工藝礦物學復習

1、1.1何謂工藝礦物學？它的基本任務(wù)是什么？答：工藝礦物學，即是以工業(yè)固體原料與其產(chǎn)物的礦物學特征和加工時組成礦物性狀為研究目標的邊緣性學科。研究工業(yè)固體原料與其產(chǎn)物的礦物組成及其分布；對影響或制約生產(chǎn)工藝運行質(zhì)量的礦物性狀進行分析，這些性狀包括幾何、物理、化學等方面的表現(xiàn)與特征。1.3簡要勒出工藝礦物學的10項研究內(nèi)容，并指出其中哪幾項屬于學科的基礎(chǔ)知識、基本理論與基本技能。答：原料與產(chǎn)物中的礦物組成；原料與產(chǎn)物中的礦物粒度分析；原料與產(chǎn)物中的元素賦存狀態(tài)；礦物在工藝加工進程中的性狀；礦物工藝性質(zhì)改變的可能性和機理；判明尾礦和廢渣綜合利用的可能性；礦物的工藝性質(zhì)與元素組成和結(jié)構(gòu)的關(guān)系；查明礦石

2、的工藝類型空間分布規(guī)律，編制礦物工藝圖工藝地質(zhì)填圖；研究工業(yè)固體原料加工前的表生變化；分析礦物工藝性質(zhì)的生成條件；其中礦物組成、粒度分析、元素賦存狀態(tài)和礦物加工時的性狀等內(nèi)容，在學科中具有基礎(chǔ)知識、基本理論和基本技能的性質(zhì)1.4取樣和誤差控制應(yīng)當遵循的基本原則是什么？對樣品要求：要有充分的代表性。樣品的基本特征為：代表該礦床主金屬(或伴生有益組分)各品級儲量；代表該礦床各類型礦石的平均品位，其中包括高、中低3種品位；代表礦石的礦物組成及其化學成分；代表圍巖、夾層、脈石的種類、性質(zhì)及含量；代表有用礦物粒度特征及礦石結(jié)構(gòu)、構(gòu)造特征。取樣方式：兩種從分選產(chǎn)品及試驗用樣中抽?。辉诠に嚰庸と狱c上采取地

3、質(zhì)標本樣。試樣觀測方法：是在顯微鏡下對礦石中的主要有用有害組分的含量、存在狀態(tài)、礦物粒度、嵌鑲關(guān)系以及礦石在破碎過程中的連生、解離狀況迅速做出可靠結(jié)論。觀測一定數(shù)量的礦物顆粒，觀測點數(shù)：經(jīng)驗的作法是取10001500個觀測點；另一種辦法是根據(jù)數(shù)理統(tǒng)計原理求取一個合理的試樣觀測值。3.1反光顯微鏡與普通偏光顯微鏡又什么區(qū)別？答：反光顯微鏡與偏光顯微鏡相比，增加了光源和垂直照明器。3.2反光顯微鏡的反射器有哪兩種主要類型？他們各有什么優(yōu)缺點？玻片式，優(yōu)點是光線可以通過物鏡的全孔徑，視域亮度均勻，分辨率較強，可以進行全孔徑偏光圖的觀察?？s小孔徑光圈可使光線近于垂直入射和反射，在礦物光學性質(zhì)測定時可以

4、得到較正確的結(jié)果。缺點是光線損失大，因第二次反射產(chǎn)生耀光影響物質(zhì)的清晰度。棱鏡式，優(yōu)點有效光線大、光線損失小。缺點是反射器擋住光路一半，降低物鏡的分辨率，偏光圖也只有一半，易發(fā)生明顯的橢圓偏振化和橢圓長軸的旋轉(zhuǎn)，影響某些光學性質(zhì)的測定。3.4影響礦物反射色的因素有哪些？答：影響反射色觀察的因素：光源，光源的強度與色調(diào)，當光源較弱時，反射色會變黃，為了濾去光源中多余的黃光，顯微鏡上配備有藍色濾色片。（要求白光中不帶黃或藍的色調(diào)，常以方鉛礦為白色標準來調(diào)節(jié)光源色調(diào)）、光片，光片的磨光質(zhì)量要高，安裝必須正確。當光片表面存在氧化膜時會出現(xiàn)各種色彩，故光片必須保持新鮮和清潔的表面。周圍環(huán)境、礦物的影響（

