超聲檢測1級理論復(fù)習題

1、1.2.3.4.5.6.7.8.9.超聲檢測I級理論復(fù)習題(含參考答案,僅供參考 ) 超聲波是頻率超出人耳聽覺的彈性機械波,其頻率范圍約為：( A )A 、高于 2 萬赫芝B 、 1 10MHz鋼中超聲波縱波聲速為5900m/s,若頻率為0.59mmC、高于 200HzD、0.2515MHz10MHz 則其波長為： ( C )A 、 59rnrn B 、 5.9mm C 、 以下關(guān)于波的敘述錯誤的是： ( D )A、波動是振動的結(jié)果C、兩個波相遇又可能產(chǎn)生干涉現(xiàn)象 超聲波的波長： ( C )A 、與介質(zhì)的聲速和頻率成正比； C 、等于聲速與周期的乘積； 超聲波在彈性介質(zhì)中傳播時有A 、質(zhì)點振動

2、和質(zhì)點移動 下面哪種超聲波的波長最短。A 、水中傳播的 2MHz 縱波C、鋼中傳播的5MHz縱波 在金屬材料的超聲波探傷中,使用最多的頻率范圍是：C、1 5MHz ( B ) 蘭姆波B 、 5.9mmD 、 2.36mmB、D、波動傳播時有能量的傳遞機械波和電磁波的傳播均依賴于傳播介質(zhì)B 、等于聲速與頻率的乘積； D 、與聲速和頻率無關(guān)。( D )B、質(zhì)點振動和振動傳遞( A )B 、鋼中傳播的D 、鋼中傳播的C、質(zhì)點振動和能量傳播2.5MHz 橫波2MHz 表面波( C )D、 B 和 CA、 10251MHzB、 11000KHz質(zhì)點振動方向垂直于波的傳播方向的波是：A、縱波 B、橫渡C、

3、表面波在流體中可傳播： ( A )A、縱波B、橫波C、D、10. 在液體中唯一能傳播的聲波波型是：A 、剪切波B 、瑞利波11. 一般認為表面波作用于物體的深度大約為：A、半個波長B、一個波長縱波、橫波及表面波 ( C )C、壓縮波( C )C、兩個波長D、蘭姆波。12. 鋼中表面波的能量大約在距表面多深的距離會降低到原來的A、五個波長B、一個波長C、1/10波長13. 若頻率一定,下列哪種波型在固體彈性介質(zhì)中傳播的波長最短：A 、剪切波B 、壓縮波14. 超聲波按其波陣面形狀可分為：A、平面波B、柱面波15. 超聲波在彈性介質(zhì)中的速度是：C、橫波( D )C、球面波( B )D、D 、大于

4、20000MHzD 、切變波D 、 3.7 個波長1/25。( B )D、 0.5 波長( D )瑞利表面波D、以上全部A、質(zhì)點振動的速度B、聲能的傳播速度16. 在同種固體材料中，縱波聲速Cl，橫波聲速A 、 CR> Cs> CLB、 Cs> CL> CR17. 超聲波在介質(zhì)中的傳播速度與 ( D )有關(guān)。A、介質(zhì)的彈性B、介質(zhì)的密度C、C、波長和傳播時間的乘積Cs,表面波聲速C、Cl > Cs> crD、以上都不是Cr，之間的關(guān)系是：(C )D、以上都不對18. 在同一固體材料中,縱、橫波聲速之比,與材料的超聲波波型( C )有關(guān)。D 、以上全部A、密度

5、 B、彈性模量C、泊松比D、以上全部超聲縱波、橫波和表面波速度主要取決于：( C )A、頻率B、傳聲介質(zhì)的幾何尺寸C、傳聲材料的彈性模量和密度D、以上都不全面，須視具體情況而定不同振動頻率，而在鋼中有最高聲速的波型是： ( A )A、 0.5MHz 的縱波 B、 2.5MHz 的橫波 C、 10MHz 的爬波在0°C740C之間，當溫度升高時，水的聲速將：(B )A、不變B、增大C、變小D、無規(guī)律變化檢驗厚度大于 400mm 的鋼鍛件時，如降低縱波的頻率，其聲速將： ( C )A. 提高B. 降低C. 不變D. 不能確定在下列不同類型超聲波中，哪種波的傳播速度隨頻率的不同而改變？(

6、B )A、表面波B、板波C、疏密波D、剪切波。材料的聲速和密度的乘積稱為聲阻抗，它將影響超聲波 ( B )。A、在傳播時的材質(zhì)衰減C、在傳播時的散射 材料聲速與密度的乘積稱為：A、反射率B、透射率材料的聲阻抗將影響超聲波：D 、 5MHz 的表面波B、從一個介質(zhì)到達另一個介質(zhì)時在界面上的反射和透射D、擴散角大小( D )C、 往復(fù)反射率D、聲阻抗( D )A、擴散角的大小 B、近場的大小 C、在傳播時的散射D、在異質(zhì)界面上的反射和投射垂直入射于異質(zhì)界面的超聲波束的反射聲壓和透射聲壓：( C )A、與界面二邊材料的聲速有關(guān)B、與界面二邊材料的密度有關(guān)C、與界面二邊材料的聲阻抗有關(guān)D、與入射聲波波

7、型有關(guān)在同一固體介質(zhì)中，當分別傳播縱、橫波時，它的聲阻抗將是：( C )A、一樣B、傳播橫波時大C、傳播縱波時大D、無法確定超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時，可能發(fā)生： ( C )A. 反射 B. 折射、波型轉(zhuǎn)換 C. 反射、透射D. 反射、折射、波型轉(zhuǎn)換。超聲波垂直入射到異質(zhì)界面時，A、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速 C、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗 在同一界面上，聲強透過率22A、T = r B、T = 1 r 在同一界面上，聲強反射率A、 R+ T= 1 B、 T= 1 R反射波與透過波聲能的分配比例取決于： B、界面兩側(cè)介質(zhì)的衰減系數(shù) D 、以上全部T 與聲壓反射率C、T=1 + rR 與聲強透過率C、R=1

