JIS Z 3060-2002鋼焊縫超聲波探傷試驗(yàn)方法

1、Z 3060：2002修改1994編制1975鋼焊縫的超聲波探傷試驗(yàn)方法Method for ultrasonic examination for welds of ferritic steel1. 適用范圍 本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了厚度為6mm以上的鐵素體系鋼的完全焊透焊縫，采用基本表示是脈沖反射法的超聲波探傷儀（以下，稱為探傷儀。）實(shí)施手動(dòng)超聲波探傷試驗(yàn)（以下，稱為探傷。）時(shí)的檢出方法、位置、及尺寸的測(cè)量方法。但是，本標(biāo)準(zhǔn)不適用于鋼管制造工序中的接頭焊接區(qū)。2. 引用標(biāo)準(zhǔn) 以下所示的標(biāo)準(zhǔn)是本標(biāo)準(zhǔn)的引用標(biāo)準(zhǔn)，是本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的一部分。這些引用標(biāo)準(zhǔn)適用其最新版（含追補(bǔ)。）。 JIS Z 2300 無損試驗(yàn)用語(yǔ)

2、 JIS Z 2345 超聲波探傷試驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)試塊 JIS Z 2350 超聲波探頭的性能測(cè)定方法 JIS Z 2352 超聲波探傷裝置的性能測(cè)定方法3. 定義 本標(biāo)準(zhǔn)使用的主要用語(yǔ)定義除了JIS Z 2300規(guī)定的以外，如下所示。a）膠 膠狀的接觸媒質(zhì)。b）甘油膠 在甘油中加入少量的界面活性劑及增粘劑的接觸媒質(zhì)。c）探頭與缺陷距離 指斜角探傷上把從得到最大回波高度位置上的入射點(diǎn)到缺陷的波束路程投影在探傷面上的距離。d） L方向 L方向是軋制鋼材的主軋制方向。e） C方向 C方向是垂直主軋制方向的方向。f） Q方向 Q方向是距主軋制方向45°的方向。g） STB音速比 使橫波的振動(dòng)方向

3、與試驗(yàn)體的探傷方向一致，測(cè)出的橫波音速（V）和用A1形STB或是A3形系STB測(cè)出的橫波音速（VSTB）的比（V/VSTB）。h） STB折射角度差 探傷折射角和用A1形STB或是A3形系STB的標(biāo)準(zhǔn)試塊測(cè)出的STB折射角（STB）的差。i） 最大透射脈沖 指用V透射法掃查試驗(yàn)體，振幅變成最大時(shí)的透射脈沖。j） 缺陷的指示長(zhǎng)度 根據(jù)探頭的移動(dòng)距離推定的缺陷的表觀長(zhǎng)度。4. 技術(shù)人員 從事焊縫探傷的技術(shù)人員是具備探傷的原理及鐵素體系鋼焊縫的相關(guān)知識(shí)并且是具有豐富的探傷知識(shí)及經(jīng)驗(yàn)的人員。5. 標(biāo)準(zhǔn)試塊及對(duì)比試塊5.1 標(biāo)準(zhǔn)試塊 在本標(biāo)準(zhǔn)中使用的標(biāo)準(zhǔn)試塊（STB）是JIS Z 2345中規(guī)定的A1形

4、標(biāo)準(zhǔn)試塊、A2形系標(biāo)準(zhǔn)試塊及A3形系標(biāo)準(zhǔn)試塊。5.2 對(duì)比試塊 對(duì)比試塊（RB）用于調(diào)整靈敏度。a） RB-411） RB-41用于探傷平板接縫焊接區(qū)及曲率半徑是250mm以上的接縫焊接區(qū)，形狀如圖1所示，尺寸表1所示。2） RB-41是下面的任意一種。2.1)在均質(zhì)的衰減材料沒有帶探傷面加工后的曲率的。2.2）和試驗(yàn)體同樣的鋼種在探傷面的狀態(tài)下滿足以下條件的沒有帶曲率的。 條件：厚度是試驗(yàn)體的±10%以內(nèi)并且和試驗(yàn)體的音速差在±2%以內(nèi)。b） RB-42 RB-42用于探傷和探傷方向垂直的方向上有曲率，曲率半徑為50mm以上的環(huán)焊焊縫，形狀見附件3圖2所示，尺寸見表1所示

5、。c） RB-43 RB-43用于探傷和探傷方向平行的方向上有曲率，曲率半徑為50mm以上的縱焊縫，形狀見附件4圖3所示，尺寸見表1所示。d） 其他的對(duì)比試塊 RBA6用于探傷和探傷方向垂直方向上有曲率，曲率半徑為50mm以上的環(huán)焊焊縫，在使用最大的波束路程150mm以下的場(chǎng)合下使用RB-A6，參照附件3圖3。表1 RB-41、RB-42、RB-43的尺寸 單位mm試塊的編號(hào)試塊的厚度t對(duì)比試塊的厚度T標(biāo)準(zhǔn)孔的直徑dNo.120以下19（1）或是t（1）3.0No.2超過20 40以下38（1）或是t（1）3.0No.3超過40 80以下75（1）或是t（1）3.0No.4超過80 140以下

6、125（1）或是t（1）6.0No.5超過140 200以下175（1）或是t（1）6.No.6超過200 250以下225（1）或是t（1）6.0No.7超過250t（1）6.0注（1） 5.2a）的2）2.1）的試塊及5.2a）的2）2.2）的試塊6. 接觸媒質(zhì) 接觸媒質(zhì)是使用甘油膠、濃度為75%以上的甘油水溶液、水、油或是聲阻抗透明的液體。接觸媒質(zhì)的種類及垂直探頭的延遲材或是斜角探頭的斜楔的材質(zhì)在使用下列組合時(shí)探傷面的最大表面粗糙程度在未滿100的場(chǎng)合不需要補(bǔ)償傳遞損失。a） 接觸媒質(zhì)的種類 甘油膠、濃度為75%以上的甘油水溶液b） 延遲材及斜楔的材質(zhì) 聚苯乙烯7. 探傷試驗(yàn)的準(zhǔn)備7.1

7、 探傷方法的選定 焊縫的探傷在沒有特殊指定時(shí)，使用將超聲波波束垂直焊縫方向的單探頭斜角方法，用直接接觸法進(jìn)行。斜角方法的斜平行掃查、焊縫上掃查、交叉掃查或垂直法適用于有特殊指定的地方。當(dāng)探傷面上帶有垂直的坡口面或鈍邊、板厚為20mm以上完全焊透焊縫時(shí)，串列探傷法適用于特殊指定位置。7.2 對(duì)比試塊或是標(biāo)準(zhǔn)試塊的選定7.2.1 斜角探傷時(shí)試塊的選定 調(diào)整探傷靈敏度時(shí)預(yù)先選定RB-41、RB-42、RB-43、附件3圖3所示RB-A6或A2形系標(biāo)準(zhǔn)試塊中的任意一個(gè)。但是，變成探傷面的試驗(yàn)體板厚是75mm以上的場(chǎng)合或根據(jù)STB音速比的測(cè)定結(jié)果選定的折射角為表4的探傷折射角的場(chǎng)合，選定RB-41、RB

