2015年版藥典高效液相色譜法、質(zhì)譜法

1、2015年版藥典高效液相色譜 法、質(zhì)譜法2015版藥典高效液相色譜法、質(zhì)譜法0512高效液相色譜法高效液相色譜法系采用高壓輸液泵將規(guī)定的流動相泵入裝有填充劑的色譜柱，對供試品進行分離測定的色譜方法。注入的供試品，山流動相帶入色譜柱內(nèi)，各組分在柱內(nèi)被分離，并進入檢測器檢測，山積分儀或數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)記錄和處 理色譜信號。1. 對儀器的一般要求和色譜條件高效液相色譜儀由高壓輸液泵、進樣器、色譜柱、檢測器、積分儀或數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)組成。色譜柱內(nèi)徑一般為3.94.6mm,填充齊I粒徑為3Qum。超高效液相色譜儀是適應(yīng)小粒徑（約2 Pm ）填充劑的耐超高壓、小進樣量、低死體積、 高靈敏度檢測的高效液相色譜儀。（

2、1）色譜柱反相色譜柱：以鍵合非極性基團的載體為填充劑填充而成的色譜柱。常見的載體有硅膠、聚合物復合硅膠和聚合物 等；常用的填充劑有十八烷基硅烷鍵合硅膠、辛基硅烷鍵合硅膠和苯基鍵合硅膠等。正相色譜柱：用硅膠填充劑，或鍵合極性基團的硅膠填充而成的色譜柱。常見的填充劑有硅膠、氨基鍵合硅膠和氤 基鍵合硅膠等。氨基鍵合硅膠和氤基鍵合硅膠也可用作反相色譜。離子交換色譜柱：用離子交換填充劑填充而成的色譜柱。有陽離子交換色譜柱和陰離子交換色譜柱。手性分離色譜柱：用手性填充劑填充而成的色譜柱。色譜柱的內(nèi)徑與長度，填充劑的形狀、粒徑與粒徑分布、孔徑、表面積、鍵合基團的表面覆蓋度、載體表面基團殘 留量，填充的致密與

3、均勻程度等均影響色譜柱的性能，應(yīng)根據(jù)被分離物質(zhì)的性質(zhì)來選擇合適的色譜柱。溫度會影響分離效果，品種正文中未指明色譜柱溫度時系指室溫，應(yīng)注意室溫變化的影響。為改善分離效果可適當 提高色譜柱的溫度，但一般不宜超過60°C。殘余硅羥基未封閉的硅膠色譜柱，流動相pH值一般應(yīng)在28之間。殘余硅羥基已封閉的硅膠、聚合物復合硅膠或聚 合物色譜柱可耐受更廣泛pH值的流動相，適合于pH值小于2或大于8的流動相。（2）檢測器最常用的檢測器為紫外-可見分光檢測器，包括二極管陣列檢測器，其他常見的檢測器有熒光檢測器、 蒸發(fā)光散射檢測器、示差折光檢測器、電化學檢測器和質(zhì)譜檢測器等。紫外-可見分光檢測器、熒光檢測

4、器、電化學檢測器為選擇性檢測器，其響應(yīng)值不僅與被測物質(zhì)的量有關(guān)，還與 其結(jié)構(gòu)有關(guān)；蒸發(fā)光散射檢測器和示差折光檢測器為通用檢測器，對所有物質(zhì)均有響應(yīng)，結(jié)構(gòu)相似的物質(zhì)在蒸發(fā)光散射 檢測器的響應(yīng)值兒乎僅與被測物質(zhì)的量有關(guān)。紫外-可見分光檢測器、熒光檢測器、電化學檢測器和示差折光檢測器的響應(yīng)值與被測物質(zhì)的量在一定范圍內(nèi)呈線性關(guān)系，但蒸發(fā)光散射檢測器的響應(yīng)值與被測物質(zhì)的量通常呈指數(shù)關(guān)系，一般需經(jīng)對數(shù)轉(zhuǎn)換。不同的檢測器，對流動相的要求不同。紫外-可見分光檢測器所用流動相應(yīng)符合紫外-可見分光光度法（通則0401）項下 對溶劑的要求；采用低波長檢測時，還應(yīng)考慮有機溶劑的截止使用波長，并選用色譜級有機溶劑。蒸發(fā)

