超聲檢測WI01-17(新)

1、超聲檢測通用工藝 WI01-171范圍1.1本工藝適用于金屬材料制壓力容器用原材料、零部件和設(shè)備的超聲檢測，也適用于金屬材料制在用壓力容器的超聲檢測。1.2鋼制壓力容器對接焊縫檢測，壓力容器用鋼板，壓力容器鍛件檢測，壓力容器復(fù)合鋼板的檢測均執(zhí)行NB/T47013.3標(biāo)準(zhǔn)。2一般要求2.1 超聲檢測人員從事承壓設(shè)備的原材料、零部件和焊接接頭無損檢測的人員，應(yīng)按照特種設(shè)備無損檢測人員考核的相關(guān)要求取得相應(yīng)無損檢測資格，并由人力資源部負(fù)責(zé)辦理執(zhí)業(yè)注冊后，方可從事許可范圍內(nèi)的無損檢測工作3檢測設(shè)備3. 1 超聲檢測儀器和探頭均應(yīng)具有產(chǎn)品質(zhì)量合格證，其內(nèi)容應(yīng)符合NB/T47013.3“4.2.1”條款要

2、求。超聲波檢測儀每一年檢定一次；3.2 探傷儀、探頭和系統(tǒng)性能3.2.1 探傷儀采用A型脈沖反射式超聲波探傷儀，其工作頻率范圍為0.5MHz10MHz， 超聲儀器各性能的測試條件和指標(biāo)要求應(yīng)滿足NB/T47013.3附錄A的要求并提供證明文件，測試方法應(yīng)按照GB/T27664.1的規(guī)定；3.2.2 探頭 圓形晶片直徑一般不應(yīng)大于40mm，方形晶片任一邊長不得大于40mm，其性能指標(biāo)應(yīng)符合GB/T27664.1的要求。3.2.3 儀器和探頭的組合性能3.2.3.1 儀器和探頭的組合性能包括水平線性、垂直線性、組合頻率、靈敏度余量、盲區(qū)（僅限直探頭）和遠(yuǎn)場分辨力。3.2.3.2 水平線性偏差不大于

3、1%，垂直線性偏差不大于5%；3.2.3.3 儀器和探頭的組合頻率與探頭標(biāo)稱頻率之間偏差不大于10%。3.2.3.4 儀器和探頭的組合性能還應(yīng)滿足以下要求：1）靈敏度余量不小于32dB；2）在基準(zhǔn)靈敏度下，對于標(biāo)稱頻率為5MHz的探頭，盲區(qū)不大于10mm，對于標(biāo)稱頻率為2.5MHz的探頭，盲區(qū)不大于15mm3）直探頭的遠(yuǎn)場分辨率不小于20dB；3.2.3.5 儀器斜探頭的組合性能還應(yīng)滿足以下要求1）靈敏度余量不小于42dB；2）斜探頭的遠(yuǎn)場分辨率不小于12dB；3.2.3.6 在達(dá)到所探工件的最大檢測聲程時(shí)，其有效靈敏度余量應(yīng)不小于10dB。在達(dá)到所探工件的最大檢測聲程時(shí)，其有效靈敏度余量應(yīng)不

4、小于10dB。3.2.4 試塊3.2.4.1 標(biāo)準(zhǔn)試塊3.2.4.2 標(biāo)準(zhǔn)試塊為20號優(yōu)質(zhì)碳素結(jié)構(gòu)鋼制CSK-IA、DZ-I和DB-P Z20-2；3.2.4.3 標(biāo)準(zhǔn)試塊的制造應(yīng)滿足JB/T8428的要求，制造商應(yīng)提供產(chǎn)品質(zhì)量合格證，并確保在相同測試條件下比較其所制造的每一標(biāo)準(zhǔn)試塊與國家標(biāo)準(zhǔn)樣品或類似具備量值傳遞基準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)試塊上的同種反射體（面）時(shí)，其最大反射波幅差應(yīng)小于等于2dB；3.2.4.4 對比試塊1）對比試塊的外形尺寸應(yīng)能代表被檢工件的特征，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對應(yīng)。如果涉及到不同厚度對接接頭的檢測，試塊厚度的選擇應(yīng)由較大工件厚度確定；2）對比試塊應(yīng)采用與備檢材料聲學(xué)性能相

