有效數(shù)字有幾位？某一數(shù)據(jù)有效數(shù)字的位數(shù)是指該數(shù)據(jù)的有效數(shù)字有幾位？數(shù)據(jù)中某一位有效數(shù)字的數(shù)位指的是該位數(shù)字是個位、十還是百位、？數(shù)據(jù)中某一位有效數(shù)字的數(shù)位指的是該位數(shù)字是個位、十還是百位、？ 1.3 1.3 丈量數(shù)據(jù)的有效數(shù)字丈量數(shù)據(jù)的有效數(shù)字丈量數(shù)據(jù) 328103 32.8 3.281

11、0-3 0.050 0.0500 有效數(shù)字位數(shù) 33323第2位有效數(shù)字數(shù)位 萬位個位小數(shù)點后4位 小數(shù)點后3位小數(shù)點后3位LOGO1.1.數(shù)據(jù)處置數(shù)據(jù)處置1.3.21.3.2數(shù)字修約規(guī)那么數(shù)字修約規(guī)那么過去過去通常運用通常運用“四舍五入的規(guī)那么。四舍五入的規(guī)那么。如今如今引薦運用引薦運用“四舍六入五湊偶規(guī)那么四舍六入五湊偶規(guī)那么: :以被保管數(shù)字的末位為基準(zhǔn)，以被保管數(shù)字的末位為基準(zhǔn)，假設(shè)遇到它后面的尾數(shù)小于假設(shè)遇到它后面的尾數(shù)小于5(45(4以下以下) )，那么該尾數(shù)被舍棄；，那么該尾數(shù)被舍棄；假設(shè)遇到它后面的尾數(shù)大于假設(shè)遇到它后面的尾數(shù)大于5(65(6以上以上) )，那么末位數(shù)進，那么末

12、位數(shù)進1 1；假設(shè)尾數(shù)恰為假設(shè)尾數(shù)恰為5 5，那么要根據(jù)被保管數(shù)字的末位數(shù)而定。當(dāng)末尾數(shù)，那么要根據(jù)被保管數(shù)字的末位數(shù)而定。當(dāng)末尾數(shù)為奇數(shù)時，末尾數(shù)進為奇數(shù)時，末尾數(shù)進1 1；當(dāng)末尾數(shù)為偶數(shù)時，尾數(shù)；當(dāng)末尾數(shù)為偶數(shù)時，尾數(shù)5 5被舍棄。被舍棄。 1.3 1.3 丈量數(shù)據(jù)的有效數(shù)字丈量數(shù)據(jù)的有效數(shù)字LOGO1.1.數(shù)據(jù)處置數(shù)據(jù)處置 1.3.2 1.3.2數(shù)字修約規(guī)那么數(shù)字修約規(guī)那么對一個數(shù)據(jù)，不應(yīng)多次修約，只能進展一次性修約。對一個數(shù)據(jù)，不應(yīng)多次修約，只能進展一次性修約。有一個實踐丈量的數(shù)據(jù)有一個實踐丈量的數(shù)據(jù)0.811490.81149。取。取4 4位有效數(shù)字時，應(yīng)得位有效數(shù)字時，應(yīng)得0.81

13、150.8115；再再取其取其3 3位時，為位時，為0.8120.812；假設(shè)直接由原數(shù)據(jù)??；假設(shè)直接由原數(shù)據(jù)取3 3位有效數(shù)字，那么應(yīng)為位有效數(shù)字，那么應(yīng)為0.8110.811。3 3位有效數(shù)字取位有效數(shù)字取0.8110.811是正確的。是正確的。 1.3 1.3 丈量數(shù)據(jù)的有效數(shù)字丈量數(shù)據(jù)的有效數(shù)字原數(shù)據(jù) 299346 0.00003775 196500 0.002300 取3位有效數(shù)字299103 3.7810-5 1.961052.3010-3LOGO1.1.數(shù)據(jù)處置數(shù)據(jù)處置1.3.31.3.3數(shù)字運算規(guī)那么：數(shù)字運算規(guī)那么：1).1).幾個數(shù)作加、減運算：幾個數(shù)作加、減運算： 以小數(shù)

