掃描電鏡工作原理_第1頁
掃描電鏡工作原理_第2頁
掃描電鏡工作原理_第3頁
全文預(yù)覽已結(jié)束

下載本文檔

版權(quán)說明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)

文檔簡(jiǎn)介

1、掃描電鏡工作原理一、電子束與樣品的相互作用掃描電鏡是對(duì)樣品表面形態(tài)進(jìn)行測(cè)試的一種大型儀器。電子槍發(fā)射的電子束在掃描電鏡鏡筒中,通過電磁透鏡聚焦和電場(chǎng)加速,入射到樣品中,束電子與樣品原子核或核外電子發(fā)生多種相互作用,而被散射,引起束電子的運(yùn)動(dòng)方向或能量(或兩者同時(shí))發(fā)生變化,從而產(chǎn)生各種反映樣品特征的信號(hào)。這些信號(hào)包括二次電子、背散射電子、吸收電子、透射電子、俄歇電子、電子電動(dòng)勢(shì)、陰極熒光、X射線等,這些信號(hào)能夠表征固體表面或內(nèi)部的某些物理或化學(xué)性質(zhì)。它們是各類電子束顯微分析的物理基礎(chǔ)(圖1)。電子與樣品的相互作用過程可分成彈性散射和非彈性散射過程兩類。彈性散射與非彈性散射過程是同時(shí)發(fā)生的,前者

2、使束電子偏離原來運(yùn)動(dòng)方向,并使電子在樣品內(nèi)部羅三,后者使電子能量逐漸減少直至被樣品全部吸收,因此限制了電子束的擴(kuò)散范圍,電子束的能量完全沉積在擴(kuò)散區(qū)內(nèi),同時(shí)產(chǎn)生大量可檢測(cè)的二次輻射,這個(gè)區(qū)域稱為相互作用區(qū)。圖 1 電子束轟擊固體發(fā)生的各種信號(hào)及深度相互作用區(qū)可以通過實(shí)驗(yàn)直接觀察或由Monte Calro計(jì)算法得到。通常,電子束能量越強(qiáng),電子入射深度越深,相互作用區(qū)越大(圖2)。樣品的原子序數(shù)越大,束電子在每走過單位距離所經(jīng)受的彈性散射事件越多,其平均散射角度大,在樣品中的穿透深度越淺(圖3)。圖2. 不同加速電壓下,蒙德卡羅(Monte Carlo)電子軌跡模擬圖圖3. 同樣加速電壓下,不用材料,蒙德卡羅(Monte Carlo)電子軌跡模擬圖二、掃描電鏡工作原理由圖4可以看出,從電子槍陰極發(fā)出的直徑20-30nm的電子束,受到陰陽極之間的加速電壓的作用,射向鏡筒。經(jīng)過聚光鏡和物鏡聚焦后,形成一個(gè)具有一定能量、強(qiáng)度和斑點(diǎn)直徑的入射電子束。在物鏡上部掃描線圈產(chǎn)生的磁場(chǎng)作用下,入射電子束按一定時(shí)間、空間順序作光柵式掃描。由于入射電子與樣品之間的相互作用,從樣品中激發(fā)出的信號(hào)被不同的檢測(cè)器收集,并成像。本臺(tái)掃描電鏡配備有檢測(cè)二次電子的SE2和Inlens檢測(cè)器,形成樣品形貌像;檢測(cè)背散射電子的ASB檢測(cè)器,形成樣品成分襯度像;檢測(cè)特征X射線能量的X射線能譜儀,用于元素定性、定量分析

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 人人文庫網(wǎng)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

最新文檔

評(píng)論

0/150

提交評(píng)論