5、同或相似的材料制成，當(dāng)采用直探頭檢測時(shí)，不得有大于或等于2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷；3）對比試塊的尺寸精度在本部分有明確要求時(shí)應(yīng)提供相應(yīng)的證明文件，無明確要求時(shí)參照J(rèn)B/T8428的規(guī)定。3.2.5 耦合劑3.2.5.1 耦合劑透聲性應(yīng)較好且不損傷檢測表面，如機(jī)油、化學(xué)漿糊、甘油和水等；3.2.5.2 耦合劑污染物含量的控制1）鎳基合金上使用的耦合劑含硫量不應(yīng)大于250mg/L；2）奧氏體不銹鋼或鈦材上使用的耦合劑鹵素（氯和氟）的總含量不應(yīng)大于250mg/L；3.2.6 超聲檢測設(shè)備和器材的校準(zhǔn)、核查、運(yùn)行核查和檢查的要求3.2.6.1校準(zhǔn)、核查、運(yùn)行核查應(yīng)在標(biāo)準(zhǔn)試塊上進(jìn)行，應(yīng)使探頭主聲束垂直

6、對準(zhǔn)反射體的反射面，以獲得穩(wěn)定和最大的反射信號；3.2.6.2 校準(zhǔn)和核查1）每年至少對超聲儀器和探頭組合性能中的水平線性、垂直線性、組合頻率、盲區(qū)（僅限直探頭）、靈敏度余量、分辨力以及儀器的衰減度，進(jìn)行一次校準(zhǔn)并記錄，測試要求應(yīng)滿足4.2.2.3的規(guī)定。2）每年至少對標(biāo)準(zhǔn)試塊與對比試塊的表面腐蝕與機(jī)械損傷，進(jìn)行一次檢查。3.2.6.3運(yùn)行檢查1）模擬超聲檢測儀每3個(gè)月或數(shù)字超聲檢測儀每6個(gè)月至少對儀器和探頭組合性能中的水平線性和垂直線性，進(jìn)行一次運(yùn)行檢查并記錄，測試要求應(yīng)滿足4.2.2.3的規(guī)定。2) 每3個(gè)月至少對盲區(qū)（僅限直探頭）、靈敏度余量、分辨力進(jìn)行一次運(yùn)行檢查并記錄，測試要求應(yīng)滿足

7、4.2.2.3的規(guī)定。3.2.6.4 檢查1) 每次檢測前應(yīng)檢查儀器設(shè)備器材外觀、線纜連接和開機(jī)信號顯示等情況是否正常;2) 使用斜探頭時(shí)，檢測前應(yīng)測定入射點(diǎn)（前沿距離）和折射角（K值）。3.2.6.5 校準(zhǔn)、運(yùn)行檢查和檢查時(shí)的注意事項(xiàng) 校準(zhǔn)、運(yùn)行檢查和檢查時(shí)，應(yīng)將影響儀器線性的控制器（如抑制或?yàn)V波開關(guān)等）均置于“關(guān)”的位置或處于最低水平線上。4檢測實(shí)施4.1 檢測準(zhǔn)備4.1.1 在壓力容器制造超聲檢測中，檢測時(shí)機(jī)及抽檢率的選擇等應(yīng)按法規(guī)、產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)及有關(guān)技術(shù)文件的要求和原則進(jìn)行；4.1.2 所確定的檢測面，應(yīng)保證工件被檢部分均能得到充分檢查；4.1.3 焊縫的表面質(zhì)量應(yīng)經(jīng)外觀檢測合格。所有影響

8、超聲檢測的銹蝕、飛濺和污物等都應(yīng)予以清除，其表面粗糙度應(yīng)符合檢測要求。表面的不規(guī)則狀態(tài)不得影響檢測結(jié)果的正確性和完整性，否則應(yīng)做適當(dāng)?shù)奶幚怼?.2 掃查覆蓋率 為確保檢測時(shí)掃查到工件的整個(gè)被檢區(qū)域，探頭的每次掃查覆蓋率應(yīng)大于探頭直徑或?qū)挾鹊?5%或優(yōu)先滿足NB/T47013.3相應(yīng)章節(jié)檢測覆蓋要求。4.3 探頭的移動(dòng)速度 探頭的掃查速度不應(yīng)超過150mm/s。當(dāng)采用自動(dòng)報(bào)警裝置掃查時(shí)，不受此限。4.4 掃查靈敏度掃查靈敏度應(yīng)滿足NB/T47013.3的要求；4.5 靈敏度補(bǔ)償可采用下列補(bǔ)償方法： 耦合補(bǔ)償； 衰減補(bǔ)償；曲面補(bǔ)償。4.6 儀器和探頭系統(tǒng)的復(fù)核4.6.1發(fā)生下列情況時(shí)應(yīng)對系統(tǒng)進(jìn)行符

