IQC來(lái)料檢驗(yàn)指導(dǎo)書(shū)V1.11

1、IQC進(jìn)料檢驗(yàn)規(guī)范 版 本： V2.0 編 制： 審 核： 批 準(zhǔn)： 制定日期： 生效日期： 受控印章：檢驗(yàn)說(shuō)明一、目的： 對(duì)本公司的進(jìn)貨原材料按規(guī)定進(jìn)行檢驗(yàn)和試驗(yàn)，確保產(chǎn)品的最終質(zhì)量。 二、范圍: 1、適用于IQC對(duì)通用產(chǎn)品的來(lái)料檢驗(yàn)。 2、適用對(duì)元件檢驗(yàn)方法和范圍的指導(dǎo)。 3、適用于IPQC、QA對(duì)產(chǎn)品在制程和終檢時(shí)，對(duì)元件進(jìn)行復(fù)核查證。 三、責(zé)任: 1、IQC在檢驗(yàn)過(guò)程中按照檢驗(yàn)規(guī)范所示檢驗(yàn)項(xiàng)目，參照供應(yīng)商器件確認(rèn)書(shū)對(duì)來(lái)料進(jìn)行檢驗(yàn)。 2、檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)參照我司制定的IQC進(jìn)料檢驗(yàn)規(guī)范執(zhí)行。 3、本檢驗(yàn)規(guī)范由品管部QE負(fù)責(zé)編制和維護(hù)，品質(zhì)部經(jīng)理負(fù)責(zé)審核批準(zhǔn)執(zhí)行。 四、檢驗(yàn) 4.1檢驗(yàn)方式：抽樣檢

2、驗(yàn) 4.2抽樣方案：元器件類(lèi)：按照GB 2828.1-2003正常檢驗(yàn)一次抽樣方案，按特殊檢查水平進(jìn)行。 非元器件類(lèi)：按照GN 2828.1-2003 正常檢驗(yàn)一次抽樣方案，按一般檢驗(yàn)水平進(jìn)行。 盤(pán)帶包裝物料按每盤(pán)取5只進(jìn)行測(cè)試，替代法檢驗(yàn)的物料其替代數(shù)量根據(jù)本公司產(chǎn)品用量的23倍進(jìn)行替代測(cè)試 。4.3合格質(zhì)量水平：AQL為acceptable quality level驗(yàn)收合格標(biāo)準(zhǔn)的縮寫(xiě)。AQL=2.5，替代法測(cè)試的物料必須全部滿(mǎn)足指標(biāo)要求。 4.4檢驗(yàn)儀器、儀表、量具的要求所有的檢驗(yàn)儀器、儀表、量具必須在校正計(jì)量器內(nèi) 4.5檢驗(yàn)結(jié)果記錄在“IQC進(jìn)料檢驗(yàn)報(bào)告”插件電阻檢驗(yàn)規(guī)范序號(hào)測(cè)試項(xiàng)目檢

3、驗(yàn)及判定標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備檢驗(yàn)步驟檢驗(yàn)方案?jìng)渥?外觀1.色環(huán)清晰，無(wú)變形插腳無(wú)氧化2.樣品目測(cè)1.色環(huán)清晰，無(wú)變形，凸點(diǎn)等 2.插腳有無(wú)氧化 3.是否有混料全檢2規(guī)格尺寸1、樣品，規(guī)格書(shū) 2.物料清單游標(biāo)卡尺用游標(biāo)卡尺量電阻的規(guī)格尺寸，是否與物料清單及規(guī)格書(shū)一致全檢腳距必須與規(guī)格書(shū)一致3阻值1、樣品，規(guī)格書(shū)2、物料清單萬(wàn)用表1.根據(jù)阻值設(shè)置適當(dāng)量程 2.測(cè)量阻值，確認(rèn)是否在允許精度范圍內(nèi)特殊檢驗(yàn)水平S-2 AQL=2.5修訂記錄文件編號(hào)編制日期內(nèi) 容文件版本V2.0審核日期日 期受控印章批準(zhǔn)日期貼片電阻檢驗(yàn)規(guī)范序號(hào)測(cè)試項(xiàng)目檢驗(yàn)及判定標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備檢驗(yàn)步驟檢驗(yàn)方案?jìng)渥?外觀標(biāo)注清晰，無(wú)變形插腳無(wú)氧化、封

