XJ4810晶體管特性圖示儀操作指南

1、XJ4810晶體管特性圖示儀的操作指導(dǎo)晶體管測量儀器是以通用電子測量儀器為技術(shù)基礎(chǔ),以半導(dǎo)體器件為測量對象的電子儀器。用它可以測試晶體三極管(NPN型和PNP型的共發(fā)射極、共基極電路的輸入特性、輸出特性;測試各種反向飽和電流和擊穿電壓,還可以測量場效管、穩(wěn)壓管、二極管、單結(jié)晶體管、可控硅等器件的各種參數(shù)。下面以XJ4810型晶體特性圖示儀為例介紹晶體管圖示儀的使用方法。 圖A-23 XJ4810型半導(dǎo)體管特性圖示儀7.1 XJ4810型晶體管特性圖示儀面板功能介紹XJ4810型晶體管特性圖示儀面板如圖A-23所示:1. 集電極電源極性按鈕,極性可按面板指示選擇。2. 集電極峰值電壓保險絲:1.

2、5A。3. 峰值電壓%:峰值電壓可在010V、050V、0100V、0500V之連續(xù)可調(diào),面板上的標稱值是近似值,參考用。4. 功耗限制電阻:它是串聯(lián)在被測管的集電極電路中,限制超過功耗,亦可作為被測半導(dǎo)體管集電極的負載電阻。5. 峰值電壓范圍:分010V/5A、050V/1A、0100V/0.5A、0500V/0.1A四擋。當(dāng)由低擋改換高擋觀察半導(dǎo)體管的特性時,須先將峰值電壓調(diào)到零值,換擋后再按需要的電壓逐漸增加,否則容易擊穿被測晶體管。AC擋的設(shè)置專為二極管或其他元件的測試提供雙向掃描,以便能同時顯示器件正反向的特性曲線。6. 電容平衡:由于集電極電流輸出端對地存在各種雜散電容,都將形成電

3、容性電流,因而在電流取樣電阻上產(chǎn)生電壓降,造成測量誤差。為了盡量減小電容性電流,測試前應(yīng)調(diào)節(jié)電容平衡,使容性電流減至最小。7. 輔助電容平衡:是針對集電極變壓器次級繞組對地電容的不對稱,而再次進行電容平衡調(diào)節(jié)。8. 電源開關(guān)及輝度調(diào)節(jié):旋鈕拉出,接通儀器電源,旋轉(zhuǎn)旋鈕可以改變示波管光點亮度。9. 電源指示:接通電源時燈亮。10. 聚焦旋鈕:調(diào)節(jié)旋鈕可使光跡最清晰。11. 熒光屏幕:示波管屏幕,外有座標刻度片。12. 輔助聚焦:與聚焦旋鈕配合使用。13. Y軸選擇(電流/度開關(guān):具有22擋四種偏轉(zhuǎn)作用的開關(guān)?？梢赃M行集電極電流、基極電壓、基極電流和外接的不同轉(zhuǎn)換。14. 電流/度×0.

4、1倍率指示燈:燈亮?xí)r,儀器進入電流/度×0.1倍工作狀態(tài)。15. 垂直移位及電流/度倍率開關(guān):調(diào)節(jié)跡線在垂直方向的移位。旋鈕拉出,放大器增益擴大10倍,電流/度各擋I C標值×0.1,同時指示燈14亮.16. Y軸增益:校正Y軸增益。17. X軸增益:校正X軸增益。18.顯示開關(guān):分轉(zhuǎn)換、接地、校準三擋,其作用是:轉(zhuǎn)換:使圖像在、象限內(nèi)相互轉(zhuǎn)換,便于由NPN管轉(zhuǎn)測PNP管時簡化測試操作。接地:放大器輸入接地,表示輸入為零的基準點。校準:按下校準鍵,光點在X、Y軸方向移動的距離剛好為10度,以達到10度校正目的。19. X軸移位:調(diào)節(jié)光跡在水平方向的移位。20. X軸選擇(電

5、壓/度開關(guān):可以進行集電極電壓、基極電流、基極電壓和外接四種功能的轉(zhuǎn)換,共17擋。21. “級/簇”調(diào)節(jié):在010的范圍內(nèi)可連續(xù)調(diào)節(jié)階梯信號的級數(shù)。22. 調(diào)零旋鈕:測試前,應(yīng)首先調(diào)整階梯信號的起始級零電平的位置。當(dāng)熒光屏上已觀察到基極階梯信號后,按下測試臺上選擇按鍵“零電壓”,觀察光點停留在熒光屏上的位置,復(fù)位后調(diào)節(jié)零旋鈕,使階梯信號的起始級光點仍在該處,這樣階梯信號的零電位即被準確校正。23. 階梯信號選擇開關(guān):可以調(diào)節(jié)每級電流大小注入被測管的基極,作為測試各種特性曲線的基極信號源,共22擋。一般選用基極電流/級,當(dāng)測試場效應(yīng)管時選用基極源電壓/級。24. 串聯(lián)電阻開關(guān):當(dāng)階梯信號選擇開關(guān)

