第二章 XRF-fuxn

1、現(xiàn)代分析技術復習相關內容X射線的吸收 當入射光子能量大于物質中原子核對電子的束縛能時，電子將吸收光子的全部能量而脫離原子核的束縛，成為自由電子。被激發(fā)出的電子稱為光電子，這種因為入射線光子的能量被吸收而產(chǎn)生光電子的現(xiàn)象稱為光電效應。X射線的吸收 熒光效應 是指當高能X射線光子激發(fā)出被照射物質原于的內層電子后，較外層電子填其空穴而產(chǎn)生了次生特征X射線(或稱二次特征輻射)的現(xiàn)象。X射線的吸收 熒光效應與X射線管產(chǎn)生特征X射線的過程相似，不同之處在于：X射線管產(chǎn)生特征X射線時，入射線是高速運動的電子；熒光效應的入射線是高能X射線光子。相同之處在于：均產(chǎn)生波長特定的X射線，即特征X射線。 X射線的吸收

2、 熒光X射線波長決定于原子的能級差。從熒光X射線的特征波長可以查明被激發(fā)原子是哪種元素，這就是X射線熒光光譜技術(XRF)。X射線的吸收 X射線熒光光譜技術(XRF)可用于快速定性分析材料中所含的元素，即熒光X射線用于材料的成分分析。 X射線發(fā)展至今，已形成了三種完整的應用技術：X射線形貌技術(X射線照相術)；X射線光譜技術；X射線衍射技術(XRD)。 X射線光譜技術是利用物質中元素被X射線激發(fā)后所產(chǎn)生的次生特征X射線譜的波長和強度分析物質的化學組成。也稱為X射線熒光分析(X-ray Fluorescence Analysis，簡稱XRF)。 1948年由H.費里德曼（H.Friedmann）

3、和L.S.伯克斯（L.S.Birks）制成第一臺波長色散X射線熒光分析儀，至60年代本法在分析領域的地位得以確立。 X射線熒光分析實驗站中科院高能物理研究所X射線熒光儀器X射線熒光分析儀X射線熒光分析儀 次生X射線也叫X射線熒光，其波長也取決于原子的能級差。從X射線熒光的特征波長可以判斷被激發(fā)原子是哪種元素，這就是XRF定性分析的原理和依據(jù)。 特征X射線波長()與物質原子序數(shù)(Z)關系可由莫塞萊(Moseley)定律描述： 式中K、S均為常數(shù)。221()KZS 通過晶體衍射分光測定特征X射線熒光的波長，根據(jù)莫塞萊定律，即可進行物質表面元素成分的定性分析。 并且X射線熒光的強度與該元素在樣品中的

4、含量成正比，據(jù)此可進行元素含量的定量分析。 X射線被物質吸收時，X射線能量將向其他形式轉化，產(chǎn)生電子電離、 X射線熒光、俄歇電子等光電效應。 當X射線管產(chǎn)生的X射線(一次X射線)照到物質(樣品)上時，一次X射線能量將物質中原子的K、L層電子逐出。這樣，原子就變成激發(fā)態(tài)。 K層或L層上產(chǎn)生的空位被外層電子填補后，原子便從激發(fā)態(tài)恢復到穩(wěn)定態(tài)，同時輻射出X射線。這些次生特征X射線也稱為二次特征輻射。 因其本質上屬于光致發(fā)光的熒光現(xiàn)象，即與短波射線激發(fā)物質產(chǎn)生次生輻射的熒光現(xiàn)象本質相同，故稱為 X射線熒光效應。 X射線熒光效應與X射線管產(chǎn)生特征X射線的過程相似，不同之處在于：X射線管產(chǎn)生特征X射線時，

5、入射線是高速運動的電子； 而產(chǎn)生熒光效應的入射線是高能X射線光子。相同之處在于：均產(chǎn)生波長特定的X射線，即特征X射線。 電子躍遷時多余的能量可以以特征輻射釋放，也可以改變原子本身的電子分布，從而在該原子內導致外殼層的一個或多個電子射出，這種現(xiàn)象即俄歇效應。 從某一殼層釋放出的有效X光子與這一殼層吸收初始光子的總量之比，叫做熒光產(chǎn)額( )。 的值必定小于1。隨著原子序數(shù)的降低，產(chǎn)生俄歇效應的幾率增大，的值就顯著降低。 任何元素的K、L、M等殼層 X射線特征譜線最強線的相對強度，取決于該元素原子中各殼層電子的遷出幾率。 若初始線的波長足夠短，將激發(fā)受輻照元素的所有線系。也就是說，能同時從該元素原子