4、裝形式目測(cè)1、標(biāo)注清晰，無(wú)變形，凸點(diǎn)等2、焊端有無(wú)氧化 全檢2阻值是否和規(guī)格一樣，在允許誤差以?xún)?nèi)，是否與訂單要求一致萬(wàn)用表選擇合適量程，測(cè)量阻值，確認(rèn)在允許誤差以?xún)?nèi)特殊檢驗(yàn)水平S-2 AQL=2.5修訂記錄文件編號(hào)編 制日 期內(nèi) 容文件版本V2.0審 核日 期日 期受控印章批 準(zhǔn)日 期電解電容檢驗(yàn)規(guī)范序號(hào)測(cè)試項(xiàng)目檢驗(yàn)及判定標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備檢驗(yàn)步驟檢驗(yàn)方案?jìng)渥?外觀1.字體標(biāo)識(shí)清晰無(wú)誤 2.本體封裝良好、無(wú)變形、破損 3.插腳整齊、平整、垂直 4.有極性標(biāo)識(shí)且正確 5.防爆孔與樣品一致 6.樣品，規(guī)格書(shū)，物料清單目測(cè)1.字體標(biāo)識(shí)是否清晰正確，本體有無(wú)變形破損等 2.插腳有無(wú)氧化、變形 3.防爆孔、防

5、爆線(xiàn)是否與規(guī)格書(shū)、樣品一致 4.極性標(biāo)識(shí)，電壓電流標(biāo)識(shí)是否正確 全檢直徑大于8mm的必須有防爆孔裝置。鉭電容也是電解電容。2電容值樣品、規(guī)格書(shū)、物料清單數(shù)字萬(wàn)用表用數(shù)字電橋或萬(wàn)用表對(duì)電容測(cè)量，數(shù)值應(yīng)在誤差范圍內(nèi)。特殊檢驗(yàn)水平S-2 AQL=2.5鉭電容不檢驗(yàn)修訂記錄文件編號(hào)編 制日 期內(nèi) 容文件版本V2.0審 核日 期日 期受控印章批 準(zhǔn)日 期貼片電容檢驗(yàn)規(guī)范序號(hào)測(cè)試項(xiàng)目檢驗(yàn)及判定標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備檢驗(yàn)步驟檢驗(yàn)方案?jìng)渥?外觀1.字體標(biāo)識(shí)清晰無(wú)誤 2.本體封裝良好、無(wú)變形、破損 3.焊腳整齊、平整、垂直 4.有極性標(biāo)識(shí)且正確 5.樣品，規(guī)格書(shū)，物料清單目測(cè)1.字體標(biāo)識(shí)是否清晰正確，本體有無(wú)變形破損等

6、2.焊腳有無(wú)氧化、變形 3.極性標(biāo)識(shí)，電壓電流標(biāo)識(shí)是否正確 4.是否有混料 全檢修訂記錄文件編號(hào)編 制日 期內(nèi) 容文件版本V2.0審 核日 期日 期受控印章批 準(zhǔn)日 期電感檢驗(yàn)規(guī)范序號(hào)測(cè)試項(xiàng)目檢驗(yàn)及判定標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備檢驗(yàn)步驟檢驗(yàn)方案?jìng)渥?外觀1符號(hào)、字體清晰、準(zhǔn)確 2.本體無(wú)變形 3.規(guī)格書(shū)、樣品 4.物料清單目測(cè)1.字體、符號(hào)是否清晰、準(zhǔn)確 2.本體有無(wú)變形 3.插腳有無(wú)氧化全檢電壓互感器僅檢查外觀2電感量及Q值樣品、規(guī)格書(shū)、物料清單數(shù)字電橋1.據(jù)電感量,選擇合適的量程. 2.電感量是否在允許范圍內(nèi). 3.Q值是否在允許范圍內(nèi). 4.上錫處理后,需再次量其電感量及Q值. 特殊檢驗(yàn)水平S-2 A

