壓力管道元件無損檢測通用規(guī)程

1、壓力管道元件無損檢測通用規(guī)程第一部分：通用要求1 主題內(nèi)容與適用范圍1.1 本工藝規(guī)定了射線檢測、超聲檢測、磁粉檢測、滲透檢測四種常規(guī)的無損檢測方法及質(zhì)量 分級評定要求 ;1.2本工藝適用于壓力管道元件和承壓設備的無損檢測 ;1.3與承壓設備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件及鋼管桿的對接焊接接頭 ,也可參照本工藝中相關(guān)的 無損檢測方法使用 ;2 引用標準TSG D2001 壓力管道元件制造許可規(guī)則GB151 熱交換器GB150 壓力容器TSG R0004 固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程TSG-D0001 壓力管道安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程NB/T 47013 承壓設備無損檢測3 使用原則3.1 應根據(jù)受檢承壓設備的

2、材質(zhì)、結(jié)構(gòu)、制造方法、焊接方法、焊接接頭形式,預計可能產(chǎn)生的缺陷種類、形狀、部位和方向 ,選擇適宜的無損檢測方法 ;3.2 射線檢測主要用于金屬材料制承壓設備熔化焊接接頭的內(nèi)部缺陷的檢測,適用于制作對接焊接接頭的金屬材料包括碳素鋼 ,低合金鋼 ,不銹鋼 ;3.3 超聲檢測適用于金屬材料制承壓設備原材料、零部件和焊接接頭的檢測;3.4 磁粉檢測適用于鐵磁性材料制原材料、零部件和焊接接頭表面、近表面缺陷的檢測;3.5 滲透檢測適用于非多孔性金屬材料和非金屬材料制承壓設備在制造、 安裝及使用中產(chǎn)生的 表面開口缺陷的檢測 ;4 一般要求4.1 無損檢測人員4.1.1 從事承壓設備的原材料零部件和焊接接

3、頭無損檢測人員 ,應按照特種設備無損檢測人員 考核與監(jiān)督管理規(guī)則的要求取得相應無損檢測資格 ;4.1.2具有無損檢測方法資格級別的人員 ,只能從事與其資格級別相應的無損檢測工作 ,并負 相應的技術(shù)責任 ;4.1.3 無損檢測人員必須身體健康 ,并每一年進行一次放射工作人員職業(yè)性健康檢查 ,并有記錄 可查;每年進行一次視力檢查 ,校正視力不得低于 1.0;4.1.4 無損檢測人員應能熟練操作各種檢測儀器 ,嚴格按相應的工藝卡中的技術(shù)參數(shù)進行合理 的檢測;4.2 對接焊接接頭的要求4.2.1 焊縫及熱影響區(qū)的表面質(zhì)量 （包括焊縫余高） 應經(jīng)外觀檢查合格 ,表面的不規(guī)則狀態(tài)在底 片上的圖像應不掩蓋焊

4、縫中的缺陷或與之相混淆 ,否則應做適當?shù)男拚?;4.2.2 焊縫兩側(cè)應清除焊疤 ,飛濺等物質(zhì) ,焊縫表面和熱影響區(qū)表面不允許有裂紋、氣孔、弧坑 和夾渣等缺陷 ;4.3 無損檢測資料4.3.1 檢測記錄和報告應準確 ,完整 ,并經(jīng)相應的責任人員簽名認可 ;4.3.2 檢測記錄和報告等保存期不得少于設計使用年限 ;達到設計使用年限后可上報企業(yè)質(zhì)管辦商訂處理方式 ;4.3.3 檢測用儀器和設備的性能應進行定期檢定（校準） ,并有相應記錄 ;5 無損檢測標識經(jīng)無損檢測合格的產(chǎn)品或零部件上應作出永久性標識 ,標記應清晰 ,分別采用 RTP、 UTP、 MTP 、PTP鋼印作為常規(guī)檢測方法的合格標記 ;產(chǎn)

