奧氏體不銹鋼鍛件超聲檢測(cè)作業(yè)指導(dǎo)書(shū)(共16頁(yè))

1、精選優(yōu)質(zhì)文檔-傾情為你奉上奧氏體不銹鋼鍛件超聲檢測(cè)1、適用范圍適用于奧氏體、奧氏體不銹鋼鍛件脈沖反射式手動(dòng)超聲檢測(cè)。機(jī)械掃查方式，比如液浸法須在買賣雙方同意的條件下方可適用。適用根據(jù)鍛件形狀和制造方法分為四類，其中1，2，3類形狀比較簡(jiǎn)單，4類較復(fù)雜。不適用： 滾軋棒，閉合鍛件，渦輪轉(zhuǎn)軸和發(fā)電機(jī)鍛件。奧氏體不銹鋼鍛件的檢測(cè)在本標(biāo)準(zhǔn)的第四部分。2、 參考（略）3、 定義（略）4、 協(xié)商事項(xiàng)以下事項(xiàng)由合同雙方在簽訂合同時(shí)協(xié)商達(dá)成一致。a) 掃查比率以及掃查方式是柵格掃查還是100%全覆蓋掃查（第12條）。b) 近表面雙晶探頭的選用（第7.2.6條）c) 質(zhì)量定級(jí)以及區(qū)域（第14條）d) 除第7，1

2、2條提到以外，任何特殊掃查覆蓋率，儀器或者耦合劑使用時(shí)e) 掃查方式不是手動(dòng)的（第1條）f) 采用浸涂技術(shù)（第15條）g) 靈敏度確定技術(shù)（第11條）h) 檢測(cè)是否要在買方或其代表在場(chǎng)時(shí)進(jìn)行i) 是否應(yīng)遞交工藝卡予以買方承認(rèn)(第5條)。j) 是否要做橫波探頭檢測(cè)（11.3條）k) 復(fù)雜鍛件（4類）的檢測(cè)保留問(wèn)題（12.2條）5.工藝卡5.1 概要超聲檢測(cè)應(yīng)遵照工藝卡執(zhí)行。在合同雙方技術(shù)協(xié)議有規(guī)定的情況之下，工藝卡應(yīng)在檢測(cè)前遞交給買方予以承認(rèn)。5.2 形式工藝卡應(yīng)具有以下形式：a) 產(chǎn)品規(guī)格 或者b) 詳細(xì)的實(shí)施工藝流程，或者c) EN10228此部分5.3 內(nèi)容工藝卡至少具有以下內(nèi)容：a) 需

3、要檢測(cè)的鍛件的規(guī)格描述b) 相關(guān)文件c) 檢測(cè)人員的資格證明d) 檢測(cè)時(shí)機(jī)e) 檢測(cè)區(qū)域質(zhì)量級(jí)別f) 表面掃查準(zhǔn)備g) 耦合劑h) 檢測(cè)儀器描述i) 校準(zhǔn)和設(shè)置j) 掃查方式k) 檢測(cè)順序以及描述l) 缺陷記錄m) 缺陷描述n) 合格級(jí)別o) 檢測(cè)報(bào)告6.人員資格檢測(cè)人員須具有EN473資格證明7.儀器和附件7.1 探傷儀符合prEN12668-1規(guī)定的A型掃描儀7.2 探頭7.2.1一般規(guī)定普通直探頭和橫波探頭必須符合PrEN12668-2規(guī)定。要求得到更加詳細(xì)的檢測(cè)信息時(shí)也可用輔助探頭，但輔助用的探頭不能用于缺陷的初檢。輔助探頭須符合prEN12668-2規(guī)定。7.2.2 造型造型應(yīng)符合E

4、B583-2要求7.2.3 公稱頻率公稱頻率在0.5MHZ6MHZ7.2.4直探頭有效晶片直徑1040mm7.2.5 橫波探頭橫波聲束角度3570，晶片面積20mm2625mm27.2.6 雙晶探頭檢測(cè)近表面缺陷時(shí)應(yīng)使用雙晶探頭（第四條）7.3 標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)符合prEN12223規(guī)定7.4 對(duì)比試塊要求用距離-波幅曲線（DAC）定靈敏度和當(dāng)量法定缺陷當(dāng)量尺寸時(shí)，應(yīng)制作對(duì)比試塊。對(duì)比試塊表面狀態(tài)應(yīng)和檢測(cè)部位表面一致。否則，對(duì)比試塊必須在檢測(cè)深度內(nèi)有至少三個(gè)反射體。對(duì)比試塊的形式取決于實(shí)際探傷，應(yīng)符合以下條件：a) 超過(guò)待檢部位長(zhǎng)度 b) 和待檢部位具有相同的材質(zhì)以及熱處理狀態(tài)c) 和待檢部位具有相