5、光散射檢測 器和質(zhì)譜檢測器不得使用含不揮發(fā)性鹽的流動相。（3）流動相 反相色譜系統(tǒng)的流動相常用甲醇-水系統(tǒng)和乙月青-水系統(tǒng)，用紫外末端波長檢測時，宜選用乙月青-水系統(tǒng)。 流動相中應(yīng)盡可能不用緩沖鹽，如需用時，應(yīng)盡可能使用低濃度緩沖鹽。用十八烷基硅烷鍵合硅膠色譜柱時，流動相中有機溶劑一般不低于5%,否則易導致柱效下降、色譜系統(tǒng)不穩(wěn)定。正相色譜系統(tǒng)的流動相常用兩種或兩種以上的有機溶劑，如二氯屮烷和正己烷等。品種正文項下規(guī)定的條件除填充劑種類、流動相組分、檢測器類型不得改變外，其余如色譜柱內(nèi)徑與長度、填充劑粒徑、 流動相流速、流動相組分比例、柱溫、進樣量、檢測器靈敏度等，均可適當改變，以達到系統(tǒng)適用

6、性試驗的要求。調(diào)整流動相組分比例時，當小比例組分的百分比例X小于等于33%時，允許改變范圍為0.7X1.3X；當X大于33%時，允許 改變范圍為X-10%X+10%。若需使用小粒徑（約2 urn）填充劑，輸液泵的性能、進樣體積、檢測池體積和系統(tǒng)的死體積等必須與之匹配；如 有必要，色譜條件也應(yīng)作適當?shù)恼{(diào)整。當對其測定結(jié)果產(chǎn)生爭議時，應(yīng)以品種項下規(guī)定的色譜條件的測定結(jié)果為準。當必須使用特定牌號的色譜柱方能滿足分離要求時，可在該品種正文項下注明。2. 系統(tǒng)適用性試驗色譜系統(tǒng)的適用性試驗通常包括理論板數(shù)、分離度、靈敬度、拖尾因子和重復性等五個參數(shù)。按各品種正文項下要求對色譜系統(tǒng)進行適用性試驗，即用規(guī)定

7、的對照品溶液或系統(tǒng)適用性試驗溶液在規(guī)定的色譜系 統(tǒng)進行試驗，必要時，可對色譜系統(tǒng)進行適當調(diào)整，以符合要求。（1）色譜柱的理論板數(shù)（n）用于評價色譜柱的分離效能。由于不同物質(zhì)在同一色譜柱上的色譜行為不同，采用 理論板數(shù)作為衡量色譜柱效能的指標時，應(yīng)指明測定物質(zhì)，一般為待測物質(zhì)或內(nèi)標物質(zhì)的理論板數(shù)。在規(guī)定的色譜條件下，注入供試品溶液或各品種項下規(guī)定的內(nèi)標物質(zhì)溶液，記錄色譜圖，量岀供試品主成分色譜峰或內(nèi)標物質(zhì)色譜峰的保留時間t和峰寬（W）或半高峰寬 （W ）,按n=16 （tj或n=5.54 （t . 2計算色譜柱的RhflRR辺理論板數(shù)。t、w、W可用時間或長度計（下同），但應(yīng)取相同單位。REC（

