腐蝕分析報(bào)告

1、報(bào)告編號(hào)FX03-合 同 號(hào)FX044-0791總 頁(yè) 數(shù)15頁(yè)分 析 報(bào)告樣品名稱：LCD組件（手機(jī)顯示）型號(hào)規(guī)格：10154 1082分析類別：委托分析委托單位：世成電子（深圳）有限公司信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所元器件可靠性研究分析中心分 析報(bào)告 產(chǎn)品名稱LCD組件（手機(jī)顯示組件）商標(biāo)生產(chǎn)單位南太電子世成公司型號(hào)規(guī)格10154（彩色）1082（單色）委托單位南太電子世成公司分 析類別委托分析委托單位地址深圳市保安區(qū)西鄉(xiāng)鎮(zhèn)固戌工業(yè)村郵政編碼518126聯(lián)系人籃珂電話0755274958183840傳真075527494013Emaillanke樣品來(lái)源方式委托單位送樣收樣日期2004.05.1

2、0樣品數(shù)量編號(hào)彩色1只：1；單色1只：2。樣 品 描 述無(wú)外觀異常。分 析時(shí)間2004.05.102004.05.27分 析項(xiàng)目ITO腐蝕點(diǎn)分析分析環(huán)境條件溫度1535，濕度4575%RH，氣壓86106Kpa(通常大氣條件) 分 析依據(jù) GJB54896微電子器件試驗(yàn)方法和程序 方法5003。 FX01-JE2-5電子組件失效分析程序與方法。分析結(jié)論1、2樣品ITO發(fā)生腐蝕，1ITO腐蝕的主要過(guò)程是電化學(xué)腐蝕，2樣品ITO腐蝕的主要過(guò)程是化學(xué)腐蝕；兩種樣品ITO腐蝕的根本原因是氯的存在。1、2樣品均無(wú)鈉存在，氯的存在不是工藝過(guò)程中人體的汗水污染，氯可能來(lái)自LCD制造工藝或LCD清洗工藝的殘留

3、。以下空白 信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所 元器件可靠性研究分析中心附件 儀器設(shè)備清單簽名主檢編制審查批準(zhǔn)職務(wù)：日期 2004年月日 2004年月日 2004年5月31日 2004年月日1、 樣品描述樣品為手機(jī)顯示組件，LCD上ITO發(fā)生腐蝕，分析腐蝕點(diǎn)腐蝕原因。2、 分析過(guò)程2.1、項(xiàng)目觀察樣品外觀見圖1。1（彩屏）樣品腐蝕項(xiàng)目見圖2，2樣品（單色屏）見圖3。圖中可見： 1（彩屏）樣品腐蝕有電化學(xué)腐蝕的特征1腐蝕點(diǎn)位于ACF與硅橡膠交接處的相鄰的兩條ITO上，腐蝕從兩條ITO相鄰邊往外發(fā)展，具有電化學(xué)腐蝕的特征，見圖2。 1樣品腐蝕部位附近顏色異常 1樣品腐蝕部位呈現(xiàn)銀白色，腐蝕部位附近呈現(xiàn)乳白色

4、，與離腐蝕部位較遠(yuǎn)的地方有明顯的差別，見圖2。 2（單色屏）樣品腐蝕點(diǎn)具有化學(xué)腐蝕的特征2樣品腐蝕發(fā)生在多條ITO上，腐蝕點(diǎn)的外圍形成包圍狀圖形，具有化學(xué)腐蝕的特征。 2（單色屏）樣品腐蝕點(diǎn)有水在玻璃表面逐步收縮形成水跡點(diǎn)的特征 2（單色屏）樣品腐蝕部位有形成包圍的特征，具有水在玻璃表面逐步收縮形成水跡點(diǎn)的特征。2.2、腐蝕點(diǎn)成份分析1、2樣品腐蝕點(diǎn)均位于兩種材料的界面處，為了對(duì)腐蝕部位開展成份分析，必須將腐蝕部位完全暴露在最表面。制樣中難以確保腐蝕產(chǎn)物暴露在最表面，因此，將腐蝕點(diǎn)上的ACF或硅橡膠去除干凈：先用機(jī)械的方法，將ACF、硅橡膠刮除，再用有機(jī)溶劑擦除腐蝕點(diǎn)表面的ACF和硅橡膠，采用

5、物理分析方法對(duì)腐蝕微區(qū)進(jìn)行特征成份分析。本次分析采用二次離子質(zhì)譜分析（SIMS）儀開展分析，SIMS分析圖譜見圖4圖15，圖16是2樣品1個(gè)腐蝕點(diǎn)的氯的分布圖形。從SIMS分析圖譜可見： 1樣品（彩屏）、2樣品（單色屏）腐蝕點(diǎn)存在氯圖4、圖6、圖10、圖12是腐蝕部位SIMS分析的負(fù)離子圖譜，可見，1樣品、2樣品腐蝕部位存在氯。 1樣品（彩屏）、2樣品（單色屏）腐蝕點(diǎn)無(wú)鈉存在圖5、圖7、圖11、圖13是腐蝕部位SIMS分析的正離子圖譜，可見，腐蝕部位無(wú)鈉存在。證明氯不屬于人體的汗水污染。 正常部位（無(wú)腐蝕部位）未見氯或氯含量遠(yuǎn)比腐蝕點(diǎn)低圖8、圖9、圖14、圖15分別是1、2樣品ITO正常部位（