6、的K、L、M殼層上逐出電子。 但在初始線束能夠激發(fā)元素最內層的情況下，則激發(fā)K層的幾率最大。因此，產(chǎn)生的K系譜線強度最高。 初始線束的波長越接近K吸收限短波一側，K殼層的激發(fā)幾率和K線系的強度也就越高。 但當初始線束的波長稍稍大于K吸收限波長時，K殼層的激發(fā)幾率和K線系強度都變?yōu)榱?。此時L殼層的激發(fā)幾率最高，且隨初始線束波長接近于吸收限短波一側而增加。 各譜線的熒光產(chǎn)額依K、L、M、N系列的順序遞減。因此原子序數(shù)小于55的元素通常用K系譜線作分析線； 原子序數(shù)大于55的元素，考慮到激發(fā)條件，連續(xù)X射線和分辨率等因素，一般選用L系作分析線。 在同系譜線中，每條譜線的強度決定于各較外層電子躍遷的幾

7、率，通常選用相對強度大的譜線作為分析線。 不同電子層產(chǎn)生的電子躍遷對應K系和L系等不同譜線，參見圖1.1.10。 K系譜線的相對強度為：K1:K2:K1,2:K =100:50:150:20 L系譜線的相對強度為：L1:L1:L2:L3 =100:50:150:20 就常用X射線光譜儀的工作范圍來說，有一半以上的元素，熒光產(chǎn)額小于0.4。同時，對于大于3.510-10m的波長來說。熒光產(chǎn)額不到0.1，這就是對X射線法用于長波時靈敏度的固有限制。 X射線熒光分析中采用的典型分光方法是晶體分光法(或波長色散法)。晶體分光X射線衍射極大的條件是由布拉格方程決定。 X射線熒光光譜儀從類型上可分為使用晶

8、體分光的波長色散型和使用半導體探測器的能量色散型兩種。 (1)波長色散型。一般說的X射線熒光光譜儀都是指使用晶體分光的波長色散型光譜儀。 這種儀器又可分為兩種，一種是對各元素逐一進行角度掃描的所謂掃描式光譜儀，其特點是對所有射線逐個測量，而不是像能譜儀那樣同時顯示，因此其測量速度慢； 另一種是多元素同時分析式光譜儀。它是在X射線譜儀上配置多個波譜儀，每個波譜儀測量特定范圍的波長，所有譜儀同時工作，從而提高了測量速度。 (2)能量色散型。以帶有半導體探測器和多道脈沖高度分析器為特征的X射線熒光光譜儀叫做能量色散型光譜儀。它具有同時測定多個元素的優(yōu)點，且數(shù)據(jù)處理速度快。 X射線譜儀與電子探針一樣，

9、都是利用波譜儀或能譜儀將 X射線展譜，測量其波長或能量，確定樣品的化學成分的。 下頁圖表示了波長色散X射線熒光光譜儀的主要特點。該儀器由三個主要部分組成，分別起激發(fā)、色散和探測的作用。即X射線發(fā)生器（X射線管、高壓電源及穩(wěn)定穩(wěn)流裝置）、分光檢測系統(tǒng)（分析晶體、準直器與檢測器）、記數(shù)記錄系統(tǒng)（脈沖輻射分析器、定標計、計時器、積分器、記錄器）。 右圖為利用平面分光晶體(也稱分析晶體)展譜的X射線光譜儀。為了獲得高強度的熒光X射線，X射線管盡可能靠近試樣。 為防止射線對操作者的傷害，試樣裝在防護盒內，熒光X射線從窗口射出。射線經(jīng)索拉光闌(索拉狹縫)準直后，射到分光晶體上。 轉動分光晶體，同時沿譜儀圓

10、轉動探測器，根據(jù)布拉格定律，在衍射方向上便可接收到不同波長的熒光X射線的衍射線。 如果利用彎曲分光晶體，就不用索拉光闌，此時熒光X 射線經(jīng)過一個窄的狹縫光闌，以發(fā)散形式射到彎晶上，反射線以聚焦形式通過接收狹縫進入探測器，如右圖所示。 聚焦法的優(yōu)點是可獲得高強度的熒光X射線。 由以上內容可知X射線譜儀和電子探針的波譜儀的幾何原理相同，只是激發(fā)源不同。 其他分類1）根據(jù)激發(fā)方式的不同，X射線熒光分析儀可分為源激發(fā)和管激發(fā)兩種：源激發(fā)儀器：用放射性同位素源發(fā)出的X射線作為原級X射線的X熒光分析儀；管激發(fā)儀器：用X射線發(fā)生器（又稱X光管）產(chǎn)生原級X射線的X熒光分析儀。 源激發(fā)和管激發(fā)各有優(yōu)缺點。1）源

