硬盤各項(xiàng)參數(shù)解釋

1、01 =Read Error Rate / （ 底層）數(shù)據(jù)讀取錯誤率指從磁盤表面讀取數(shù)據(jù)時發(fā)生的硬件讀取錯誤的比率，Raw值對于不同的廠商有著不同的體系，單純看做1個十進(jìn)制數(shù)字是沒有任何意 義的。*以上為Wiki上的英文翻譯版本，此屬性貌似存在分歧，有的說值高 了好，有的說低了好，此處我們還是按照Wiki上的吧，反正只要Worst 不小于 Threshold 就行了。*這里的Raw值也可能不同，比如我筆記本上的ST硬盤就Raw為0,而臺式機(jī)上1.5T的ST就為227901540。02 =Throughput Performance /吞吐性能（讀寫通量性能）Raw值越高越好整體（普通）的硬盤驅(qū)

2、動器的吞吐性能。如果這個屬性的值一直在下降 有很大的可能性是硬盤有問題了。* 一般在進(jìn)行了人工 Offline S.M.A.R.T.測試以后才會有值。03 =Spin-Up Time /馬達(dá)旋轉(zhuǎn)到標(biāo)準(zhǔn)轉(zhuǎn)速所需時間Raw值越低越好主軸旋轉(zhuǎn)加速的平均時間（從零轉(zhuǎn)速到完全運(yùn)轉(zhuǎn)（標(biāo)準(zhǔn)轉(zhuǎn)速）毫秒）。 單位也可能為秒。如果是0的話證明這一項(xiàng)沒有讀對，或者是這一項(xiàng)的數(shù)據(jù)生成錯誤。不應(yīng)該出現(xiàn)0的結(jié)果。04 =Start/Stop Count /啟動 / 停止計(jì)數(shù)馬達(dá) 啟動/停止 周期的計(jì)數(shù)。當(dāng)馬達(dá)啟動或硬盤完全停止工作后（斷 開電源）啟動和硬盤從睡眠模式回復(fù)到先前狀態(tài)，計(jì)數(shù)都會增加。*一般來說開機(jī)一次這個就加

3、 1,也可以看做是通電次數(shù)，這一般是 個壽命參考值，本身不具有任何指標(biāo)性，購買硬盤時可以參考此值。05 =Reallocated Sectors Count /重新配扇區(qū)的計(jì)數(shù)Raw值越低越好對重新分配的扇區(qū)的計(jì)數(shù)，當(dāng)硬盤發(fā)現(xiàn)一個 讀取/寫入/校驗(yàn) 錯誤時 它將這個扇區(qū)標(biāo)示為“重新分配”，并且將數(shù)據(jù)傳輸?shù)揭粋€特殊的保 留區(qū)（空閑區(qū)）。這個過程也稱為是“重定向”，這個重新分配的扇區(qū) 叫做“重新映射”。這就是為什么，現(xiàn)在的硬盤當(dāng)進(jìn)行表面測試的時 候是找不到“壞塊”的，所有的壞塊都被隱藏在重新分配的扇區(qū)中。然而，隨著重新定位的扇區(qū)增加，讀取 /寫入速度趨向于降低。Raw 值通常代表一系列已經(jīng)發(fā)現(xiàn)和重

4、映射的壞扇區(qū)， 因此，這個屬性值越 高，硬盤就有越多的扇區(qū)被重定位，所以這個值是越小越好。*理想情況下這個值應(yīng)該為0,如果不為0也不要太驚慌，而是應(yīng)該 比較密切的關(guān)注這個值的變化情況： 如果連續(xù)幾周沒有變化，那你應(yīng) 該可以放心的繼續(xù)使用比較長的一段時間； 如果這個值持續(xù)攀升，那 么請盡快備份所有數(shù)據(jù)，并考慮購買新硬盤。06 =Read *nel Margin /讀取通道邊界讀取數(shù)據(jù)時通道的邊界，這個屬性的功能并不明確07 =Seek Error Rate /尋道錯誤率磁頭尋道錯誤的比率，如果機(jī)械定位系統(tǒng)中有局部的故障， 那么尋道 錯誤率會增加，這種故障是多種因素造成的。 Raw值對于不同的廠