5、視覺的色變效應(yīng)）。3.5反射色描述：色調(diào)、色調(diào)濃度、亮度5.1礦物定量的目的、意義是什么？答：礦物定量指確定礦石（或流程產(chǎn)物）中各組成礦物相對含量的工作。通過對選礦生產(chǎn)流程中各產(chǎn)物組成礦物的定量，可以從礦物學角度詳細分析各選礦作業(yè)的效率，有助于分析目的礦物和有害礦物在流程中的走向及其行為規(guī)律，對于分析選礦流程結(jié)構(gòu)及工藝條件的合理性、指導選礦流程的優(yōu)化等具有重要意義。基本方式主要是：分離礦物定量、目估定量、鏡下礦物定量、化學元素分析礦物定量、儀器定量5.2分離礦物定量法基本原理是是什么？主要有哪幾種方法？利用待測礦物與原料中其它礦物性質(zhì)的差異，將待測礦物從原料中分離出來而進行的一種方法主要方法：

6、重力分離法、磁力分離法、介電分離、選擇性溶解、高壓靜電分離。5.3對于結(jié)晶粒度粗大的磁鐵礦礦石中磁鐵礦的定量可采用哪些方法？答:主要是分離礦物定量法.5.4礦物鏡下定量方法：計點法、直線法、面積法5.5礦物定量校核結(jié)果方程式：礦石中某礦物的定量統(tǒng)計值該礦物中校核元素的含量礦石中該校核元素的化驗分析值（兩者相對誤差值小于10即認可合格）6.1元素賦存狀態(tài)研究有何意義和作用？答：研究元素在礦石礦物中的賦存狀態(tài)，不但對礦產(chǎn)資源勘查具有重要意義，而且對礦山生產(chǎn)、礦山建設(shè)過程中礦石的選冶試驗與生產(chǎn)更具有重要的指導意義。元素賦存特性直接和礦山企業(yè)的經(jīng)濟效益掛鉤，弄清賦存特征，可以有目的地指導采礦和選礦工作

7、。其目的是查明化學元素在礦物原料中的存在形式和分布規(guī)律。為礦物加工和冶金工藝方法的選擇和最優(yōu)指標的控制提供基礎(chǔ)資料和理論基礎(chǔ)。6.2元素在礦物中組要與哪幾種存在形式，這些存在形式的主要特征是什么？又哪些研究方法？答：.獨立礦物：一種是肉眼或雙筒顯微鏡下可以挑選的礦物；一種是以微細包裹體形式存在于其他礦物中。.類質(zhì)同像：是很普遍的一種現(xiàn)象。對類質(zhì)同像的研究，構(gòu)成了地質(zhì)領(lǐng)域的一個重要方面。.離子吸附：是指元素呈吸附狀態(tài)存在于某種礦物中。根據(jù)吸附性質(zhì)可分物理吸附、化學吸附和交換吸附三種。主要研究方法有：重砂法、選擇性溶解法、電滲析法、電子探針法、激光顯微鏡光譜法、數(shù)理統(tǒng)計法6.3重砂法能否用于研究呈

8、類質(zhì)同象狀態(tài)的元素？答：不能，重砂法：適用于顆粒大、含量高、易于分選的礦物。7.1名詞解釋顆粒粒度標準粒度工藝粒度答：顆粒:系由封閉表面圈定,于某種環(huán)境中不可再分且不含有空洞、孔隙的單元固體。粒度：是對顆粒幾何形體大小的衡量。標準粒度：顆粒是填充于自身組織系統(tǒng)中的幾何實體。每個顆粒都占據(jù)有一定大小的空間，它的數(shù)值是體積V。不論顆粒的形狀如何，體積V是其占有空間大小的唯一真實數(shù)據(jù)。當用線性值D標定顆粒大小時，DV1/3稱之為它的標準粒度。工藝粒度：進入破碎、磨礦作業(yè)的礦石受力粉碎時，組成礦物分離成為單一成分的最大顆粒尺寸，稱之為該礦物的工藝粒度。工藝粒度界定的顆粒，形狀趨于呈各向等長的不規(guī)則粒狀