14、位數(shù)最少的數(shù)為基準(zhǔn)，其它各數(shù)都湊成比該數(shù)多以小數(shù)位數(shù)最少的數(shù)為基準(zhǔn)，其它各數(shù)都湊成比該數(shù)多1 1位小數(shù)的位小數(shù)的數(shù)參與運算；運算結(jié)果取小數(shù)位數(shù)最少的位數(shù)。例如：數(shù)參與運算；運算結(jié)果取小數(shù)位數(shù)最少的位數(shù)。例如： 183.4396 183.43960.178290.1782934.534.5183.44183.440.180.1834.534.5218.12218.12218.1218.1； 159.4-83.46-16.41 159.4-83.46-16.4159.5359.5359.559.5。 2).2).幾個數(shù)作乘、除運算：幾個數(shù)作乘、除運算： 各數(shù)中以有效數(shù)字位數(shù)最少的數(shù)為基準(zhǔn)，其它各數(shù)

15、都湊成比該數(shù)各數(shù)中以有效數(shù)字位數(shù)最少的數(shù)為基準(zhǔn)，其它各數(shù)都湊成比該數(shù)多多1 1位有效數(shù)字的數(shù)參與運算；運算結(jié)果取小數(shù)位數(shù)最少的位數(shù)。位有效數(shù)字的數(shù)參與運算；運算結(jié)果取小數(shù)位數(shù)最少的位數(shù)。 1.3 1.3 丈量數(shù)據(jù)的有效數(shù)字丈量數(shù)據(jù)的有效數(shù)字LOGO1.1.數(shù)據(jù)處置數(shù)據(jù)處置1.3.41.3.4有效數(shù)字位數(shù)確實定：有效數(shù)字位數(shù)確實定：直接丈量讀數(shù)的有效數(shù)字位數(shù)取決于丈量設(shè)備的精度。丈量讀數(shù)中，最直接丈量讀數(shù)的有效數(shù)字位數(shù)取決于丈量設(shè)備的精度。丈量讀數(shù)中，最多只保管一位可疑數(shù)字，這一位可疑數(shù)字來源于估計值。多只保管一位可疑數(shù)字，這一位可疑數(shù)字來源于估計值。在放射性丈量中，射線強度的間接丈量得到的是射

16、線計數(shù)，能譜分析中在放射性丈量中，射線強度的間接丈量得到的是射線計數(shù)，能譜分析中得到的是特征射線的峰面積，直接讀數(shù)中都沒有可疑數(shù)字，全部是有得到的是特征射線的峰面積，直接讀數(shù)中都沒有可疑數(shù)字，全部是有效數(shù)字。但由此計算出計數(shù)率效數(shù)字。但由此計算出計數(shù)率( (計數(shù)計數(shù)/ /每秒或計數(shù)每秒或計數(shù)/ /每分每分) )時，需求思索時，需求思索如何確定有效數(shù)字的位數(shù)。如何確定有效數(shù)字的位數(shù)。計算機的運用使計算結(jié)果的數(shù)字位數(shù)大大添加。數(shù)字位數(shù)多并不闡明丈計算機的運用使計算結(jié)果的數(shù)字位數(shù)大大添加。數(shù)字位數(shù)多并不闡明丈量結(jié)果越準(zhǔn)確。有效數(shù)字位數(shù)應(yīng)根據(jù)對丈量誤差的要求來確定。量結(jié)果越準(zhǔn)確。有效數(shù)字位數(shù)應(yīng)根據(jù)對丈