5、品上不適合打鋼印標記時 ,可采用詳細的檢測草圖 或其它有效的方式 ,使下道工序或最后檢測人員能夠辯明 ;第二部分：射線檢測通用工藝規(guī)程1主題內(nèi)容及適用范圍1.1 本工藝規(guī)程規(guī)定了壓力管道元件及承壓設備受壓元件的熔化焊對接接頭的 X 射線檢測方 法、底片質(zhì)量和質(zhì)量分級的要求 ;1.2 本工藝規(guī)程適用于壓力管道元件及承壓設備受壓元件的對接焊接接頭的檢測;用于制作焊接接頭的金屬材料包括碳素鋼、低合金鋼、不銹鋼 ;1.3 本工藝規(guī)程規(guī)定射線檢測技術(shù)為 AB 級中靈敏度技術(shù) ;2 引用標準TSG D2001壓力管道元件制造許可規(guī)則GB151熱交換器GB150壓力容器TSG R0004固定式壓力容器安全技

6、術(shù)監(jiān)察規(guī)程TSG-D0001壓力管道安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程NB/T 47013承壓設備無損檢測3.射線檢測人員要求3.1 從事射線檢測的人員應按照 特種設備無損檢測人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則 的要求取得射 線檢測資格證書，評片人員必須持有u級或川級資格證書；3.2 從事射線檢測人員上崗前應進行輻射安全知識的培訓,并取得放射工作人員證 ;3.3 射線檢測人員必須身體健康 ,經(jīng)體檢合格,評片人員視力應每年檢查一次；未經(jīng)矯正或經(jīng)矯正 的近（距）視力和遠（距）視力應不低于5.0（小數(shù)記錄值為 1.0）；3.4 射線檢測人員應能熟練操作射線機 ,正確選用透照工藝 ,合理使用暗室處理方法 ,并應熟悉焊 接工藝、金屬

7、材料等知識 ,應了解壓力管道元件制造工藝 ,熟悉有關(guān)壓力管道元件的法規(guī)、 標準 和技術(shù)條件；3. 5 對接接頭的表面質(zhì)量要求應符合通用部分有關(guān)要求；4.射線檢測和驗收標準4.1 范圍：必須符合固定式壓力管道元件安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程 ,GB150 和設計文件的要求；4.2 凡要求進行 100%射線檢測的容器對其 A 類和 B 類焊接接頭應不低于 JB/T4730.2-2005 標 準中質(zhì)量等級U級的要求；凡局部射線檢測的容器，對其 A 類和 B 類焊接接頭應不低于 JB/T4730.2-2005標準中質(zhì)量等級川級的要求，對低溫容器檢測長度不得少于各焊接接頭長度 的 50%；對非低溫容器檢測長度不得少

8、于各焊接接頭長度的20%,且均不得小于 250mm；4.3 局部射線檢測的容器對其所有的 T 型連接部位,以及拼接封頭（管板）的對接接頭，必須進 行射線檢測；4.4 局部射線檢測的容器 ,如在焊接接頭上開孔 ,則以開孔中心為圓心 ,1.5 倍開孔直徑為半徑的 圓中所包容的焊接接頭 ,被補強圈、支座、墊片、內(nèi)件等所覆蓋的焊接接頭必須進行射線檢測；4.5 如封頭采用拼接焊縫，則在壓制之后進行 100%射線檢測；公稱直徑大于 250mm 的接管對接 接頭應進行射線檢測；4.6 對局部射線檢測的焊接接頭 ,若在檢測部位發(fā)現(xiàn)超標缺陷時 ,則應在該缺陷兩端的延伸部位 , 增加不少于該焊縫長度的 10%進行

9、,若仍有不允許的缺陷時 ,則對該條焊接接頭做 100%的射 線檢測；5. 檢驗程序：5.1 經(jīng)焊接檢驗員檢查合格的焊接接頭 ,應有焊接檢驗員填寫無損檢測委托單交無損檢測室5.2 無損檢測室接到委托單后 ,方可安排射線檢測；5.3 焊縫及熱影響區(qū)若不符 3.5 的要求時,無損檢測室應將委托單反饋焊接檢驗員；5.4 對有延遲裂紋傾向的材料射線檢測，應當至少在焊接完成 24 小時后方可進行；有再熱裂紋傾 向的材料應當在熱處理后增加一次無損檢測；5.5 檢測人員必須按本工藝做好一切準備工作，并編制射線透照檢測工藝卡，按本工藝程序進行 操作、暗室處理和底片評定；6.布片（劃線）規(guī)定：6.1 焊縫射線檢測