8、T( D )D、以上都是r 之間的關(guān)系是：D、 T= 1 rT 之間的關(guān)系是：D、以上全對超聲波入射到異質(zhì)界面時，可能發(fā)生：A、反射 B、折射 C、波型轉(zhuǎn)換 超聲波傾斜入射至異質(zhì)界面時，其傳播方向的改變主要取決于：A、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲阻抗B、界面兩側(cè)介質(zhì)的聲速C、界面兩側(cè)介質(zhì)衰減系數(shù)D、以上全部傾斜人射到異質(zhì)界面的超聲波束的反射聲壓與透射聲壓與哪一因素有關(guān)？( D )A、反射波波型B、入射角度C、界面兩側(cè)的聲阻抗D、以上都是超聲波在水 /鋼界面上的反射角： ( B )A. 等于入射角的 1/4 B. 等于入射角在水 /鋼界面上，水中入射角為A、表面波B、橫波當超聲縱波由有機玻璃以入射角C. 縱

9、波反射角大于橫波反射角 D. 以上 B 和 C。11°，在鋼中傳播的主要振動波型為： ( D )C、縱波 D、B和C15°射向鋼界面時，可能存在：( D )19.20.21.22.23.24.25.26.27.28.29.30.31.32.33.34.35.36.37.38.ome239.40.41.42.43.44.45.46.47.48.49.50.51.52.53.54.55.56.D、以上都有A、反射縱波B、反射橫波C、折射縱波和折射橫波超聲波橫波傾斜入射至鋼/水界面，則：（D）A、縱波折射角大于入射角B、縱、橫波折射角均小于入射角C、橫波折射角小于入射角D、以上全

10、不對如果將用于鋼的K2探頭去探測鋁（CFe= 3230m/s, Cai = 3100m則K值會：（B ）A、大于2B、小于2C、仍等于2D、還需其它參數(shù)才能確定在超聲波探傷時，采用K1斜探頭（Ci有機 = 2700m/s, Cs鋼=3200rn/s），檢測某合金焊縫（Cs合金=3800m/s）, 此時合金中的實際K值為：（B ）A、K B、K = 1.54C、K= 2D、以上全不是使橫波折射角等于90°的縱波入射角叫做：（B ）A、第一臨界角B、第二臨界角第一臨界角是：（C ）A、折射縱波等于90°時的橫波入射角C、折射縱波等于90。時的縱波入射角 第二臨界角是：（B ）A

11、、折射縱波等于90°時的橫波入射角C、折射縱波等于90。時的縱波入射角 要在工件中得到純橫波，探頭人射角C、第三臨界角D、反射角。B、折射橫波等于90°時的縱波入射角D、入射縱波接近90°時的折射角B、折射橫波等于90°時的縱波入射角D、入射縱波接近90°時的折射角必須：（C ）A、大于第二臨界角B、大于第一臨界角C、在第一、第二臨界角之間D、小于第二臨界角斜探頭直接接觸法探測鋼板焊縫時，其橫波：（D ）A、在有機玻璃斜楔塊中產(chǎn)生B、從晶片上直接產(chǎn)生C、在有機玻璃與耦合層界面上產(chǎn)生D、在耦合層與鋼板界面上產(chǎn)生C、 ： 2 = arcsin270

12、0此時探頭聲束軸線相對于探測面的傾角范第一介質(zhì)為有機玻璃（Cl = 2700m/s）,第二介質(zhì)為銅（5= 4700m/s; Cs= 3300m/s）,則第H臨界角為（B ） .2700. 2700. 2300A、 :- 2 =arcs inB、：2 = arcs in47003300用直探頭以水為透聲楔塊使鋼板對接焊縫中得到橫波檢測，圍為：（B ）A、14.7° 27.7B、62.375.3C、27.2。56.7D、不受限制使用粘貼于平面晶片前的凹球面聲透鏡（其縱波速度為C1、聲阻抗為Z1）制作聚焦探頭，為了使聲束在介質(zhì)（其縱波速度為C2、聲阻抗為Z2）中聚焦，條件是：（B ）A、C

13、1> C2的凸透鏡B. G >C2的凹透鏡當超聲波入射到凸界面時，其透射波：(D )A、不發(fā)散、不聚焦B、發(fā)散C、聚焦當超聲波入射到凹界面時，其反射波：(C )A、不發(fā)散、不聚焦B、發(fā)散C、聚焦A、C1< C2B、C1> C2C、Z1V Z 2D、Z 1> Z 20平面波入射到聲透鏡上，使透射波聚焦的條件是：（A ）水浸聚焦探頭聲透鏡的曲率半徑增大時，透鏡焦距將：A、增大 B、不變 C、減小 D、以上都不對C、C1v C2的凸透鏡D、條件不夠，不能確定D、條件不夠，不能確定D、條件不夠，不能確定。（A ）用水浸聚焦探頭局部水浸法檢驗鋼板時，聲束進入工件后將：（B

14、）D、以上都可能。A、因折射而發(fā)散B、進一步集聚C、保持原聚焦狀況超聲波（活塞振源）在非均勻介質(zhì)中傳播，引起聲能衰減的原因是：（D ）A、介質(zhì)對超聲波的吸收B、介質(zhì)對超聲波的散射C、聲束擴散D、以上全部引起超聲波衰減的原因是：（D ）A、聲束擴散B、晶粒散射C、介質(zhì)吸收D、以上全都。超聲波的擴散衰減主要取決于： ( A )A、波陣面的幾何形狀B、材料的晶粒度C、材料的粘滯性D、以上全部在通常的細晶金屬材料 ,超聲檢測時所引起的超聲波衰減的主要因素是：( C )A、吸收 B、散射C、聲束擴散D、繞射由材料晶粒粗大而引起的衰減屬于： ( B )A、擴散衰減B、散射衰減C、吸收衰減D、以上都是在A型