5、似聲特性除了用于驗(yàn)證DGS圖的精確性之外，對(duì)比試塊不能用于距離-增益-大?。―GS）技術(shù)。注：表5，6中反射體的不同尺寸可用于檢測(cè)靈敏度的相應(yīng)調(diào)整。7.5 耦合劑應(yīng)便于操作，在校準(zhǔn)，靈敏度設(shè)置，掃查，缺陷定量時(shí)應(yīng)使用同一種耦合劑。耦合劑存在影響加工、檢查或者部件完整時(shí)，應(yīng)在檢測(cè)完之后予以清除。注：合適的耦合劑如：水（含或不含腐蝕性抑制劑或軟化劑），油脂，甘油和化學(xué)漿糊。8. 校驗(yàn)探傷系統(tǒng)（探傷儀和探頭）的校驗(yàn)應(yīng)符合prEN12668-3的規(guī)定。9. 檢測(cè)時(shí)機(jī)超聲檢測(cè)應(yīng)在最終熱處理后和機(jī)加工前進(jìn)行。注：對(duì)于需鉆孔的圓柱和矩形鍛件，推薦在鉆孔前進(jìn)行超聲檢測(cè)。10表面狀態(tài)10.1 概述掃查表面應(yīng)無(wú)漆

6、層，附著層以及影響耦合效果的干耦合劑，表面不規(guī)則或其他物質(zhì)，這些會(huì)阻礙探頭的自由移動(dòng)或者造成誤判。10.2 表面準(zhǔn)備等級(jí)在機(jī)加工狀態(tài)下，質(zhì)量等級(jí)1，2的表面粗糙度Ra12.5m,等級(jí)3的表面粗糙度Ra6.3m,10.3 毛坯表面狀態(tài)鍛件以毛坯形式供貨時(shí)，表面狀態(tài)應(yīng)達(dá)到指定的質(zhì)量等級(jí)。鑄件表面難以進(jìn)行全面的檢測(cè)?？蛇M(jìn)行噴丸，噴砂或者表面打磨處理，確保超聲耦合。注：質(zhì)量級(jí)別只為1級(jí)。11 靈敏度11.1 概述靈敏度應(yīng)足夠保證檢測(cè)出記錄和評(píng)級(jí)指定的最小缺陷（表4，有需要時(shí)表5，6）。如果由于晶粒粗大，靈敏度達(dá)不到要求時(shí)，如何判定鍛件合格，應(yīng)買賣雙方達(dá)成一致。11.2 普通直探頭應(yīng)采用以下一種方法來(lái)確

7、定探頭掃查靈敏度：a) 平底孔距離波幅曲線（DAC）b) DGS技術(shù)應(yīng)符合prEN583-2規(guī)定.11.3 橫波探頭（4.j條）應(yīng)采用以下一種方法來(lái)確定探頭掃查靈敏度：a) 3mm橫孔距離波幅曲線（DAC）b) DGS技術(shù)應(yīng)符合prEN583-2規(guī)定.橫波探頭DAC和DGS技術(shù)無(wú)對(duì)比性。11.4 重復(fù)檢查重復(fù)檢查時(shí)應(yīng)采用與最初一致的確定靈敏度的方式（DAC或DGS）12 掃查12.1 概述應(yīng)采用手動(dòng)接觸式脈沖反射式掃查方式。最小掃查覆蓋率由鍛件的種類決定，并取決于在雙方在合同中是否指定是柵格掃查還是100%全覆蓋掃查。表1 按形狀和制作方法分 四種典型鍛件類別表2 第1，2，3類鍛件直探頭掃查