9、合：4.6.1.1 探頭、耦合劑和一起調(diào)節(jié)發(fā)生改變時(shí)；4.6.1.2 懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時(shí)；4.6.1.3 連續(xù)工作4小時(shí)以上；4.6.1.4 工作結(jié)束時(shí)。4.6.2 掃描量程的復(fù)核 如果任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過掃描線讀數(shù)的10%或全掃描量程的5%，則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進(jìn)行復(fù)檢。4.6.3 掃描靈敏度的復(fù)核 復(fù)合時(shí)，在檢查分為內(nèi)如發(fā)現(xiàn)掃描靈敏度或距離波幅曲線上任一深度人工發(fā)射體回波幅度下降2dB，則應(yīng)對上一次復(fù)核以來所有的檢測部位進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升2dB，則應(yīng)對所有的記錄信號進(jìn)行重新評定。5壓力容器用原材料、零部件的超聲檢測5.1 壓力容器用

10、鋼板超聲檢測5.1.1 范圍適用于板厚為6mm250mm的碳素鋼、低合金鋼壓力容器用板材的超聲檢測和質(zhì)量等級評定。5.1.2 探頭選用5.1.2.1 探頭的選用應(yīng)按表1的規(guī)定進(jìn)行。表1 鍋爐、壓力容器用板材超聲檢測探頭選用板厚，mm采用探頭公稱頻率，MHz探頭晶片尺寸620雙晶直探頭45圓形晶片直徑1030 mm方形晶片邊長1030mm2060雙晶直探頭或單晶直探頭2560單晶直探頭22.55.1.2.2 當(dāng)采用液浸法檢測厚度小于20mm板材時(shí)，也可選用單晶直探頭進(jìn)行檢測。5.1.3 對比試塊5.1.3.1 用雙晶直探頭檢測厚度不大于20mm的鋼板時(shí)，采用圖1所示的階梯平底試塊。5.1.3.2

11、 檢測厚度大于20mm的鋼板時(shí)，CB標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)符合圖2和表2的規(guī)定。試塊厚度應(yīng)與被檢鋼板厚度相近。 表2 壓力容器用鋼板超聲波檢測標(biāo)準(zhǔn)試塊 單位 mm試塊編號被檢鋼板厚度檢測面到平底孔的距離s試塊厚度T試塊寬度b1204010、15、3040302406015、30、45604036010015、30、45、60、8010040410015015、30、45、60、80、110、14015060注：板材厚度大于40mm時(shí)，試塊可已以厚代薄。5.1.4 靈敏度的確定5.1.4.1 板厚不大于20mm時(shí)，用圖1所示階梯平底試塊調(diào)節(jié)，也可用被檢板材無缺陷完好部位調(diào)節(jié)，此時(shí)用工件等厚部位試塊或被檢板材

12、第一次底波高度調(diào)整到滿刻度的50%，再提高10dB作為基準(zhǔn)靈敏度；5.1.4.2 板厚大于20mm時(shí)，按所探頭和儀器在5平底孔孔試塊上繪制一條距離波幅曲線，并以此曲線作為基準(zhǔn)靈敏度；5.1.4.3 如能確定板材底面回波與不同深度5平底孔孔反射波幅之間的關(guān)系，側(cè)可采用板材無缺陷完好部位第一次底波來調(diào)節(jié)基準(zhǔn)靈敏度。5.1.4.4掃描靈敏度一般應(yīng)比基準(zhǔn)靈敏度高6dB。5.1.5 檢測方法5.1.5.1 檢測面可選鋼板的任一軋制表面進(jìn)行檢測。若檢測人員認(rèn)為需要或設(shè)計(jì)上有要求時(shí)，也可選鋼板的上、下兩軋制表面分別進(jìn)行檢測。5.1.5.2 耦合方式 耦合方式可采用直接接觸法或液浸法。5.1.5.3 掃查方式