15、脈沖反射式單探頭檢測中，探頭從不同聲程的相同反射體收到的信號有差別的原因是：(D )A、材料衰減B、聲束擴散C、近場效應(yīng)D、以上均有可能在相同的探測條件下 ,橫波的衰減將： ( B )A、小于縱波B、大于縱波C、等于縱波D、不一定小于縱波一般地說，如果頻率相同。則在粗晶材料中穿透能力最強的振動波型為：( B )A、表面波B、縱波C、橫波D、三種波型的穿透力相同超聲波傳播過程中，遇到尺寸與波長相當?shù)恼系K物時，將發(fā)生：( B )A、只繞射，無反射B、既反射又繞射C、只反射無繞射D、以上都可能活塞振源聲場，聲束軸線上最后一個聲壓極大值到聲源的距離稱為：( A )A、近場長度B、未擴散區(qū)C、主聲束D、

16、超聲場活塞振源聲場，聲束軸線上最后一個聲壓極小值到聲源的距離為：( B )A、 NB 、 N/2C、 N/3(N 為近場區(qū)長度 )14mm , 2.5MHz直探頭在鋼中近場區(qū)為:D 、 N/4( B )A 、 27mm B 、 21mm 超聲場的未擴散區(qū)長度為：A、約等于近場長度C、約為近場長度1.6倍C、38mmD、以上都不對( C )B、約等于近場長度 0.6倍D 、約等于近場長度 3 倍在超聲探頭遠場區(qū)中： ( B )A 、聲束邊緣聲壓較大B 、聲束中心聲壓最大57.58.59.60.61.62.63.64.65.66.67.68.69.70.71.72.73.74.75.76.C、聲束

17、邊緣與中心強度一樣C、聲壓與聲束寬度成正比面有半擴散角的敘述，哪一條是錯誤的？ ( B )A、用第一零輻射角表示B、為指向角的一半C、與指向角相同D、是主聲束輻射錐角之半波束擴散角是晶片尺寸和傳播介質(zhì)中聲波波長的函數(shù)并且隨 ( B )。A、頻率增加，晶片直徑減小而減小B、頻率或晶片直徑減小而增大C、頻率或晶片直徑減小而減小D、頻率增加，晶片直徑減小而增大直徑12mm晶片5MHz直探頭在鋼中的指向角是：(C )A、 5.6°B、 3.5°C、6.8°D、 24.6°列直探頭，在鋼中指向性最好的是：( A )。A、 2.5P20ZB、 3P14Z在探測條件相

18、同的情況下，面積比為C、4P20ZD、 5P14Z2 的兩個平底孔，其反射波高相差A(yù) 、 6dBB、12dBC、 9dBD 、 3dB在探測條件相同的情況下、孔徑比為A 、 6dBB、 12dB4 的兩個球形人工缺陷，其反射波高相差C、 24dBD、 18dB( B )。在探測條件相同的情況下，直徑比為2 的兩個實心圓柱體，其曲底面回波相差( C )。A、 12dBB、 9dBC、 6dB同直徑的平底孔在球面波聲場中距聲源距離增大D、3dB1 倍則回波減弱： ( B )超聲檢測1級理論復(fù)習題A、 6db B、 12dbC、 3dbD、 9db77.同直徑的長橫孔在球面波聲場中距離聲源距離增大1

19、倍回波減弱：(D )A、 6db B、 12db C、 3db D、 9db78.在球面波聲場中大平底距聲源距離增大1倍回波減弱：(A )B、 12dbC、3dbA、 6dbB、 12db79.對于球面波，距聲源距離增大A、增大6db B、減小6dbC、3db1倍，聲壓變化是：C、增大80. 鑄鍛件超聲檢測中，經(jīng)常使用平底孔試塊，0 1 0 1A、10lg 卩B、20lg 頁D、9db(B )3db D、減小 3db同聲程不同孔徑的平底孔的反射規(guī)律是0 10 130lg o D、40lg 0 20 281. 焊縫超聲檢測中，經(jīng)常使用長橫孔試塊，同聲程不同孔徑的橫孔反射規(guī)律是0 10 10 10

20、 1A、10lgB、20lgC、30lgD、40lg0 20 20 20 282. 焊縫超聲檢測中，經(jīng)常使用長橫孔試塊，同孔徑不同聲程的橫孔反射規(guī)律是S1S1S1S1A、10lgS2B、20lg§C、30lgS2D、40lg£(S是聲程)：(C )83. 離鍛件檢測面下200mm處的一個缺陷回波波幅比距離400mm處0 4平底孔回波波幅高12dB，則此缺陷當量為：(C )A、12mm B、8mmC、4mm84. 通用AVC曲線的通用性表現(xiàn)在可適用于：A、不同的探測頻率C、不同示波屏尺寸的 A型探傷儀85. 當使用通用AVG曲線時，下述哪條敘述是錯誤的？A、不受示波屏尺寸的限

21、制C、不受探頭晶片直徑的限制86. A型掃描顯示中，從熒光屏上直接可獲得的信息是：A、缺陷的性質(zhì)和大小C、缺陷回波的大小和超聲傳播的時間87. A型掃描顯示中，熒光屏上垂直顯示大小表示：A、超聲回波的幅度大小88. A型掃描顯示中，水平基線 (時基線)代表：(C )A、超聲回波的幅度大小89. A型顯示檢測儀，從示波屏上可獲得的直接信息是：A、缺陷的指示長度B、缺陷的尺寸大小90. 脈沖反射式超聲波探傷儀中，產(chǎn)生觸發(fā)脈沖的電路單元叫做：A、發(fā)射電路B、掃描電路C、同步電路D、顯示電路91. 脈沖反射超聲波探傷儀中，產(chǎn)生時基線的電路單元叫做：(A )A、掃描電路B、觸發(fā)電路C、同步電路D、發(fā)射電