10、編號的規(guī)定；6.1.1 產(chǎn)品試板的編號，按該試板所代表的產(chǎn)品編號為檢測編號；并且應有試板的編號 AS,工藝 評定試板的工藝評定號為檢測編號，片號以 S1、S2表示之；6.1.2 整臺產(chǎn)品以產(chǎn)品編號作為檢測編號，其表示方法：A 1209 / 3該批臺匕次順H 造年份號-產(chǎn)品類別代號例：A1209/3 其表示內(nèi)容為 2012 年壓力管道元件第 9 批共 3 臺；6.1.3 整臺產(chǎn)品的焊縫編號以焊接工藝卡節(jié)點圖上的編號為依據(jù)，縱縫以“A 表示，第一條縱縫為 1A、第二條縱縫為 2A；縱縫第 1 張為 A1、縱縫第 2 張為 A2；如第 1 條縱縫第二張片即以 1A2表示之;環(huán)縫以“B 表示,第一條環(huán)

11、縫為 1B、 第二條環(huán)縫為 2B；環(huán)縫第 1 張為 B1、 環(huán)縫第 2 張為 B2；如第 1 條環(huán)縫第二張片即以 1B2 表示之；6.1.4 平板封頭焊縫檢測以“FA”示,第一條 FA1 表示，第一張片為 FA1-1 表示，成型封頭焊縫以 所配的產(chǎn)品編號及焊卡上的編號為準；6.1.5 焊縫返修標記，一次返修在片號后加“ R1 二次返修在片號后加“ R2”示，增拍片在片號前加” G 表示，旋壓（折邊）后復拍在片號加牛”表示；如:1A1R1 表示第一條縱縫第一張片第一次返修；1B1R2 表示第一條環(huán)焊縫第一張片第二次返 修；G1B3 表示第一條環(huán)縫第三張片，該片為增拍片；6.2 焊縫檢測一次透照長

12、度 L3 和透照次數(shù) N 的確定；6.2.1 縱縫（包括試板縱縫）的 L3 規(guī)定一般為 300mm 特殊情況下 L3 可增大和縮小，但應滿足 透照厚度比 KW1.03（ A 級、AB 級）要求;旋邊（折邊）部分應單獨按 K 值要求進行劃線布片；6.2.2 環(huán)縫使用定向曝光則根據(jù) NB/T47031.2-2005 標準取 K7.5d2/3bAB 級射線檢測技術(shù)：f 10d2/3b7.1.3 對每臺 X 射線機均應作出經(jīng)常檢測材料的曝光曲線，依據(jù)曝光曲線確定曝光參數(shù)；對使用 中的曝光曲線每年應校驗一次；7.1.4 X 射線照相時應盡量選用較低的管電壓；X 光機能量應留有 20%余量，以保證儀器使用

13、壽 命；7.2 膠片：選用 T3 類或更高類別的膠片類型，如: Agfa D7,天津川型，上海 GX-A7；其本底灰霧 度應不大于 0.3;7.3 增感屏：采用鉛箔增感，前屏厚度 0.02-0.05mm 后屏厚度大于前屏，一般采用 0.03/0.10;增感 屏和膠片在透照中應保證緊貼；7.4 暗盒：一般使用 80X360mm 和 80250mm,暗盒不得漏光，對初次制定的檢測工藝，或使用中 工藝條件及環(huán)境發(fā)生改變時，應進行背散射防護檢查，暗盒背面要貼附“ B 鉛字標記；（其高度為 13mm,厚度為 1.6mm）;7.5 像質(zhì)計：7.5.1 線型像質(zhì)計的型號&規(guī)格應符合 JB/T7902