8、-42、RB-43中的任意一個(gè)。而且，當(dāng)使用的最大波束路程為150mm以下時(shí)，可以選定A2形系標(biāo)準(zhǔn)試塊。7.2.2 垂直探傷時(shí)試塊的選定 使用RB-41調(diào)整探傷靈敏度。根據(jù)使用的最大波束路程選定探傷面的標(biāo)準(zhǔn)孔位置。7.3 頻率的選定 使用公稱頻率為2MHz以上5MHz以下。作為標(biāo)準(zhǔn)使用的頻率，斜角探傷的場(chǎng)合參照表2，垂直探傷的場(chǎng)合參照表3. 還有，在探傷超聲波衰減顯著的試驗(yàn)體時(shí)，可以使用比表2及表3規(guī)定的頻率低的。 試驗(yàn)頻率在公稱頻率的90110%范圍內(nèi)。頻率特性是寬帶的探頭根據(jù)JIS Z 2350的5.（試驗(yàn)頻率的測(cè)定）測(cè)定試驗(yàn)頻率，根據(jù)JIS Z 2350的8.（時(shí)間應(yīng)答特性的測(cè)定）測(cè)定最

9、大值。表2 斜角探傷用公稱頻率使用的最大波束路程mm公稱頻率MHz100以下5超過100 150以下2或5超過1502表3 垂直探傷用公稱頻率使用的最大波束路程mm公稱頻率MHz40以下5超過4027.4 檢出標(biāo)準(zhǔn)的選定 檢出標(biāo)準(zhǔn)是按照探傷目的根據(jù)8.1.4繪制的以超過M線為對(duì)象的M檢出標(biāo)準(zhǔn)或是以超過L線為對(duì)象的L檢出標(biāo)準(zhǔn)中的任何一個(gè)。7.5 探傷時(shí)期 在施工圖紙上有焊接后熱處理等指定場(chǎng)合的探傷時(shí)間為最終熱處理后。7.6 探傷面的修整 除去探傷面上的飛濺物及水銹。當(dāng)探傷面的粗糙度，銹及涂料的影響傳遞損失超過12dB的場(chǎng)合，要加工到不超過12dB的范圍。7.7 母材的探傷 在斜角探傷時(shí)通過超聲波

10、部分的母材，根據(jù)需要預(yù)先進(jìn)行垂直探傷。使用的探頭在板厚為60mm以下的場(chǎng)合，公稱頻率為5MHz、20mm，板厚超過60mm的場(chǎng)合，公稱頻率為2MHz、30mm。探傷靈敏度為健全部的第1次底面回波高度的80%。缺陷范圍是回波高度超過20%的。檢出缺陷的場(chǎng)合要進(jìn)行記錄。缺陷的范圍在100mm2以上時(shí)妨礙探傷。 檢出妨礙探傷的缺陷時(shí)，在探傷上變成問題時(shí)，根據(jù)需要波束中心軸要通過整個(gè)焊縫改變探傷面或是折射角實(shí)施探傷，或是改用垂直探傷或其他探傷方法進(jìn)行探傷。7.8 和STB音速比的測(cè)定7.8.1 STB音速比的測(cè)定條件 STB音速比的測(cè)定條件如下所示。a） 測(cè)定對(duì)象部位為探傷部位。b） 測(cè)定時(shí)間在焊接后

11、并且要在和探傷時(shí)的溫度同樣程度的狀態(tài)下進(jìn)行。c） 每個(gè)探傷部位的測(cè)定部位為1處，但是可以根據(jù)試驗(yàn)體的狀況追加。7.8.2 和STB的音速比的測(cè)定裝置 和STB音速比的測(cè)定裝置如下所示。a） STB音速比（V/VSTB）的測(cè)定使用能測(cè)定板厚或是波束路程的有效數(shù)字為3位以上精度的超聲波裝置（可以使用橫波垂直探頭的超聲波測(cè)厚儀或超聲波探傷儀）及在試驗(yàn)體中使橫波垂直傳播的橫波垂直探頭。b） 板厚的測(cè)定使用能測(cè)定有效數(shù)字為3位以上精度的縱波探頭（縱波垂直探頭或雙振子形縱波垂直探頭）的超聲波測(cè)厚儀或是尺寸測(cè)量?jī)x。c） 在橫波垂直探頭上表示振動(dòng)方向。d） 根據(jù)橫波垂直探頭的測(cè)定使用橫波用的接觸媒質(zhì)。7.8.

12、3 使用試塊及試驗(yàn)體 使用以下試塊測(cè)定STB音速比a） 使用A1形標(biāo)準(zhǔn)試塊、A2形系標(biāo)準(zhǔn)試塊或是A3形系標(biāo)準(zhǔn)試塊中的任意一個(gè)。b） 試驗(yàn)體為變成探傷面的試驗(yàn)體。7.8.4 試驗(yàn)體的探傷方向的確認(rèn) 在測(cè)定STB音速比，用橫波垂直探頭和超聲波測(cè)厚儀或是超聲波探傷儀的組合確認(rèn)探傷方向和L、C及Q方向的關(guān)系。探傷方向是L或是C方向的場(chǎng)合及沒有方向引起的橫波音速差異的場(chǎng)合參照7.8.5、7.9及7.10.1的方法，但是Q方向的場(chǎng)合參照7.10.2的方法。7.8.5 STB音速比的測(cè)定方法 STB音速比的測(cè)定根據(jù)以下任意一個(gè)方法測(cè)定。a）用超聲波測(cè)厚儀的場(chǎng)合 通過使用縱波探頭的超聲波測(cè)厚儀或尺寸測(cè)量?jī)x測(cè)定

13、的試驗(yàn)體及STB的板厚分別為tM(mm),tSM(mm)。而且，在超聲波測(cè)厚儀上使用橫波垂直探頭的振動(dòng)方向和試驗(yàn)體的探傷方向要一致，得到的板厚及STB得到的板厚分別為tS(mm),tSTB(mm)。將這些比用下面的公式求出保留到小數(shù)點(diǎn)以下三位，將其作為STB音速比。V/VSTB =（tM·tSTB）/（tSM ·tS）b） 用超聲波探傷儀的場(chǎng)合 根據(jù)使用縱波探頭的超聲波測(cè)厚儀或尺寸測(cè)量?jī)x測(cè)定的試驗(yàn)體及STB的板厚分別為tM(mm),tSM(mm)。而且，在超聲波探傷儀上使用橫波垂直探頭的振動(dòng)方向和試驗(yàn)體的探傷方向要一致，得到的第1次底面回波的波束路程及STB得到的第1次面回

14、波的波束路程分別為WS(mm),WSTB(mm)。將這些用下面的公式求出保留到小數(shù)點(diǎn)以下三位，將其作為STB音速比。V/VSTB =（tM·WSTB）/（tSM ·WS）7.9 音速比折射角的選定 由和SIB的音速比的測(cè)定結(jié)果根據(jù)表4選定探傷用的折射角。但是，在用公稱折射角45度的探頭探傷時(shí)不管STB音速比STB折射角為43°以上47°以下。 還有，根據(jù)探傷用探頭的折射角和STB的音速比，是STB折射角的場(chǎng)合可以替換為探傷折射角。而且，在試驗(yàn)體的板厚超過75mm的場(chǎng)合，0.995V/VSTB1.005時(shí)可以使用STB折射角6971°。 表4 選