22、路116.將換能器接收的信號放大，并將信號轉(zhuǎn)換成可在熒光屏上顯示的信號的電路是：C、定時器電路D、接收器放大電路B、8mmD、2mm(D )B、不同的晶片尺寸D、以上都是(D )B、不受檢測頻率的限制D、不受探頭晶片直徑的限制但受檢測頻率的限制(C )缺陷的形狀和取向以上都是(A )B、缺陷的位置B、探頭移動距離A、脈沖發(fā)生器電路B、指示器電路92. 發(fā)射電路輸出的電脈沖，其電壓通?？蛇_A、幾百伏到上千伏93. 發(fā)射脈沖的持續(xù)時間叫：A、始脈沖寬度B、幾十伏(A )B、脈沖周期94. 探頭上標的2.5MHz是指：(B )C、被探材料的厚度D、超聲傳播時間C、聲波傳播時間(C )C、缺陷的傳播時

23、間(C )D、缺陷尺寸大小D.缺陷的取向(A )。C、幾伏D、1伏C、脈沖振幅D、以上都不是13A 、重復(fù)頻率B、工作頻率C、觸發(fā)脈沖頻率D、以上都不對( D )。95. 接收電路中，放大器輸入端接收的回波電壓約有A 、幾百伏B 、 100V 左右C、 10V 左右D 、 0.0011V96. 同步電路每秒鐘產(chǎn)生的觸發(fā)脈沖數(shù)為( B )。B 、數(shù)十個到數(shù)千個C、與工作頻率相同D 、以上都不對。97. 同步電路的同步脈沖控制是指：A 、發(fā)射電路在單位時間內(nèi)重復(fù)發(fā)射脈沖次數(shù)B 、掃描電路每秒鐘內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù)C、探頭晶片在單位時間內(nèi)向工件重復(fù)幅射超聲波次數(shù)D 、以上全部都是98. 脈沖反射式超聲波探

24、傷儀同步脈沖的重復(fù)頻率決定著：99.A 、掃描長度B、掃描速度C、單位時間內(nèi)重復(fù)掃描次數(shù)D、鋸齒波電壓幅度般探傷時不使用深度補償是因為它會：A 、影響缺陷的精確定位B 、影響 AVG 曲線或當量定量法的使用C、導(dǎo)致小缺陷漏檢D、以上都不對100. A 掃描超聲探傷儀中，哪些旋鈕可以改變探傷儀的水平掃描基線：A、深度粗調(diào)、重復(fù)頻率、延遲B、深度粗調(diào)、深度微調(diào)、延遲C、重復(fù)頻率、延遲、抑制D、延遲、深度粗調(diào)、抑制101. A 掃描超聲探傷儀中，哪些旋鈕可以改變探傷儀熒光屏上所顯示的信號高1=1度：A 、抑制、發(fā)射強度、重復(fù)頻率B、發(fā)射強度、增益、延遲C、增益、抑制、發(fā)射強度D、發(fā)射強度、抑制、延遲

25、102. 發(fā)射強度旋鈕用于改變發(fā)射電路中的阻尼電阻，達到改變發(fā)射超聲波強度的目的，發(fā)射強度增大時，會：( D )A 、提高靈敏度B 、盲區(qū)增大C、分辨能力降低D 、以上都對103. 下列有關(guān)水平位移旋鈕的敘述中，錯誤的是：A 、調(diào)節(jié)時基線和整個圖形左右移動，進行零位凋節(jié)B、調(diào)節(jié)時基線，使其與超聲波在工件的傳播時間成比例C、水平位移旋鈕屬于調(diào)節(jié)顯示器的旋鈕D 、水平位移旋鈕也稱零位調(diào)節(jié)旋鈕104. 影響儀器靈敏度的旋紐有：A、發(fā)射強度和增益旋紐B、衰減器和抑制C、深度補償D 、以上都是105. 衰減器旋鈕的作用是：M.A 、調(diào)節(jié)探傷靈敏度B、調(diào)節(jié)缺陷回波高度；C、用于確定缺陷當量的大小D、以上都

26、對。A 、垂直線性B、動態(tài)范圍C 、靈敏度D 、以上全部106. 下列有關(guān)增益旋鈕的敘述中，正確的是：A、增益旋鈕可調(diào)節(jié)示屏上的波幅升高或降低B 、距離波幅曲線制作完畢后，如需要，還可再調(diào)節(jié)增益旋鈕C、增益旋鈕不可連續(xù)地調(diào)節(jié)示屏上的波幅高度D 、以上都不對( D )。107. 調(diào)節(jié)儀器面版上的“抑制”旋鈕會影響探傷儀的108. 使用抑制旋鈕的目的是：A 、提高信噪比B 、改善垂直線性C、容易檢出小缺陷D 、提高靈敏度109. 下列有關(guān)壓電效應(yīng)的敘述中，錯誤的是：A、正壓電效應(yīng)是指材料在交變應(yīng)力作用下產(chǎn)生形變時而產(chǎn)生交變電場的現(xiàn)象B、正壓電效應(yīng)是指材料在交變電場作用下產(chǎn)生形變時而產(chǎn)生交變應(yīng)力的現(xiàn)