13、1) 在板材邊緣或剖口預(yù)定線兩側(cè)范圍內(nèi)應(yīng)做100%掃查，掃查區(qū)寬度詳見表3； 2) 在板材中部區(qū)域探頭沿垂直于板材壓延方向，間距不大于50mm平行線進(jìn)行掃查，或探頭沿垂和平行板材壓延方向且間距不大于100mm格子線進(jìn)行詳見見圖3；3）根據(jù)合同、技術(shù)協(xié)議書或圖樣的要求，也可采用其他形式的掃查。5.1.6 缺陷的測定和定量5.1.6.1 在檢測過程中，發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一即作為缺陷：a) 缺陷第一次反射波（F1）波幅高于距離波幅曲線，或用雙晶探頭檢測板厚小于20mm板材時(shí)，缺陷第一次反射波（F1）波高與底面第一次反射波（B1）波高之比大于或等于顯示屏滿刻度的50%；b）底面第一次反射波（B1）波高

14、低于滿刻度的50%，即B150%5.1.6.2 缺陷的定量1)雙晶直探頭測量時(shí)缺陷的定量a）使用雙晶直探頭對缺陷進(jìn)行定位時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直；b）板厚小于20mm板材時(shí),移動(dòng)探頭使缺陷波下降到基準(zhǔn)靈敏度下顯示屏滿刻度的50%，探頭的中心點(diǎn)即為缺陷的邊緣點(diǎn)；c）板厚大于20mm60mm時(shí),移動(dòng)探頭使缺陷波下降到距離波幅曲線，探頭的中心點(diǎn)即為缺陷的邊緣點(diǎn)；d) 確定4.1.6.1 b）中缺陷的邊界范圍或指示長度時(shí)，移動(dòng)探頭（單直探頭或雙直探頭）使底面一次反射波升高到熒光屏滿刻度的50%。此時(shí)探頭中心移動(dòng)距離即為缺陷的指示長度，探頭中心點(diǎn)即為缺陷的邊界點(diǎn)。e）缺陷邊界確定后，應(yīng)一

15、邊平行于板材壓延方向矩形框包圍缺陷，其長邊作為缺陷的長度，矩形面積即為缺陷的指示面積。 2) 單晶直探頭測量時(shí)缺陷的定量使用單晶體直探頭除按照上述方法對缺陷進(jìn)行定量外，歡迎記錄缺陷的反射波幅或當(dāng)量平底孔直徑。5.1.7 缺陷的評定方法5.1.7.1 缺陷指示長度的評定規(guī)則 平行于板材壓延方向矩形框包圍缺陷，其長邊作為缺陷的長度。5.1.7.2 單個(gè)缺陷指示面積的評定規(guī)則a) 一個(gè)缺陷按其指示的面積作為該缺陷的單個(gè)指示面積；b) 多個(gè)缺陷其相鄰間距小于相鄰較小缺陷的指示長度時(shí)，按單個(gè)缺陷處理，缺陷指示面積為單個(gè)缺陷指示面積之和。c）指示面積不計(jì)的單個(gè)缺陷見表3。5.1.8 鋼板質(zhì)量分級5.1.8

16、.1 鋼板質(zhì)量等級見表4、表5；5.1.8.2 在檢測過程中，檢測人員如確認(rèn)鋼板中有白點(diǎn)、裂紋等危害性缺陷存在時(shí)，應(yīng)評為級。5.1.8.3 在板材中部監(jiān)測區(qū)域，按最大允許單個(gè)缺陷指示面積和任一1m1m檢測面積內(nèi)，缺陷最大允許個(gè)數(shù)確定質(zhì)量等級。如整張鋼板中部檢測面積小于1m1m，缺陷最大允許個(gè)數(shù)可按比例折算。5.1.8.4 在板材邊緣或剖口預(yù)定線兩側(cè)檢測區(qū)域，按最大允許單個(gè)缺陷指示長度、最大允許單個(gè)缺陷指示長度和任一1m長度內(nèi)最大允許個(gè)數(shù)確定質(zhì)量等級。如整張鋼板邊緣長度小于1m時(shí)，缺陷最大允許個(gè)數(shù)可按比例折算。5.2 壓力容器用鋼鍛件超聲檢測5.2.1 范圍適用于壓力容器用碳鋼和低合金鋼鍛件的超