8、2）分離度（R）用于評價待測物質(zhì)與被分離物質(zhì)之間的分離程度，是衡量色譜系統(tǒng)分離效能的關(guān)鍵指標?？梢?通過測定待測物質(zhì)與已知雜質(zhì)的分離度，也可以通過測定待測物質(zhì)與某一指標性成分（內(nèi)標物質(zhì)或其他難分離物質(zhì)）的 分離度，或?qū)⒐┰嚻坊驅(qū)φ掌酚眠m當?shù)姆椒ń到?，通過測定待測物質(zhì)與某一降解產(chǎn)物的分離度，對色譜系統(tǒng)分離效能進 行評價與調(diào)整。無論是定性鑒別還是定量測定，均要求待測物質(zhì)色譜峰與內(nèi)標物質(zhì)色譜峰或特定的朵質(zhì)對照色譜峰及其他色譜峰之 間有較好的分離度。除另有規(guī)定外，待測物質(zhì)色譜峰與相鄰色譜峰之間的分離度應(yīng)大于1.5。分離度的計算公式為：2x（r叫"，> 亠XX<ifH tft ）式

9、中'坯為相鄰兩色譜峰中后一峰的保留時間；為相鄰兩色譜峰中前一峰的保留時間；Wt 、W及W 、W 分別為此相鄰兩色譜峰的峰 寬及半高峰寬（如圖）。當對測定結(jié)果有異議時，色譜柱的理論板數(shù)（n）和分離度（R）均以峰寬（W）的計算結(jié)果為準。（3）靈敏度 用于評價色譜系統(tǒng)檢測微量物質(zhì)的能力，通常以信噪比（S/N）來表示。通過測定一系列不同濃度的供試品或?qū)φ掌啡芤簛頊y定信噪比。定量測定時，信噪比應(yīng)不小于10：定性測定時，信噪比應(yīng)不小于3。系統(tǒng)適用性試驗中可 以設(shè)置靈敬度實驗溶液來評價色譜系統(tǒng)的檢測能力。（4）拖尾因子（T）用于評價色譜峰的對稱性。拖尾因子計算公式為：式中W（g為5%峰高處的峰寬;d

10、 I為峰頂在5%峰高處橫坐標平行線的投影點至峰前沿與此平行線交點的距離（如圖）。以峰高作定量參數(shù)時，除列有規(guī)定外，T值應(yīng)在0.95 -1.05之間。以峰面積作定量參數(shù)時，一般的峰拖尾或前伸不會影響峰面積積分，但嚴重拖尾會影響基線和色譜峰起止的判斷和 峰面積積分的準確性，此時應(yīng)在品種正文項下對拖尾因子作出規(guī)定。（5）重復性用于評價色譜系統(tǒng)連續(xù)進樣時響應(yīng)值的重復性能。采用外標法時，通常取各品種項下的對照品溶液，連續(xù)進樣5次，除另有規(guī)定外，其峰面積測量值的相對標準偏差應(yīng)不大于2.0%；采用內(nèi)標法時，通常配制相當于80%、100% 和120%的對照品溶液，加入規(guī)定量的內(nèi)標溶液，配成3種不同濃度的溶液，

11、分別至少進樣2次，計算平均校正因子，其相對 標準偏差應(yīng)不大于2.0%o3.測定法（1）內(nèi)標法按品種正文項下的規(guī)定，精密稱（量）取對照品和內(nèi)標物質(zhì)，分別配成溶液，各精密量取適量，混合 配成校正因子測定用的對照溶液。取一定量進樣，記錄色譜圖。測量對照品和內(nèi)標物質(zhì)的峰面積或峰高，按下式訃算校 正因子：校正因子驚式中A,為內(nèi)標物員的峰面積或峰高；A r為對照品的峰面積或峰咼；C '為內(nèi)標物質(zhì)的濃度；C R為對照品的濃度。再取各品種項下含有內(nèi)標物質(zhì)的供試品溶液，進樣，記錄色譜圖，測量供試品中待測成分和內(nèi)標物質(zhì)的峰面積或峰 高，按下式計算含量：含'SMC競|式中A；為供試品的峰面積或峰高；