17、量誤差的要求來確定。1.3 1.3 丈量數(shù)據(jù)的有效數(shù)字丈量數(shù)據(jù)的有效數(shù)字LOGO1.1.數(shù)據(jù)處置數(shù)據(jù)處置1.4.11.4.1氣溶膠總氣溶膠總總總的數(shù)據(jù)處置的數(shù)據(jù)處置C:UsersdellDesktopC:UsersdellDesktop蘇大蘇大 總放總放 氣氣溶膠總放數(shù)據(jù)處置溶膠總放數(shù)據(jù)處置羅奇軍羅奇軍.xls.xls：1.41.4實踐操作中的數(shù)據(jù)處置實踐操作中的數(shù)據(jù)處置LOGO1.1.數(shù)據(jù)處置數(shù)據(jù)處置1.4.21.4.2土壤樣品中土壤樣品中譜數(shù)據(jù)分析譜數(shù)據(jù)分析C:UsersdellDesktopC:UsersdellDesktop蘇大蘇大gammagamma譜譜譜分析丈量數(shù)據(jù)記錄表譜分析丈量

18、數(shù)據(jù)記錄表-1511003601.xls-1511003601.xls：例如：例如：K-40K-40，對應(yīng)能量，對應(yīng)能量14601460、8KeV8KeV1.41.4實踐操作中的數(shù)據(jù)處置實踐操作中的數(shù)據(jù)處置LOGO2.2.譜儀譜儀譜儀的主要組成部分有：探頭、前置放大器、主放大器、脈沖幅度譜儀的主要組成部分有：探頭、前置放大器、主放大器、脈沖幅度分析器，計算機。分析器，計算機。其框圖如下所示：其框圖如下所示：2.12.1譜儀的組成部分譜儀的組成部分LOGO2.2.譜儀譜儀采用高純度的采用高純度的 P P型型GeGe單晶，一端外表經(jīng)過蒸發(fā)分散或加速器離子注入施主雜質(zhì)單晶，一端外表經(jīng)過蒸發(fā)分散或加速

19、器離子注入施主雜質(zhì)( (如如磷或鋰磷或鋰) )構(gòu)成構(gòu)成 N N區(qū)和區(qū)和 N+ N+，并構(gòu)成，并構(gòu)成P-NP-N結(jié)。另一端蒸金屬構(gòu)成結(jié)。另一端蒸金屬構(gòu)成 P+ P+，并作為入射窗。，并作為入射窗。兩端引出電極。帶電粒子在半導(dǎo)體探測器的靈敏體積內(nèi)產(chǎn)生電子空穴對，電子兩端引出電極。帶電粒子在半導(dǎo)體探測器的靈敏體積內(nèi)產(chǎn)生電子空穴對，電子空穴對在外電場的作用下漂移而輸出信號?？昭▽υ谕怆妶龅淖饔孟缕贫敵鲂盘?。在運用時，首先向杜瓦瓶中加灌液氮，使在運用時，首先向杜瓦瓶中加灌液氮，使HPGeHPGe探測器徹底冷卻后方能加載高壓至探測器徹底冷卻后方能加載高壓至額定值。用多額定值。用多射線放射源進展能量刻度

20、，用規(guī)范放射源進展效率刻度，其中效射線放射源進展能量刻度，用規(guī)范放射源進展效率刻度，其中效率刻度比較費時且比較昂貴，由于需求一系列規(guī)范源，但對測定放射性核素的活率刻度比較費時且比較昂貴，由于需求一系列規(guī)范源，但對測定放射性核素的活度是至關(guān)重要的。測試樣品時，需將樣品放置與效率刻度時一樣的位置，且樣品度是至關(guān)重要的。測試樣品時，需將樣品放置與效率刻度時一樣的位置，且樣品盒的大小、材質(zhì)與效率刻度的規(guī)范源一致，從測試樣品的能譜中，分析待測核素盒的大小、材質(zhì)與效率刻度的規(guī)范源一致，從測試樣品的能譜中，分析待測核素的能峰，得到其計數(shù)率，再除以效率和發(fā)射幾率，即得到待測樣品的放射性活度的能峰，得到其計數(shù)率