15、定和STB的音速比的折射角試驗(yàn)體的板厚mm和STB的音速比探傷用折射角6t250.990V/VSTB1.020STB折射角63°以上72°以下0.990> V/VSTB探傷折射角63°以上72°以下V/VSTB>1.020探傷折射角63°以上72°以下25<t750.995V/VSTB1.015STB折射角58°以上72°以下1.015< V/VSTB1.025STB折射角58°以上67°以下0.995> V/VSTB探傷折射角58°以上72°以

16、下V/VSTB>1.025探傷折射角58°以上72°以下75<t0.995V/VSTB1.025STB折射角58°以上67°以下0.995> V/VSTB探傷折射角58°以上67°以下V/VSTB>1.025探傷折射角58°以上67°以下7.10 探傷折射角的計(jì)算方法 探傷折射角的計(jì)算按照下列任意一個(gè)計(jì)算。7.10.1 根據(jù)STB音速比計(jì)算 根據(jù)使用探頭的STB折射角及STB音速比V/VSTB，通過下列公式計(jì)算探傷折射角，0.5°單位以下的按要求保留。=sin-17.10.2 根據(jù)

17、V透射法計(jì)算 使用和探傷用斜角探頭同樣形式的探頭，在試驗(yàn)體的探傷面上用圖2所示的V透射法的配置調(diào)整探頭位置以得到最大透射脈沖強(qiáng)度。根據(jù)此時(shí)的入射點(diǎn)間距離（Y）及實(shí)測(cè)板厚（t）用下列公式計(jì)算探傷折射角，0.5°單位以下的按要求保留。=tan-1 (Y/2t)8. 超聲波探傷裝置的調(diào)整及檢查8.1 斜角探傷8.1.1 入射點(diǎn)的測(cè)定 用A1形標(biāo)準(zhǔn)試塊及A3形系標(biāo)準(zhǔn)試塊測(cè)定入射點(diǎn)。入射點(diǎn)用1mm單位讀取。8.1.2 測(cè)定范圍的調(diào)整 用A1形標(biāo)準(zhǔn)試塊或是A3形系標(biāo)準(zhǔn)試塊調(diào)整測(cè)定范圍。8.1.3 STB折射角及探傷折射角的測(cè)定a） STB折射角的測(cè)定 用A1形標(biāo)準(zhǔn)試塊或是A3形系標(biāo)準(zhǔn)試塊測(cè)定ST

18、B折射角。STB折射角在探傷作業(yè)的環(huán)境溫度下測(cè)定，0.5°單位以下按要求讀取。STB折射角在公稱折射角的±2°的范圍內(nèi)使用。b） 探傷折射角的測(cè)定 探傷折射角的測(cè)定是測(cè)定STB音速比、STB折射角根據(jù)7.10的探傷折射角的計(jì)算方法實(shí)施。但是在附件規(guī)定補(bǔ)償探傷折射角的場(chǎng)合，按照規(guī)定進(jìn)行。8.1.4 回波高度區(qū)分線的繪制a） 回波高度區(qū)分線是用使用的探傷儀及探頭繪制。 還有，使用波束路程范圍的測(cè)繪點(diǎn)的回波高度和事前繪制的回波高度區(qū)分線的差異如果在±2dB以內(nèi)則可以使用這個(gè)。 繪制的回波高度區(qū)分線記錄在刻度板上或在指示器上表示。b） 使用RB-41，繪制回波高

19、度區(qū)分線時(shí)，使用RB-41的標(biāo)準(zhǔn)孔。使用A2形系標(biāo)準(zhǔn)試塊繪制回波高度區(qū)分線時(shí)，使用4×4mm的標(biāo)準(zhǔn)孔。c） 在繪制回波高度區(qū)分線時(shí)，在圖3及圖4表示的位置上掃查探頭，將各個(gè)最大回波高度測(cè)繪在刻度板上，連接各點(diǎn)繪制回波高度區(qū)分線。d） 繪制回波高度區(qū)分線包含刻度板的10%100%的范圍。e） 到波束路程的最短標(biāo)繪點(diǎn)的范圍是水平線。f） 回波高度區(qū)分線的條數(shù)是復(fù)數(shù)或1條，復(fù)數(shù)的場(chǎng)合，繪制3條以上相差6dB的回波高度區(qū)分線。 回波高度區(qū)分線是1條時(shí)，在刻度板的20%100%的范圍繪制。繪制1條的示例如圖3的c）所示。8.1.5 區(qū)域區(qū)分的規(guī)定a） H線、M線及L線的規(guī)定 在8.1.4上繪制

20、的回波高度區(qū)分線中，至少選擇從下數(shù)第3根以上的線作為H線，將此作為調(diào)整探傷靈敏度的基準(zhǔn)線。 將比H線低6dB的回波高度區(qū)分線作為M線，低12dB的回波高度區(qū)分線作為L(zhǎng)線。 L線在評(píng)價(jià)缺陷回波的波束路程的范圍內(nèi)，其高度不能是10%以下的線（參照?qǐng)D5）。 回波高度區(qū)分線的條數(shù)是1條時(shí)，根據(jù)用1檔6dB升降增益，依次讀成H線、M線及L線。b） 回波高度的區(qū)域區(qū)分H線、M線及L線區(qū)分的各個(gè)區(qū)域如表5所示。表5 回波高度的區(qū)域區(qū)分回波高度的范圍回波高度的區(qū)域L線以下超過L線M線以下超過M線H線以下超過H線8.1.6 探傷靈敏度的調(diào)整 探傷靈敏度的調(diào)整可用RB-41或A2形系標(biāo)準(zhǔn)試塊中的任意一個(gè)。a） 用

21、RB-41的場(chǎng)合 標(biāo)準(zhǔn)孔的回波高度是調(diào)整增益與H線相吻合，按照需要增加靈敏度補(bǔ)償量，將其條件作為探傷靈敏度。 靈敏度補(bǔ)償量的求法參照附件26。靈敏度補(bǔ)償量的合計(jì)值在2dB以下的場(chǎng)合，也可以不補(bǔ)償靈敏度。b） 用A2形系標(biāo)準(zhǔn)試塊的場(chǎng)合 使用公稱折射角70°時(shí)，4×4mm的標(biāo)準(zhǔn)孔的回波高度是調(diào)整增益與H線相吻合，按照需要增加靈敏度補(bǔ)償量，將其條件作為探傷靈敏度。 使用公稱折射角65°時(shí)，4×4mm的標(biāo)準(zhǔn)孔的回波高度是調(diào)整增益與M線相吻合，按照需要增加靈敏度補(bǔ)償量，將其條件作為探傷靈敏度。使用公稱折射角45°時(shí)，4×4mm的標(biāo)準(zhǔn)孔的回波高度