7、QL=2.5修訂記錄文件編號(hào)編 制日 期內(nèi) 容文件版本V2.0審 核日 期日 期受控印章批 準(zhǔn)日 期二極管檢驗(yàn)規(guī)范序號(hào)測(cè)試項(xiàng)目檢驗(yàn)及判定標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備檢驗(yàn)步驟檢驗(yàn)方案?jìng)渥?外觀1、極性、規(guī)格、字符印刷清晰 2.本體無(wú)變形、破損、氧化 3.樣品目測(cè)1.確認(rèn)字符印刷是否清楚、正確、易辨認(rèn) 2.本體有無(wú)變形、破損，封裝是否良好 3.引腳是否氧化 4.極性標(biāo)識(shí)是否正確全檢2導(dǎo)通性規(guī)格書(shū)、樣品、物料清單測(cè)試儀1.測(cè)量導(dǎo)通性 ，記錄正向壓降2.確認(rèn)極性標(biāo)識(shí)與測(cè)量結(jié)果一致 3.當(dāng)二極管為發(fā)光二極(LED),正向?qū)〞r(shí),應(yīng)發(fā)出本體的光,且個(gè)體間發(fā)光差異應(yīng)不明顯特殊檢驗(yàn)水平S-2 AQL=2.5瞬變電壓抑制二極管

8、只檢外觀修訂記錄文件編號(hào)編 制日 期內(nèi) 容文件版本V2.0審 核日 期日 期受控印章批 準(zhǔn)日 期三極管（可控硅、IGBT、晶閘管）檢驗(yàn)規(guī)范序號(hào)測(cè)試項(xiàng)目檢驗(yàn)及判定標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備檢驗(yàn)步驟檢驗(yàn)方案?jìng)渥?外觀1.極性、規(guī)格、字符印刷清晰 2.本體無(wú)變形、破損、氧化 3.樣品目測(cè)1.確認(rèn)字符印刷是否清楚、正確、易辨認(rèn) 2.本體有無(wú)變形、破損，封裝是否良好 3.引腳是否氧化 4.極性標(biāo)識(shí)是否正確全檢2電性能規(guī)格書(shū)、樣品、物料清單測(cè)試儀 根據(jù)不同產(chǎn)品對(duì)三極管進(jìn)行參數(shù)測(cè)量特殊檢驗(yàn)水平S-2 AQL=2.5無(wú)設(shè)備，不測(cè)修訂記錄文件編號(hào)編 制日 期內(nèi) 容文件版本V2.0審 核日 期日 期受控印章批 準(zhǔn)日 期集成電路

9、檢驗(yàn)規(guī)范序號(hào)測(cè)試項(xiàng)目檢驗(yàn)及判定標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備檢驗(yàn)步驟檢驗(yàn)方案?jìng)渥?外觀1.字體清晰、無(wú)劃痕 2.插腳無(wú)氧化，且排列整齊 3.樣品目測(cè)1.確認(rèn)字符印刷是否清楚、正確、易辨認(rèn) 2.本體有無(wú)變形、破損，封裝是否良好 3.引腳是否氧化全檢2電性能規(guī)格書(shū)、樣品、物料清單測(cè)試儀 根據(jù)不同產(chǎn)品對(duì)IC進(jìn)行參數(shù)測(cè)量特殊檢驗(yàn)水平S-2 AQL=2.5修訂記錄文件編號(hào)編 制日 期內(nèi) 容文件版本V2.0審 核日 期日 期受控印章批 準(zhǔn)日 期電位器檢驗(yàn)規(guī)范序號(hào)測(cè)試項(xiàng)目檢驗(yàn)及判定標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備檢驗(yàn)步驟檢驗(yàn)方案?jìng)渥?外觀1.字體清晰且標(biāo)示正確、無(wú)劃痕2.插腳無(wú)氧化、本體不變形 3.樣品目測(cè)1.確認(rèn)字符印刷是否清楚、正確、易辨認(rèn)