8、覆蓋要求。表3 3a,3b類鍛件（內(nèi)外徑之比小于1.6：1）橫波探頭掃查覆蓋率。橫波圓周掃查有效深度受探頭角度和鍛件直徑的限制（附錄A）12.2 復(fù)雜鍛件對(duì)于形狀復(fù)雜或有部分形狀復(fù)雜的鍛件（第4類鍛件）和小直徑鍛件，掃查覆蓋率由合同雙方在訂立合同時(shí)達(dá)成一致。應(yīng)至少包括所需探頭角度，掃查方向，掃查覆蓋區(qū)域（柵格或100%）。（第4k條）12.3 柵格掃查應(yīng)用單個(gè)或是多個(gè)探頭按表2，3確定的方式沿格子線掃查。發(fā)現(xiàn)可記錄缺陷，應(yīng)在發(fā)現(xiàn)缺陷處另作掃查以確定缺陷的邊界。12.4 100%掃查應(yīng)按表2，3中詳細(xì)說(shuō)明在表面做100%掃查，探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑的10%。12.5掃查速度探頭掃查速

9、度不應(yīng)超過(guò)150mm/s。表1按形狀和制作方法分 四種典型鍛件類別類別形狀一般制作方法1)1a1)圓或近圓截面拉升而成如：棒，桿，圓柱體，軸，軸頸，棒切圓盤直接鍛造1b1)矩形或近矩形截面拉升而成如棒，桿，塊，軸，軸頸，棒切部分直接鍛造22)墩粗，如：圓盤，盤，調(diào)速輪墩粗3a3)4)空心圓柱體，如：瓶，壓縮氣瓶心軸鍛造3b空心圓柱體，如：環(huán)，法蘭，緣延伸3c切成圓形薄片4復(fù)雜形狀鍛件生產(chǎn)廠家確定注 1）相對(duì)于主要尺寸鉆孔鍛件能歸入1類鍛件2）2類鍛件可最終用來(lái)鉆孔（如：緊密圓盤）表2直探頭掃查覆蓋率類別柵格掃查1）100%掃查1）2）11a直徑D, mm掃查線在圓柱面圓周方向至少180作100

10、%掃查D200200D500500D1001000D90內(nèi)2條60內(nèi)3條45內(nèi)4條1b在兩垂直面作方形柵格線掃查3)4)在兩垂直面作100%掃查22沿方形柵格線在圓柱面圓周360和一個(gè)側(cè)面掃查4)在圓柱面圓周至少180作100%掃查在一個(gè)側(cè)面做100%掃查33a沿方形柵格線在圓柱外表面作圓周360掃查4)在圓柱外表面圓周方向360作100%掃查3b和3c沿方形柵格線在圓柱面圓周360和一個(gè)側(cè)面掃查在圓柱外表面圓周360做100%掃查在一個(gè)側(cè)面做100%掃查4掃查覆蓋率應(yīng)在合同中規(guī)定注：1）在雙方合同中有額外掃查（如在3a類兩個(gè)軸向上）規(guī)定，可做。2）100%掃查時(shí)探頭連續(xù)移動(dòng)中至少有10%的交

11、迭3) 1a 1b類，當(dāng)有鉆孔存在阻礙超聲達(dá)到另外一面時(shí)，掃查線數(shù)目應(yīng)對(duì)稱的加倍。4）柵格線間距應(yīng)等于檢測(cè)部位厚度，最大為200mm。表3橫波探頭掃查覆蓋率類別柵格掃查1）100%掃查1）2）33a沿圓周360雙向掃查柵格線間距等于徑向厚度，最大為200mm在圓柱外表面100%作雙向掃查3b4掃查覆蓋率應(yīng)在合同中規(guī)定注：1）在雙方合同中有額外掃查規(guī)定，可做。2）100%掃查時(shí)探頭連續(xù)移動(dòng)中至少有10%的交迭13質(zhì)量分級(jí)等級(jí)評(píng)定13.1 缺陷定級(jí)缺陷應(yīng)根據(jù)至少在兩個(gè)相互垂直方向掃查得到的反射動(dòng)態(tài)圖案判定級(jí)別。a)圖1探頭移動(dòng)，A型掃描顯示有個(gè)尖銳平滑上升到最高的振幅顯示，然后平滑地下降至零（圖1