11、激發(fā)類型的儀器：優(yōu)勢：結構簡單、緊湊，特別是放射性同位素源發(fā)出X射線是自然現(xiàn)象，其強度是非常穩(wěn)定的。劣勢：發(fā)出的X射線強度小，能量分布不可調。因此可分析元素種類是受限制的，光路的幾何布置必須非常緊湊，分析時間相對要長一些，譜線處理和定量分析計算難度較大。 2）管激發(fā)型儀器：優(yōu)勢：與放射性同位素源相比，最大的優(yōu)點在于其可調節(jié)性。通過調節(jié)管流和高壓，可以在一定范圍內改變輸出X射線的強度和分布，進而有選擇性地提高或減小對某些特定元素的激發(fā)效率，提高分析能力。X射線管的輸出強度遠遠高于放射性同位素源，光路的幾何布置受限制小，可使用準直器、濾光片、狹縫等進一步提高性能。 劣勢：給X光管提供高壓的高壓電源

12、穩(wěn)定性必須在萬分之三以下，X光管本身還需要冷卻，環(huán)境溫度、電網(wǎng)波動等因素都會影響X光管輸出X射線的穩(wěn)定性，從而影響儀器的穩(wěn)定性。 因此，一般來講，管激發(fā)儀器對使用環(huán)境及外圍條件的要求要比源激發(fā)儀器高得多。 2）就能量色散型儀器而言，根據(jù)選用探測器的不同，X射線熒光分析儀可分為半導體探測器和正比計數(shù)管兩種主要類型。 3）根據(jù)分析能力的大小還可分為多元素分析儀器和個別元素分析儀器。這種稱呼多用于能量色散型儀器。 4）在波長色散型儀器中，根據(jù)可同時分析元素的多少可分為，單道掃描X熒光光譜儀、小型多道X熒光光譜儀和大型X熒光光譜儀。 X射線管產(chǎn)生的激發(fā)源X射線(一次X射線)照射到被測樣品上，由于樣品物

13、質原子的內層低能態(tài)電子獲得能量后被激發(fā)而形成空位。 高能態(tài)軌道上的電子向低能態(tài)軌道上的空位遷移，并以光量子的形式釋放其多余的能量，形成X射線熒光(二次X射線)。 如果試樣中含有多種元素，就會激發(fā)出各種波長的熒光X射線。為了測量它們的波長，必須將波長展開，就像用棱鏡將太陽光按波長展開一樣。這種方法叫展譜。展譜也叫色散。 色散的方法有兩種： 一種使熒光X射線色散的方法是利用分光晶體將其按波長色散，形成波譜，這種方法稱為波長色散法； 另一種是按X射線的能量展開，形成能譜，這種方法稱為能量色散法。 兩種方法等效，但各有特點。與之相應有波長色散譜儀(波譜儀)和能量色散譜儀(能譜儀)。 X射線熒光經(jīng)入射索

14、拉光闌(入射狹縫)，平射到分光晶體(分析晶體)上，由于樣品中所含某一元素所對應的特征波長X射線只有在分光晶體處于某一相應角度時才能發(fā)生衍射，這樣通過轉動分光晶體的角度，就可使樣品中各種元素所對應的特征 X射線衍射線依順序形成。 與X射線衍射分析相同，晶體與探測器繞同一個軸以1:2的關系轉動，也就是說，當晶體轉動角度時，探測器轉過2角度。 因此，探測器總是位于接收任何衍射X射線的準確位置上。接收到衍射線后， 通過光電效應轉換成正比于X射線光子能量的電脈沖信號。 將衍射線序列所對應的分光晶體角度和電脈沖的大小等數(shù)據(jù)送入計算機系統(tǒng)進行數(shù)據(jù)處理，即可測定被測樣品所含成分及其含量。 下面就X射線熒光光譜