12、c x為供試品的濃度；A'，為內(nèi)標物質(zhì)的峰面積或峰高；c* '為內(nèi)標物質(zhì)的濃度；f 為內(nèi)標法校正因子。采用內(nèi)標法，可避免因供試品前處理及進樣體積誤差對測定結(jié)果的影響。（2）外標法按各品種項下的規(guī)定，精密稱（量）取對照品和供試品，配制成溶液，分別精密取一定量，進樣，記 錄色譜圖，測量對照品溶液和供試品溶液中待測物質(zhì)的峰面積（或峰高），按下式計算含量：式中各符號意義同上。山于微量注射器不易精確控制進樣量，當采用外標法測定時，以手動進樣器定量環(huán)或自動進樣器進樣為宜。（3）加校正因子的主成分自身對照法測定雜質(zhì)含量時，可釆用加校正因子的主成分自身對照法。在建立方法時，按各品種項下的規(guī)定，

13、精密稱（量）取待測物對照品和參比物質(zhì)對照品各適量，配制待測物校正因子的溶液，進樣，記錄 色譜圖，按下式計算待測物的校正因子。校正因子=琥I式中CN為待測物的濃度；A A為待測物的峰面積或峰高；C B為參比物質(zhì)的濃度；A B為參比物質(zhì)的峰面積或峰高。也可精密稱（量）取主成分對照品和雜質(zhì)對照品各適量，分別配制成不同濃度的溶液，進樣，記錄色譜圖，繪制主 成分濃度和雜質(zhì)濃度對其峰面積的回歸曲線，以主成分回歸直線斜率與雜質(zhì)回歸直線斜率的比訃算校正因子。校正因子可直接載入各品種項下，用于校正雜質(zhì)的實測峰面積。需作校正計算的雜質(zhì)，通常以主成分為參比，釆用 相對保留時間定位，其數(shù)值一并載入各品種項下。測定雜質(zhì)

14、含量時，按各品種項下規(guī)定的雜質(zhì)限度，將供試品溶液稀釋成與雜質(zhì)限度相當?shù)娜芤海鳛閷φ杖芤?；進樣， 記錄色譜圖，必要時，調(diào)節(jié)縱坐標范圍（以噪聲水平可接受為限）使對照溶液的主成分色譜峰的峰高約達滿量程的10%25%o除另有規(guī)定外，通常含量低于0.5%的雜質(zhì)，峰面積的相對標準偏差（RSD）應(yīng)小于10%：含量在0.5%2%的雜質(zhì)，峰面積的RSD應(yīng)小于5%；含量大于2%的雜質(zhì)，峰面積的RSD應(yīng)小于2%。然后，取供試品溶液和對照溶液適量,分別進樣，除另有規(guī)定外，供試品溶液的記錄時間，應(yīng)為主成分色譜峰保留時間的2倍，測量供試品溶液色譜圖上各雜質(zhì)的 峰面積，分別乘以相應(yīng)的校正因子后與對照溶液主成分的峰面積比較

15、，計算各雜質(zhì)含量。（4）不加校正因子的主成分自身對照法 測定雜質(zhì)含量時，若無法獲得待測雜質(zhì)的校正因子， 或校正因子可以忽略，也可采用不加校正因子的主成分自身對照法。同上述（3）法配制對照溶液、進樣調(diào)節(jié)縱坐標范圍和汁算峰面積的相對標準偏差后，取供試品溶液和對照品溶液適量，分別進樣。除另有規(guī)定外，供試品溶液的記錄時間應(yīng)為主成分色譜峰保 留時間的2倍，測量供試品溶液色譜圖上各雜質(zhì)的峰面積并與對照溶液主成分的峰面積比較，依法計算雜質(zhì)含量。（5）面積歸一化法按各品種項下的規(guī)定，配制供試品溶液，取一定量進樣，記錄色譜圖。測量各峰的面積和色譜圖上除溶劑峰以外的總色譜峰面積，計算各峰面積占總峰面積的口分率。用