5、商有著不同的體系，單純看做1個十進(jìn)制數(shù)字是沒有任何意義的08 =Seek Time Performance / 尋道時間性能Raw值越高越好磁頭尋道操作的平均性能，如果這個屬性的值持續(xù)下降，這是機(jī)械子 系統(tǒng)有問題的標(biāo)志09 =Power-On Hours （POH） /累計(jì)通電時間Raw值越低越好通電時間計(jì)數(shù)，Raw值顯示在通電狀態(tài)下的總小時數(shù)（或者是 分鐘, 秒，取決于制造商）磁盤加電時間。初始值的字段顯示為此裝置總開機(jī)時間的累計(jì)。*參考磁盤廠家給的該款硬盤的MTBF（平均故障間隔時間）可以估計(jì)故障概率。但是也有可能超過 MTBF而不會出現(xiàn)故障，因?yàn)榻y(tǒng)計(jì) 數(shù)據(jù)對于個體來說是不精確的，是一個壽

6、命參考值，本身不具任何指 標(biāo)性。*購買硬盤時可以看此值，新的硬盤一般為0或者幾十以內(nèi)，過分大的可能就是被人用過了0A =Spin Retry Count 或 Spin-up Retry Count /旋轉(zhuǎn)重試計(jì)數(shù)或馬達(dá)重試計(jì)數(shù)Raw值越低越好馬達(dá)重試啟動嘗試的的總數(shù)，這個屬性存儲馬達(dá)嘗試啟動的到全速運(yùn)轉(zhuǎn)（第一次嘗試失敗的情況）的總數(shù)，這個屬性的值的上升，是硬盤機(jī)械子系統(tǒng)有問題的標(biāo)志*理想情況應(yīng)該為0,在某些情況下可能人為造成這個值的非故障升 高，比如電壓供給不足。0B =Recalibration Retries /校準(zhǔn)重試Calibration_Retry_Count /校準(zhǔn)重試計(jì)數(shù)Raw值

7、越低越好這個屬性指被要求重新校驗(yàn)的次數(shù)（第一次嘗試失敗的情況下）。這個 屬性的值的上升，是硬盤機(jī)械子系統(tǒng)有問題的標(biāo)志0C =Power Cycle Count / 通電周期計(jì)數(shù)這個屬性是指這個硬盤電源 開/關(guān) 周期的總數(shù)。這是個壽命參考值，本身不具任何指標(biāo)性。0D =Soft Read Error Rate / 軟件讀出誤碼率（可校正讀出誤碼率）Raw值越低越好報告給操作系統(tǒng)的未修正的讀取錯誤。高值暗示有扇區(qū)不穩(wěn)定。B7 =SATA Downshift Error Count / SATA降檔錯誤計(jì)數(shù)西部數(shù)據(jù)和三星的屬性。B8 =End-to-End error / 端對端錯誤Raw值越低越好

8、這個屬性是HP的SMART IV技術(shù)的一部分，它表示傳輸通過高速緩 存內(nèi)存數(shù)據(jù)緩沖區(qū)后主機(jī)和硬盤驅(qū)動器間的校驗(yàn)數(shù)據(jù)不匹配。B9 =Head Stability /頭穩(wěn)定性西部數(shù)據(jù)的屬性。BA =Induced Op-Vibration Detection /感應(yīng)運(yùn)算振動檢測西部數(shù)據(jù)的屬性。BB =Reported Uncorrectable Errors /反饋無法校正的錯誤Raw值越低越好不能使用硬件ECC恢復(fù)的錯誤總數(shù)。BC =Command Timeout /命令超時Raw值越低越好因?yàn)镠DD超時導(dǎo)致放棄操作的數(shù)量，通常情況下，這個屬性值應(yīng)該 等于0,如果這個只遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于0,那么，很可能電

9、源供應(yīng)有很嚴(yán)重的 問題，或者數(shù)據(jù)線被氧化。BD =High Fly Writes / 高飛寫入Raw值越低越好HDD生產(chǎn)商實(shí)現(xiàn)一個飛行高度監(jiān)視器來嘗試對于檢測到記錄頭正 在飛出它的正常操作范圍時的寫入操作提供額外的保護(hù)，如果發(fā)生不安全的飛行高度條件，寫入進(jìn)程停止工作，信息將被重寫或者重定向 到磁盤上一個安全的區(qū)域。這個顯示在硬盤生命周期內(nèi)檢測到的這些 錯誤的總數(shù)。這個特性實(shí)現(xiàn)在大多數(shù)現(xiàn)代的希捷驅(qū)動器和一些西部數(shù)據(jù)的驅(qū)動器中，西部數(shù)據(jù)驅(qū)動器開始于WD企業(yè)級 WDE18300和WDE9<0>180 Ultra2 SCSI硬盤驅(qū)動器，它將被包含在未來所有西部數(shù)據(jù)企業(yè)級產(chǎn)品中。BE =Ai