14、 的規(guī)定 JB/T7902 中未包含的線號、絲徑等內(nèi)容,應符合 HB7684 的有關(guān)規(guī)定；7.5.2 像質(zhì)計的選用應符合下列表格的要求表 3 像質(zhì)計靈敏度值一單壁透照、像質(zhì)計置于源側(cè)應識別絲號 （絲徑,mm）公稱厚度（T）范圍,mmA 級AB 級B 級18（ 0.063） 2.517（ 0.080）2.5 4.016（ 0.100）2.0 3.5:4615（ 0.125）2.0 3.53.5 5.06814（ 0.160）3.5 5.05.0 78 1213（ 0.20）5.0 77 10:12 2012（ 0.25）7 1010 1520 3011（ 0.32）10 1515 2530 35

15、10（ 0.40）15 252532:35 459（ 0.50）25 3232 4045 658（ 0.63）32 4040 55651207（ 0.80）40 5555 851202006（ 1.00）55 85851502003505（ 1.25）851501502503504（ 1.60）1502502503503（2.00）2503503502（2.50）350表 4 像質(zhì)計靈敏度值一一雙壁雙影透照、像質(zhì)計置于源側(cè)應識別絲號（絲徑,mm）公稱厚度（T）范圍,mmA 級AB 級B 級18 （0.063） 2.517 （0.080）2.5 4.016 （0.100）2.0 3.04615

16、（0.125）2.0 3.03.0 4.56914 （0.160）3.0 4.54.5 79 1513 （0.20）4.5 77 1115 2212 （0.25）7 1111 1522 3111 （0.32）1110 （0.40）15 2222 3240 489 （0.50）22 3232 4448 568 （0.63）32 4444 547 （0.80）44 54表 5 像質(zhì)計靈敏度值一一雙壁單影或雙壁雙影透照、像質(zhì)計置于膠片側(cè)應識別絲號（絲徑,mm）公稱厚度（T）范圍,mmA 級AB 級B 級18 (0.063)2.5 4.016 (0.100)W2.0:2.0

17、3.54615 (0.125)2.0 3.53.5 5.56 1214 (0.160)3.5 5.55.5 1112 1813 (0.20)5.5 1111 1718 3012 (0.25)11 1717 2630 4211 (0.32)17 2626 3942 5510 (0.40)2639:39 5155 709 (0.50)39 5151 64701008 (0.63)51 6464 851001807 (0.80)64 85851251803006 (1.00)851251252253005 (1.25)1252252253754 (1.60)2253753753 (2.00)375表

18、 6 不同焊接型式的透照厚度 W公稱厚度焊縫余高透照厚度 W （mm）單壁透照雙壁單影或雙壁雙影透照T無TTX2T單面TTX2T雙面TTX2T單面（有墊板）TTX2注：1） T表示受檢工件名義厚度，不考慮材料制造偏差和加工減?。?） W表示射線照射方向上材料的公稱厚度；多層透照時，透照厚度為通過的各層材料公稱厚 度之和；（不考慮墊板厚度及余高）3） 焊縫兩側(cè)母材厚度不同時，以薄板公稱厚度計算；7.5.2 像質(zhì)計應放在工件源側(cè)表面焊接接頭的一端（被檢區(qū)長度 1/4 部位），金屬絲應橫跨焊縫，細絲置于外側(cè)；7.5.3 單壁透照時像質(zhì)計應放置在源側(cè)，雙壁單影透照時像質(zhì)計應放置于膠片側(cè)；雙壁雙影透照

19、時可放置于源側(cè)，也可放置于膠片側(cè)；7.5.4 單壁透照中，如果像質(zhì)計無法放置于源側(cè)，也可放置于膠片側(cè)；但應進行對比試驗，以保證實 際透照的底片靈敏度符合要求；當像質(zhì)計放置在膠片側(cè)時，應在像質(zhì)計上適當位置放置鉛字“ F”作為標記，“F 標記的影像應與像質(zhì)計的標記同時出現(xiàn)在底片上，且應在檢測報告中注明；7.5.6 小徑管（外直徑 DoW1OOMM）可選用通用線型像質(zhì)計或 JB/T4730.2-2005 附錄 F 規(guī)定的專用（等徑金屬絲）像質(zhì)計，金屬絲應橫跨焊縫放置；7.5.7 底片黑度均勻部位（一般是鄰近焊縫的母材金屬區(qū)）能清晰地看到長度不小于10mm 的連續(xù)金屬絲影像時，則認為該絲是可識別的；專