21、，再除以效率和發(fā)射幾率，即得到待測樣品的放射性活度。2.2 HPGe2.2 HPGe探測器的任務(wù)原理探測器的任務(wù)原理LOGO2.2.譜儀譜儀能量分辨率：對于能量分辨率：對于HPGeHPGe譜儀，分辨率通常用對譜儀，分辨率通常用對Co-60Co-60的的1.33MeV1.33MeV全能全能峰的半寬度表示，典型數(shù)據(jù)是峰的半寬度表示，典型數(shù)據(jù)是HWPM=1.9KeVHWPM=1.9KeV探測效率：普通分為絕對效率與本征效率，影響探測效率的主要要素探測效率：普通分為絕對效率與本征效率，影響探測效率的主要要素有幾何條件、作用幾率探測介質(zhì)的原子序數(shù)越高，探測效率越高有幾何條件、作用幾率探測介質(zhì)的原子序數(shù)越

22、高，探測效率越高、記錄效率。、記錄效率。峰總比：指全能峰下的脈沖數(shù)與全譜下的脈沖數(shù)之比。峰總比：指全能峰下的脈沖數(shù)與全譜下的脈沖數(shù)之比。峰康比：峰中心道最大計數(shù)與康普頓坪內(nèi)平均計數(shù)之比。它闡明了一峰康比：峰中心道最大計數(shù)與康普頓坪內(nèi)平均計數(shù)之比。它闡明了一個譜線的峰落在另一個譜線的康普頓坪上能否明晰的表現(xiàn)出來。個譜線的峰落在另一個譜線的康普頓坪上能否明晰的表現(xiàn)出來。本底：主要取決于晶體大小和屏蔽好壞。本底：主要取決于晶體大小和屏蔽好壞。2.3 2.3 譜儀的主要技術(shù)目的譜儀的主要技術(shù)目的LOGO2.2.譜儀譜儀能量刻度是指確定能譜中多道分析器的道址與能量刻度是指確定能譜中多道分析器的道址與射線

23、能量的關(guān)系，也射線能量的關(guān)系，也就是利用知能量的就是利用知能量的放射源測出對應(yīng)能量的峰位，然后做出能量與峰放射源測出對應(yīng)能量的峰位，然后做出能量與峰位道址的關(guān)系曲線。位道址的關(guān)系曲線。適用于能量和效率刻度的常用核素及主要參數(shù)：適用于能量和效率刻度的常用核素及主要參數(shù)： 2.4 2.4 譜儀的能量刻度譜儀的能量刻度LOGO2.2.譜儀譜儀在進展體源刻度時，選擇的刻度源必需滿足要求，但由于在在進展體源刻度時，選擇的刻度源必需滿足要求，但由于在分析中分析中，被丈量的介質(zhì)種類繁多，不能夠把每種介質(zhì)都選擇刻度源介質(zhì)，所，被丈量的介質(zhì)種類繁多，不能夠把每種介質(zhì)都選擇刻度源介質(zhì)，所以在實踐運用中，即使介質(zhì)差

24、別較大，也可經(jīng)過自吸收矯正得到較準(zhǔn)以在實踐運用中，即使介質(zhì)差別較大，也可經(jīng)過自吸收矯正得到較準(zhǔn)確的結(jié)果。確的結(jié)果。計算公式如下：計算公式如下：其中其中NN刻度源在能量刻度源在能量E E處的凈峰面積；處的凈峰面積；T-T-刻度譜丈量的活時間；刻度譜丈量的活時間； f- f-能量為能量為E E的的射線的發(fā)射率；射線的發(fā)射率；A-A-為刻度源的活度為刻度源的活度 。 2.52.5譜儀的全能峰效率刻度譜儀的全能峰效率刻度AfTNE)(LOGO2.2.譜儀譜儀對于對于HPGeHPGe譜儀，全能峰效率與能量關(guān)系常用對數(shù)多項式表示：譜儀，全能峰效率與能量關(guān)系常用對數(shù)多項式表示： 2.5 2.5 譜儀的全能峰效率刻度譜儀的全能峰效率刻度)(ln)ln(10Eanii1.61.82.02.22.42.62.83.03.2-2.2-2.1-2.0-1.9-1.8-1.7-1.6-1.5-1.4 B EFF2BLog()Log(E)(keV)LOGO3.Cs-3.Cs-分析方法分析方法實