9、，組成礦物原則上只能是元素、結(jié)構(gòu)相同的物質(zhì)。7.2何謂礦物嵌布特征？它主要有哪幾種分選類型?答：礦物的嵌布特征：礦物的嵌布特征指礦石中有用礦物的顆粒大小、形狀、與脈石礦物的結(jié)合關(guān)系以及空間分布特點。分析礦物的顆粒大小，形狀，與脈石礦物的結(jié)合關(guān)系以及空間分布特征（如分散、集結(jié)、均勻程度）等。礦物顆粒大小指凡屬相同礦物聚合一起所占據(jù)的空間，均劃歸到一個顆粒之中；形狀主要有粒狀、非粒狀（不規(guī)則顆粒、長條形、薄層狀顆粒等）兩大類。結(jié)合關(guān)系結(jié)合面光滑平直和不規(guī)則（鋸齒狀、放射狀、港灣狀等）兩大類?？臻g關(guān)系是礦石中有用礦物分布的均勻程度。可用礦物在礦石中的分散與集結(jié)及其稠密度（相鄰兩個包體中心間的平均距離

10、與包體的平均直徑之比）來說明。分單一包體（比值30）、極稀疏包體（比值1030）、稀疏包體（比值410）、密的包體（比值24）、稠密包體（比值1.52）、極稠密包體（比值（11.5）等六種類型。7.3粒度測量誤差產(chǎn)生的原因有哪些？答：第一類是人為因素引起的偶然性系統(tǒng)誤差； 第二類是測試統(tǒng)計誤差； 第三類是體視學運算帶來的誤差。8.1名詞解釋：單體、連生體、單體解離度、粉碎解離度、脫離解離度、毗鄰型連生體、粒級解離度、解離度測定體視學誤差單體:塊體礦石經(jīng)碎、磨成粉末狀顆粒產(chǎn)品，其中的顆粒僅含有一種礦物稱之為單體。連生體:礦石經(jīng)碎、磨成粉末狀顆粒產(chǎn)品時，有用礦物和脈石共存成連生體。高登分類的連生體

11、類型有毗鄰型、細脈型、殼層型、包裹型單體解離度：產(chǎn)物中某種礦物的單體含量(qm)與該礦物總含量(qm+ql)比值的百分數(shù)，稱之為所求礦物的單體解離度。粉碎解離度：是指粒度較粗的連生體顆粒，被碎、磨成粒度小于其組成礦物晶體粒度的細粒時，由于顆粒體積減少使該組成礦物部分地解離成單體。脫離解離度：是外力作用下的連生體各組成礦物沿共用邊界相互分離。毗鄰型連生體:它的組成礦物連生邊界平直，舒緩，邊界線呈線性彎曲狀。一般只有當?shù)V物結(jié)晶粒度遠遠超出粉碎顆粒粒度時，才會有它的產(chǎn)生。解離度測定的體現(xiàn)學誤差：在光片上觀測的到的單體解離度，總是要大于礦物的真實解離度。這種經(jīng)由平面觀測產(chǎn)生的解離度誤差稱為解離度測定體

12、視學誤差。8.2在礦物分選時，如何有效的利用工藝礦物流程圖？答：選礦專業(yè)常用線和圖表示礦石連續(xù)加工的工藝過程，這種圖稱為工藝流程圖。常用的工藝流程圖有：原則流程圖、線流程圖、數(shù)質(zhì)量流程圖、礦漿流程圖、機械流程圖。數(shù)質(zhì)量流程圖，是在線流程圖上把包括原礦和中間產(chǎn)物在內(nèi)的各產(chǎn)物的產(chǎn)率、礦量品位和回收率等數(shù)量和質(zhì)量指標均標示出來，同時將各設(shè)備的型號規(guī)格和主要作業(yè)參數(shù)也表示出來的流程圖。工藝礦物流程圖區(qū)別于傳統(tǒng)數(shù)質(zhì)量流程圖，它是在線流程圖基礎(chǔ)上加入了礦物在流程中不同狀態(tài)的標志量，它必須通過流程考察才能得出，并且是評價和指導生產(chǎn)不可缺少的重要依據(jù)。首先對整個選礦生產(chǎn)系統(tǒng)各流程階段考察制成選礦線流程圖，并針