12、a）。缺陷尺寸小于或等于-6dB波束截面,橫孔得到的反射波形(圖1b)。b)圖2 探頭移動(dòng)，A型掃描顯示有個(gè)尖銳平滑上升到最高的振幅顯示（有無(wú)振幅變化），然后平滑地下降至零（圖2a）。缺陷尺寸大于-6dB波束截面，橫孔得到的反射波形(圖2b)。 圖1 A型顯示和反射包絡(luò)圖顯示圖2 A型顯示和反射包絡(luò)圖顯示13.2 缺陷定級(jí)缺陷應(yīng)根據(jù)如下反射動(dòng)態(tài)圖案判定級(jí)別。a) 點(diǎn)狀缺陷 動(dòng)態(tài)反射波型圖1或者小于等于-6dB聲束寬度（圖3a）。b) 延伸缺陷 動(dòng)態(tài)反射波型圖2或者大于-6dB聲束寬度（圖3b）。c) 單個(gè)缺陷 相鄰缺陷幾何中心點(diǎn)與點(diǎn)之間距離d大于40mm(圖3c)。d) 密集缺陷 相鄰缺陷幾何

13、中心點(diǎn)與點(diǎn)之間距離d小于或等于40mm(圖3d)。 圖3a 點(diǎn)狀缺陷（LDp） 圖3b 延伸缺陷（LDp）圖3c 單個(gè)缺陷（LDp，d40mm） 圖3d密集缺陷（LDp，d40mm）圖中 ：1表示通常情況下-6dB缺陷的外圍 Dp表示缺陷處聲束寬度 d表示2個(gè)缺陷之間的距離 L表示通常情況下-6dB缺陷的長(zhǎng)度14 缺陷記錄和合格級(jí)別多種質(zhì)量等級(jí)能用作鍛件分級(jí)，采用何種質(zhì)量等級(jí)由合同雙方協(xié)定表4 直探頭缺陷記錄和質(zhì)量分級(jí)1）鍛件厚度t(mm)缺陷記錄deq,mm2)合格級(jí)別單個(gè)點(diǎn)狀缺陷deq,mm2)延伸缺陷和密集點(diǎn)狀缺陷deq,mm2)1級(jí)t7558575t2508118250t4001419

14、14t400由缺陷引起底波降低80%缺陷引起底波消失（當(dāng)?shù)撞úǚ陆档匠跏贾档?%以下時(shí)）。2級(jí)t7535375t250585250t4008118400t600111511t600由缺陷引起底波降低80%缺陷引起底波消失（底波波幅下降到初始值的5%以下時(shí)）。3級(jí)t7523275t250353250t400585400t6008118t600由缺陷引起底波降低80%缺陷引起底波消失，（當(dāng)?shù)撞úǚ陆档匠跏贾档?%以下時(shí)）。注：(1)反射體直徑不應(yīng)認(rèn)為是引起反射的缺陷的直徑。(2)deq平底孔當(dāng)量直徑。表5 應(yīng)用DGS技術(shù)斜探頭缺陷記錄和質(zhì)量分級(jí)鍛件厚度t(mm)缺陷記錄deq,mm1)合格級(jí)別

15、單個(gè)點(diǎn)狀缺陷deq,mm延伸缺陷和密集點(diǎn)狀缺陷deq,mmt7535375t250585250t4002)8118注：(1) deq平底孔當(dāng)量直徑。(2)厚度大于400的檢測(cè)由合同雙方確定。表6 應(yīng)用DAC技術(shù)的斜探頭缺陷記錄和質(zhì)量分級(jí)1)2)3)鍛件厚度(mm)公稱頻率MHZ缺陷記錄%合格級(jí)別單個(gè)點(diǎn)狀缺陷%延伸缺陷和密集點(diǎn)狀缺陷%t7513060302501005075t250150100502100200100250t400110020010022004002001）基于3橫孔2）每種頻率和每種探頭都能用3橫孔DAC技術(shù)3）以與DAC相應(yīng)的dB數(shù)表示缺陷波幅見(jiàn)附錄B15 尺寸要求缺陷區(qū)域進(jìn)行定量時(shí)，在合同雙方同意之下采用以下方法，且應(yīng)符合prEN583-5的規(guī)定。a)6dB法b)20dB法c)最高波幅法16 報(bào)告檢測(cè)結(jié)果應(yīng)以書(shū)面報(bào)告的形式給出，報(bào)告至少包括以下內(nèi)容：a) 賣方名字b) 令號(hào)c) 鍛件檢測(cè)證明d) 檢測(cè)范圍：檢測(cè)區(qū)域和