10、 2.本體有無(wú)變形、破損，封裝是否良好 3.引腳是否氧化全檢2電性能規(guī)格書(shū)、樣品、物料清單萬(wàn)用表 用萬(wàn)用表選擇合適的檔位進(jìn)行測(cè)量,以確認(rèn)電位器阻值是否在承認(rèn)范圍內(nèi)測(cè)量最大值，最小值，中間值特殊檢驗(yàn)水平S-2 AQL=2.5修訂記錄文件編號(hào)編 制日 期內(nèi) 容文件版本V2.0審 核日 期日 期受控印章批 準(zhǔn)日 期電纜線(xiàn)材類(lèi)檢驗(yàn)規(guī)范序號(hào)測(cè)試項(xiàng)目檢驗(yàn)及判定標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備檢驗(yàn)步驟檢驗(yàn)方案?jìng)渥?外觀表面無(wú)刮傷、破損、臟污、斷裂、色差等、規(guī)格書(shū)、樣品目測(cè)1.表面是否有刮傷、破損、色差等 2.插頭無(wú)變形松動(dòng)、斷裂、氧化等 3.焊線(xiàn)無(wú)斷裂、氧化 4.線(xiàn)材顏色與承認(rèn)要求一致全檢2規(guī)格 尺寸規(guī)格書(shū)、樣品、物料清單卷尺

11、、游標(biāo)卡尺 用卷尺檢測(cè)其總長(zhǎng)度、線(xiàn)夾端、裸經(jīng)端等長(zhǎng)度，游標(biāo)卡尺測(cè)量芯線(xiàn)線(xiàn)徑,插頭規(guī)格、線(xiàn)夾規(guī)格等,以確認(rèn)其與規(guī)格書(shū)內(nèi)容相符.全檢修訂記錄文件編號(hào)編 制日 期內(nèi) 容文件版本V2.0審 核日 期日 期受控印章批 準(zhǔn)日 期PCB板檢驗(yàn)規(guī)范序號(hào)測(cè)試項(xiàng)目檢驗(yàn)及判定標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備檢驗(yàn)步驟檢驗(yàn)方案?jìng)渥?外觀1.銅箔氧化 2.元件符號(hào)印刷清晰、準(zhǔn)確，無(wú)脫落 3.插孔無(wú)堵塞、破裂 4.線(xiàn)路、孔徑、焊盤(pán)與PCB文件一致目測(cè)1.印刷元件符號(hào)是否清晰 2.插腳有無(wú)阻塞,破孔,銅箔氧化等現(xiàn)象 3、線(xiàn)路,孔徑,焊盤(pán)、元件位置及標(biāo)識(shí)是否與PCB圖一致 4、多連的PC板是否切割平整、光滑，是否有毛邊 全檢2電性能無(wú)短路、開(kāi)路、

12、毛邊接觸不良等萬(wàn)用表 1.確認(rèn)是否有短路、開(kāi)路、接觸不良等 2.確認(rèn)銅箔線(xiàn)路是否有毛邊.全檢3物理性能1.鈾箔面上錫性能良好2.涂抹綠墨電烙鐵1.確認(rèn)PC板是否變形,銅箔是否氧化2.確認(rèn)有無(wú)綠墨掉落或者未涂抹綠墨全檢修訂記錄文件編號(hào)編 制日 期內(nèi) 容文件版本V2.0審 核日 期日 期受控印章批 準(zhǔn)日 期接插件、連接件檢驗(yàn)規(guī)范序號(hào)測(cè)試項(xiàng)目檢驗(yàn)及判定標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備檢驗(yàn)步驟檢驗(yàn)方案?jìng)渥?外觀1.規(guī)格書(shū).樣品、物料清單 2.插腳是否平整光滑、無(wú)氧化等目測(cè)1.是否有破損、變形、刮傷 2.插腳是否平整光滑、無(wú)氧化等 3.規(guī)格標(biāo)識(shí)是否與樣品和規(guī)格書(shū)一致全檢2通斷規(guī)格書(shū)、樣品、物料清單萬(wàn)用表接插件通斷正常特殊檢