13、對所研究的對象（如磨礦效果、礦漿濃度、選礦藥劑等）采集各作業(yè)點的產(chǎn)品試樣，進行相應(yīng)指標（如礦物含量、單體解離度、粒度、濃度、PH值等等）的測定分析，匯入線流程圖制成完整的工藝礦物流程圖；然后對整個工藝礦物流程圖進行分析研究，找出生產(chǎn)流程中的薄弱環(huán)節(jié)從而進行改進實驗研究；最后進行生產(chǎn)試驗，論證后做出生產(chǎn)改進。1.硫化礦物的計算：某地閃鋅礦、黃銅礦、雌黃鐵礦組成的礦石中，經(jīng)過多元素化學分析，得知含有(Cu)=0.997%(Zn)=39.164%、（Fe）=23.652%以及（S）=33.508%。求礦石中個礦物的含量。解：各單位礦物的元素含量：閃鋅礦：（Zn）=56.7%、（Fe）=10%、（S）

14、34.9%；黃銅礦：（Cu）=34.6%、（Fe）=30.4%、（S）=34.9%；黃鐵礦：（Fe）=46.5%、（S）=53.5%：雌黃鐵礦：（Fe）=63.5%、(S)=36.5%。列線性方程組：設(shè)礦石中黃鐵礦的質(zhì)量分數(shù)為cpw；閃鋅礦的質(zhì)量分數(shù)為sphw；黃鐵礦的質(zhì)量分數(shù)為pyw；雌黃鐵礦的質(zhì)量分數(shù)為pyrw。據(jù)此可列出建立在元素平衡基礎(chǔ)上的線性方程組。0. 工藝礦物學：是以工業(yè)固體原料及其加工產(chǎn)物的礦物學特征和加工時組成礦物的性狀為研究目標的邊緣性科學。1.自然光：在垂直光波傳播方向的平面內(nèi)作任意方向的振動，各個振動方向的振幅相等。2.偏光：只在垂直光傳播方向的某一固定方向上振動的光波

15、，稱平面偏振光，簡稱偏振光或偏光。3.偏光化作用：使自然光轉(zhuǎn)變?yōu)槠獾淖饔梅Q為偏光化作用4.均質(zhì)體： 等軸晶系礦物和非晶質(zhì)物質(zhì)在各方向的光學性質(zhì)相同，稱為光性均質(zhì)體，簡稱均質(zhì)體。5.非均質(zhì)體： 中級晶族和低級晶族的礦物其光學性質(zhì)隨方向而發(fā)生變化，稱為光性非均質(zhì)體，簡稱非均質(zhì)體，絕大多數(shù)礦物屬于非均質(zhì)體。6.光率體：光波在晶體中傳播時，折射率值隨光波振動方向變化的一種立體幾何圖形。7.雙折射：光波射入非均質(zhì)體，除特殊方向外，都要發(fā)生雙折射，分解形成振動方向不同、傳播速度不同、折射率值不等的2個偏光8.光軸：光波沿非均質(zhì)體的特殊方向入射時(如沿中級晶族晶體的Z軸方向)，不發(fā)生雙折射，不改變?nèi)肷涔獠?/p>

16、的振動特點和振動方向，這個特殊方向稱為光軸。9.礦物的顏色： 礦物的顏色是由光波透過礦片時經(jīng)礦物的選擇性吸收后產(chǎn)生的10.多色性 ：礦物的顏色隨光波振動方向的不同而發(fā)生改變的現(xiàn)象。12. 吸收性： 礦物的顏色深淺發(fā)生變化的現(xiàn)象 13.礦物的邊緣： 在薄片中2種折射率不同的物質(zhì)接觸處，光線透過時可看到比較黑暗的邊緣，稱為礦物的邊緣14. 貝克線：在礦物的邊緣附近可看到一條比較明亮的細線，升降鏡筒時亮線移動，該亮線稱為貝克線或光帶。 15. 糙面： 在單偏光鏡下觀察礦物的表面時，某些礦物表面比較光滑，某些礦物表面較為粗糙，呈現(xiàn)麻點狀，好像粗糙皮革，這種現(xiàn)象稱為糙面。16. 突起： 在薄片中，不同礦

