光釋光年代學(xué)試驗(yàn)室

1、光釋光年代學(xué)實(shí)驗(yàn)室發(fā)布時(shí)間實(shí)驗(yàn)室名稱(chēng)： 光釋光年代學(xué)實(shí)驗(yàn)室所屬實(shí)驗(yàn)單元： 年輕地質(zhì)體年代測(cè)試中心 實(shí)驗(yàn)室位置： 北樓 101 實(shí)驗(yàn)室負(fù)責(zé)人： 張克旗實(shí)驗(yàn)室介紹：本實(shí)驗(yàn)室擁有美國(guó)產(chǎn) Daybreak2200 型光釋光 /熱釋光信號(hào)測(cè)試儀 2 臺(tái)，可完成多測(cè)片、 單測(cè)片等技術(shù)和方法的常規(guī)測(cè)年，可對(duì)第四紀(jì)不同類(lèi)型碎屑沉積物的沉積年齡進(jìn)行常規(guī)測(cè) 試。釋光測(cè)年方法測(cè)定的是第四紀(jì)沉積物中石英、長(zhǎng)石等礦物最后一次曝光后被埋藏的年 齡，即沉積年齡。自然界的沉積物中均含有微量鈾、釷、鉀等放射性元素，這些元素在衰變 過(guò)程中會(huì)釋放 a伙丫射線(xiàn)，這些射線(xiàn)與來(lái)自宇宙的射線(xiàn)等可以使石英、長(zhǎng)石等礦物晶體電 離，產(chǎn)生游離電子

2、。 一些游離電子被晶格缺陷陷獲后貯藏在陷阱中而變?yōu)橄莴@電子。 當(dāng)石英、 長(zhǎng)石等礦物受到熱或者光照時(shí)， 陷獲電子可獲得能量， 逃出陷阱， 并在此過(guò)程中出現(xiàn)發(fā)光現(xiàn) 象，釋放出的光子被稱(chēng)為光釋光（光照）或熱釋光（加熱），英文簡(jiǎn)寫(xiě)分別為OSL 和 TL。陷獲電子的數(shù)量與礦物的沉積時(shí)間具有相關(guān)性， 可以用相應(yīng)的數(shù)學(xué)方程式表達(dá)。 實(shí)驗(yàn)室通過(guò) 人工測(cè)量天然的 OSL/TL 信號(hào)強(qiáng)度， 然后采用對(duì)樣品人工輻照的方式誘發(fā)釋光信號(hào)， 并建立 起釋光信號(hào)生長(zhǎng)曲線(xiàn)， 建立起相應(yīng)的數(shù)學(xué)方程式， 反推出年齡。 該技術(shù)已經(jīng)廣泛應(yīng)用于第四 紀(jì)地質(zhì)、 環(huán)境、 水文地質(zhì)、 新構(gòu)造活動(dòng)等研究。 此外， 礦物釋光技術(shù)也被廣泛應(yīng)用于古

3、陶器、 瓷器、燧石石器等考古器物測(cè)年以及第四紀(jì)火山噴發(fā)事件年齡測(cè)定。儀器介紹：Daybreak2200型光釋光/熱釋光信號(hào)測(cè)試儀托盤(pán)一次最多可放置60個(gè)測(cè)樣；樣品測(cè)試時(shí)溫度可從室溫至500 °；獨(dú)特設(shè)計(jì)讓激發(fā)光源不會(huì)對(duì)待測(cè)樣品產(chǎn)生影響；高度集成的LED紅外/藍(lán)光激發(fā)光源，前者波長(zhǎng) 880nm,功率密度為50mW/cm2 ;后者波長(zhǎng)470nm，功率密度 為60mW/cm2 ; Sr-90 B放射源集成安裝于設(shè)備上，可編程用于樣品的輻照。所有的測(cè)試均 可以由計(jì)算機(jī)控制完成，采用軟件自帶的編程器可以迅速完成對(duì)單、多測(cè)片的常規(guī)測(cè)試流程編制并執(zhí)行。儀器結(jié)構(gòu)緊湊，占地面積小，便于操作及維護(hù)。Daybreak2200型光釋光/熱釋光信號(hào)測(cè)試儀主要研究方向和內(nèi)容:目前實(shí)驗(yàn)室主要研究方向?yàn)樾聵?gòu)造及活動(dòng)構(gòu)造，第四紀(jì)環(huán)境等方面，愿意與國(guó)內(nèi)外有興趣的研究者開(kāi)展合作交流及研究。同時(shí)可接受外界樣品來(lái)測(cè)試。實(shí)驗(yàn)室成員：張克旗：助理研究員，負(fù)責(zé)實(shí)驗(yàn)室運(yùn)行管理和發(fā)展聯(lián)系方式：E-mail: zha nqkeqigeomech.ac.c n近