22、是調(diào)整增益與H線相吻合后，提高增益6dB，按照需要增加靈敏度補(bǔ)償量，將其條件作為探傷靈敏度。 靈敏度補(bǔ)償量的求法如附件26所示。c） 斜平行掃查、交叉掃查及焊縫上掃查的探傷靈敏度根據(jù)交易雙方當(dāng)事人之間的協(xié)定。8.1.7 探傷裝置的測(cè)定、調(diào)整及檢查 開始作業(yè)時(shí)測(cè)定及調(diào)整入射點(diǎn)、STB折射角、測(cè)定范圍及探傷靈敏度。并且，這些在作業(yè)開始后每4小時(shí)以內(nèi)檢查一次，確認(rèn)其條件。在不能維持條件時(shí)，按表6及表7進(jìn)行處理。表6 不能維持靈敏度場(chǎng)合的處理變化的范圍處理的內(nèi)容±4dB以下再調(diào)整繼續(xù)作業(yè)。超過4dB降低再調(diào)整，再次進(jìn)行之前的調(diào)整或檢查以后實(shí)施的試驗(yàn)。超過4dB增加再調(diào)整，對(duì)之前的調(diào)整或檢查以

23、后實(shí)施的試驗(yàn)發(fā)現(xiàn)的缺陷的指示部進(jìn)行再試驗(yàn)。表7 不能維持測(cè)定范圍場(chǎng)合的處理變化的范圍處理的內(nèi)容±2%以下再調(diào)整繼續(xù)作業(yè)。超過2%再調(diào)整，再次進(jìn)行在之前的調(diào)整或檢查以后實(shí)施的試驗(yàn)。8.2 垂直探傷8.2.1 測(cè)定范圍的調(diào)整 用A1形標(biāo)準(zhǔn)試塊等調(diào)整測(cè)定范圍。8.2.2 回波高度區(qū)分線的繪制a） 回波高度區(qū)分線用使用的探傷儀及探頭繪制。 還有，使用波束路程范圍的測(cè)繪點(diǎn)的回波高度和事前繪制的回波高度區(qū)分線的差異如果在±2dB以內(nèi)也可以使用。 繪制的回波高度區(qū)分線在刻度板上記錄或是在指示器上表示。b） 繪制回波高度區(qū)分線時(shí)，如圖6所示，在、的位置上設(shè)置探頭，在刻度板上曲線繪制各個(gè)最大

24、回波高度的峰值位置。c） 如圖7a）及圖7b）所示，用各自的一定的探傷靈敏度將測(cè)繪出的4點(diǎn)在刻度板上用直線連接，作為一個(gè)回波高度區(qū)分線。d） 回波高度區(qū)分線的條數(shù)為復(fù)數(shù)或1條，復(fù)數(shù)的場(chǎng)合，繪制3條以上各相差6dB的回波高度區(qū)分線。8.2.3 區(qū)域區(qū)分的規(guī)定 區(qū)域區(qū)分和8.1.5規(guī)定的一樣，如圖8那樣決定。8.2.4 探傷靈敏度的調(diào)整 RB-41的標(biāo)準(zhǔn)孔的回波高度是調(diào)整增益與H線相吻合，按照需要增加靈敏度補(bǔ)償量，將其條件作為探傷靈敏度。8.2.5 探傷裝置的調(diào)整及檢查時(shí)間 在作業(yè)開始時(shí)調(diào)整測(cè)定范圍及探傷靈敏度。并且這些在作業(yè)開始后每4小時(shí)以內(nèi)檢查一次，確認(rèn)其條件。在不能維持條件時(shí)，按表6及表7進(jìn)

25、行處理。8.3 串列探傷8.3.1 測(cè)定范圍的調(diào)整 根據(jù)單探頭法用A1形標(biāo)準(zhǔn)試塊或A3形系標(biāo)準(zhǔn)試塊，將測(cè)定范圍調(diào)整為相當(dāng)試驗(yàn)體大約1聲程的波束路程后將試驗(yàn)體用V透射法掃查，將得到的最大透射脈沖的波束路程用標(biāo)識(shí)器等刻印在刻度板上。8.3.2 公稱折射角及STB折射角 板厚20mm以上不滿40mm的場(chǎng)合公稱折射角為70°，板厚40mm以上的場(chǎng)合公稱折射角為45°，發(fā)射信號(hào)及接收信號(hào)的探頭各個(gè)STB折射角的差異在2°以下。8.3.3 回波高度區(qū)分線的繪制 在探傷儀的刻度板上，預(yù)先設(shè)置圖9的回波高度區(qū)分線?？潭劝?0%高度的線為M線，比其低6dB的線為L(zhǎng)線，高6dB的線為

26、H線。8.3.4 區(qū)域區(qū)分的決定 區(qū)域區(qū)分和8.1.5規(guī)定的一樣，如圖9那樣決定。圖9 回波高度區(qū)分線和區(qū)域區(qū)分的示例8.3.5 探傷靈敏度的調(diào)整 探傷靈敏度的調(diào)整是在試驗(yàn)體的健全部用V透射法進(jìn)行掃查，最大透射脈沖調(diào)整增益與M線相吻合后，根據(jù)板厚附加表8所示的增益值，將其條件作為探傷靈敏度。表8 附加的增益值板厚探傷范圍附加的增益值20mm以上不滿40mm全體板厚16dB40mm以上不滿75mm全體板厚10 dB75mm以上從表面到t/410 dB超過t/4到t/212 dB超過t/2到里面14 dB8.3.6 探傷裝置的測(cè)定、調(diào)整及檢查時(shí)間 在作業(yè)開始時(shí)測(cè)定及調(diào)整入射點(diǎn)、STB折射角、測(cè)定范

27、圍及探傷靈敏度。并且這些在作業(yè)開始后每4小時(shí)以內(nèi)檢查一次，確認(rèn)其條件。在不能維持條件時(shí)，按表6及表7進(jìn)行處理。9. 探傷試驗(yàn)9.1 斜角探傷a）掃查方法 探頭的掃查方法是按照不漏掉缺陷的方法進(jìn)行。而且，在下面的掃查方法中，雖然通常使用Z形掃查，但對(duì)于用Z形掃查容易遺漏的橫向裂紋等，由交易雙方當(dāng)事人間協(xié)議后使用交叉掃查或焊縫上掃查等。1） 轉(zhuǎn)角掃查 在超聲波斜角探傷中，相對(duì)于焊縫改變超聲波波束的方向，以探頭的入射點(diǎn)為中心旋轉(zhuǎn)探頭的掃查方法（參照?qǐng)D10）。2）環(huán)繞掃查 在超聲波斜角探傷中在以缺陷為中心的圓周上探頭向著中心擺動(dòng)，相對(duì)于缺陷改變超聲波波束方向的掃查方法（參照?qǐng)D10）。3）Z形掃查 在超

28、聲波斜角探傷中，探頭在進(jìn)行帶有擺動(dòng)的前后掃查的同時(shí)平行于焊縫移動(dòng)探頭的掃查方法（參照?qǐng)D11）。4） 左右掃查 在超聲波斜角探傷中，以一定間隔和焊縫平行移動(dòng)探頭的掃查方法（參照?qǐng)D12）。串列探傷的場(chǎng)合稱為左右串列掃查。5） 前后掃查 在超聲波斜角探傷中，以一定間隔和焊縫垂直移動(dòng)探頭的掃查方法（參照?qǐng)D12）。串列探傷的場(chǎng)合稱為前后串列掃查。6）斜平行掃查 是斜角探傷交叉掃查的一種簡(jiǎn)便方法，只用1個(gè)探頭，相對(duì)于焊縫成一定角度放置探頭并平行于焊縫移動(dòng)探頭的掃查方法（參照?qǐng)D13）。7） 焊縫上掃查（平行掃查） 在超聲波斜角探傷中，為了檢出橫向裂紋等缺陷，將探頭放置在削除堆高的焊接部及熱影響部上，將超聲波