17、物表面好像高低不同，某些礦物表面顯得高一些，某些礦物則顯得低平一些，這種現(xiàn)象稱為突起17. 消光現(xiàn)象： 礦片在正交偏光鏡間變黑暗的現(xiàn)象，稱為消光現(xiàn)象18. 消光位： 非均質(zhì)體在正交偏光鏡間處于消光時的位置稱為消光位 19. 干涉色譜表：根據(jù)光程差公式R=d(Ng-Np)，把公式中光程差與切片厚度、雙折射率三者之間的關(guān)系，用圖表方式表示出來，這種圖表稱為色譜表20. 補色法則(消色法則)： 在正交偏光鏡間放置2個非均質(zhì)體任意方向的切片，在45度位置時，光通過兩切片后總的光程差的增減法則，稱為補色法則，又稱消色法則。 21. 補色器：又稱試板或消色器。常用的類型有石膏試板、云母試板、石英楔3種。2

18、2. 反射器:反射器是垂直照明器中重要的部件，其作用為將來自進光管的水平入射光垂直向下反射，透過物鏡達到光片表面。 常用的反射器有玻片式和棱鏡式兩種。23. 反射率:反射率是表示礦物磨光面反光能力的參數(shù)，用符號R表示. 指反光顯微鏡下,垂直入射光經(jīng)礦物光面反射后的反射光強度(Ir)與原入射光強度(Ii)的比率，用百分數(shù)表示，即：R=Ir/Ii*100% 24. 雙反射:礦物反射率隨晶體方向而變化，當旋轉(zhuǎn)物臺時，礦物亮度發(fā)生改變，反射率隨方向而變化的現(xiàn)象稱為礦物的雙反射。25. 反射色：礦物光片在單偏光鏡下呈現(xiàn)的顏色稱為礦物的反射色。26. 反射多色性：礦物反射色隨光性方位而變化的現(xiàn)象稱為反射多

19、色性27. 內(nèi)反射: 當光線照射到具有一定透明度的礦物光片表面時，有一部分光線折射透入礦物內(nèi)部，遇到礦物內(nèi)部的某些界面(如解理、裂隙、空洞、晶粒、包裹體等)，光線被反射出來或散射開，該現(xiàn)象稱為礦物的內(nèi)反射。28. 晶形: 晶體的天然幾何多面體外形稱為晶形。 29. 解理：礦物在外力作用下沿晶格中一定方向發(fā)生破裂的固有性質(zhì)稱為解理，沿解理裂開的平面叫解理面。30. 雙晶: 2個或多個同種晶體按一定的對稱規(guī)律形成的規(guī)則連生體，稱為雙晶。 31. 環(huán)帶: 有些礦物的晶粒內(nèi)部，沿晶面方向有一系列環(huán)狀的紋線和條帶 32. 分離礦物定量法： 利用待測礦物與原料中其他礦物性質(zhì)的差異，將待測礦物從原料中分離出

20、來而進行定量的一種方法33. 顯微鏡下礦物定量：是從待測礦物原料中選取少量有代表性的樣品，加工制備成光片或薄片，在顯微鏡下通過測定不同礦物在光片或薄片上所占的比例，達到礦物定量的目的。34. 二次電子：在單電子激發(fā)過程中,被入射電子轟擊出來的核外電子，稱為二次電子。 35. 俄歇電子：從距樣品表面小于1nm深度范圍內(nèi)發(fā)射的并具有特征能量的二次電子。36. 背散射電子：電子射入試樣后，受到原子的彈性和非彈性散射，有一部分電子的總散射角大于90度，會新從試樣表面逸出，這種電子為背散射電子，這個過程稱為背散射。37. 電子探針微區(qū)分析（EPMA或EPA）：是一種微區(qū)化學成分分析儀器。它將電子光學技術(shù)

21、和X射線光譜技術(shù)有機結(jié)合起來，使礦物中元素的定性和定量分析的空間分辨率達到微米級水平。 38.x射線衍射物相分析：將待測的單相或多相物質(zhì)進行x射線衍射實驗，得到衍射花樣或衍射的有關(guān)數(shù)據(jù)，然后將衍射花樣或數(shù)據(jù)跟標準物質(zhì)或標準礦物的衍射卡片作對比，從而達到確定單相或多相物質(zhì)的目的，這個過程稱為x射線衍射物相分析39. 選擇性溶解法：選擇性溶解法是利用礦物化學性質(zhì)的差異，特別是礦物在不同溶劑中溶解性的差異，使不同礦物分離。40. 干涉色級序：在正交偏光鏡間由薄至厚慢慢插入石英楔，石英楔干涉色連續(xù)不斷地變化，依次為暗灰灰白淺黃橙紫紅藍藍綠一黃綠一橙黃一紫紅一藍一藍綠一黃一橙紅直至亮白色。這種由低到高有