17、聲檢測和質(zhì)量等級評定。不適用于奧氏體鋼等粗晶材料鍛件的超聲檢測，也不適用于內(nèi)、外半徑之比小于65%的環(huán)形和筒形鍛件的周向橫波檢測。5.2.2 檢測原則5.2.2.1 檢測一般應(yīng)安排在熱處理后，孔臺(tái)等機(jī)加工前進(jìn)行，檢測面的表面粗糙度Ra6.3m；5.2.2.2 鍛件一般采用直探頭檢測，對于筒形和環(huán)形鍛件應(yīng)增加斜探頭檢測；5.2.2.3 檢測厚度小于45mm時(shí)，應(yīng)用雙晶直探頭進(jìn)行，厚度大于45mm時(shí)，應(yīng)用單晶直探頭進(jìn)行；5.2.2.4鍛件檢測方向厚度超過400mm時(shí)，應(yīng)從相對兩端面進(jìn)行檢測。5.2.3 探頭的選用5.2.3.1 直探頭探頭標(biāo)稱頻率應(yīng)在1MHz5MHz范圍內(nèi);雙晶直探頭晶片面積不小于

18、150mm2；單晶直探頭晶片有效直徑應(yīng)在10mm40mm范圍內(nèi)。5.2.3.2 斜探頭探頭與被檢工件應(yīng)保持良好的接觸，遇有以下情況時(shí)，應(yīng)采用曲面試塊調(diào)節(jié)檢測范圍和基準(zhǔn)靈敏度：a）在凸表面上縱向（軸向）掃查時(shí)，探頭楔塊寬度大于檢測面曲率半徑的1/5；b）在凸表面上橫向（周向）掃查時(shí)，探頭楔塊長度大于檢測面曲率半徑的1/5。探頭標(biāo)稱頻率應(yīng)在2MHz5 MHz，探頭晶片面積為80mm2625mm2。5.2.4 對比試塊5.2.4.1 單直探頭檢測采用CS-2 試塊調(diào)節(jié)基準(zhǔn)靈敏度，其形狀和尺寸應(yīng)符合圖4 和表6的規(guī)定。5.2.4.2 雙晶直探頭對比試塊1）工件檢測距離小于45mm 時(shí)，應(yīng)采用CS-3

19、對比試塊；2）CS-3 試塊的形狀和尺寸應(yīng)符合圖5 和表7的規(guī)定。5.2.4.3 工件檢測面曲率半徑小于等于250mm 時(shí)，應(yīng)采用曲面對比試塊（試塊曲率半徑為工件曲率半徑的0.71.1 倍）調(diào)節(jié)基準(zhǔn)靈敏度，或采用CS-4 對比試塊來測定由于曲率不同而引起的聲能損失，其形狀和尺寸按圖6所示。5.2.4.4 對比試塊CS-2、CS-3、CS-4 制造要求等見JB/T 8428 和GB/T 11259 的規(guī)定。5.2.5 靈敏度的確定5.2.5.1 單直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定使用CS-2 或CS-4 試塊，依次測試一組不同檢測距離的2mm 平底孔（至少3 個(gè)），制作單直探頭的距離-波幅曲線，并以此作為

20、基準(zhǔn)靈敏度。當(dāng)被檢部位的厚度大于或等于探頭的3倍近場區(qū)長度，且檢測面與底面平行時(shí)，也可以采用底波計(jì)算法確定基準(zhǔn)靈敏度。5.2.5.2 雙晶直探頭基準(zhǔn)靈敏度的確定使用CS-3 試塊，依次測試一組不同檢測距離的2mm平底孔（至少3 個(gè)）。制作雙晶直探頭的距離-波幅曲線，并以此作為基準(zhǔn)靈敏度。5.2.5.3 掃差靈敏度一般比基準(zhǔn)靈敏度高6dB。5.2.6 檢測5.2.6.1耦合方式 ： 一般采用直接接觸法。5.2.6.2靈敏度的補(bǔ)償：應(yīng)根據(jù)實(shí)際情況進(jìn)行衰減補(bǔ)償、偶合補(bǔ)償和曲面補(bǔ)償。5.2.6.3工件材質(zhì)衰減系數(shù)的測定 5.2.6.4工件材質(zhì)衰減系數(shù)的測定1）在工件無缺陷完好區(qū)域，選取三處檢測面與底面