16、于雜質(zhì)檢查時，山于儀器響應(yīng)的線性限制， 峰面積歸一化法一般不宜用于微量雜質(zhì)的檢查。0431質(zhì)譜法質(zhì)譜法是使待測化合物產(chǎn)生氣態(tài)離子， 再按質(zhì)荷比（m/z）將離子分離、檢測的分析方法，檢測限可達10 «50 -12 mol 數(shù)量級。質(zhì)譜法可提供分子質(zhì)量和結(jié)構(gòu)的信息，定量測定可采用內(nèi)標法或外標法。質(zhì)譜儀的主要組成如圖所示。在由泵維持的約IO"10 6 Pa真空狀態(tài)下，離子源產(chǎn)生的各種正離子（或負離子）， 經(jīng)加速，進入質(zhì)量分析器分離，再山檢測器檢測。訃算機系統(tǒng)用于控制儀器，記錄、處理并儲存數(shù)據(jù)，當配有標準譜庫軟 件時，計算機系統(tǒng)可以將測得的質(zhì)譜與標準譜庫中圖譜比較，獲得可能化合物的

17、組成和結(jié)構(gòu)信息。圖質(zhì)譜儀的主要組成一、進樣系統(tǒng)樣品導入應(yīng)不影響質(zhì)譜儀的真空度。進樣方式的選擇取決于樣品的性質(zhì)、純度及所采用的離子化方式。1. 直接進樣室溫常壓下，氣態(tài)或液態(tài)化合物的中性分子通過可控漏孔系統(tǒng)，進入離子源。吸附在固體上或溶解在液體中的揮發(fā)性待測化合物可采用頂空分析法提取和富集，程序升溫解吸附，再經(jīng)毛細管導入質(zhì)譜儀。揮發(fā)性固體樣品可置于進樣桿頂端，在接近離子源的高真空狀態(tài)下加熱、氣化。采用解吸離子化技術(shù)，可以使熱不穩(wěn)定的、難揮發(fā)的樣品在氣化的同時離子化。多種分離技術(shù)已實現(xiàn)了與質(zhì)譜的聯(lián)用。經(jīng)分離后的各種待測成分，可以通過適當?shù)慕涌趯胭|(zhì)譜儀分析。2. 氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用（GC-MS ）

18、在使用毛細管氣相色譜柱及高容量質(zhì)譜真空泵的情況下，色譜流出物可直接引入質(zhì)譜儀。3. 液相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用（LC-MS ）使待測化合物從色譜流出物中分離、形成適合于質(zhì)譜分析的氣態(tài)分子或離子需要特殊的接口。為減少污染，避免化 學噪聲和電離抑制，流動相中所含的緩沖鹽或添加劑通常應(yīng)具有揮發(fā)性，且用量也有一定的限制。（1）粒子束接口液相色譜的流出物在去溶劑室霧化、脫溶劑后，僅待測化合物的中性分子被引入質(zhì)譜離子源。粒 子束接口適用于分子質(zhì)量小于1000道爾頓的弱極性、熱穩(wěn)定化合物的分析，測得的質(zhì)譜可以由電子轟擊離子化或化學 離子化產(chǎn)生。電子轟擊離子化質(zhì)譜常含有豐富的結(jié)構(gòu)信息。（2）移動帶接口流速為0.51.

19、5ml/min的液相色譜流出物，均勻地滴加在移動帶上，蒸發(fā)、除去溶劑后，待測化合 物被引入質(zhì)譜離子源。移動帶接口不適宜于極性大或熱不穩(wěn)定化合物的分析，測得的質(zhì)譜可以山電子轟擊離子化或化學離 子化或快原子轟擊離子化產(chǎn)生。（3）大氣壓離子化接口是口前液相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用廣泛采用的接口技術(shù)。山于兼具離子化功能，這些接口將在離子 源部分介紹。4. 超臨界流體色譜-質(zhì)譜聯(lián)用（SFC-MS ）超臨界流體色譜-質(zhì)譜聯(lián)用主要采用大氣壓化學離子化或電噴霧離子化接口。色譜流出物通過一個位于柱子和離子 源之間的加熱限流器轉(zhuǎn)變?yōu)闅鈶B(tài)，進入質(zhì)譜儀分析。5. 毛細管電泳-質(zhì)譜聯(lián)用（CE-MS ）兒乎所有的毛細管電泳操作模式