27、象C、正壓電效應(yīng)和逆壓電效應(yīng)統(tǒng)稱為壓電效應(yīng)D、正壓電效應(yīng)和逆壓電效應(yīng)能同時存在于同一材料中120. 超聲波探頭發(fā)射超聲波時 （C ）。A、由正壓電效應(yīng)將機械能轉(zhuǎn)化為電能B、由逆壓電效應(yīng)將聲能轉(zhuǎn)化為電能C、由逆壓電效應(yīng)將電能轉(zhuǎn)化為聲能D、由正壓電效應(yīng)將電能轉(zhuǎn)化為聲能121. 在探頭中，通過振動產(chǎn)生超聲波的壓電材料叫做：（C ）A、背襯材料；B、透明合成樹脂楔塊；C、晶片；D、耦合劑。122. 探頭中壓電材料的作用是：（C ）A、將電能轉(zhuǎn)換為機械能B、將機械能轉(zhuǎn)換為電能C、A和B都是D、A和B都不是123. 目前工業(yè)超聲波探傷使用較多的壓電材料是：（C ）A、石英B、鈦酸鋇C、鋯鈦酸鉛D、硫酸鋰1

28、24. 超聲波探傷儀的探頭晶片用的是下面哪種材料：（C ）A、導(dǎo)電材料B、磁致伸縮材料C、壓電材料D、磁性材料125. 壓電晶片的基頻是：（A ）A、晶片厚度的函數(shù)C、放大器放大特性的函數(shù)126. 探頭中壓電晶片的基頻取決于:A、激勵電脈沖的寬度C、晶片材料和厚度B、施加的脈沖寬度的函數(shù)D、以上都不對（C ）B、發(fā)射電路阻尼電阻的大小D、晶片的機電耦合系數(shù)127. 為了從換能器獲得最高靈敏度：（C ）A、應(yīng)減小阻尼塊C、應(yīng)使壓電晶片在它的共振基頻上激勵128. 晶片共振波長是晶片厚度的：（A ）A、2 倍 B、1/2 倍 C、1 倍B、應(yīng)使用大直徑晶片D、換能器頻帶寬度應(yīng)盡可能大D、4倍129

29、. 超聲波探頭中的壓電晶片厚度為（B ）時，晶片產(chǎn)生共振，振幅最大。A、"6B、”2C、”9D、入130. 已知PZT 4的頻率常數(shù)是 2000m/s, 2.5MHz的PZT 4晶片厚度約為：（A ）A、0.8mmB、1.25mmC、1.6mmD、0.4mm131. 下述有關(guān)探頭的描述中，哪一點是正確的？A、探頭的實質(zhì)是一種換能器C、探頭的作用是僅將機械能轉(zhuǎn)換為電能132. 探頭軟保護膜和硬保護膜相比，突出優(yōu)點是:A、透聲性能好B、材質(zhì)衰減小133. 超聲橫波斜探頭的標稱 K值為：A、鋁中橫波折射角的正弦值C、鋁中橫波折射角的正切值（A ）B、探頭的作用是僅將電能轉(zhuǎn)換為機械能;D、以

30、上都正確。（C ）D、以上全部C、有利消除耦合差異（B ）B、鋼中橫波折射角的正切值D、鋼中縱波折射角的正切值134. 常用的有機玻璃楔斜探頭，當溫度升高時，其 K值將（B ）。A、減小 B、增大C、不變D、以上都不對135. 探頭晶片尺寸不變而頻率提高時：（C ）A、橫向分辨力降低B、聲束擴散角增大C、近場長度增大D、指向性變差。136. 以下哪一條，不屬于雙晶探頭的優(yōu)點。（A ）A、探測范圍大B、盲區(qū)小C、工件中近場長度小D、雜波少137. 聯(lián)合雙直探頭的最主要用途是：（A ）A、探測近表面缺陷B、精確測定缺陷長度C、精確測定缺陷高度D、用于表面缺陷探傷138. 下列有關(guān)雙晶探頭的特點的敘

31、述中，正確的是：（B ）A、靈敏度低、分辨率好、脈沖窄、盲區(qū)小、雜波小超聲檢測1級理論復(fù)習題B、靈敏度高、分辨率好、脈沖窄、盲區(qū)小、雜波小C、靈敏度高、分辨率好、脈沖窄、無盲區(qū)、雜波小D、靈敏度低、分辨率差、脈沖窄、盲區(qū)小、雜波小139. 下列有關(guān)雙晶探頭檢測范圍的敘述中，正確的是：（B ）A、傾角大，檢測范圍大B、傾角小，檢測范圍大C、雙晶探頭的傾角與檢測范圍無關(guān)D、傾角小，檢測范圍小140. 應(yīng)用有人工反射體的對比試塊的主要目的是：（A ）A、作為檢測時的校準基準，并為評價工作中缺陷嚴重程度提供依據(jù)B、為探傷人員提供一種確定缺陷實際尺寸的工具C、為檢出小于某一規(guī)定的參考反射體的所有缺陷提供

32、保證D、提供一個能精確模擬某一臨界尺寸自然缺陷的參考反射體141. 下面哪種反射體的反射波幅與入射聲束角度無關(guān)：（C ）A、平底孔B、平底槽C、平行于探測面且垂直于主聲束軸線的橫通孔D、V型缺口142. 試塊的用途是：（D ）A、測試儀器和探頭的組合性能；B、測定材料的聲學(xué)性質(zhì)；C、調(diào)節(jié)探傷儀的掃描速度和靈敏度；D、以上都對。143. 在超聲波探傷中，對比試塊應(yīng)用于：（D ）A、探傷系統(tǒng)狀態(tài)調(diào)整B、缺陷評定C、探傷系統(tǒng)狀態(tài)檢查D、以上都是144. 可用于測試探頭入射點的常用試塊是：（D ）A、IIW 試塊 B、CSKI A試塊C、半圓試塊D、以上都可以145. CSKI A試塊將IIW 試塊上