10、rflow Temperature （WDC） /氣流溫度（西部數(shù)據(jù)）Raw值越低越好西部數(shù)據(jù)硬盤上的氣流溫度（和C2的Temperature 數(shù)值一樣，但 是在有些型號上臂當(dāng)前值會少 50.此值已經(jīng)廢棄了）。BE =Temperature Difference from 100 / 從 100 開始的溫差Raw值越高越好值和（100 -溫度。C）相跳許制造商對于符合的最高溫度設(shè)置一 個最小限制（可能是希捷專有？）。BF =G-sense Error Rate /加速度錯誤率 或 震動偵測錯誤率Raw值越低越好因外來的沖擊和震動導(dǎo)致的錯誤數(shù)。C0 =Power-off Retract Coun

11、t /斷電磁頭縮回計(jì)數(shù)Emergency Retract Cycle Count （Fujitsu） /緊急回縮周期計(jì)數(shù)（菖士通）Raw值越低越好磁頭被載離媒體的次數(shù)計(jì)數(shù)。磁頭能在沒完全斷電的前縮回。*這個屬性所顯示的數(shù)字表示這塊磁盤白動關(guān)機(jī)（突然斷電）的次數(shù)。C1 =Load Cycle Count / 磁頭伸出周期計(jì)數(shù)Load/Unload Cycle Count （Fujitsu） / 磁頭升降周期計(jì)數(shù)（富士通）Raw值越低越好從磁頭零區(qū)域加載/卸載（升降）周期的次數(shù)。通常的便攜式電腦 （2.5 英寸）加載（伸出）周期的壽命為200,000到600,000，一些便攜式電腦 的驅(qū)動器被設(shè)計(jì)

12、成當(dāng)5秒內(nèi)沒有任何活丁動時就卸載（縮回）磁頭。許 多Linux安裝程序后臺1分鐘內(nèi)只寫入文件系統(tǒng)幾次。因此，每小時 可能有100或更多次的磁頭加載（伸出）周期，并且可能在1年之內(nèi)就 超出磁頭伸出周期額定值。*這是一個壽命參考值，本身不具任何指標(biāo)性。C2 =Temperature / 溫度Raw值越低越好當(dāng)前的內(nèi)部溫度。*具體溫度極限參考硬盤廠家各款硬盤的技術(shù)指標(biāo)。1個十進(jìn)制數(shù)字C3 =Hardware ECC Recovered / 硬件 ECC 校正Raw值對于不同的廠商有著不同的體系，單純看做是沒有任何意義的。C4 =Reallocation Event Count /重新分配事丁件計(jì)數(shù)R

13、aw值越低越好重新映射操作的計(jì)數(shù)。這個屬性的Raw值顯示了總的嘗試從重新分配扇區(qū)轉(zhuǎn)移數(shù)據(jù)到空閑空間的次數(shù)。不管成功與否都會被記錄。*這個計(jì)數(shù)就包含了上次讀操作有錯誤的不穩(wěn)定扇區(qū)。如果下次這些扇區(qū)讀操作無錯誤，這個值可能減少。C5 =Current Pending Sector Count /目前待映射扇區(qū)數(shù)Raw值越低越好“不穩(wěn)定”扇區(qū)總數(shù)（因?yàn)樽x取錯誤，等待重新映射）。如果一個不穩(wěn) 定的扇區(qū)隨后能成功寫入或讀取，這個值將降低，這個扇區(qū)將不被重 新映射。一個讀寫錯誤的扇區(qū)不會被重新映射 （因?yàn)橐院笏锌赡苡?能讀寫）；取而代之的是，驅(qū)動器固件將記住此扇區(qū)需要被重新映射。 并且會在當(dāng)其被寫入時重