20、均可與質(zhì)譜聯(lián)用。選擇接口時，應(yīng)注意毛細管電泳的低流速特點并使用揮發(fā)性緩沖 液。電噴霧離子化是毛細管電泳與質(zhì)譜聯(lián)用最常用的接口技術(shù)。二、離子源根據(jù)待測化合物的性質(zhì)及擬獲取的信息類型，可以選用不同的離子源。1. 電子轟擊離子化（EI ）處于離子源的氣態(tài)待測化合物分子，受到一束能量（通常是70eV）大于其電離能的電子轟擊而離子化。質(zhì)譜中往往含有待測化合物的分子離子及具有待測化合物結(jié)構(gòu)特征的碎片離子。電子轟擊離子化適用于熱穩(wěn)定的、易揮發(fā)化合物的離 子化，是氣相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用最常用的離子化方式。當采用粒子束或移動帶等接口時，電子轟擊離子化也可用于液 相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用。2. 化學離子化（CI）M）的（M+

21、H） +或（M-H）-特征離子、或待測離子源中的試劑氣分子（如屮烷、異丁烷和氨氣）受高能電子轟擊而離子化，進一步發(fā)生離子一分子反應(yīng)，產(chǎn)生穩(wěn) 定的試劑氣離子，再使待測化合物離子化?；瘜W離子化可產(chǎn)生待測化合物（ 化合物與試劑氣分子產(chǎn)生的加合離子。與電子轟擊離子化質(zhì)譜相比，化學離子化質(zhì)譜中碎片離子較少，適宜于采用電子 轟擊離子化無法得到分子質(zhì)量信息的熱穩(wěn)定的、易揮發(fā)化合物分析。3. 快原子轟擊（FAB）或快離子轟擊離子化（LSIMS）高能中性原子（如氨氣）或高能艷離子，使置于金屬表面、分散于惰性黏稠基質(zhì)（如甘油）中的待測化合物離子化， 產(chǎn)生（M+H）誡（M-H）-特征離子或待測化合物與基質(zhì)分子的加合

22、離子。快原子轟擊或快離子轟擊離子化非常適合于各種極性的、熱不穩(wěn)定化合物的分子質(zhì)量測定及結(jié)構(gòu)表征，廣泛應(yīng)用于分子質(zhì)量高達10000道爾頓的肽、抗生素、核昔酸、脂 質(zhì)、有機金屬化合物及表面活性劑的分析?？煸愚Z擊或快離子轟擊離子化用于液相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用時，需在色譜流動相中添加1%10%的甘油，且必須保持很 低流速（110 P 1/min ） o4. 基質(zhì)輔助激光解吸離子化（MALDI）將溶于適當基質(zhì)中的供試品涂布于金屬靶上，用高強度的紫外或紅外脈沖激光照射，使待測化合物離子化。基質(zhì)輔 助激光解吸離子化主要用于分子質(zhì)量在100000道爾頓以上的主物大分子分析，適宜與飛行時間分析器結(jié)合使用。5. 電噴