15、儀結構中各部分的一些具體問題及X射線熒光分析的特點作一介紹。 早期大部分的X射線工作，是直接用電子激發(fā)的，但是這種激發(fā)過程必須在高真空條件下進行，并且會引起試樣揮發(fā)、受激部分發(fā)熱等問題。 于是采用由一個理想的樣品(射線管的靶)激發(fā)一次X射線，然后再用這些一次射線，從樣品中激發(fā)出二次(熒光)輻射。 盡管對輕元素曾作了某些嘗試來探討可能的、更有效的直接電子激發(fā)方法，但在實用上常規(guī)X射線光譜測定方法目前都是基于上述的熒光技術。 對于熒光分析用X射線管，焦斑的尺寸一般為(56)mm (79)mm。X射線熒光分析不像衍射分析那樣要求有較嚴格的“點源， 只是要求有較大的X射線發(fā)射通量，故對于熒光分析用光管

16、，允許采用較大的焦斑尺寸，以提高功率容量。 色散(展譜)的目的，是為了將分析元素的譜線(分析線)從其他的特征譜線中分離開來，以便于對它單獨地進行強度測量。 準直器的作用是濾掉發(fā)散的X射線，使一束基本平行的光束到達晶體和探測器窗口。它就是前述的入射索拉光闌(入射狹縫)。 又稱索拉狹縫，實際為一組布拉格狹縫。使大樣品面上每個窄條都滿足布拉格條件，可增加測量強度，并消除樣品的不均勻性。索拉膜片幾乎是由金屬制成。 樣品的特征輻射經(jīng)過準直器形成平行光束后，為將各種不同波長的譜線分開，可以根據(jù)所要測量的波長范圍，選用不同的展譜方法。 在波長色散中，現(xiàn)在仍以晶體色散方法用得最廣泛。它把二次X射線束中的每種波

17、長在空間一一展開，形成一種波譜。 當晶體從2 =0(平行于準直的二次X射線束)逐漸轉向高角區(qū)時，依次通過各種波長的布拉格角使之發(fā)生衍射，直到一個極限角為止。 對根據(jù)布拉格公式，能夠反射的熒光X射線的波長應小于分光晶體反射晶面間距的兩倍。所以，對不同波長的射線需要不同的晶體。2d sinn =n2d =max 對分析晶體的選擇，最基本的是它的衍射強度、色散率和分辨率。必須合乎元素測定的要求，而且應當具有優(yōu)良的指標。 衍射強度：要求高的衍射強度，以便在較短的計數(shù)時間內，獲得較高的統(tǒng)計精確度，能分析很低的濃度，并且可以用2掃描。 處理：晶體經(jīng)過適當處理，能使其衍射強度增加2-20倍，這種處理包括：拋

18、光、腐蝕、干磨、加熱后淬火等，采用何種方法，取決于晶體的性質。 色散率：當波長發(fā)生變化時，所引起的衍射角或弧度的變化。色散率隨著2的增大而增大，適用于特定譜線的最佳晶體，其面間距2d應比該譜線波長大一些。 分辨率晶體分開或辨別波長幾乎相等的兩譜線的能力。影響分辨率的兩個因素：角色散（即兩條譜線2分開的程度）和發(fā)射度（即衍射線的2寬度）。隨著2d的減少，d/d增加。對于一定波長，最后的色散情況出現(xiàn)在大的角上，而晶體的2d要稍大于衍射的波長。小角分辨率最差。 X射線探測器是用來接收X射線，并把它轉化為可測量或可觀察的量，如可見光、電信號或其他一些可探測的信號。 然后再通過電子測量裝置，對這些量進行

19、測量。X射線探測器是X射線熒光分析儀的重要組成部分，其性能的好壞直接影響到整機的工作質量。 所有X射線探測器都是利用X射線和物質作用的各種特性來進行測量的。例如X射線作用于照相底片使底片感光的感光效應、使某些物質發(fā)光的熒光效應和使物質電離的電離效應等。 利用感光效應，可制成具有各種特性的感光底片，這是探測X射線最早也是最有效的手段之一，直到現(xiàn)在它還應用于X射線光譜研究的某些特殊場合。 利用熒光效應則制成了收集熒光的探測器，如閃爍計數(shù)器和熒光屏等。閃爍計數(shù)器對短波X射線具有較高的探測效率并具有能量分辨特性，所以是應用很廣泛的一種探測器。 利用電離效應又可以制成各種氣體電離探測器和固體探測器。 氣

