ICP-AES分析技術(shù)

1、固態(tài)成像檢測器和中階梯光柵應(yīng)用于新一代的ICP光譜儀等離子體等離子體磁力線磁力線高頻耦合線高頻耦合線圈圈樣品樣品粒粒子子(溫度溫度 60007000 C，惰性惰性)線性范圍寬：線性范圍寬：105 、靈敏靈敏(ppb) 、化學(xué)干擾少化學(xué)干擾少NAZ-分析區(qū)2. PHZ-預(yù)熱區(qū)預(yù)熱區(qū)3. 尾焰4. IRZ- 初始輻射 區(qū)10 E1E1 E2E2 離子化離子化（ （游離游離） ） 激發(fā)狀態(tài)激發(fā)狀態(tài) 頻率頻率 電子電子 原子核原子核 E0E0 離子離子 能級能級 離子化離子化 在等離子體中元素原子化、離子化在等離子體中元素發(fā)射特征波長的光ICP-AES光譜儀的特點(diǎn)光譜儀的特點(diǎn)優(yōu)點(diǎn)優(yōu)點(diǎn): 多元素同時分析

2、多元素同時分析 靈敏度高靈敏度高 分析精度高分析精度高,穩(wěn)定性好穩(wěn)定性好 線性范圍寬線性范圍寬 化學(xué)干擾極低化學(xué)干擾極低ICP-AES可測定的元素 ICP 分分 光光 器器 檢檢 測測 器器 數(shù)數(shù) 據(jù)據(jù) 處處 理理 R R. .F F 發(fā)發(fā) 生生 器器 PMT 檢檢測器測器光柵光柵等離子體等離子體矩管矩管球面球面準(zhǔn)直鏡準(zhǔn)直鏡UV 光譜光譜球面球面聚光鏡聚光鏡IR 光譜光譜光電倍增管工作原理圖陰極二次電子倍增原理二次電子倍增原理CIDCCDn CCD檢測器檢測器最初用于電子最初用于電子記錄成像記錄成像 摻雜的硅晶體吸收光子，一定面積的芯片（像素）產(chǎn)生電子 CCD的工作原理的工作原理電子的傳輸通過

3、不同的芯片進(jìn)行 固定多道型固定多道型單道掃描型單道掃描型全譜直讀型全譜直讀型ICP發(fā)射發(fā)射光譜儀的光譜儀的幾種類型幾種類型必須根據(jù)用戶需求預(yù)先必須根據(jù)用戶需求預(yù)先排定排定PMT和出射狹縫，和出射狹縫，靈活性差靈活性差 全譜直讀型光譜儀全譜直讀型光譜儀全譜直讀式的等離子光譜儀，它采用全譜直讀式的等離子光譜儀，它采用中階梯光學(xué)系統(tǒng)結(jié)合固體檢測器中階梯光學(xué)系統(tǒng)結(jié)合固體檢測器(CID，CCD)，既具有單道的靈活性，又既具有單道的靈活性，又有多道的快速與穩(wěn)定。有多道的快速與穩(wěn)定。定性分析定性分析定量分析定量分析半定量分析半定量分析需進(jìn)行使樣品溶液化的前處理需進(jìn)行使樣品溶液化的前處理定性分析要確認(rèn)試樣中存在某個元素，需要在試樣光譜中找出三條或三條以上該元素的靈敏線，并且譜線之間的強(qiáng)度關(guān)系是合理的；只要某元素的最靈敏線不存在，就可以肯定試樣中無該元素。工作曲線法標(biāo)準(zhǔn)樣品的組成與實(shí)際樣品一致在工作曲線的直線范圍內(nèi)測定使用無干擾的分析線內(nèi)標(biāo)法在試樣和標(biāo)準(zhǔn)樣品中加入同樣濃度的某一元素（內(nèi)標(biāo)元素），利用分析元素和內(nèi)標(biāo)元素的譜線強(qiáng)度比與待測元素濃度繪制工作曲線，并進(jìn)行樣品分析。半定量分析有些樣品不要求給出十分準(zhǔn)確的分析數(shù)據(jù)，允許有較大偏差，但需要盡快給出分析數(shù)據(jù)，這類樣品可采用半定量分析法。IC