23、霧離子化（ESI）離子化在大氣壓下進行。待測溶液（如液相色譜流出物）通過終端加有幾千伏高壓的毛細管進入離子源，氣體輔助霧化，產(chǎn)生的微小液滴左溶劑，形成單電荷或多電荷的氣態(tài)離子。這些離子再經(jīng)逐步減壓區(qū)域，從大氣壓狀態(tài)傳送到質(zhì)譜儀的高真空中。電噴霧離子化可在1 U 1/m inlm 1/min流速下進行，適合極性化合物和分子質(zhì)量高達100000道爾頓的生 物大分子研究，是液相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用、毛細管電泳-質(zhì)譜聯(lián)用最成功的接口技術(shù)。6. 大氣壓化學離子化（APCI）原理與化學離子化相同，但離子化在大氣壓下進行。流動相在熱及氮氣流的作用下霧化成氣態(tài)，經(jīng)III帶有兒千伏高壓的放電電極時離子化，產(chǎn)生的試劑氣

24、離子與待測化合物分子發(fā)生離子-分子反應(yīng)，形成單電荷離子，正離子通常是（M+H） + ,負離子則是（M-H） -。大氣壓化學離子化能在流速高達2ml/miii下進行，常用于分析分子質(zhì)量小于1500道爾頓的小分子或 弱極性化合物，主要產(chǎn)生的是（M+H）誡（M-H） -離子，很少有碎片離子，是液相色譜-質(zhì)譜聯(lián)用的重要接口之一。7. 大氣壓光離子化（APPI）與大氣壓化學離子化不同，大氣壓光離子化是利用光子使氣相分子離子化。該離子化源主要用于非極性物質(zhì)的分析， 是電噴霧離子化、大氣壓化學離子化的一種補充。大氣壓光離子化對于試驗條件比較敬感，摻雜劑、溶劑及緩沖溶液的組成等均會對測定的選擇性、靈敬度產(chǎn)生較

25、大影響。三、質(zhì)量分析器質(zhì)量范圉、分辨率是質(zhì)量分析器的兩個主要性能指標。質(zhì)量范圍指質(zhì)量分析器所能測定的質(zhì)荷比的范圍：分辨率表示質(zhì)量分析器分辨相鄰的、質(zhì)量差異很小的峰的能力。雖然不同類型的質(zhì)量分析器對分辨率的具體定義存在差異，高分辨質(zhì)譜儀通常指其質(zhì)量分析器的分辨率大 10“。1. 扇形磁場分析器離子源中產(chǎn)生的離子經(jīng)加速電壓（V）加速，聚焦進入扇形磁場（磁場強度 B）。在磁場的作用下，不同質(zhì)荷比的 離子發(fā)生偏轉(zhuǎn)，按各自的曲率半徑（r）運動：m/z = B r 72V改變磁場強度，可以使不同質(zhì)荷比的離子具有相同的運動曲率半徑（ r ）,進而通過狹縫出口，達到檢測器。扇形磁場分析器可以檢測分子質(zhì)量高達1

26、5000道爾頓的單電荷離子。當與靜電場分析器結(jié)合、構(gòu)成雙聚焦扇形磁場分析器時，分辨率可達到10J2. 四極桿分析器分析器由四根平行排列的金屬桿狀電極組成。直流電壓（DC）和射頻電壓（RF）作用于電極上，形成了高頻振蕩電場 （四極場）。在特定的直流電壓和射頻電壓條件下，一定質(zhì)荷比的離子可以穩(wěn)定地穿過四極場，到達檢測器。改變直流電壓和射頻電壓大小，但維持它們的比值恒定，可以實現(xiàn)質(zhì)譜掃描。四極桿分析器可檢測的分子質(zhì)量上限通常是4000道爾頓，分辨率約為103. 離子阱分析器四極離子阱（QIT）由兩個端蓋電極和位于它們Z間的環(huán)電極組成。端蓋電極處在地電位，而環(huán)電極上施加射頻電壓（RF）,以形成三維四極