29、對(duì)著焊縫方向并沿焊縫移動(dòng)探頭的掃查方法。（參照?qǐng)D14）。8） 交叉掃查 在斜角探傷中為檢出縱向裂紋等缺陷，在焊縫的兩側(cè)各放置一個(gè)探頭并同時(shí)移動(dòng)探頭的掃查方法（雙探頭法的一種）（參照?qǐng)D15）。b）作為評(píng)價(jià)對(duì)象的缺陷 作為評(píng)價(jià)對(duì)象的缺陷是調(diào)整為各附件規(guī)定的探傷靈敏度，在M檢出標(biāo)準(zhǔn)的場(chǎng)合，是最大回波高度為超過M線的缺陷，在L檢出標(biāo)準(zhǔn)的場(chǎng)合，是最大回波高度為超過L線的缺陷。回波高度區(qū)分線是1條時(shí)，調(diào)整增益旋鈕使使用的波束路程范圍的回波高度區(qū)分線成為檢出標(biāo)準(zhǔn)。c)回波高度的區(qū)域?qū)⑻筋^放在顯示最大回波高度的位置上，讀取其最大回波高度所在區(qū)域。在不同折射角或不同探傷面上檢出一個(gè)缺陷的場(chǎng)合，回波高度區(qū)域是最高

30、區(qū)域。d)缺陷指示長(zhǎng)度缺陷指示長(zhǎng)度（）是在顯示最大回波高度的探頭焊接區(qū)距離左右掃查，回波高度超過L線的探頭的移動(dòng)距離。該長(zhǎng)度用1mm單位測(cè)量。該場(chǎng)合，雖然進(jìn)行前后掃查，但是不進(jìn)行轉(zhuǎn)角掃查。但是，當(dāng)使用頻率是2MHz的探頭時(shí)，是超過最大回波高度的1/2（6dB）的探頭的移動(dòng)距離。在不同折射角或不同探傷面上檢出一個(gè)缺陷的場(chǎng)合，分別求出始端和終端，將這些間隔的最大長(zhǎng)度作為缺陷的指示長(zhǎng)度?；夭ǜ叨葏^(qū)分線是1條時(shí)，調(diào)整增益旋鈕使使用波束路程的范圍的回波高度區(qū)分線為L(zhǎng)線，進(jìn)行測(cè)量。e)缺陷位置的表示缺陷位置如圖16所示，在截面上的位置是用在顯示最大回波高度的探頭的位置（）上獲得的缺陷的深度（）及與焊縫成直

31、角方向的位置（）表示。在焊縫和平行方向上的位置是用顯示最大回波高度的探頭的位置（）和缺陷的指示長(zhǎng)度（）的始端（）及終端（）表示。f)缺陷的指示高度測(cè)量缺陷的指示高度在特別必要的場(chǎng)合參照附件8。9.2垂直探傷a)掃查方法探頭的掃查方法是不能遺漏缺陷地實(shí)施掃查。b)作為評(píng)價(jià)對(duì)象的缺陷作為評(píng)價(jià)對(duì)象的缺陷是調(diào)整為8.2.4規(guī)定的探傷靈敏度，M檢出標(biāo)準(zhǔn)的場(chǎng)合是最大回波高度超過M線的缺陷，L檢出標(biāo)準(zhǔn)的場(chǎng)合是最大回波高度超過L線的缺陷。c)回波高度的區(qū)域?qū)⑻筋^放置在顯示最大回波高度的位置上，讀取其最大回波高度所在區(qū)域。d)缺陷指示長(zhǎng)度缺陷的指示長(zhǎng)度是以顯示最大回波高度的位置為中心，掃查其周圍，回波高度超過L

32、線的探頭的移動(dòng)距離（長(zhǎng)徑）。但是，接觸探頭的部分的板厚是75mm以上，使用頻率是2MHz的探頭時(shí)的缺陷指示長(zhǎng)度是超過最大回波高度的1/2（6dB）的探頭的移動(dòng)距離。該長(zhǎng)度是以1mm為單位測(cè)量的。e)缺陷位置的表示缺陷位置如圖17所示，在截面上的位置是用在顯示最大回波高度的探頭的位置（）上獲得的缺陷的深度（）表示，在焊縫和平行方向上的位置用顯示最大回波高度的探頭的位置（）和缺陷的指示長(zhǎng)度（）的始端（）及終端（）表示。9.3 串列探傷a) 探傷的方法1）劃參照線 在實(shí)施串列探傷的焊縫上，焊接前在距坡口面一定的距離（L）劃參照線。2）雙探頭基準(zhǔn)線的決定 從探傷面到串列基準(zhǔn)線的距離（L0.5S）是根據(jù)

33、被當(dāng)作試塊的探傷面使用側(cè)的板厚（t）及收發(fā)信號(hào)的探頭的STB折射角（T及R）根據(jù)以下的式子求出。如圖18所示距參照線距離（L）的位置上決定串列基準(zhǔn)線。 3）探頭的配置 在距串列基準(zhǔn)線的等距離上配置收發(fā)信號(hào)的探頭的入射點(diǎn)。4）進(jìn)行探傷的面與方向 進(jìn)行探傷的面與方向是指在對(duì)焊接縫的場(chǎng)合是單面、焊接部分的兩側(cè)；在T接縫及角接縫的場(chǎng)合是單面、焊接部分的單側(cè)。5）掃查方法 探頭的掃查方法是根據(jù)圖12的左右串列掃查或前后串列掃查。b) 作為評(píng)價(jià)對(duì)象的缺陷 作為評(píng)價(jià)對(duì)象的缺陷是調(diào)整為8.3.5中規(guī)定的探傷靈敏度，M檢出標(biāo)準(zhǔn)的場(chǎng)合是最大回波高度超過M線的缺陷，L檢出標(biāo)準(zhǔn)的場(chǎng)合是最大回波高度超過L線的缺陷。c)

34、 回波高度的區(qū)域 在表示最大回波高度的位置放置探頭，讀取其最大回波的高度所在區(qū)域。d）缺陷的指示長(zhǎng)度 缺陷的指示長(zhǎng)度是以表示最大回波高度的位置為中心，進(jìn)行左右掃查及前后掃查，M檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)的場(chǎng)合是回波高度超過M線范圍的探頭的移動(dòng)距離；L檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)的場(chǎng)合是回波高度超過L線范圍的探頭的移動(dòng)距離。該長(zhǎng)度以1mm為單位測(cè)量。e) 缺陷位置的表示 缺陷位置如圖19所示斷面的位置用在表示最大回波高度的探頭的位置（XP）獲得的缺陷深度（d）及在焊縫的直角方向的位置（k）來表示，與焊縫平行方向的位置用在表示最大回波高度的探頭的位置（XP）及缺陷的指示長(zhǎng)度（l）的始端（XS）以及終端（XE）表示。10. 記錄 進(jìn)行了