21、平行且有代表性的部位，調(diào)節(jié)儀器使第一次底面回波幅度（B1）或第n次底波（Bn）為滿刻度的50%，記錄此時(shí)增益或衰減器的讀數(shù)，再調(diào)增益或衰減器，使第二次底面回波幅度（B2或Bm）為滿刻度的50%，兩 次增益或衰減器讀數(shù)之差即為（B1-B2）或（Bn-Bm）的dB差值（不考慮底面反射損失）。 2）當(dāng)工件厚度小于3倍探頭近場區(qū)長度（T3N）時(shí)， 衰減系數(shù)（滿足T3N/t，mn)的按下式計(jì)算： =（Bn-Bm）-6/2（m-n）t式中：衰減系數(shù)，dB/m（單程）； （Bn-Bm）兩次底波增益或衰減器的讀數(shù)之差，dB； t工件檢測厚度，mm； N單直探頭近場區(qū)長度，mm；m、n底波反射次數(shù)。3）當(dāng)工件厚

22、度大于3倍探頭近場區(qū)長度（T3N）時(shí)， 衰減系數(shù)的按（2）計(jì)算： =（B1-B2）-6/2t（2）（B1-B2）兩次底波增益或衰減器讀數(shù)之差，dB；式中其余符號意義同式（1）的規(guī)定。4）工件上三處衰減系數(shù)的平均值即作為該工件的衰減系數(shù)。5.2.6.5 掃查方法1）直探頭檢測：a) 移動(dòng)探頭從兩個(gè)相互垂直的方向在檢測面上做100%掃查。主要檢測方向如圖7所示；b)雙晶直探頭掃查時(shí)，探頭的移動(dòng)方向應(yīng)與探頭的隔聲層相垂直；2）斜探頭檢測斜探頭檢測應(yīng)按照NB/T 47013.3附錄E進(jìn)行5.2.6 缺陷當(dāng)量的確定 5.2.6.1 當(dāng)被檢缺陷的深度大于或等于所用探頭的 3 倍近場區(qū)時(shí)，可采用 AVG 曲

23、線或計(jì)算法確定缺陷的當(dāng)量。對于 3 倍近場區(qū)內(nèi)的缺陷，可采用距離-波幅曲線來確定缺陷的當(dāng)量。也可采用其他等效方法來確定。 5.2.6.2 當(dāng)采用計(jì)算法確定缺陷當(dāng)量時(shí)，若材質(zhì)衰減系數(shù)超過 4dB/m，應(yīng)進(jìn)行修正。 5.2.6.3 當(dāng)采用距離-波幅曲線來確定缺陷當(dāng)量時(shí)，若對比試塊與工件差值超過 4dB/m，應(yīng)進(jìn)行修正。5.2.7 質(zhì)量分級等級評定 5.2.7.1 缺陷的質(zhì)量分級見表8。5.2.7.2 當(dāng)檢測人員判定反射信號為白點(diǎn)、裂紋等缺陷時(shí)，鍛件的質(zhì)量等級為V級。6鋼制壓力容器對接焊接接頭超聲檢測6.1 適用范圍本條規(guī)定了鋼制鍋爐、壓力容器及壓力管道對接焊接接頭的超聲檢測和質(zhì)量等級評定。本條適用

24、于母材厚度為6mm500mm內(nèi)外徑比大于70%的全焊透熔化焊對接焊接接頭的超聲檢測。6.2 超聲檢測技術(shù)等級6.2.1 超聲檢測技術(shù)等級分為A、B、C三個(gè)檢測級別。6.2.2超聲檢測技術(shù)等級選擇應(yīng)符合制造有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)及設(shè)計(jì)圖樣規(guī)定。制造壓力容器的焊接接頭的超聲波檢測一般采用B級，對于重要的焊接接頭可采用C級。6.2.3 不同檢測技術(shù)等級的一般要求6.2.3.1 A級僅適用于工件厚度8mm46mm的焊接接頭?？捎靡环NK值探頭采用直射波法和一次反射波法在焊接接頭的單面單側(cè)進(jìn)行檢測。一般不要求進(jìn)行橫向缺陷的檢測。6.2.3.2 B級檢測：1）適應(yīng)于工件厚度為6mm200mm的焊接接頭的檢測；2）焊接接頭