27、場。選擇適當?shù)纳漕l電壓，四極場可以儲存質(zhì)荷比大于某特定值的所有離子。采用"質(zhì)量選擇不穩(wěn)定性”模式，提高射頻電壓值，可以將離子按質(zhì)量從高到低依次射出離子阱。揮發(fā)性待測化合物的離子化和質(zhì)量 分析可以在同一四極場內(nèi)完成。通過設(shè)定時間序列，單個四極離子阱可以實現(xiàn)多級質(zhì)譜（ MS）的功能。線性離子阱（LIT ）是二維四極離子阱，結(jié)構(gòu)上等同于四極質(zhì)量分析器，但操作模式與三維離子阱相似。四極線性 離子阱具有更好的離子儲存效率和儲存容量，可改善的離子噴射效率及更快的掃描速度和較高的檢測靈敏度。離子阱分析器與四極桿分析器具有相近的質(zhì)量上限及分辨率。4. 飛行時間分析器（TOF）具有相同動能、不同質(zhì)量的

28、離子，因飛行速度不同而實現(xiàn)分離。當飛行距離一定時，離子飛行需要的時間與質(zhì)荷比 的平方根成正比，質(zhì)量小的離子在較短時間到達檢測器。為了測定飛行時間，將離子以不連續(xù)的組引入質(zhì)量分析器，以 明確起始E行時間。離子組可以山脈沖式離子化（如基質(zhì)輔助激光解吸離子化）產(chǎn)生，也可通過門控系統(tǒng)將連續(xù)產(chǎn)生的 離子流在給定時間引入飛行管。飛行時間分析器的質(zhì)量分析上限約15000道爾頓、離子傳輸效率高（尤其是譜圖獲取速度快）、質(zhì)量分辨率>1（K5. 離子回旋共振分析器（ICR）在高真空（10Ta）狀態(tài)下，離子在超導磁場中作回旋運動，運行軌道隨著共振交變電場而改變。當交變電場 的頻率和離子回旋頻率相同時，離子被穩(wěn)

29、定加速，軌道半徑越來越大，動能不斷增加。關(guān)閉交變電場，軌道上的離子在 電極上產(chǎn)生交變的像電流。利用計算機進行傅立葉變換，將像電流信號轉(zhuǎn)換為頻譜信號，獲得質(zhì)譜。待測化合物的離子化和質(zhì)量分析可以在同一分析器內(nèi)完成。離子回旋共振分析器的質(zhì)量分析上限>10"道爾頓，分辨率高達10,質(zhì)荷比測定精確到千分之一，可以進行多級質(zhì)譜（ MS）分析。6. 串聯(lián)質(zhì)譜（MS-MS）吊聯(lián)質(zhì)譜是時間上或空間上兩級以上質(zhì)量分析的結(jié)合，測定第一級質(zhì)量分析器中的前體離子（ precursor ion ）與a第二級質(zhì)量分析器中的產(chǎn)物離子（production ）之間的質(zhì)量關(guān)系。多級質(zhì)譜實驗常以MS表示。產(chǎn)物離子掃

30、描（product-ion scan ）在第一級質(zhì)量分析器中選擇某 m/z的離子作為前體離子，測定該離子在第二 級質(zhì)量分析器中、一定的質(zhì)量范圍內(nèi)的所有碎片離子（產(chǎn)物離子）的質(zhì)荷比與相對強度，獲得該前體離子的質(zhì)譜。前體離子掃描（precursor-ion scan）在第_.級質(zhì)量分析器中選擇某 m/z的產(chǎn)物離子，測定在第一級質(zhì)量分析器中、一定的質(zhì)量范用內(nèi)所有能產(chǎn)生該碎片離子的前體離子。中性丟失掃描（neutral-lossscan）以恒定的質(zhì)量差異，在一定的質(zhì)量范圉內(nèi)同時測定第一級、第二級質(zhì)量分析器中的所有前體離子和產(chǎn)物離子，以發(fā)現(xiàn)能產(chǎn)生特定中性碎片（如 CO：）丟失的化合物或同系物。選擇反應(yīng)檢測（selected-reaction monitoring , SRM）選擇第一級質(zhì)量分析器中某前體離子（m/z） i，測定該離 子在第二級質(zhì)量分析器中的特定產(chǎn)物離子（m/z） 2