22、規(guī)律的變化，就構(gòu)成了干涉色級序。41. 電子探針的分析方法有定點分析、線掃描分析和面掃描分析二 問答題1.工藝礦物學研究內(nèi)容 （1）原料與產(chǎn)物中的礦物組成 (任務(wù)：查清原料與產(chǎn)物中所有礦物種(亞種)屬；判明各主要礦物成分的變化規(guī)律；考察伴生物質(zhì)的特征，確定各組分的含量?；A(chǔ)性工作)（2）原料與產(chǎn)物中的礦物粒度分析 (有用礦物的粒度大小，既是確定磨礦細度的關(guān)鍵因素，又對流程方案的選擇有重要影響。) （3）原料與產(chǎn)物中元素的賦存狀態(tài) (元素賦存狀態(tài)指元素在原料或產(chǎn)物中的存在形式及其在各組成物相中的分配比例)(4)礦物在工藝加工進程中的性狀 (礦物在生產(chǎn)工藝中受到一定的物理或化學作用時，所呈現(xiàn)的狀態(tài)

23、形式的改變，即為它的性狀)（5）礦物工藝性質(zhì)改變的可能性和機理（6）判明尾礦和廢渣（工業(yè)廢棄物）綜合利用的可能性（7）礦物的工藝性質(zhì)與元素組成和結(jié)構(gòu)的關(guān)系 （8）查明礦石工藝類型空間分布規(guī)律，編制礦物工藝圖（目的是為礦山采掘、選廠生產(chǎn)的合理高效運行提供依據(jù)。）（9）研究工業(yè)固體原料加工前的表生變化（出露地表的礦床由風化作用產(chǎn)生的改變（10）分折礦物工藝性質(zhì)的生成條件 ( 礦物是地殼上各種地質(zhì)作用的產(chǎn)物，具有的各種工藝性質(zhì)都與自身成礦作用有關(guān)。)2.工藝礦物學研究中的取樣問題（1）基本要求樣品具有充分的代表性。（2）獲取樣品的方式有2種： 一是在現(xiàn)場取樣點上采取地質(zhì)標本樣。二是從分選產(chǎn)品及試驗用

24、礦樣中抽?。唬?）樣品的取樣網(wǎng)絡(luò)布置方法：:在平面上，要照顧到全區(qū)情況，適當布點；在剖面上，要顧及到上、中、下各段都有取樣點。取樣點的數(shù)目一般至少要有4個以上的采樣點。如果試樣為G，則全礦區(qū)實際取樣重量不得小于2G；一般試樣重100200kg，個別可到1t。取樣方法，根據(jù)地質(zhì)條件、礦石品位、取樣點數(shù)及工作目的而定。常用的有爆破法、方格法、刻槽法、全巷剝層法等。（4）工藝礦物學研究中常見的樣品處理方法：i樣品混勻法： 鐵锨拌勻法、環(huán)錐法、滾移法、槽型分樣器法ii樣品縮分法 常用堆錐四分法或網(wǎng)格法進行。3.調(diào)節(jié)焦距 調(diào)節(jié)焦距目的是為了使物像清晰可見。a) 將觀察的礦物薄片置于物臺中心，并用薄片夾子

25、將薄片夾緊。b) 轉(zhuǎn)動粗動螺旋，從側(cè)面看鏡頭，將鏡頭下降到最低位置。c) 若使用高倍物鏡，需要下降到幾乎與薄片接觸的位置，注意不要碰到薄片，以免損壞鏡頭。d) 從目鏡中觀察，同時轉(zhuǎn)動粗動螺旋，使鏡筒緩慢上升，直至視域內(nèi)有物像后，再轉(zhuǎn)動微動螺旋使之清楚。4.中心校正（見課本P29）5.反光顯微鏡下礦物性質(zhì)的測定（1）.反射率和雙反射 （2）.反射色和反射多色性 （3.）內(nèi)反射 （4）.均質(zhì)性和非均質(zhì)性6.影響礦物反射率和雙反射的因素(1)光源 光源的強度及入射光波長對反射率影響很大。光源越強，反射率就越高；波長改變，反射率也隨之改變。因此在測定反射率時，對標樣和欲測礦物要保持相同的測試條件。(2