20、體探測器中包括電離室、蓋革計數(shù)器和各種類型的正比計數(shù)器等。 固體探測器，即半導體探測器Si(Li)和Ge(Li)，應用在X射線熒光分析上時間不算太長，但由于它的高度能量分辨特性，使X射線能譜分析法得到了迅速的發(fā)展。 常用的探測器是閃爍計數(shù)器和正比計數(shù)器。 對短波X射線( 1 )，閃爍計數(shù)器較好，因為它對短波X射線的探測效率高。 對波長大于2 的射線用氣流式正比計數(shù)器較合適。 脈沖高度選擇與晶體色散中的波長分離不同它是以能量分離的方式，提供一種方法將適當窄的波長范圍與整個波譜分開。 用正比探測器把每個入射的波長轉變成具有其特征脈沖振幅的電壓脈沖，更確切地說，為脈沖分布，而平均脈沖高度正比于X射線

21、光子能量。脈沖高度選擇器的作用是，只讓一個特定選取的脈沖振幅范圍進入到定標電路里。 (1)優(yōu)點 1)分析速度快。測定用時跟精密度有關，但一般時間都很短。用一般的X射線熒光光譜儀測定一個樣品中的一個元素需要10l00s。 用同時測定多個元素的多通道光譜儀，則能在10l00s內測定完全部待測元素。 2) X射線熒光光譜不僅跟樣品的化學結合狀態(tài)無關。而且跟固體、粉體、液體及晶質、非晶質等物質的狀態(tài)也基本上沒有關系。 但是在高分辨率的精度測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。因此波長變化可用于化學位移的測定。 3)非破壞分析。 在測定中不會引起化學結合狀態(tài)的改變，

22、也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復多次測定，結果重現(xiàn)性好。 4) X射線熒光分析是一種物理分析方法，現(xiàn)可用于Be4U92間全部元素的分析。可分析的濃度范圍是l10-6100 %。分析精密度高。 5) X射線光譜比發(fā)射光譜簡單，故易于解析(易于定性分析)。 6)制樣簡單。板狀樣品把照射面加工成平面，粉末樣品經(jīng)粉碎、壓片后即可分析。粉末氧化物還往往制成玻璃樣片。液體樣品則使用專用的液體試樣槽。 7)X射線熒光分析系表面分析，測定部位大多是0.1mm深以上的表面層。這一特點已用于表面層狀態(tài)或鍍層厚度等測定中。 (2)缺點 1)難于作絕對分析，故定量分析需要標樣。 2)原子序數(shù)低的元素，其檢出限及

23、測定誤差一般都比原子序數(shù)高的元素差。 對試樣內所含元素進行定性分析是比較容易的，特別是在譜儀上配上計算機，就可以直接給出試樣內所有元素的名稱。 若用不帶計算機的譜儀進行分析，必須備有兩種表格：一種是所用分光晶體的反射角2 和波長的關系表，根據(jù)2查出 ；另一種是所有元素K系和L系的波長表，根據(jù)波長確定元素 。 事實上，在定性分析時，可以靠計算機自動識別譜線，給出定性結果。但是如果元素含量過低或存在元素間的譜線干擾時，仍需人工鑒別。 首先識別出X射線管靶材的特征X射線和強峰的伴隨線，然后根據(jù)2角標注剩斜譜線。在分析未知譜線時，要同時考慮到樣品的來源，性質等因素，以便綜合判斷。 如果沒有影響射線強度

24、的因素，試樣內元素A發(fā)出的熒光X射線的強度IA與該元素在試樣內的原子分數(shù)成正比。 但是實際上存在影響熒光X射線強度的因素，這些因素與電子探針情況基本相同，不過這里不叫ZAF效應，而叫基體吸收效應和增強效應。 試樣的吸收系數(shù)與其成分有關，當試樣的化學成分變化時，其吸系數(shù)也隨之改變。所以，元素A的熒光X射線強度不但與元素A的含量有關，還與試樣其他元素的種類和含量有關。 這里說的吸收包括兩部分：一次X射線進入試樣時所受的吸收和熒光X射線從試樣射出時所受的吸收。吸收的多少與X射線的波長和試樣中各元素含量、吸收系數(shù)及其吸收限有關。 總之，所謂基體效應是指樣品的基本化學組成和物理化學狀態(tài)的變化對X射線熒光