13、驗(yàn)水平S-2 AQL=2.53修訂記錄文件編號(hào)編 制日 期內(nèi) 容文件版本V2.0審 核日 期日 期受控印章批 準(zhǔn)日 期電源模塊模塊檢驗(yàn)規(guī)范序號(hào)測(cè)試項(xiàng)目檢驗(yàn)及判定標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備檢驗(yàn)步驟檢驗(yàn)方案?jìng)渥?外觀1.規(guī)格書(shū).樣品、物料清單 2.插腳是否平整光滑、無(wú)氧化等目測(cè)1.是否有破損、變形、刮傷2.插腳是否平整光滑、無(wú)氧化等 3.規(guī)格標(biāo)識(shí)是否與樣品和規(guī)格書(shū)一致全檢2規(guī)格尺寸規(guī)格書(shū)、樣品、物料清單游標(biāo)卡尺每次取10pcs,用游標(biāo)卡尺進(jìn)行測(cè)量，確定其尺寸規(guī)格是否與規(guī)格書(shū)一致特殊檢驗(yàn)水平S-2 AQL=2.53電性能規(guī)格書(shū)、樣品、物料清單測(cè)試儀萬(wàn)用表根據(jù)不同產(chǎn)品對(duì)模塊進(jìn)行參數(shù)測(cè)量全檢修訂記錄文件編號(hào)編 制日

14、期內(nèi) 容文件版本V2.0審 核日 期日 期受控印章批 準(zhǔn)日 期液晶屏檢驗(yàn)規(guī)范序號(hào)測(cè)試項(xiàng)目檢驗(yàn)及判定標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備檢驗(yàn)步驟檢驗(yàn)方案?jìng)渥?外觀本體應(yīng)無(wú)破損、殘缺、劃傷、漏液、黑點(diǎn)，排線(xiàn)引腳連接良好，不偏位，封膠均勻，無(wú)氣孔目測(cè)檢查本體應(yīng)無(wú)破損、殘缺、劃傷、漏液、黑點(diǎn)，排線(xiàn)引腳連接良好，不偏位，封膠均勻，無(wú)氣孔全檢2尺寸長(zhǎng)/寬/厚尺寸不得超出圖紙公差范圍卡尺卡尺測(cè)量相應(yīng)的尺寸全檢顯示屏幕無(wú)亮點(diǎn)、暗點(diǎn)、碎點(diǎn)、連續(xù)點(diǎn)、色斑、漏光測(cè)試軟件、5V電源運(yùn)行電腦上測(cè)試軟件MrstoolV22,將液晶屏接通5V電源和數(shù)據(jù)線(xiàn)，觀察液晶屏顯示狀態(tài)。全檢修訂記錄文件編號(hào)編 制日 期內(nèi) 容文件版本V2.0審 核日 期日 期

15、受控印章批 準(zhǔn)日 期按鍵開(kāi)關(guān)檢驗(yàn)規(guī)范序號(hào)測(cè)試項(xiàng)目檢驗(yàn)及判定標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備檢驗(yàn)步驟檢驗(yàn)方案?jìng)渥?外觀插腳應(yīng)無(wú)氧化、生銹、斷裂、歪曲之現(xiàn)象、外殼應(yīng)無(wú)生銹、變形、外表有無(wú)臟污現(xiàn)象、規(guī)格應(yīng)符合BOM表上規(guī)定的要求目測(cè)插腳無(wú)氧化、生銹、斷裂、歪曲之現(xiàn)象、外殼應(yīng)無(wú)生銹、變形、外表有無(wú)臟污現(xiàn)象、規(guī)格應(yīng)符合BOM表上規(guī)定的要求全檢2結(jié)構(gòu)接點(diǎn)通/斷狀態(tài)與開(kāi)關(guān)切換相符合、切換片應(yīng)無(wú)切換不順、無(wú)法切換之現(xiàn)象卡尺接點(diǎn)通/斷狀態(tài)與開(kāi)關(guān)切換相符合、切換片應(yīng)無(wú)切換不順、無(wú)法切換之現(xiàn)象特殊檢驗(yàn)水平S-2 AQL=2.5修訂記錄文件編號(hào)編 制日 期內(nèi) 容文件版本V2.0審 核日 期日 期受控印章批 準(zhǔn)日 期晶振、光耦、繼電器檢驗(yàn)