6、置于電壓/級的位置時,串聯(lián)電阻將串聯(lián)在被測管的輸入電路中。25. 重復(fù)-關(guān)按鍵:彈出為重復(fù),階梯信號重復(fù)出現(xiàn);按下為關(guān),階梯信號處于待觸發(fā)狀態(tài)。26. 階梯信號待觸發(fā)指示燈:重復(fù)按鍵按下時燈亮,階梯信號進入待觸發(fā)狀態(tài)。27. 單簇按鍵開關(guān):單簇的按動其作用是使預(yù)先調(diào)整好的電壓(電流/級,出現(xiàn)一次階梯信號后回到等待觸發(fā)位置,因此可利用它瞬間作用的特性來觀察被測管的各種極限特性。28. 極性按鍵:極性的選擇取決于被測管的特性。29. 測試臺:其結(jié)構(gòu)如圖A-24所示。 圖A-24 XJ4810型半導(dǎo)體管特性圖示儀測試臺30. 測試選擇按鍵:“左”、“右”、“二簇”:可以在測試時任選左右兩個被測管的特

7、性,當(dāng)置于“二簇”時,即通過電子開關(guān)自動地交替顯示左右二簇特性曲線,此時“級/簇”應(yīng)置適當(dāng)位置,以利于觀察。二簇特性曲線比較時,請不要誤按單簇按鍵?！傲汶妷骸辨I:按下此鍵用于調(diào)整階梯信號的起始級在零電平的位置,見(22項。 “零電流”鍵:按下此鍵時被測管的基極處于開路狀態(tài),即能測量I CEO 特性。 31、32. 左右測試插孔:插上專用插座(隨機附件,可測試F 1、F 2型管座的功率晶體管。33、34、35.晶體管測試插座。36. 二極管反向漏電流專用插孔(接地端。在儀器右側(cè)板上分布有圖A-25所示的旋鈕和端子: 圖A-25 XJ4810型半導(dǎo)體管特性圖示儀右側(cè)板37. 二簇移位旋鈕:在二簇顯

8、示時,可改變右簇曲線的位置,更方便于配對晶體管各種參數(shù)的比較。38. Y 軸信號輸入:Y 軸選擇開關(guān)置外接時,Y 軸信號由此插座輸入。39. X 軸信號輸入:X 軸選擇開關(guān)置外接時,X 軸信號由此插座輸入。40. 校準信號輸出端:1V 、0.5V 校準信號由此二孔輸出。7.2測試前注意事項為保證儀器的合理使用,既不損壞被測晶體管,也不損壞儀器內(nèi)部線路,在使用儀器前應(yīng)注意下列事項:1. 對被測管的主要直流參數(shù)應(yīng)有一個大概的了解和估計,特別要了解被測管的集電極最大允許耗散功率P CM 、最大允許電流I CM 和擊穿電壓BV EBO 、BV CBO 。2. 選擇好掃描和階梯信號的極性,以適應(yīng)不同管型

9、和測試項目的需要。3. 根據(jù)所測參數(shù)或被測管允許的集電極電壓,選擇合適的掃描電壓范圍。一般情況下,應(yīng)先將峰值電壓調(diào)至零,更改掃描電壓范圍時,也應(yīng)先將峰值電壓調(diào)至零。選擇一定的功耗電阻,測試反向特性時,功耗電阻要選大一些,同時將X 、Y 偏轉(zhuǎn)開關(guān)置于合適擋位。測試時掃描電壓應(yīng)從零逐步調(diào)節(jié)到需要值。4. 對被測管進行必要的估算,以選擇合適的階梯電流或階梯電壓,一般宜先小一點,再根據(jù)需要逐步加大。測試時不應(yīng)超過被測管的集電極最大允許功耗。5. 在進行I C M 的測試時,一般采用單簇為宜,以免損壞被測管。6. 在進行I C 或I CM 的測試中,應(yīng)根據(jù)集電極電壓的實際情況選擇,不應(yīng)超過本儀器規(guī)定的最

10、大電流,見表A-3。表A-3 最大電流對照表7. 進行高壓測試時,應(yīng)特別注意安全,電壓應(yīng)從零逐步調(diào)節(jié)到需要值。觀察完畢,應(yīng)及時將峰值電壓調(diào)到零。7.3基本操作步驟1. 按下電源開關(guān),指示燈亮,預(yù)熱15分鐘后,即可進行測試。2. 調(diào)節(jié)輝度、聚焦及輔助聚焦,使光點清晰。3. 將峰值電壓旋鈕調(diào)至零,峰值電壓范圍、極性、功耗電阻等開關(guān)置于測試所需位置。4. 對X 、Y 軸放大器進行10度校準。5. 調(diào)節(jié)階梯調(diào)零。6. 選擇需要的基極階梯信號,將極性、串聯(lián)電阻置于合適擋位,調(diào)節(jié)級/簇旋鈕,使階電壓范圍/V 010 050 0100 0500允許最大電流/A 5 1 0.5 0.1梯信號為10級/簇,階梯