25、應(yīng)進(jìn)行橫向缺陷的檢測； 3）對于按NB/T 47013.3附錄 E 要求進(jìn)行雙面雙側(cè)檢測的焊接接頭，如受幾何條件限制或由于堆焊層（或復(fù)合層）的存在而選擇單面雙側(cè)檢測時(shí)，還應(yīng)補(bǔ)充斜探頭作近表面缺陷檢測。6.2.3.3用兩種或兩種以上K 值斜探頭檢測時(shí)，探頭間折射角相差不應(yīng)小于 10。6.3 試塊 6.3.1 標(biāo)準(zhǔn)試塊 采用的標(biāo)準(zhǔn)試塊為 CSK-IA。 6.3.2 對比試塊采用的對比試塊為 CSK-A-1。6.4 檢測區(qū) 6.4.1 檢測區(qū)由焊接接頭檢測區(qū)寬度和焊接接頭檢測區(qū)厚度表征。 6.4.2 焊接接頭檢測區(qū)寬度應(yīng)是焊縫本身，再加上焊縫兩側(cè)各 10mm 確定。V型坡口對接接頭檢測去示意圖詳見

26、圖86.4.3 對接焊接接頭檢測區(qū)厚度應(yīng)為工件厚度加上焊縫余高。 6.4.4 超聲檢測應(yīng)覆蓋整個(gè)檢測區(qū)。若增加檢測探頭數(shù)量或增加檢測面（側(cè)）還不能完全覆蓋，應(yīng)增加輔助檢測，包括采用其他無損檢測方法。6.5 檢測面準(zhǔn)備 6.5.1 探頭移動(dòng)區(qū)寬度 6.5.1.1 探頭移動(dòng)區(qū)寬度應(yīng)能滿足檢測到整個(gè)檢測區(qū)。詳見圖96.5.1.2 采用一次反射法檢測時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)寬度應(yīng)大于或等于 1.25P： P=2Kt 或 P=2txtan = 式中： P跨距，mm； t 工件厚度，mm； K 探頭K 值；探頭折射角（）6.5.1.3 采用直射法檢測時(shí)，探頭移動(dòng)區(qū)寬度應(yīng)大于或等于0.7P。6.5.2 檢測面應(yīng)清除油

27、漆、焊接飛濺、鐵屑、油垢及其他異物，以免影響聲波耦合和缺陷判斷。檢測面應(yīng)平整，檢測面與探頭楔塊底面或保護(hù)膜間的間隙不應(yīng)大于 0.5mm，其表面粗糙度Ra值應(yīng)小于或等于 25m。檢測面一般應(yīng)進(jìn)行打磨。 6.5.3 去除余高的焊縫，應(yīng)將余高打磨到與鄰近母材平齊。保留余高的焊縫，如果焊縫表面有咬邊、較大的隆起和凹陷等也應(yīng)進(jìn)行適當(dāng)?shù)男弈ィ⒆鲌A滑過渡以免影響檢測結(jié)果的評定。6.6 探頭折射角（K值）、標(biāo)稱頻率6.6.1 斜探頭的角度（K值）選取可參照表9的規(guī)定。條件允許時(shí)，應(yīng)盡量采用較大K值探頭。6.6.2 采用一次發(fā)射法檢測時(shí)，斜探頭折射角K值）的選取應(yīng)盡可能使主聲速與檢測面相對的底面法線夾角在35

28、70之間，當(dāng)使用兩種或兩種以上折射角（K值）探頭檢測時(shí)，應(yīng)至少有一種折射角（K值）的探頭滿足這一要求。6.6.3 直探頭標(biāo)稱頻率的選取，詳見圖10 6.7 母材的檢測 對于C級檢測，斜探頭掃查聲束通過的母材區(qū)域，應(yīng)先用直探頭檢測，以便檢測是否有影響斜探頭檢測結(jié)果的分層或其他種類缺陷存在。該項(xiàng)檢測僅作記錄，不屬于對母材的驗(yàn)收檢測。母材檢測的要點(diǎn)如下：6.7.1 檢測靈敏度：將無缺陷處第二次底波調(diào)節(jié)為熒光屏滿刻度的100%；6.7.2凡缺陷信號幅度超過熒光屏滿刻度20%的部位，應(yīng)在工件表面作出標(biāo)記，并予以記錄。6.8 儀器調(diào)節(jié) 6.8.1 斜探頭入射點(diǎn)、折射角（K值） 斜探頭入射點(diǎn)、折射角的測量應(yīng)