6、無(wú)腐蝕部位）的SIMS分析圖譜，可見，正常部位（無(wú)腐蝕部位）不含氯或氯的含量遠(yuǎn)比腐蝕部位低。3、綜合分析腐蝕部位的形貌特征及成份特征可見：1樣品腐蝕主要是電化學(xué)腐蝕，電化學(xué)腐蝕的主要原因是該部位存在氯，在水的情況下電離形成電解液，由于電場(chǎng)的存在，發(fā)生電化學(xué)腐蝕。腐蝕部位附近呈現(xiàn)乳白色，可能是ITO電化學(xué)腐蝕的產(chǎn)物。2樣品的腐蝕主要是化學(xué)腐蝕，其腐蝕是由于氯和水(潮濕)對(duì)ITO作用的結(jié)果。1、2樣品SIMS分析中，未見鈉的存在，證明腐蝕部位氯不是來(lái)自組件工藝過(guò)程中人體的汗水污染，氯可能來(lái)自LCD組件ITO工藝或LCD組件清洗工藝的殘留。氯和水(潮濕)的存在是1、2樣品化學(xué)腐蝕或電化學(xué)腐蝕的根本原

7、因，氯在ITO的腐蝕過(guò)程中充當(dāng)中間媒質(zhì)，過(guò)程中氯不消耗，因此，一旦存在水汽，ITO的化學(xué)腐蝕或電化學(xué)腐蝕將不停斷地進(jìn)行。4、結(jié)論1、2樣品ITO發(fā)生腐蝕，1ITO腐蝕的主要過(guò)程是電化學(xué)腐蝕，2樣品ITO腐蝕的主要過(guò)程是化學(xué)腐蝕；兩種樣品ITO腐蝕的根本原因是氯的存在。1、2樣品均無(wú)鈉存在，氯的存在不是工藝過(guò)程中人體的汗水污染，氯可能來(lái)自LCD制造工藝或LCD清洗工藝的殘留。A 彩屏樣品（1）外觀B 單色屏樣品（2）外觀圖1 樣品外觀（腐蝕位于箭頭處ITO上）A 1 樣品（彩屏）腐蝕點(diǎn)形貌B 1 樣品（彩屏）腐蝕點(diǎn)放大形貌C 剝離ACF后，腐蝕點(diǎn)形貌圖2 1樣品（彩屏）腐蝕點(diǎn)處剝離ACF后的形貌

8、A 2（單色）樣品腐蝕點(diǎn)1形貌B 2（單色）樣品腐蝕點(diǎn)1放大形貌C 2（單色）樣品腐蝕點(diǎn)2形貌2（單色）樣品腐蝕點(diǎn)2放大形貌圖3 2（單色）樣品腐蝕點(diǎn)形貌1# defect area point 11# defect area point 1圖4 1（彩色）樣品腐蝕點(diǎn)SIMS負(fù)離子圖譜1圖5 1（彩色）樣品腐蝕點(diǎn)SIMS正離子圖譜11# defect area point 21# defect area point 2圖7 1（彩色）樣品腐蝕點(diǎn)SIMS正離子圖譜2圖6 1（彩色）樣品腐蝕點(diǎn)SIMS負(fù)離子圖譜21# nomal area 1# ，nomal area 圖8 1（彩色）樣品無(wú)腐蝕處

9、點(diǎn)SIMS負(fù)離子圖譜圖9 1（彩色）樣品無(wú)腐蝕處點(diǎn)SIMS正離子圖譜2#,defect area point 12#,defect area point 1圖10 2（單色）樣品腐蝕處點(diǎn)SIMS負(fù)離子圖譜1圖11 2（單色）樣品腐蝕處點(diǎn)SIMS正離子圖譜1圖13 2（單色）樣品腐蝕處點(diǎn)SIMS正離子圖譜22#,defect area point 22#,defect area point 2圖12 2（單色）樣品腐蝕處點(diǎn)SIMS負(fù)離子圖譜22#,nomal area 2#,nomal area圖15 2（單色）樣品無(wú)腐蝕處點(diǎn)SIMS負(fù)離子圖譜圖14 2（單色）樣品無(wú)腐蝕處點(diǎn)SIMS負(fù)離子圖譜圖162（彩色）樣品腐蝕點(diǎn)氯分布形貌注意事項(xiàng)報(bào)告無(wú)分析單位公章無(wú)效。復(fù)制報(bào)告未重新加蓋分析單位公章無(wú)效。報(bào)告無(wú)主檢、編制、審核、批準(zhǔn)人簽字無(wú)效。報(bào)告涂改、自行增刪無(wú)效。只對(duì)委托樣品的分析結(jié)果負(fù)責(zé),樣品保存三個(gè)月。6 如對(duì)報(bào)告有異議可按申訴程序要求執(zhí)行。信息產(chǎn)業(yè)部電子第五研究所元器件可靠性研究分析中心地址：廣州市