機(jī)械密封端面平面度+檢驗(yàn)方法

1、J 2273691994JB/T機(jī)械密封端面平面度檢驗(yàn)方法發(fā)布1995-07-01 實(shí)施1994-07-26中華人民共和國(guó)機(jī)械工業(yè)部發(fā) 布中 華 人 民 共 和 國(guó) 機(jī) 械 行 業(yè) 標(biāo) 準(zhǔn) 機(jī)械密封端面平面度檢 驗(yàn) 方 法JB/T 736919941主題內(nèi)容與適用范圍本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了機(jī)械密封端面平面度的檢驗(yàn)裝置、檢驗(yàn)程序、平面度測(cè)定值的判讀等內(nèi)容。本標(biāo)準(zhǔn)適用于采用單色光源的光學(xué)法檢驗(yàn)機(jī)械密封環(huán)端面平面度。2術(shù)語2. 1干涉圖光波干涉產(chǎn)生的干涉條紋(亮帶或暗帶)所組成的圖形。2. 2干涉光譜帶(光帶)干涉圖上的暗帶。3檢驗(yàn)裝置3. 1推薦使用的檢驗(yàn)裝置結(jié)構(gòu)見附錄 B(參考件)。3. 2光源應(yīng)為單色光

2、源。3. 3檢驗(yàn)用光學(xué)平晶應(yīng)為一級(jí)精度(其平面度應(yīng)在 0.020.10 m 之間)，光學(xué)平晶的直徑應(yīng)大于被 檢密封環(huán)端面的外徑。3. 4裝置放置在干燥、潔凈、避免振動(dòng)干擾的工作間內(nèi)。3. 5裝置要有一定的保護(hù)元件，避免光束直接照射到觀察者的皮膚或眼睛。3. 6如果采用反光鏡觀察，應(yīng)保證反光鏡沒有變形和失真。4檢驗(yàn)程序4. 14. 24. 3檢驗(yàn)時(shí)，環(huán)境溫度應(yīng)控制在 20±5。打開平面度檢測(cè)儀的電源開關(guān)，預(yù)熱至燈管充分發(fā)光。 清除被檢密封環(huán)端面和光學(xué)平晶表面上的纖維、顆粒、油漬、水汽等污物，且使密封環(huán)端面和光學(xué)平晶表面不受損傷。4. 4將被檢密封環(huán)輕輕放置在光學(xué)平晶上(或?qū)⑵骄лp輕放置

3、在密封環(huán)上)，使密封環(huán)端面和光學(xué)平晶 緊密接觸，判讀光譜帶數(shù)時(shí)不應(yīng)使其受到附加外力的作用。4. 5通過鏡面觀察密封端面的干涉圖形(或透過光學(xué)平晶觀察密封端面上的干涉圖形)，判讀干涉光譜 帶。5平面度測(cè)定值的判讀5. 1平面度測(cè)定值的判讀按附錄 A(補(bǔ)充件)的規(guī)定。對(duì)于附錄 A 未含的圖形，判讀者應(yīng)在正確理解應(yīng)用光干涉原理的基礎(chǔ)上，參照附錄 A 的圖例進(jìn)行判讀。機(jī)械工業(yè)部 1994-07-26 批準(zhǔn)1995-07-01 實(shí)施1JB/T 736919945. 2球形凸面和球形凹面的確定5. 2. 1觀察干涉圖由上向下移動(dòng)眼睛，若干涉光譜帶向圓心移動(dòng)，則為球形凹面；若干涉光譜帶向外 徑移動(dòng)，則為球形

4、凸面。5. 2. 2將平晶放在密封環(huán)上，用手指輕輕地在平晶外邊上加壓，若干涉光譜帶圍著手指彎曲，則為球 形凸面；若干涉光譜帶向手指外彎曲，則為球形凹面。5. 3平面度的測(cè)定值的計(jì)算公式為：=0.5N式中：平面度的測(cè)定值； N干涉光譜帶數(shù)； 單色光波波長(zhǎng)。2JB/T 73691994附錄A常見干涉光譜帶圖示例(補(bǔ)充件)A1一條光帶圖示見圖 A1。圖 A1A2二條光帶圖示見圖 A2。圖 A23JB/T 73691994A3三條光帶圖示見圖 A3。圖 A3A4多條光帶(三條光帶)圖示見圖 A4。圖 A44JB/T 73691994附錄B推薦采用的檢驗(yàn)裝置結(jié)構(gòu)示意簡(jiǎn)圖(參考件)B1推薦采用的檢驗(yàn)裝置結(jié)

5、構(gòu)示意簡(jiǎn)圖見圖B1。圖B11箱體； 2活動(dòng)門； 3密封環(huán)； 4光學(xué)平晶； 5帶孔活動(dòng)板；6玻璃鏡； 7毛玻璃； 8鈉光燈管； 9穩(wěn)壓元件； 10隔光板附加說明：本標(biāo)準(zhǔn)由機(jī)械工業(yè)部合肥通用機(jī)械研究所提出并歸口。 本標(biāo)準(zhǔn)由機(jī)械工業(yè)部合肥通用機(jī)械研究所負(fù)責(zé)起草。 本標(biāo)準(zhǔn)主要起草人李小甌、呂康、何玉杰、程傳慶。5中 華 人 民 共 和 國(guó)機(jī) 械 行 業(yè) 標(biāo) 準(zhǔn)機(jī)械密封端面平面度檢 驗(yàn) 方 法JB/T 73691994*機(jī) 械科學(xué) 研 究院出版發(fā) 行機(jī) 械科學(xué) 研 究院印刷 （北京首體南路 2 號(hào)*郵編 100044）開本 880×1230 1/16 印張 1/2 字?jǐn)?shù) 10,0001995 年