35、探傷之后記錄以下必要的項(xiàng)目。a) 試驗(yàn)?zāi)暝氯誦) 施工或制造者姓名c) 工程或制品名稱d) 試驗(yàn)編號(hào)或符號(hào) 圖19 串列探傷的缺陷位置的表示e) 試驗(yàn)技術(shù)者的署名及資格f) 材質(zhì)及尺寸g) 焊接方法及坡口形狀h) 使用的探傷儀名稱、性能及檢查日期和時(shí)間i) 使用的探頭、性能及檢查時(shí)間j) 使用的對(duì)比試樣或標(biāo)準(zhǔn)試樣k) 對(duì)比試樣的厚度、曲率、探傷面的狀態(tài)及STB音速比l）試塊的探傷面的狀態(tài)及修理方法m) 探傷范圍n) 接觸介質(zhì)o）公稱頻率及試驗(yàn)頻率p) 公稱折射角及STB折射角q) STB音速比及其測(cè)量方法r) 探傷折射角及其算出方法s) 測(cè)量范圍t) 回波高度區(qū)分線u) 探傷靈敏度v) 靈敏度

36、補(bǔ)償量w) 檢驗(yàn)水準(zhǔn)x) 表示最大回波高度的焊縫方向的探頭位置、探頭焊接部分距離、波束路程、最大回波高度（領(lǐng)域）、缺陷的指示長(zhǎng)度、缺陷的深度、垂直焊縫方向的位置及缺陷的指示長(zhǎng)度的始端或終端。y) 合格與否及其基準(zhǔn)z) 使用了DAC回路時(shí)進(jìn)行如下的記錄。 1）探傷儀名稱及DAC使用時(shí)的性能 2) 探頭的制造編號(hào)及DAC使用時(shí)的性能 3）DAC的起點(diǎn)調(diào)整距離 4）DAC的傾斜值 5）DAC使用時(shí)的回波高度的區(qū)分線aa) 應(yīng)用了串列探傷法時(shí)進(jìn)行以下的記錄。1） 無法探傷的區(qū)域2） 探傷工裝的規(guī)格3） 串列基準(zhǔn)線的位置4） 缺陷的板厚方向的位置（深度）ab) 其他的事項(xiàng)（指定事項(xiàng)、協(xié)議事項(xiàng)、參會(huì)、抽樣

37、方法等。）附件1（規(guī)定）超聲波探傷裝置的機(jī)能及性能1. 適用范圍 本附件是規(guī)定有關(guān)本標(biāo)準(zhǔn)中使用的超聲波探傷裝置的機(jī)能及性能。2. 探傷儀2.1探傷儀的必要機(jī)能 探傷儀的必要機(jī)能根據(jù)以下。a) 可以使用探傷儀的任意一種的單探頭法、雙探頭法。b) 增值調(diào)整器1檔是1dB以下，合計(jì)的調(diào)整量為70dB以上。c) 輔助刻度板畫有回波高度區(qū)分線等，便于拆裝，而且因視差造成的測(cè)量誤差要小。d) 在連續(xù)調(diào)整的旋鈕中有的與時(shí)間軸相關(guān)，對(duì)使用中可能動(dòng)的旋鈕，應(yīng)備鎖定機(jī)構(gòu)。e) 與寬帶域探頭組合使用的探傷儀能顯示或輸出RF波形。2.2探傷儀的必要性能 探傷儀的必要性能根據(jù)以下。a) 放大線性在JIS Z 2352的

38、4.1（放大直線性）測(cè)量、為±3%的范圍內(nèi)。b) 時(shí)間軸的線性在JIS Z 2352的4.2（時(shí)間軸直線性）測(cè)量、為±3%的范圍內(nèi)。c) 靈敏度的充裕值在JIS Z 2352的4.3（垂直探傷的靈敏度充裕值）測(cè)量、為40dB以上。d) 對(duì)電源電壓變動(dòng)的穩(wěn)定度在額定電壓范圍內(nèi)靈敏度的變化在±1dB的范圍內(nèi)、縱軸、時(shí)間軸及DAC的起點(diǎn)的移動(dòng)量為滿刻度的±2%的范圍內(nèi)。2.3 DAC機(jī)能 附加DAC回路的探傷儀也可以使用DAC機(jī)能。2.4探傷儀的性能檢查 探傷儀的有關(guān)2.2所示的a)c)的事項(xiàng)根據(jù)JIS Z 2352的5.（定期檢查），在裝置購(gòu)入時(shí)及12個(gè)月以

39、內(nèi)進(jìn)行檢查，確認(rèn)能維持的規(guī)定性能。3. 探頭3.1探頭的必要機(jī)能 探頭的必要機(jī)能根據(jù)以下。a) 探頭要適合使用的探傷儀。b) 為了方便地測(cè)量入射點(diǎn)，在斜角探頭的兩側(cè)設(shè)置間距1mm的引導(dǎo)刻度。c) 斜角探頭的振子的公稱尺寸為5×5mm以上20×20mm以下。作為標(biāo)準(zhǔn)使用的公稱尺寸根據(jù)附件1表1。但是，串列探傷上使用的探頭的振子的公稱尺寸未特別規(guī)定。d) 垂直探頭的振子為圓形，其公稱直徑為10mm以上30mm以下。作為標(biāo)準(zhǔn)使用的公稱直徑根據(jù)附件1表2。附件1表1 斜角探頭的公稱頻率 附件1 表2 垂直探頭的公稱頻率與與標(biāo)準(zhǔn)使用的振子的公稱尺寸 標(biāo)準(zhǔn)使用的振子的公稱直徑公稱頻率M

40、Hz振子的公稱尺寸mm 214×14，20×20 55×5，10×10公稱頻率MHz振子的公稱直徑mm220，285103.2斜角探頭的必要性能 斜角探頭的必要性能根據(jù)以下。a) 接近限界長(zhǎng)度在附件1表3所示的數(shù)值以內(nèi)。附件1表3 接近限界長(zhǎng)度振子的公稱尺寸mm接近限界長(zhǎng)度mm20×202514×142010×10155×57但是，串列探傷使用的最小探頭的入射點(diǎn)距離為公稱頻率為5MHz、公稱折射角為45°的探頭的場(chǎng)合為20mm以下，在70°的場(chǎng)合時(shí)，入射點(diǎn)間的距離為27mm以下，在2MHz、45

41、°的場(chǎng)合時(shí)入射點(diǎn)間的距離是25mm以下。b) 公稱折射角為40°、45°、60°、65°或70°。c) 和使用的探傷儀匹配測(cè)量H線的噪音水平，在使用的波束路程的范圍內(nèi)SN的比為22dB以上。d) 遠(yuǎn)距離分辨率是組合使用的探傷儀，根據(jù)JIS Z 2352的4.8（斜角探傷的分辨率）測(cè)量，在附件1表4所示的數(shù)值以下。但是，當(dāng)公稱頻率為2MHz及5MHz以外時(shí)遠(yuǎn)距離分辨率為8mm以下。e) 盲區(qū)是組合使用的探傷儀時(shí)，根據(jù)JIS Z 2350的8.3.7（盲區(qū)）測(cè)量，在附件1的表5所示的數(shù)值以下。但是，在公稱頻率為2MHz及5MHz以外的時(shí)未