33、的 R100mm圓柱面改為 R50mm、R100mm階梯圓柱面，其目的是： （A ）A、獲得兩次反射波來調(diào)節(jié)橫波掃描速度，確定探測范圍B、測試超聲檢測系統(tǒng)的分辨力C、測量斜探頭的K值D、僅是為了試塊外形美觀，減少試塊重量146. CSK IA試塊將IIW試塊的50孔改為40, 44, 50臺階孔，其目的是：（C ）A、測定斜探頭K值B、測定直探頭盲區(qū)范圍C、測定斜探頭分辨力D、以上全部147. RB-1試塊的用途是：（D ）B、測量斜探頭的前沿和K值A(chǔ)、調(diào)節(jié)掃描速度和探測范圍B、繪制距離-波幅曲線D、以上都對。148. 半圓試塊的用途是：（D ）A、 調(diào)節(jié)掃描速度和探測范圍B、測量斜探頭的前沿

34、B、 測量探傷儀的水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍D、以上都對149. 若將斜探頭對準IIW2的R25mm圓弧面，并將反射波調(diào)至 25格，如儀器水平線性調(diào)節(jié)良好，則第二 次反射波應(yīng)在（D ）格出現(xiàn)。A、50B、65C、75、100150. 若將斜探頭對準IIW2的R50mm圓弧面，并將反射波調(diào)至 25格，如儀器水平線性調(diào)節(jié)良好，則第二 次反射波應(yīng)在（B ）格出現(xiàn)。A、50B、62.5C、100D、125151. 將IIW試塊與IIW2試塊相比，IIW2試塊的優(yōu)點是：（D ）A、重量輕，體積小B、尺寸小，便于攜帶，適于現(xiàn)場使用C、形狀簡單，便于加工D、以上都是30格，如儀器水平線性調(diào)152. 若將斜

35、探頭對準中心沒有刻槽的半圓試塊的圓弧面并將第一次反射波調(diào)至節(jié)良好，則第二次反射波應(yīng)在（B ）格出現(xiàn)。A、 60 B、 90C、 120 D、 150153. 有的半圓試塊在中心側(cè)壁開有 5mm深的切槽，其主要目的是： （C ）A、標記試塊中心B、消除邊界效應(yīng)C、獲得R曲面等距離反射波D、以上全部154. 對超聲探傷試塊材質(zhì)的基本要求是：（D ）A、其聲速與被探工件聲速基本一致B、材料中沒有超過 2mm平底孔當量的缺陷C、材料衰減不太大且均勻D、以上都是155. 超聲檢測中下面與入射聲束角無關(guān)的反射體是：（C ）A、平底孔B、平底槽C、橫孔 D、V型槽156. 調(diào)節(jié)儀器面板上的“抑制”旋鈕會影響

36、探傷儀的（D ）。A、垂直線性B、動態(tài)范圍C、靈敏度D、以上全部157. 放大器的不飽和信號高度與缺陷面積成比例的范圍叫做放大器的：（B ）A、靈敏度范圍B、線性范圍C、分辨力范圍D、選擇性范圍158. 單晶片直探頭接觸法探傷中，與探測面十分接近的缺陷往往不能有效地檢出、這是因為:A、近場干擾B、材質(zhì)衰減159. 斜探頭前沿長度和 K值測定的幾種方法中，A、半圓試塊和橫孔法B、雙孔法160. 儀器水平線性的好壞直接影響：（C ）A、缺陷性質(zhì)判斷B、缺陷大小判斷161. 儀器的垂直線性好壞會影響： （A ）A、缺陷的定量B、缺陷的定性162. 下列有關(guān)探頭性能的敘述中，哪點是正確的？A、探頭的主

37、聲束垂直方向不應(yīng)有雙峰C、距離一波幅特性好163. 探頭的主要性能是：（D ）A、頻率特性B、距離一波幅特性164. 超聲探傷系統(tǒng)區(qū)別相鄰兩缺陷的能力稱為：A、檢測靈敏度B、時基線性165. 表示探傷儀與探頭組合性能的指標有：A、水平線性、垂直線性、衰減器精度C、動態(tài)范圍、頻帶寬度、探測深度167. 超聲試驗系統(tǒng)的靈敏度：（A ）A、取決于探頭、高頻脈沖發(fā)生器和放大器C、取決于換能器機械阻尼168. A型掃描顯示，“盲區(qū)”是指：（C ）A、近場區(qū)C、始脈沖寬度和儀器阻塞恢復(fù)時間169. 探頭的分辨力：（D ）A、與探頭晶片直徑成正比C、與脈沖重復(fù)頻率成正比170. 當超聲檢測探頭頻率增加時，其

38、分辨力將：A、不變 B、提高C、降低171. 采用什么超聲探傷技術(shù)不能測出缺陷深度？A、直探頭探傷法B、脈沖反射法172. 超聲檢驗中，當探傷面比較粗糙時，宜選用A、較低頻探頭B、較粘的耦合劑173. 在超聲波探傷時，當探傷面比較粗糙時，宜選用A、較低頻率的探頭B、高聲阻抗的耦合劑174. 超聲檢驗中，選用晶片尺寸大的探頭的優(yōu)點是：C、 盲區(qū)D、折射哪種方法精度最高：（A ）C、 直角邊法D、不一定，須視具體情況而定C、 缺陷的精確定位D、以上都對C、缺陷的定位D、以上都對（D ）B、探頭的主聲束軸線水平偏離角要小D、以上都不對C、聲束特性D、以上都是（D ）C、 垂直線性D、分辨力（B ）B

