篩選試驗規(guī)范V2.0

1、目錄1 范圍 22 術語和定義 22.1 篩選 22.2 批允許不合格率（ PDA） 2.3 一般要求 23.1 篩選的電子元器件種類 2.3.2 篩選要求 23.3 篩選的大氣條件 2.3.4 篩選條件允差 2.3.5 篩選 PDA 要求 3.3.6 其他 34 篩選條件 35 篩選流程 46 篩選實施要求 46.1 性能檢測 46.2 故障處置 46.3 標識 47 檢驗方法和步驟 4.7.1 半導體分立器件、集成電路的檢驗方法和步驟 4.7.2 晶體諧振器篩的檢驗方法和步驟 5.7.3 HFA3861和HFA3783芯片的檢驗方法和步驟 51 范圍本規(guī)范適用于本公司生產(chǎn)的產(chǎn)品使用的電子元

2、器件篩選要求。2 術語和定義2.1 篩選 一種通過試驗剔除不合格或有可能早期失效元器件的方法。2.2 批允許不合格率（ PDA） 當采購的元器件百分之百地經(jīng)受過規(guī)定的試驗后， 使用方接收該批元器件所能允許的不合格最大百分數(shù)。3 一般要求3.1 篩選的電子元器件種類 篩選的電子元器件包括裝機的集成電路、半導體分立器件和晶體諧振器。3.2 篩選要求 元器件應經(jīng)過檢驗，允許不合格率不大于5%的批（類）進入環(huán)境溫度循環(huán)應力篩選程序。3.3 篩選的大氣條件 標準大氣條件：1）溫度：15C 35C；2）相對濕度：不加控制室內環(huán)境；3）大氣壓力：試驗場所的當?shù)貧鈮骸?.4 篩選條件允差3.4.1 篩選溫度允

3、差 除必要的支撐點外，受篩單元部件應完全被溫度試驗箱內空氣包圍。箱內溫度梯度（靠近受篩單元部件測得）應小于1C/m;溫度允差范圍為土 2C,但總的溫度變動最第2 頁共6 頁大值為22C。342篩選時間允差篩選時間允差為土 1%3.5篩選PDA要求表1篩選PDA要求使用要求判定結果批量50個的電子 元器件10個V批量w 50個 的電子元器件批量W 10個的電子 元器件合格PDAW 5%PDA < 10%PDA W 20%重新篩選5%v PDA< 10%10%V PDA< 20%不允許使用批不合格PDA> 10%PDA> 20%注：重新篩選時應剔除不合格品后僅針對不合

4、格項目進行3.6其他對于生產(chǎn)廠家已做過篩選，且篩選條件已能滿足要求的電子元器件，只選擇外觀檢 驗。4篩選條件圖2溫度循環(huán)程序溫度循環(huán)篩選試驗程序見圖 1, 上限溫度為65C，下限溫度為-55C；上限溫度保 持時間為2h,下限溫度保持時間為2h;溫度變化速率：升溫2C/min，降溫1C /min, 循環(huán)5次；不通電。5篩選流程圖2篩選流程6篩選實施要求6.1性能檢測檢驗員負責對所有受篩元器件實施性能檢測并現(xiàn)場記錄，檢驗項目及指標要求見第7條。6.2故障處置元器件篩選后，應剔除檢測不合格的元器件。6.3標識對篩選合格的元器件在器件的包裝物上標記。7檢驗方法和步驟7.1半導體分立器件、集成電路的檢驗

5、方法和步驟7.1.1外觀檢驗7.1.1.1方法：用3-10倍放大鏡或憑眼力進行外觀檢驗。7.1.1.2檢驗內容：1）引出端；2）型號、質量類別或等級；3）制造單位名稱、代碼或商標及出廠日期；第5頁共6頁4) 檢驗批識別代碼；5) 認證合格標志(適用時) ；6) 器件封裝外形；7) 需要時的其他特殊標志。7.1.1.3 合格判據(jù)：1) 器件型號、引出端標識、標志清晰、完整(以器件具體規(guī)定為準) ；2) 外殼無損傷痕跡、腐蝕、污染、密封破裂，電鍍層剝落、掉漆和明顯的機械缺陷；3) 引出端無折斷、彎曲或毛刺。7.2 晶體諧振器的檢驗方法和步驟7.2.1 外觀檢驗7.2.1.1 方法：用 3-10 倍

6、放大鏡或憑眼力進行外觀檢驗。7.2.1.2 檢驗內容：1) 引出端；2) 型號、質量類別或等級；3) 制造單位名稱、代碼或商標及出廠日期；4) 檢驗批識別代碼；5) 認證合格標志(適用時) ；6) 器件封裝外形；7) 需要時的其他特殊標志。7.2.1.3 合格判據(jù)：1) 器件型號、引出端標識、標志清晰、完整(以器件具體規(guī)定為準) ；2) 外殼無損傷痕跡、腐蝕、污染、密封破裂，電鍍層剝落、掉漆和明顯的機械缺陷；3) 引出端無折斷、彎曲或毛刺。7.3 HFA3861和HFA3783芯片的檢驗方法和步驟7.3.1 檢驗平臺組成 每套檢驗平臺由二塊帶有測試座的芯片測試電路板組成。 其中一塊芯片測試電路

7、板運行基站程序，另一塊芯片測試電路板運行外站程序。7.3.2 檢驗步驟1) 將HFA3861和HFA3783芯片放置于芯片測試電路板的測試座中，夾好；2) 用中間串接可調衰減器的中頻電纜連接兩塊測試電路板；3) 分別接通電源(運行基站程序的一端先加電) 。檢測結果及合格判據(jù) 芯片測試電路板有 8個 LED 二極管作為顯示。第5 頁共6 頁LED狀態(tài)功能現(xiàn)象指示與合格判據(jù)LED1-8全亮芯片正在初始化上電瞬間完成，超過1秒仍然全亮則說明3861無法配置LED1亮同步，電路開始 正常接收。同步應在基站、夕卜站加電后瞬間完成，外站不能同步， 則 說明其接收有問題；外站同步后如果基站不能同步，則說明外站發(fā)送有問題LED2亮測試結束（同步后15秒）LED2亮后LED3應同時點亮，否則說明測試不合格； 測試結束后，基站、外站的LED3同時亮說明被測芯片合 格LED3亮接收測試合格LED8亮發(fā)送超時HFA3861 無 tx_rdy 或 tx_clk7.3.4說明1）更換芯片、插拔中頻電纜時必須將電源斷開；2）每次測試大約需要20秒時間（從LED1亮到LED2亮）；3）每次測