42、作規(guī)定。振子的公稱尺寸為5×5mm的場(chǎng)合，用使用的探傷靈敏度測(cè)量。對(duì)串列探傷使用的探頭的盲區(qū)未作規(guī)定。附件1表4 斜角探頭的遠(yuǎn)距離分辨率 附件1表5 斜角探頭的盲區(qū)公稱頻率MHz分辨率mm29以下55以下公稱頻率MHz振子的公稱尺寸mm盲區(qū)mm214×1420×20251555×510×10815f) 波束中心軸的偏心用JIS Z 2350的13.1（波束中心軸的偏心與偏心角）的測(cè)量方法測(cè)量，該角度不能超過2°。3.3垂直探頭的必要性能 垂直探頭的必要性能根據(jù)以下。a) 噪音等的回波高度是組合使用的探傷儀，以使用的探傷靈敏度，是顯示器

43、 刻度的10%以下。b) 遠(yuǎn)距離分辨率是組合使用的探傷儀，是根據(jù)JIS Z 2352的4.4（垂直探傷的遠(yuǎn)距離分辨率）來測(cè)量，在附件1表6所示的數(shù)值以下。但是，當(dāng)公稱頻率為2MHz及 5MHz以外的情況時(shí)遠(yuǎn)距離分辨率為8mm以下。c) 盲區(qū)是由使用的探傷靈敏度從發(fā)射脈沖或表面回波的上升點(diǎn)開始，之后邊緣的高度在最后達(dá)到20%的點(diǎn)的長(zhǎng)度，用鋼中的距離讀出。公稱頻率為5MHz盲區(qū)的值為8mm以下，公稱頻率為2MHz盲區(qū)的值為15mm以下。3.4斜角探頭的性能檢查 斜角探頭是在附件1表7規(guī)定的時(shí)間對(duì)3.2所示的事項(xiàng)進(jìn)行檢查，確認(rèn)能維持規(guī)定的性能。附件1表6 垂直探頭的遠(yuǎn)距離分辨率 附件1表7 斜角探頭

44、的性能檢查時(shí)間公稱頻率mm分辨率mm29以下56以下檢查項(xiàng)目檢查時(shí)間波束中心軸的偏移SN比接近限界長(zhǎng)度遠(yuǎn)距離分辨率盲區(qū)購(gòu)入時(shí)及進(jìn)行補(bǔ)修之后試驗(yàn)頻率購(gòu)入時(shí)3.5 垂直探頭的性能檢查 垂直探頭是在購(gòu)入時(shí)及至少每月1次對(duì)3.3所示的事項(xiàng)進(jìn)行檢查，確認(rèn)能維持規(guī)定的性能。4. 串列探傷的工裝 串列探傷的工裝是指能配置發(fā)射及接收用的2個(gè)探頭，并且能左右串列掃查或前后串列掃查。附件2（規(guī)定） 平板接縫焊接部的探傷方法1. 適用范圍 本附件是有關(guān)平板對(duì)焊接縫焊接部、T接縫焊接部、角接縫焊接部、探傷面的曲率半徑為1000mm以上的環(huán)焊縫焊接部以及1500mm以上的縱向焊縫焊接部的超聲波探傷試驗(yàn)方法的規(guī)定。2.

45、使用的對(duì)比試樣及標(biāo)準(zhǔn)試樣 使用的對(duì)比試樣及標(biāo)準(zhǔn)試樣如正文的5.所示的RB-41或STB。但是，探傷橫向波音度與STB不同的試塊（指使用正文的表4的探傷折射角的STB音速比的范圍的試塊。）時(shí)，探傷靈敏度的調(diào)整使用RB-41。3. 使用的探頭 使用的探頭根據(jù)正文的表4及附件1的3.。另外，試塊的板厚超過75mm時(shí)，除了選擇正文表4的折射角之外，并用公稱折射角45°。4. 探傷裝置的調(diào)整4.1測(cè)量范圍的調(diào)整 測(cè)量范圍的調(diào)整根據(jù)正文的8.1.2、8.2.1或8.3.1。4.2入射點(diǎn)、STB折射角及探傷折射角的測(cè)量 入射點(diǎn)的測(cè)量根據(jù)正文的8.1.1。STB折射角及探傷折射角的測(cè)量根據(jù)正文的8.

46、1.3。4.3回波高度區(qū)分線的繪制 回波高度區(qū)分線的繪制根據(jù)正文的8.1.4、8.2.2或8.3.3。4.4靈敏度補(bǔ)償量的求法 在斜角探傷上的靈敏度的補(bǔ)償量用以下所示方法求出。a) 調(diào)整為使用的測(cè)量范圍后，用雙探頭法使用探傷上使用的探頭及與此相同形式的探頭。b) 在實(shí)際的試塊上，如附件2圖1的a)所示配置，調(diào)節(jié)探頭間的距離使透射脈沖達(dá)到最高。將該最大透射脈沖高度定為50%，讀取增益的值V（dB）。c) 在對(duì)比試樣或A2形系標(biāo)準(zhǔn)試樣上如附件2圖1的b)所示配置，根據(jù)與上述的b)相同的順序，將透射脈沖的高度定為50%讀取增益的值V1（dB）及V2（dB）.d) 兩者的波束路程不一致的場(chǎng)合，如附件2

47、圖1的c)所示讀取試塊上的波束路程的前后的波束路程上的V的值。e) 將V-V的值作為靈敏度的補(bǔ)償量。4.5探傷靈敏度的調(diào)整 探傷靈敏度的調(diào)整根據(jù)正文的8.1.6、8.2.4或8.3.5。 5. 探傷方法5.1探傷面 探傷面根據(jù)附件2表1。T接縫及角接縫的場(chǎng)合是適用于單探頭斜角探傷法時(shí)的探傷面是開坡口側(cè)的構(gòu)件面。此外，表面與側(cè)面如附件2的圖2表示。附件2表1 探傷面接縫的種類使用的最大波束路程mm頻率探傷面探傷方法對(duì)焊接縫150mm以下2或5MHz單面兩側(cè)直射法及1次反射法超過150mm250mm以下2MHz單面兩側(cè)直射法及1次反射法超過250mm2MHz兩面兩側(cè)直射法T接縫150mm以下2或5

48、MHz單面單側(cè)直射法及1次反射法超過150mm250mm以下2MHz單面單側(cè)直射法及1次反射法超過250mm2MHz兩面單側(cè)直射法角接縫(閉合斷面的場(chǎng)合)150mm以下2或5MHz單面單側(cè)直射法及1次反射法超過150mm250mm以下2MHz單面單側(cè)直射法及1次反射法超過250mm2MHz單面單側(cè)直射法及1次反射法 5.2探傷方向 探傷方向是指為了防止因缺陷的傾斜漏看了缺陷，如附件2圖35所示在2個(gè)方向以上的超聲波波束的方向進(jìn)行的方法。5.3掃查方法 探頭的掃查方法用正文的9.1a)的掃查方法中的3）的Z形掃查，盡量不要漏看缺陷進(jìn)行掃查。 附件2圖5 閉合斷面的角接縫焊接部的探傷方法6. 缺陷