16、規(guī)范序號(hào)測(cè)試項(xiàng)目檢驗(yàn)及判定標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備檢驗(yàn)步驟檢驗(yàn)方案?jìng)渥?外觀外觀無(wú)破損，無(wú)劃痕，標(biāo)識(shí)清晰，引腳無(wú)氧化生銹斷裂，規(guī)格與合同一致目測(cè)肉眼觀察外觀無(wú)破損，無(wú)劃痕，標(biāo)識(shí)清晰，引腳無(wú)氧化生銹斷裂，規(guī)格與合同一致全檢2修訂記錄文件編號(hào)編 制日 期內(nèi) 容文件版本V2.0審 核日 期日 期受控印章批 準(zhǔn)日 期鋼網(wǎng)文件檢驗(yàn)規(guī)范序號(hào)測(cè)試項(xiàng)目檢驗(yàn)及判定標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備檢驗(yàn)步驟檢驗(yàn)方案?jìng)渥?外觀鋼片表面無(wú)折痕、無(wú)變形、無(wú)油跡，網(wǎng)框干凈整潔，不得有明顯污物，焊盤(pán)開(kāi)口數(shù)量、形狀、位置與所印刷的PCB板一一對(duì)應(yīng)。孔壁光滑，無(wú)明顯毛刺。字符與PCB板對(duì)應(yīng)。放大鏡在放大鏡下觀察鋼片表面無(wú)折痕、無(wú)變形、無(wú)油跡，網(wǎng)框干凈整潔，不得

17、有明顯污物，焊盤(pán)開(kāi)口數(shù)量、形狀、位置與所印刷的PCB板一一對(duì)應(yīng)?？妆诠饣?，無(wú)明顯毛刺。字符與PCB板對(duì)應(yīng)。全檢23修訂記錄文件編號(hào)編 制日 期內(nèi) 容文件版本V2.0審 核日 期日 期受控印章批 準(zhǔn)日 期五金件檢驗(yàn)規(guī)范序號(hào)測(cè)試項(xiàng)目檢驗(yàn)及判定標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備檢驗(yàn)步驟檢驗(yàn)方案?jìng)渥?外觀1.規(guī)格書(shū).樣品 2.無(wú)變形崩裂花痕斷柱斷扣披鋒等不良現(xiàn)象。 3.絲印字體清晰正確無(wú)重影錯(cuò)漏電鍍層顏色光澤度應(yīng)與樣板或規(guī)格書(shū)一致目測(cè)1.五金（殼/片）無(wú)變形、崩裂、花痕、斷柱、斷扣、毛刺 2.殼體是否有破損、臟污 3.表面無(wú)色點(diǎn)、色塊、黑點(diǎn) 4顏色光澤度應(yīng)與樣板或規(guī)格書(shū)一致全檢銅柱、2規(guī)格尺寸規(guī)格書(shū)、樣品、物料清單卷尺、直

18、尺、卡尺用尺檢測(cè)其尺寸,確認(rèn)是否與規(guī)格書(shū)及樣品要求一致特殊檢驗(yàn)水平S-2 AQL=2.5尺寸公差3組裝性能1.規(guī)格書(shū)、樣品、物料清單 2.組裝性能良好成 品將五金（殼/片）,確認(rèn)組裝性能是否良好修訂記錄文件編號(hào)編 制日 期內(nèi) 容文件版本V2.0審 核日 期日 期受控印章批 準(zhǔn)日 期附件、輔料檢驗(yàn)規(guī)范序號(hào)測(cè)試項(xiàng)目檢驗(yàn)及判定標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備檢驗(yàn)步驟檢驗(yàn)方案?jìng)渥?外觀1、規(guī)格書(shū).樣品 2、外觀無(wú)破損、無(wú)劃痕、無(wú)裂痕、無(wú)污垢。3、確認(rèn)數(shù)量和送貨單（或者請(qǐng)購(gòu)單）一致目測(cè)觀察物料有無(wú)破損、無(wú)劃痕、無(wú)裂痕、無(wú)污垢全檢包括螺釘、繞膜、絕緣灌封膠、萬(wàn)能膠、玻片、硅膠片、ST法蘭盤(pán)修訂記錄文件編號(hào)編 制日 期內(nèi) 容文

