DAC轉(zhuǎn)換實(shí)驗(yàn)報(bào)告

1、 驗(yàn) 報(bào) 告姓姓名名 學(xué)學(xué)號(hào)號(hào) 班 級(jí) 指導(dǎo)老師 實(shí)驗(yàn)日期 2010.5.4 成 績(jī) 實(shí)驗(yàn)題目：D/A轉(zhuǎn)換實(shí)驗(yàn)一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康模?.學(xué)習(xí)C語(yǔ)言的編程方法，ICC AVR的使用方法 2.掌握AVRATmega8單片機(jī)實(shí)驗(yàn)開(kāi)發(fā)系統(tǒng)的 ISP在線編程方法 3.掌握DAC的接線方法， DAC函數(shù)的使用方法 4.學(xué)會(huì)利用DAC轉(zhuǎn)換來(lái)調(diào)試程序的技巧 二、實(shí)驗(yàn)材料：1.AVRATmega8 單片機(jī)開(kāi)發(fā)板 一塊 2.+9V直流電源 一個(gè) 3.USBISP下載電纜 一根 三、實(shí)驗(yàn)原理：D/A轉(zhuǎn)換器是一種將數(shù)字量轉(zhuǎn)換成模擬量的器件，其特點(diǎn)是：接收、保持和轉(zhuǎn)換的數(shù)字信息，不存在隨溫度、時(shí)間漂移的問(wèn)題，其電路抗干擾性較好

2、。大多數(shù)的D/A 轉(zhuǎn)換器接口設(shè)計(jì)主要圍繞D/A 集成芯片的使用及配置響應(yīng)的外圍電路。DAC0832是8位芯片，采用CMOS 工藝和R-2RT 形電阻解碼網(wǎng)絡(luò)，轉(zhuǎn)換WR1結(jié)果為一對(duì)差動(dòng)電流Iout1 和Iout2 輸出，其主要性能參數(shù)如表2示，引腳如圖2所示。表2 DAC0832的性能參數(shù)圖2 DAC0832腳圖四、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容：1. 實(shí)驗(yàn)接線圖如圖5 所示，按圖接線； 2. 編寫(xiě)實(shí)驗(yàn)程序，經(jīng)編譯、鏈接無(wú)誤后裝入系統(tǒng)，啟動(dòng)調(diào)試； 3. 運(yùn)行程序，用示波器測(cè)量DA 的輸出，觀察實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象； 4. 自行編寫(xiě)實(shí)驗(yàn)程序，產(chǎn)生三角波形，使用示波器觀察輸出，驗(yàn)證程序功能。 圖5 DA 轉(zhuǎn)換實(shí)驗(yàn)接線圖5.程序清單：

3、#include <iom8v.h>#include <macros.h>#define Vref 500#include"uart.h"#include"adc.h"/extern unsigned char read_flash(unsigned int add);unsigned int adc_old;void timer1_init(void) TCCR1B = 0; TCNT1H = 0; OCR1A=0; TCCR1A =(1<<WGM11)|(1<<WGM10)|(1<<COM1

4、A1); TCCR1B =(1<<CS10);/(1<<WGM13)|(1<<WGM12)|(1<<CS10); #pragma interrupt_handler int_isr:iv_INT0 int_isr:iv_INT1void int_isr(void) unsigned char i; delay_ms(10); i=PIND&0x0c; if(i=0x0c) return; else if (i=0x08) if(OCR1A<0x3ef) OCR1A+=0x10; else OCR1A=0x3ff;if (i=0x04

5、) if(OCR1A>0x10) OCR1A-=0x10; else OCR1A=0; while(PIND&0x0c)!=0x0c) ; void main(void) unsigned char i; unsigned int temp; DDRB=(1<<PB1); DDRD=0xf0; PORTD=0xff; /OSCCAL=read_flash(0x1f20); adc_mux=0; uart_init(); timer1_init(); adc_init(); GICR = 0xC0; SEI(); adc_rel=0; /puts("廣東省&q

6、uot;); /puts("HTTP:/WWW.BAIDU.COM "); /puts("MEGA8開(kāi)發(fā)板DAC測(cè)試程序"); while(1) i=getchar(); switch (i) case 'S': puts("DAC TEST ver1.0"); break; case 'T': temp=getchar(); temp=temp<<8; temp|=getchar(); if (temp<0x400) OCR1A=temp; else OCR1A=0x3ff; bre

7、ak; case 'O': temp=OCR1A;putchar(temp/256);putchar(temp%256); break; case 'M': adc_mux=getchar()&0x03;break; case 'R': putchar(adc_mux); putchar(adc_old/256);putchar(adc_old%256); 五、試驗(yàn)結(jié)果：序號(hào)轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換(計(jì)算)值實(shí)測(cè)值誤差(%)轉(zhuǎn)換(計(jì)算)值實(shí)測(cè)值誤差(%)1（00）H-5.000-5.115-0.1150.0000.0020.0022（11）H-4.3

8、33-4.415-0.0820.3330.331-0.0023（22）H-3.667-3.725-0.0850.6670.659-0.0804（33）H-3.000-3.036-0.0361.0000.987-0.0135（44）H-2.667-2.347-0.0141.3331.637-0.0176（55）H-1.667-1.6380.0311.6671.969-0.0307（66）H-1.000-0.9450.0552.0002.298-0.0318（77）H-0.333-0.2830.0602.3332.611-0.0359（88）H0.3330.4110.0782.6672.949-0.05610（99）H1.0001.0900.0903.0003.275-0.051六、誤差分析與實(shí)驗(yàn)結(jié)論：1.由于實(shí)驗(yàn)設(shè)備不精確而引起的系統(tǒng)誤差，例如：實(shí)驗(yàn)設(shè)備制作不精確，使用時(shí)間過(guò)長(zhǎng)引起的設(shè)備老化，而引起的誤差。2讀數(shù)不精確引起的偶然誤差