39、、靈敏度余量、盲區(qū)、遠場分辨力D、垂直極限、水平極限、重復(fù)頻率B、取決于同步脈沖發(fā)生器D、隨分辨力提高而提高B、聲束擴散角以外區(qū)域D、以上均是B、與脈沖寬度成正比D、以上都不對（B ）D、以上均不可能（D ）C、斜探頭探傷法D、穿透法（D ）。C、 軟保護膜探頭D、以上都對（D ）。C、 軟保護膜探頭D、以上均可 （C ）A、曲面探傷時可減少耦合損失B、可減少材質(zhì)衰減損失C、輻射聲能大且能量集中D、以上全部175. 探傷時采用較高的探測頻率，可有利于A、發(fā)現(xiàn)較小的缺陷B、區(qū)分開相鄰的缺陷176. 超聲探傷中，耦合劑的作用是：（D ）A、排除探頭和工件間的空氣，使超聲波能較好地傳入工件C、保護探

40、頭，減少磨損177. 手動超聲接觸法探傷時，使用耦合劑的最主要目的是：A、提高超聲波在探頭與被檢測部件間的透射率C、浸潤探頭表面，延長探頭使用壽命178. 超聲波探傷時，如果聲波在耦合介質(zhì)中的波長為A、"4的奇數(shù)倍B、"2的整數(shù)倍改善聲束指向性B、方便操作D、以上都對D、以上全部（A ）浸潤被探傷部件表面，避免被探傷表面磨損 以上都不是入為使透聲效果好，耦合層厚度應(yīng)為C、小于”4且很薄D、以上B和C179. 探頭沿圓柱曲面外壁作周向探測時，如儀器用平試塊按深度1:1調(diào)掃描，下面哪種說法正確？（ A ）A、缺陷實際徑向深度總是小于顯示值B、顯示的水平距離總是大于實際孤長C、顯

41、示值與實際值之差，隨顯示值的增加而減小D、以上都正確180. 采用底波高度法（F/B百分比法）對缺陷定量時，下面哪種說法正確？（ B ）A、F/B相同，缺陷當量相同B、該法不能給出缺陷的當量尺寸C、適于對尺寸較小的缺陷定量D、適于對密集性缺陷的定量181. 在頻率一定和材料相同情況下，橫波對小缺陷探測靈敏度高于縱波的原因是：（C ）A、橫波質(zhì)點振動方向?qū)θ毕莘瓷溆欣鸅、橫波探傷雜波少C、橫波波長短D、橫波指向性好182. 采用下列何種頻率的直探頭在不銹鋼大鍛件超探時，可獲得較好的穿透能力：（A ）A、1.25MHzB、2.5MHzC、5MHzD、 10MHzA、50mrn B、60mmC、67

42、mrn D 40mm183.單斜探頭探傷時，在近區(qū)有幅度波動較快，探頭移動時水平位置不變的回波，它們可能是:A、來自工件表面的雜波C、工件上近表面缺陷的回波B、來自探頭的噪聲D、耦合劑噪聲183.確疋脈沖在時基線上的位置應(yīng)根據(jù):(B )A、脈沖波峰B、脈沖前沿C、脈沖后沿D、以上都可以184.能使K2斜探頭得到圖示深度 1:1調(diào)節(jié)波形的鋼半圓試塊半徑R為:(C )185. 在厚焊縫斜探頭探傷時，一般宜使用什么方法標定儀器時基線？（ B ）A、水平定位法B、深度定位法C、聲程定位法D、一次波法186. 在中薄板焊縫斜探頭探傷時，宜使用什么方法標定儀器時基線？（ A ）A、水平定位法B、深度定位法

43、C、聲程定位法D、二次波法187. 對圓柱形筒體環(huán)縫探測時的缺陷定位應(yīng)：（A ）A、按平板對接焊縫方法B、作曲面定位修正C、使用特殊探頭D、視具體情況而定采用各種方法188. 在斜探頭厚焊縫探傷時，為提高缺陷定位精度可采取措施是：（D ）A、提高探頭聲束指向性B、校準儀器掃描線性C、提高探頭前沿長度和K值測定精度189. 當量大的缺陷實際尺寸：（A ）A、一定大B、不一定大190. 當量小的缺陷實際尺寸：（B ）A、一定小B、不一定小D、以上都對C、一定不大C、一疋不小D、等于當量尺寸、/ 曰. 當量尺寸191. 使用半波高度法超聲測定小于聲束直徑的缺陷尺寸時，所測的結(jié)果往往是：（B ）A、小

44、于實際尺寸B、稍大于實際尺寸C、接近聲束寬度D、遠大于實際尺寸192. 在超聲探傷時，如果聲束指向不與平面缺陷垂直，則缺陷尺寸一定時，缺陷表面越平滑反射回波越:A、大B、小C、無影響 D、不一定193. 當聲束指向不與平面缺陷垂直時，在一定范圍內(nèi)，缺陷尺寸越大，其反射回波強度越：（B ）A、大 B、小C、無影響D、不一定194. 直探頭縱波探傷時，工件上下表面不平行會產(chǎn)生：（A ）A、底面回波降低或消失B、底面回波正常C、底面回波變寬D、底面回波變窄195. 下列關(guān)于縱波直探頭和橫波斜探頭超聲檢測的哪種說法是錯誤的：（D ）A、縱波直射法時，缺陷波往往出現(xiàn)在底波之前B、斜射法一般沒有底波，且探

45、頭移動時，缺陷波幅和位置隨之改變C、直射法缺陷位置往往不隨探頭移動而變化D、直射法比斜射法對缺陷的定量更準確196. 在脈沖反射法探傷中可根據(jù)什么判斷缺陷的存在？（ D ）A、缺陷回波B、底波或參考回波的減弱或消失C、接收探頭接收到的能量的減弱D、AB都對197. 在直接接觸法直探頭探傷時，底波消失的原因是：（D ）A、耦合不良B、存在與聲束不垂直的平面缺陷C、存在與始脈沖不能分開的近表面缺陷D、以上都是198. 在直探頭探傷時，發(fā)現(xiàn)缺陷回波不高，但底波降低較大，則該缺陷可能是：（C ）A、與表面成較大角度的平面缺陷B、反射條件很差的密集缺陷C、AB都對D、AB都不對199. 影響直接接觸法耦