19、件版本V2.0審 核日 期日 期受控印章批 準(zhǔn)日 期電壓互感器檢驗(yàn)規(guī)范序號(hào)測(cè)試項(xiàng)目檢驗(yàn)及判定標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備檢驗(yàn)步驟檢驗(yàn)方案?jìng)渥?外觀1、字體清晰且標(biāo)示正確、無(wú)劃痕2、外觀是否有臟污、劃痕、破裂、凹陷、規(guī)格與合同一致目測(cè)觀察物料有無(wú)破損、無(wú)劃痕、無(wú)裂痕、無(wú)污垢全檢2極性檢驗(yàn)是否和規(guī)格一樣，在允許誤差以?xún)?nèi)，是否與訂單要求一致互感器效驗(yàn)儀一次電流從P1進(jìn)，二次電流從S1出特殊檢驗(yàn)水平S-2 AQL=2.5也可采用直流檢查法3準(zhǔn)確度檢驗(yàn)是否和規(guī)格一樣，在允許誤差以?xún)?nèi)，是否與訂單要求一致標(biāo)準(zhǔn)互感器被測(cè)互感器和標(biāo)準(zhǔn)互感器比較，兩次互感器二次電流差即為互感器誤差特殊檢驗(yàn)水平S-2 AQL=2.54修訂記錄文件

20、編號(hào)編 制日 期內(nèi) 容文件版本V2.0審 核日 期日 期受控印章批 準(zhǔn)日 期雙色發(fā)光二極管檢驗(yàn)規(guī)范序號(hào)測(cè)試項(xiàng)目檢驗(yàn)及判定標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備檢驗(yàn)步驟檢驗(yàn)方案?jìng)渥?外觀外觀是否有臟污、劃痕、破裂、凹陷、規(guī)格與合同一致目測(cè)觀察物料有無(wú)破損、無(wú)劃痕、無(wú)裂痕、無(wú)污垢全檢2導(dǎo)通性規(guī)格書(shū)、樣品、物料清單萬(wàn)用表1、 確認(rèn)極性標(biāo)示與測(cè)量結(jié)果一致2、 當(dāng)發(fā)光二極管正向?qū)〞r(shí)，應(yīng)發(fā)本體光，且個(gè)體間發(fā)光差異不明顯特殊檢驗(yàn)平S-2 AQL=2.5修訂記錄文件編號(hào)編 制日 期內(nèi) 容文件版本V2.0審 核日 期日 期受控印章批 準(zhǔn)日 期光敏傳感器檢驗(yàn)規(guī)范序號(hào)測(cè)試項(xiàng)目檢驗(yàn)及判定標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備檢驗(yàn)步驟檢驗(yàn)方案?jìng)渥?外觀外觀是否有臟污、

21、劃痕、破裂、凹陷、規(guī)格與合同一致目測(cè)觀察物料有無(wú)破損、無(wú)劃痕、無(wú)裂痕、無(wú)污垢全檢2靈敏度允差規(guī)格書(shū)、樣品、物料清單弧光傳感探頭/弧光測(cè)試儀器1. 、用弧光測(cè)試儀測(cè)試出測(cè)試燈光強(qiáng)度2. 、把弧光傳感器探頭放到測(cè)試燈下測(cè)試出光強(qiáng)度3. 、比較弧光測(cè)試儀和弧光探頭的光強(qiáng)度，誤差即為光敏傳感器誤差特殊檢驗(yàn)平S-2 AQL=2.5修訂記錄文件編號(hào)編 制日 期內(nèi) 容文件版本V2.0審 核日 期日 期受控印章批 準(zhǔn)日 期機(jī)箱（面板，背面板）檢驗(yàn)規(guī)范序號(hào)測(cè)試項(xiàng)目檢驗(yàn)及判定標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備檢驗(yàn)步驟檢驗(yàn)方案?jìng)渥?外觀1、 外觀是否有臟污、劃痕、破裂、凹陷、規(guī)格與合同一致目測(cè)觀察物料有無(wú)破損、無(wú)劃痕、無(wú)裂痕、無(wú)污垢全檢2規(guī)格尺寸規(guī)格書(shū)、樣品、物料清單卷尺、直尺、卡尺用尺檢測(cè)其尺寸,確認(rèn)是否與規(guī)格書(shū)及樣品要求一致特殊檢驗(yàn)水平S-2 AQL=2.5尺寸公差修訂記錄文件編號(hào)編 制日 期內(nèi) 容文件版本V2.0審 核日