49、位置的推斷方法 檢驗(yàn)出缺陷時(shí)的缺陷位置根據(jù)探頭焊接部距離、波束路程及與正文的7.9的STB的音速比從選定的折射角中推斷。附件3（規(guī)定）環(huán)焊縫焊接部的探傷方法1. 適用范圍 本附件是有關(guān)探傷面的曲率半徑為50mm以上不到1000mm的環(huán)焊縫焊接部的超聲波探傷試驗(yàn)方法的規(guī)定。2. 使用的對(duì)比試樣及標(biāo)準(zhǔn)試樣2.1 試樣的適用范圍 對(duì)比試樣及標(biāo)準(zhǔn)試樣是根據(jù)探傷裝置的調(diào)整作業(yè)項(xiàng)目及試塊的曲率半徑按照附件3圖1使用。 另外，代替正文的表1及正文的圖1的RB-41，可以使用RB-A6。2.2 對(duì)比試樣RB-42 對(duì)比試樣RB-42的形狀與尺寸如附件3圖2所示。 另外，RB-42為以下任意種。a) 是均質(zhì)低衰

50、減材料，和加工后的探傷面的探傷方向垂直的方向上帶有曲率的。 附件3圖2 RB-42的例子這里，L：對(duì)比試樣的長(zhǎng)度 對(duì)比試樣的長(zhǎng)度根據(jù)使用的波束路程。 進(jìn)行靈敏度補(bǔ)償?shù)腣透射的長(zhǎng)度或其2倍以上的長(zhǎng)度。L1：5/4聲程以上的長(zhǎng)度，40mm以上。T： 對(duì)比試樣的厚度W：試樣的寬度 W2··S/D S：使用的最大波束路程 D：振子的寬度b) 與試塊是同一鋼種，在探傷面的狀態(tài)下滿足以下條件、且?guī)в星实?。條件：厚度及曲率為試塊的±10%以內(nèi)并且與試塊的音速差為±2%以內(nèi)。2.3 對(duì)比試樣RB-A6 對(duì)比試樣RB-A6的形狀及尺寸如附件3圖3所示。RB-A6的孔的垂

51、直度為0.5°以下，孔的前端角度為118°及孔的角不需倒角。另外，RB-A6的厚度及曲率是試塊的±10%以內(nèi)及與試塊的音速差為±2%以內(nèi)。 這里，L： 對(duì)比試樣的長(zhǎng)度 對(duì)比試樣的長(zhǎng)度根據(jù)使用的波束路程。 是進(jìn)行靈敏度補(bǔ)償?shù)腣透射的長(zhǎng)度或其2倍以上的長(zhǎng)度。L1：1.5聲程以上的長(zhǎng)度T： 對(duì)比試樣的厚度W：試樣的寬度、60mm以上。3. 使用的探頭3.1 探頭的接觸面 不進(jìn)行探頭的接觸面的曲面加工。曲率半徑為250mm以下的場(chǎng)合，為了使探頭的接觸穩(wěn)定最好使用工裝。3.2 探頭的公稱折射角 使用的探頭的公稱折射角根據(jù)正文的表4。 另外，試塊的板厚超過75mm時(shí)

52、，除了選擇正文的表4折射角之外，還并用公稱折射角45°。4. 探傷裝置的調(diào)整4.1 測(cè)量范圍的調(diào)整 測(cè)量范圍的調(diào)整采用A1形標(biāo)準(zhǔn)試樣或A3形系標(biāo)準(zhǔn)試樣進(jìn)行，根據(jù)正文的8.1.2。4.2 入射點(diǎn)及探傷折射角的測(cè)量 根據(jù)正文的8.1.1及正文的8.1.3測(cè)量入射點(diǎn)及探傷折射角。4.3 回波高度區(qū)分線的繪制4.3.1 采用RB-41、RB-42的場(chǎng)合 采用RB-41、RB-42場(chǎng)合的回波高度區(qū)分線根據(jù)正文的8.1.4。4.3.2 采用RB-A6的場(chǎng)合 回波高度區(qū)分線是采用使用的探頭，根據(jù)正文的8.1.4用以下的順序繪制。但是，繪制探傷橫向波音速與STB不同的試塊時(shí)的回波高度區(qū)分線采用RB-

53、41。a) 在刻度板上測(cè)繪出0.5聲程與1.0聲程或1.0聲程與1.5聲程的最大回波高度的最高位置，用直線連接這幾個(gè)兩點(diǎn)。b) 從0.5聲程的點(diǎn)開始向左水準(zhǔn)劃線。4.4 根據(jù)曲率求出靈敏度補(bǔ)償量的方法4.4.1 采用RB-42及RB-A6的場(chǎng)合 采用RB-42及RB-A6時(shí)不進(jìn)行靈敏度的補(bǔ)償。4.4.2 采用RB-41的場(chǎng)合a) 從外面探傷試塊的場(chǎng)合 曲率半徑為250mm以上從外面探傷時(shí)的靈敏度的補(bǔ)償量根據(jù)使用的斜角探頭的公稱頻率、振子的公稱尺寸及接觸媒介，從附件3圖4及附件3圖5中用1dB的單位求出。b) 從內(nèi)面（凹面）探傷試塊的場(chǎng)合 1）將與使用的斜角探頭相同形式的2個(gè)斜角探頭如附件3圖6

54、的b)所示相對(duì)排列，用V掃查（T-R1的配置）及3次反射的V掃查（T-R2的配置）調(diào)整探頭間距離使透射脈沖達(dá)到最高。測(cè)繪求出的兩個(gè)透射脈沖的峰值，用直線連接參照附件3圖6的c）。 2） 與1）相同的靈敏度如附件3圖6的a)所示配合探傷方向配置2個(gè)探頭，進(jìn)行V掃查，調(diào)整探頭間的距離使透射脈沖達(dá)到最高。之后在其波束路程上用1dB的單位（四舍五入）讀取透射脈沖的高度差，將其作為靈敏度補(bǔ)償量。 4.5 探傷靈敏度的調(diào)整 4.5.1 采用RB-A6的場(chǎng)合 為了使RB-A6的標(biāo)準(zhǔn)孔的回波高度與H線一致調(diào)整增益作為探傷靈敏度。但是，橫向波音速與STB音速不同的試塊場(chǎng)合的靈敏度調(diào)整根據(jù)RB-41、RB-42進(jìn)

55、行。 4.5.2 采用RB-41、RB-42的場(chǎng)合 采用RB-41、RB-42場(chǎng)合的探傷靈敏度的調(diào)整根據(jù)正文的8.2.4。 5. 探傷方法 5.1 探傷面 探傷面根據(jù)附件3表1。 5.2 探傷方向 探傷方向是為了防止因缺陷的傾斜而漏看了缺陷，用2個(gè)方向以上的超聲波波束的方向進(jìn)行的方法。 5.3 掃查方法 探頭的掃查方法使用正文9.1的a)掃查方法中的正文9.1a)的3）Z形掃查，盡量不要漏看缺陷來進(jìn)行。 6. 缺陷位置的推斷方法 檢測(cè)出缺陷時(shí)的缺陷位置是根據(jù)探頭焊接部距離、波束路程及與正文的7.9的STB的音速比從選擇的音速比中推斷折射角。附件3表1 探傷面內(nèi)外面的探傷面使用的最大的波束路程mm頻率探傷面探傷方法僅外面可以探傷的場(chǎng)合150mm以下2或5MHz外面（凸面）兩側(cè)直射法及1次反射法超過150mm250mm以下2MHz外面