14、新映射。*這里有個問題，即當(dāng)被固件記錄后，有些文章寫到只有在寫入出錯 的時候它才會被重新映射， 而 Wiki上的原文是“ andmaps it thenext time it's written.故這里標(biāo)記一下C6 =Uncorrectable Sector Count /無法校正扇區(qū)數(shù)Off-Line Scan Uncorrectable Sector Count (Fujitsu) /脫機(jī)無法校正扇區(qū)數(shù)(富士通)Raw值越低越好讀寫錯誤不能被校正的扇區(qū)總數(shù)。這個屬性值的升高意味著盤片表面 有缺陷或者是機(jī)械子系統(tǒng)有問題。*這些扇區(qū)目前已經(jīng)不能讀取，如果有文件使用這些扇區(qū)，則操作系 統(tǒng)

15、會返回讀取錯誤；當(dāng)下一次寫操作發(fā)生時硬盤會對扇區(qū)白動重定位；同時，重定位扇區(qū)計(jì)數(shù) (Reallocated Sector Count)增加，這個值 減少。C7 =UltraDMA CRC Error Count / Ultra DMA CRC錯誤計(jì)數(shù)Raw值越低越好在數(shù)據(jù)傳輸錯通過接口電纜時被 ICRC(接口循環(huán)冗余校驗(yàn))所確定的錯誤總數(shù)。C8 =Write Error Rate （Fujitsu） /寫入錯誤率（富士通）Raw值越低越好當(dāng)寫入一個扇區(qū)時錯誤的總數(shù)。* 一般不為零也不要緊，但是如果持續(xù)快速升高，暗示盤體 /磁頭機(jī) 械有問題。C9 =Soft Read Error Rate /軟

16、讀出誤碼率（可校正讀出誤碼率）Raw值越低越好CA =Data Address Mark errors /數(shù)據(jù)地址標(biāo)記錯誤Raw值越低越好數(shù)據(jù)地址標(biāo)記錯誤（或供應(yīng)商特有）CB =Run Out Cancel / ECC 錯誤發(fā)生率ECC Errors (Maxtor) / ECC 錯誤(邁拓)Raw值越低越好ECC錯誤的數(shù)量。CC =Soft ECC Correction / 軟件 ECC 校正Raw值越低越好因軟件ECC導(dǎo)致的錯誤總數(shù)。CD =Thermal Asperity Rate (TAR) / 過溫率Raw值越低越好因溫度過高導(dǎo)致的錯誤數(shù)量。*溫度過高的頻率，代表主軸馬達(dá)可能受損，或

17、是散熱不良。CE =Flying Height /飛行高度 磁頭離盤片表面的高度。太低將增加頭部撞擊機(jī)率，太高將增加讀取 錯誤機(jī)率。CF =Spin High Current /旋上高電流Raw值越低越好當(dāng)前用來使驅(qū)動器馬達(dá)旋轉(zhuǎn)所用的電涌（電流）量。*也有資料寫：主軸馬達(dá)旋轉(zhuǎn)時所使用的電流量，耗電量變大意味著軸承可能磨損。D0 =Spin Buzz因電力不足所啟動馬達(dá)所需的重試次數(shù)。D1 =Offline Seek Performance / 離線尋軌性能驅(qū)動器內(nèi)部測試時的尋道性能。寫入時震動D3 =Vibration During Write /寫入時震動D4 =Shock During W

18、rite /寫入時受沖擊寫入時受沖擊。DC =Disk Shift /磁盤移位Raw值越低越好盤片對于軸心的位移距離（通常是由于沖擊或者熱漲冷縮），衡量單位 未知。*通常由強(qiáng)烈的撞擊或墜落造成。221 DD =G-Sense Error Rate /加速度錯誤率（震動偵測錯誤率）Raw值越低越好因外來的沖擊和震動導(dǎo)致的錯誤數(shù)。DE =Loaded Hours / 作業(yè)時間數(shù)據(jù)加載操作時所花費(fèi)的時間。（磁頭電樞的運(yùn)動）DF =Load/Unload Retry Count /磁頭升降重試次數(shù)磁頭改變位置的次數(shù)。E0 =Load Friction /加載摩擦Raw值越低越好在運(yùn)行時因機(jī)械部分的摩擦而產(chǎn)生的阻力。E1 =Load/Unloa