29、選擇在CSK-IA試塊，折射角（K值）的測定可以采用CSK-A 、CSK-A、CSK-A、CSK-A等試塊6.8.2 儀器時(shí)基線 儀器時(shí)基線的調(diào)整應(yīng)選擇在 CSK-IA試塊，也可根據(jù)工件的厚度 選擇CSK-A、CSK-A、CSK-A等試塊。6.8.3 距離-波幅曲線的繪制 距離-波幅曲線應(yīng)按所用探頭和儀器在試塊上實(shí)測的數(shù)據(jù)繪制而成，該曲線族由評定線、定量線和判廢線組成。評定線與定量線之間（包括評定線）為區(qū)，定量線與判廢線之間（包括定量線）為區(qū)，判廢線及其以上區(qū)域?yàn)閰^(qū)，如圖3所示。如果距離-波幅曲線繪制在顯示屏上，則在檢測范圍內(nèi)曲線任一點(diǎn)高度不低于顯示屏滿刻度的 20%。詳見圖10 6.8.4

30、距離-波幅曲線的靈敏度選擇6.8.4.1 壁厚為6mm200mm的焊接接頭，其距離-波幅曲線靈敏度按表11的規(guī)定。表11 距離-波幅曲線的靈敏度試塊型式板厚，mm評定線定量線判廢線CSK-A64040100240-18dB240-14dB240-12dB240-8dB240-4dB240+2dB6.8.2工件的表面耦合損失和材質(zhì)衰減應(yīng)與試塊相同，否則應(yīng)按附錄P的規(guī)定測量聲能傳輸損失損耗差并進(jìn)行補(bǔ)償。補(bǔ)償應(yīng)計(jì)入距離-波幅曲線。6.8.3 掃查靈敏度不低于評定線靈敏度，此時(shí)在測量范圍內(nèi)最大聲程處的評定線高度不應(yīng)低于滿刻度的20%。6.8.4 檢測橫向缺陷時(shí)，應(yīng)將掃查靈敏度至少再提高 6dB 進(jìn)行檢

31、測。6.9 檢測方法6.9.1 斜探頭掃查6.9.1.1檢測焊接接頭縱向缺陷時(shí)，斜探頭應(yīng)垂直于焊縫中心線放置在檢測面上，作鋸齒型掃查，見圖11。探頭前后移動(dòng)的范圍應(yīng)保證掃查到全部焊接接頭截面，在保持探頭垂直焊縫作前后移動(dòng)的同時(shí)，還應(yīng)作1015的左右轉(zhuǎn)動(dòng)。為觀察缺陷動(dòng)態(tài)波形和區(qū)分缺陷信號，確定缺陷的位置、方向和形狀，可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等4種探頭基本掃查方式，見圖12 6.9.1.2 檢測焊接接頭橫向缺陷時(shí)，可在焊接接頭兩側(cè)邊緣使斜探頭與焊接接頭中心線成不大于10作兩個(gè)方向斜平行掃查，見圖 13。如焊接接頭余高磨平，探頭應(yīng)在焊接接頭及熱影響區(qū)上作兩個(gè)方向的平行掃查，見圖14。6.9.2

32、直探頭掃查直探頭掃查時(shí)，應(yīng)確保超聲聲束能掃查到焊接接頭的整個(gè)被查區(qū)域。6.10 檢測面曲率半徑小于或等于 250mm 對接焊接接頭超聲檢測的一般原則： 6.10.1 檢測曲面工件時(shí)，如檢測面曲率半徑 R W2 /4 時(shí)（W 為探頭接觸面寬度，環(huán)縫檢測時(shí)為探頭寬度，縱縫檢測時(shí)為探頭長度） ，應(yīng)采用與檢測面曲率相同對比試塊，反射孔的位置可參照對比試塊確定。試塊寬度b一般應(yīng)滿足： b2S/Dol 式中： b試塊寬度，mm； l超聲波波長，mm； S 聲程，mm； Do聲源有效直徑，mm。 6.10.2 曲面縱向?qū)咏宇^檢測 6.10.2.1 工件檢測面曲率半徑應(yīng)在對比試塊的曲率半徑應(yīng)為的 0.91.1 倍的范圍內(nèi)； 6.10.2.2 根據(jù)工件的曲率和工件厚度選擇探頭（K 值），并考慮幾何臨界角的限制，確保聲束能掃查到整個(gè)焊接接頭； 6.10.2.3 探頭接觸面修磨后，應(yīng)注意探頭入射點(diǎn)和（K 值）的變化，并用曲率試塊作實(shí)際測定； 6.10.2.4 應(yīng)注意顯示屏指示的缺陷深度或水平距離與缺陷實(shí)