26、)光片及安裝質(zhì)量 光片表面磨光質(zhì)量要高，做到無擦痕、麻點或氧化膜等，否則會降低礦物的反射率。光片安裝時必須嚴格壓平，若光片表面與入射光不垂直，則會影響反射光的方向，降低礦物的反射率。(3)其他因素 浸沒介質(zhì)、放大倍數(shù)、焦距、內(nèi)反射及溫差等因素均能影響反射率的高低。7.透射電子顯微鏡（TEM）工作原理 工作原理：電子槍產(chǎn)生的電子束經(jīng)12級聚光鏡會聚后均勻照射到試樣的某一微小區(qū)域，入射電子與物質(zhì)相互作用，由于試樣很薄，絕大部分電子可以穿透試樣，其強度分布與所穿過試樣區(qū)的形貌、結(jié)構(gòu)構(gòu)造等對應(yīng)。透射出的電子經(jīng)物鏡、中間鏡、投影鏡的二級磁透鏡放大后投射在顯示圖像的熒光屏上，熒光屏把電子強度分布轉(zhuǎn)變?yōu)槿搜?/p>

27、可見的光強分布，于是在熒光屏上顯示出與試樣形貌和結(jié)構(gòu)構(gòu)造相對應(yīng)的圖像。8.透射電鏡中試樣的制備方法有哪些？(1) 粉未試樣的制備 對于粒徑為微米級和納米級的粉末，如粘土礦物及其它超細粉末等，在測試前先應(yīng)用超聲波分散器將待觀察的粉末置于與試樣不發(fā)生作用的液態(tài)試劑中，并使之充分分散制成懸浮液。(2)超薄片試樣的制備 對塊狀的巖礦試樣及非金屬的陶瓷試樣來說，其制樣原理是首先將塊狀樣品切割，然后在磨片機中將其磨成厚小于003nm的薄片，將磨好的薄片放到離子減簿機中，在真空下用高能量的氫離子轟擊薄片，使試樣中心穿孔，由于穿孔周圍的厚度極薄，對電子束透明時，即可進行觀察。(3)復型試樣的制備 所謂復型是將

28、待測試樣的表面或斷面形貌用薄膜將它們復制下來。將復型后的薄膜拿到樣品室內(nèi)觀察。9.掃描電鏡的工作原理由電子槍發(fā)射出能量535Kev的電子流，經(jīng)聚光鏡和物鏡縮小形成具有一定能量、一定束流強度和束斑直徑的微細電子束，在掃描線圈的驅(qū)動下，在試樣表面按照一定時間和空間順序作拉網(wǎng)式掃描。 聚焦后的微細電子束與試樣相互作用產(chǎn)生二次電子、背射電子和其它物理信號。 二次電子發(fā)射量隨試樣表面起伏而變化，背散射電子的發(fā)射量與試樣中元素的原子序數(shù)成正比，二次電子信號及背散射電子信號分別被探測器收集并轉(zhuǎn)換成電信號。 經(jīng)視頻放大后傳到顯像管柵極，分別得到二次電子像及背散射電子像。10.透射電鏡和掃描電鏡式樣制備有何不同

29、？（1）透射電鏡中所顯示的物質(zhì)像是由電子束透過試樣后形成的像，由于電子束的穿透能力比x射線弱得多，因此，必須用小而薄的試樣。 對于加速電壓為50一200kv的透射電鏡，試樣厚度以100nm左右。如果要獲得高分辨電子像，試樣的厚度必須小于10nm。透射電鏡分析試樣的制備相對比x射線衍射分析和掃描電鏡等測試方法的樣品制備麻煩。主要有粉末法、超薄片法和復型法3種。（2）掃描電鏡試樣制備：根據(jù)掃描電鏡類型不同，試樣大小為幾毫米20mm。只作形貌觀察，樣品表面不做拋光；做成分分析時，表面需拋光；如果試樣不導電（巖礦樣），需要在表面蒸鍍導電炭膜（金、鉑）。11.x射線的產(chǎn)生方法通過x射線管來產(chǎn)生，真空管真