46、合損耗的原因有：（D ）B、探頭接觸面介質(zhì)聲阻抗D、以上都對D、以上全部A、耦合層厚度，超聲波在耦合介質(zhì)中的波長及耦合介質(zhì)聲阻抗C、被探測工件材料聲阻抗200. 被檢工件晶粒粗大，通常會引起：（D ）A、草狀回波增多B、信噪比下降C、底波次數(shù)減少201. 應(yīng)用有人工反射體的參考試塊主要目的是：（A ）A、作為探測時的校準基準，并為評價工件中缺陷嚴重程度提供依據(jù)B、為探傷人員提供一種確定缺陷實際尺寸的工具C、為檢出小于某工規(guī)定的參考反射體的所有缺陷提供保證D、提供一個能精確模擬某一臨界尺寸自然缺陷的參考反射體202. 下面哪種參考反射體與入射聲束角度無關(guān):A、平底孔C、平行于探測面且垂直于聲束的

47、橫通孔203. 換能器尺寸不變而頻率提高時：（C ）（C ）B、平行于探測面且垂直于聲束的平底槽D、平行于探測面且垂直于聲束的V型缺口A、橫向分辨力降低B、聲束擴散角增大C、近場區(qū)增大D、指向性變鈍21204. 考慮靈敏度補償?shù)睦碛墒牵海― ）A、被檢工件厚度太大B、工件底面與探測面不平行C、耦合劑有較大聲能損耗D、工件與試塊材質(zhì)，表面光潔度有差異205. 探測粗糙表面的工件時，為提高聲能傳遞，應(yīng)選用： ( C )A、聲阻抗小且粘度大的耦合劑B、聲阻抗小且粘度小的耦合劑C、聲阻抗大且粘度大的耦合劑D、以上都不是206. 超聲容易探測到的缺陷尺寸一般不小于： ( A )A、波長的一半B、一個波長

48、C、四分之一波長D、若干個波長207. 與探測面垂直的內(nèi)部平滑缺陷，最有效的探測方法是： ( C )A、單斜探頭法B、單直探頭法C、雙斜探頭前后串列法D、分割式雙直探頭法208. 鍛件探傷中，熒光屏上出現(xiàn)“林狀波”時，是由于( B ) 。A、工件中有大面積傾斜缺陷B、工件材料晶粒粗大C、工件中有密集缺陷D、以上全部209. 長軸類鍛件從端面作軸向探測時，容易出現(xiàn)的非缺陷回波是： ( D )A、三角反射波B、61°反射波C、輪廓回波D、遲到波210. 方形鍛件垂直法探傷時，熒光屏上出現(xiàn)一游動缺陷回波，其波幅較低但底波降低很大。該缺陷取向可能是： ( C )A、平行且靠近探測面C、與探測

49、面成較大角度B 、與聲束方向平行D、平行且靠近底面211. 缺陷反射聲壓的大小取決于： ( D )A、缺陷反射面大小B、缺陷性質(zhì)C、缺陷取向D、以上全部212. 缺陷反射聲能的大小，取決于： ( D ) A、缺陷的尺寸B、缺陷的類型C、缺陷的形狀和取向D、以上全部A、反射波高隨粗糙度的增大而增加B 、無影響C、反射波高隨粗糙度的增大而下降D、以上A和C 都可能214. 鍛件的鍛造過程包括： ( A )A、加熱、形變、成型和冷卻B、加熱、形變C、形變、成型213. 聲波垂直入射到表面粗糙的缺陷時，缺陷表面粗糙度對缺陷反射波高的影響是：( C )D、以上都不全面215. 鍛件缺陷包括： ( D )

50、A、原材料缺陷B、鍛造缺陷C、熱處理缺陷D、以上都有216. 鍛件中的粗大晶粒可能引起： ( D )A 、底波降低或消失B 、噪聲或雜波增大217. 鍛件中的白點是在鍛造過程中哪個階段形成：C、超聲嚴重衰減D、以上都有218. 軸類鍛件最主要探測方向是：( B )A、軸向直探頭探傷B 、徑向直探頭檢測C、斜探頭外圓面軸向探傷D、斜探頭外圓面周向探傷219. 餅類鍛件最主要探測方向是：( A )( D )A、加熱 B、形變C、成型 D、冷卻A、直探頭端面探傷B、直探頭側(cè)面探傷C、斜探頭端面探傷D、斜探頭側(cè)面探傷220. 筒形鍛件最主要探測方向是： ( A )A、直探頭端面和外圓面探傷B、直探頭外

51、圓面軸向探傷C、斜探頭外圓面周向探傷D、以上都是221. 鍛件中非金屬夾雜物的取向最可能的是： ( C )A 、與主軸線平行B、與鍛造方向一致C 、與鍛件金屬流線一致D、與鍛件金屬流線垂直222. 鍛鋼件探測靈敏度的校正方式是： ( D )超聲檢測1級理論復(fù)習題A、沒有特定的方式B、米用底波方式221. 利用試塊法校正探傷靈敏度的優(yōu)點是：A、校正方法簡單C、可以克報探傷面形狀對靈敏度的影響222. 以工件底面作為靈敏度校正基準，可以：A、不考慮探測面的耦合差補償C、不必使用校正試塊C、 米用試塊方式D、米用底波方式和試塊方式（B ）B、對大于3N和小于3N的鍛件都適用D、不必考慮材質(zhì)差異（D ）B、不考慮材質(zhì)衰減差補償D、以上都是223. 在直