11、信號置重復(fù)位置。7. 插上被測晶體管,緩慢地增大峰值電壓,熒光屏上即有曲線顯示。7.4測試實例1. 晶體管h FE 和值的測量以NPN 型3DK2晶體管為例,查手冊得知3DK2 h FE 的測試條件為V CE =1V 、I C =10mA 。將光點移至熒光屏的左下角作座表零點。儀器部件的置位詳見表A-4。 表A-4 3DK2晶體管h FE 、測試時儀器部件的置位部件 置位 部件置位 峰值電壓范圍 010V Y 軸集電極電流1 mA /度 集電極極性 + 階梯信號重復(fù) 功耗電阻 250 階梯極性 + X 軸集電極電壓 1V/度 階梯選擇 20A逐漸加大峰值電壓就能在顯示屏上看到一簇特性曲線,如圖

12、A-26所示.讀出X 軸集電極電壓V ce =1V 時最上面一條曲線(每條曲線為20A ,最下面一條I B =0不計在內(nèi)I B 值和Y 軸I C 值,可得h FE = B C I I =A 200mA 5.8=2.05.8=42.5 若把X 軸選擇開關(guān)放在基極電流或基極源電壓位置,即可得到圖A-27所示的電流放大特性曲線。即=BC I I 圖A-26 晶體三極管輸出特性曲線 圖A-27 電流放大特性曲線PNP 型三極管h FE 和的測量方法同上,只需改變掃描電壓極性、階梯信號極性、并把光點移至熒光屏右上角即可。2.晶體管反向電流的測試以NPN 型3DK2晶體管為例,查手冊得知3DK2 I CB

13、O 、I CEO 的測試條件為V CB 、V CE 均為10V 。測試時,儀器部件的置位詳見表A-5。逐漸調(diào)高“峰值電壓”使X 軸V CB =10V ,讀出Y 軸的偏移量,即為被測值。被測管的接線方法如圖1-28,其中圖A-28(a 測I CBO 值,圖A-28(b 測I CEO 值、圖A-28(c 測I EBO 值。 圖A-28 晶體管反向電流的測試圖A-29 反向電流測試曲線+”的測試條件I CX軸的偏移BV CEO值。測試曲線如圖A-30所示。圖 A-30 反向擊穿電壓曲線（NPN） 圖 A-31 反向擊穿電壓曲線（PNP） 讀數(shù)：BVCBO=70V（IC=100A） BVCEO=60V

14、（IC=200A） BVEBO=7.8V（IC=100A） PNP 型晶體管的測試方法與 NPN 型晶體管的測試方法相似。 其測試曲線如圖 1-31 所示。 4.穩(wěn)壓二極管的測試 以 2CW19 穩(wěn)壓二極管為例， 查手冊得知 2CW19 穩(wěn)定電壓的測試條件 IR=3mA。 測試時。 儀器部件置位詳見表 A-7。 逐漸加大“峰值電壓” ，即可在熒光屏上看到被測管的特性曲線，如圖 A-32 所示。 表 A-7 2CW19 穩(wěn)壓二極管測試時儀器部件的置位 部件 峰值電壓范圍 功耗限止電阻 置位 AC 010V 5 k 部件 X 軸集電極電壓 Y 軸集電極電流 置位 5V/度 1mA/度 讀數(shù)：正向壓

15、降約 0.7V，穩(wěn)定電壓約 12.5V。 5.整流二極管反向漏電電流的測試 以 2DP5C 整流二極管為例，查手冊得知 2DP5 的反向電流應(yīng)500nA。測試時，儀器各 部件的置位詳見表 A-8。 逐漸增大“峰值電壓” ，在熒光屏上即可顯示被測管反向漏電電流特性，如圖 A-33 所 示。 讀數(shù)：IR=4div×0.2A×0.1(倍率=80 nA 測量結(jié)果表明，被測管性能符合要求。 圖 A-32 穩(wěn)壓二極管特性曲線 圖 A-33 二極管反向電流測試 表 A-8 2DP5C 整流二極管測試時儀器部件的置位 部件 峰值電壓范圍 功耗限制電阻 X 軸集電極電壓 置位 010V 1 k 1V/度 部件 Y 軸集電極電流 倍率 置位 0.2A/度 Y 軸位移拉出×0.1 6.二簇特性曲線比較測試 以 NPN 型 3DG6 晶體管為例，查手冊得知 3DG6 晶體管輸出特性的測試條件為 IC=10 mA、VCE=10V。測試時，儀器部件的置位詳見表 A-9。 將被測的兩只晶體管，分別插入測試臺左、右插座內(nèi)，然后按表 1-8 置位各功能鍵，參 數(shù)調(diào)至理想位置。按下測試選擇按鈕的“二