30、空度小于10-6Pa。有2個金屬電極，陰極由鎢絲卷成，陽極為某種金屬(Cu、Fe、Co、Ag等)磨光面(稱為靶)。當陰極鎢絲通入電流加熱時，鎢絲周圍會產(chǎn)生大量的自由電子。 在陰極和陽極之間加上高電壓(30一50kv)，在強電場作用下，自由電子向陽極高速移動，當陽極靶受到高速自由電子的轟擊時，電子的大部分能量變?yōu)闊崮埽徊糠帜芰哭D(zhuǎn)變成x射線，由靶面射出。 12.x射線在晶面上的“反射”與可見光在鏡面上反射不同：(1)可見光的反射限于物體的表面，而x射線的“反射”是受x射線照射的所有原子(包括晶體內(nèi)部)的散射線干涉加強而形成。(2)可見光的反射無論入射光線以任何入射角入射都會產(chǎn)生。x射線只有在滿足

31、布拉格方程的某些特殊角度下才能“反射”。13.俄歇電子能譜表面微區(qū)分析原理俄歇電子的產(chǎn)生是由原子內(nèi)殼層電子因電離激發(fā)留下一個空位，引起較外層電子向這一能級躍遷使原子釋放能量，該能量使外層電子進一步電離，發(fā)射一個與原子序數(shù)相關(guān)的俄歇電子，檢測俄歇電子的能量和強度可以獲得表面層化學成分的定性和定量信息。14.熱分析方法熱分析方法是根據(jù)礦物在加熱過程中所發(fā)生的熱效應(yīng)或重量變化等特征來研究和鑒定礦物的一種方法。目前應(yīng)用較廣的方法有差熱分析法、熱重分析法、微分熱重分析法、熱膨脹法、差示掃描熱量分析法和逸出氣體分析法。差熱分析（DTA），是根據(jù)不同溫度下出現(xiàn)的不同熱反應(yīng)的原理來對礦物進行鑒定。熱重分析法

32、(TG)，是通過測定礦物在加熱過程中重量的變化來鑒定礦物的一種方15.差熱分析法工作原理(1)差熱分析簡寫為DTA，是根據(jù)不同溫度下出現(xiàn)的不同熱反應(yīng)的原理來對礦物進行鑒定。通過研究這些礦物加熱或冷卻到某溫度點會發(fā)生放熱反應(yīng)或吸熱反應(yīng)的特征，在測試過程中，將會發(fā)生熱反應(yīng)的待測礦物與不會發(fā)生熱反應(yīng)的某種已知標樣(標準礦物或中性體)一同放在加熱爐中加熱升溫或降溫，當加熱或冷卻到某個溫度點時，待測樣品由于發(fā)生熱反應(yīng)使它與標樣之間的溫度不一致。(2)由于試樣與標樣之間在某溫度點下存在著固有溫度差，將它們的溫度差繪成差熱曲線。q(3)在礦物鑒定時，將試樣的差熱曲線跟所查閱的有關(guān)手冊中的已知礦物的差熱曲線進

33、行對比，如果相互之間能吻合，則可確定待測樣品的礦物名稱，這就是用差熱分析法來鑒定礦物的原理。q16.元素在礦物原料中的賦存狀態(tài)元素在礦物原料中的賦存狀態(tài)有3種，即：獨立礦物形式、類質(zhì)同象形式和吸附形式。17.原料與產(chǎn)物內(nèi)組成礦物的定量原料與產(chǎn)物中礦物定量基本方法 (1)分離礦物定量法；(2)顯微鏡下定量法；3)特征元素化學分析定量法；(4)儀器分析定量法。1）分離礦物定量法（實驗法）a）重力分離法（重選）：利用不同礦物之間密度的差異進行礦物分離b）磁力分離：是利用原料中不同礦物間磁性的差異進行礦物分離的。適于磁力分離的礦物主要是強磁性礦物(亞鐵磁性物質(zhì))和部分弱磁性礦物(順磁性物質(zhì))。c）介電分離是在具有一定介電常數(shù)的介電液中進行的，將介電分離儀的電磁振蕩電極插入介電液中，在電極周圍形成交變非均勻電場，電場強度自電極向外降低。d）選擇性溶解法：選擇性溶解法是利用礦物化學性質(zhì)的差異，特別是礦物在不同溶劑中溶解性的差異，使不同礦物分離。2） 顯微鏡下目估定量面測法： 面測法是