25、強度所造成的影響。化學組成的變化，會影響樣品對一次X射線和X射線熒光的吸收，也會改變熒光增強效應。 如果一次X射線激發(fā)試樣內的B元素，產(chǎn)生熒光X射線，其波長為B 。若B 小于A元素的吸收限K ，則A元素的K系輻射不但有一次 X射線激發(fā)的，還有B元素的熒光X射線激發(fā)的，結果使A元素的熒光X射線的強度增加了，這就是增強效應。 定量分析的方法很多，其原理都是根據(jù)熒光X射線的強度確定元素含量。但是在處理基體吸收和增強效應的思路和方法不同，提出許多不同的方法?？梢詫⑦@些方法分為兩大類：實驗校正法和數(shù)學校正法。 此法又稱校正曲線法，是利用實驗曲線(校正曲線)進行元素的定量測定。它又可分外標法、內標法、散射

26、線標準法、增量法等多種方法。 外標法是以試樣中分析元素的分析譜線強度與外部標樣中已知含量的這一元素的同一譜線相比較，來確定試樣中分析元素的含量。 外部標樣可以人工制作，也可以是經(jīng)過精確測定其成分含量的其他樣品。 內標法即是試樣中加入一種已知量的標準元素，其譜線的波長與分析元素的分析譜線相近，通過測量它們的強度比確定分析元素的含量。也是利用校正曲線進行測量。 由于標準元素必須加入試樣內，因而在應用上有一定的局限性。它只適用于粉末狀和液體樣品，不適用于固體塊狀樣品。有時也不易找到合適的內標元素，所以其應用不如外標法廣泛。 增量法：該法從分析樣品中制備多個供測定用的試樣，除留下一個作基準外，其余都均

27、勻地混入已知量的被測元素（或與被測定物質化學組成類似的物質）作為供測定用的試樣。改變加入量，制備多個試樣，以無加入的試樣為基準，從分析元素的X射線強度的增加來定量分析被測元素。此法不使用高濃度樣品，一般標樣制備困難，被測樣品少的情況下采用此法。 它是用數(shù)學計算法校正吸收增強效應，求出試樣中某一元素的含量。實驗校正法適用于分析元素含量變化范圍窄、混和物中其他元素含量也變化不大的情況。 當試樣中的元素很多，含量變化大時，由于基體吸收和增強效應變化較大，分析元素的譜線強度不僅與該元素的含量有關，還會因基體中的其他元素含量的變化而變化。 所以，不能用一條校正曲線確定分析元素的含量，而需要一系列這樣的校

28、正曲線，這是很繁鎖的。在這種情況下利用數(shù)學校正法較合適。 數(shù)學校正法也包括許多具體的方法，主要有經(jīng)驗系數(shù)法和基本參數(shù)法。便攜X射線熒光分析儀x射線熒光分析儀.flvx射線熒光分析儀1.flv5.3 樣品的制備 塊狀樣品：如果塊狀物質是均勻的，又有適當?shù)臉藰樱瑒t直接進行分析即可。這類樣品的制備，只需在大塊物料上切割下適當大小的一片，然后拋光其一個表面即可進行測定。5.3 樣品的制備 塊狀試樣分析的主要缺點： 某些合金和礦石以及礦渣等樣品內部元素分布很不均勻，往往造成嚴重的分析誤差； 塊狀試樣的標準樣品制備困難，用人工合成的方法很難仿制； 很多定量分析方法的應用受到限制，如稀釋法、內標法和增量法。

29、5.3 樣品的制備 粉末樣品制樣的要求：粉碎：一般需要粉碎至250目，分析波長2.510-10m時，一般要求粒度達到325目或400目以下；干燥：一般樣品需要105以下烘干1h以上，以驅走吸收的水汽；加料：在制備試樣或標樣過程中，有時需要加入某些物質，如內標元素、稀釋劑或粘結劑等，在這些情況下，最好把要加入的物質事先加到樣品內，然后一起研磨到所需粒度。5.3 樣品的制備 液體樣品優(yōu)勢： 經(jīng)過化學處理成溶液，消除了粉末或固體樣品的不均勻性和粒度效應； 由于溶劑的稀釋，試樣與標樣具有相似的組成，基本上消除了樣品的吸收-增強效應； 可用內標法、稀釋法或增量法。5.3 樣品的制備 液體樣品劣勢： 對固體粉末試樣，使用此法較慢； 制備好的樣品和標樣必須有較長時間的穩(wěn)定性，否則不宜于此法； 試樣在X射線管附近，由于熱輻射引起