20、用像質(zhì)計至少應能識別兩根金屬絲；7.6 標記：7.6.1 被檢測的每段焊縫附近（底片上）應有下列鉛質(zhì)的識別標記，產(chǎn)品編號、像質(zhì)返修標記“ R” 需增拍時還應增拍標記“G 及必要時的“F 標記；其排列示意如下圖；.口/僉產(chǎn)1品編號注：透照日期的放置按慣例排列 6 位數(shù)進行；如 120525 表示 2012 年 5 月 25 日;7.6.2 各種標記至少離焊縫 5mm,各種標記應符合 6.1 要求，每次攝片在標記帶上必須有符合 7.5 要求的像質(zhì)計；8.貼片、對位、屏蔽的要求：8.1 貼片時應保證整個膠片暗盒于被檢焊縫緊貼；8.2 定向曝光時，射線束的中心應對準透照區(qū)中心，并使強度最大的射線束覆蓋

21、透照區(qū)焊縫；8.3 攝片時應采用鉛光柵、鉛遮板、鉛襯板等，照射場內(nèi)不應堆放雜物，以防止散亂射線影響底 片質(zhì)量;為檢查散射線的影響程度，當?shù)灼稀癇 出現(xiàn)較淡的影響時，說明散射線影響較重，應予 復照；9. 透照方式和操作順序；9.1 應根據(jù)工件特點上和技術(shù)條件的要求選擇適宜的透照方式；應優(yōu)先選用單壁透照法，在單壁 透照不能實施時方可采用雙壁透照；典型透照方式見下圖：射線源射線源(A)(B)像質(zhì)計搭接標記透照日期 中心標記增拍片標記 焊縫及部位編號返修標記（D）（A）縱縫透照法（B）環(huán)縫外透法（C）雙壁單影法（D）雙壁雙影法9.2 透照時射線束中心一般應垂直指向透照區(qū)中心9.3 對于 100mmv

22、Do 400mm 的環(huán)向?qū)咏宇^（包括曲率相同的曲面焊接接頭）,A級,AB 級允許采用 KW1.2 9.4 小口徑管采用雙壁透照時，當同時滿足 T（壁厚） 8mm g（焊縫寬度） WD0/4時應采用傾 斜透照方式橢圓成像；橢圓成像時，應控制映象的開口寬度（上下焊縫投影最大間距）在 1 倍焊 縫寬度左右；不滿足上述條件時或橢圓成像有困難時可采用垂直透照方式重疊成像；9.5 小徑管環(huán)向?qū)雍附咏宇^ 100%檢測透照時；采用傾斜透照橢圓成像時，當 T/ D0 0.12 時，相隔 120或 60透照 3 次;垂直透照重疊成像時，一般應相隔 120或 60透照 3 次;9.6 操作順序：9.6.1 按“

23、X光機安全操作規(guī)程”做好開機前檢查工作和必要的訓機”9.6.2 開機后，升高壓前預熱 3-5 分鐘，再根據(jù)曝光規(guī)范緩慢升壓，再升 mA 至規(guī)定值,在時間到前 15秒，應緩慢降 mA 和 KV 值至結(jié)束；9.6.3 透照結(jié)束不能立即切斷電源，至少冷卻 5 分鐘后方可切斷電源；9.6.4 透照人員在透照結(jié)束，應做好原始記錄和攝片定位圖，;并應在原始記錄上簽名和簽署檢測 日期；射線源/，需要時也可選用有利發(fā)現(xiàn)缺陷的方向透10. 暗室處理10.1 顯定影液均應與所用膠片廠推薦的配方相符 ,配制好放置 24 小時后,方可使用 ;10.2 顯定影液使用溫度應嚴格控制在 20C坐C范圍內(nèi)；10.3 顯影時間

24、為 5-8 分鐘,膠片應在顯影液重不斷擺動 ,顯影結(jié)束應在清水（或停影液）中停顯30后方可進行定影，定影時間不少于 15 分鐘，定影結(jié)束應在流水中沖洗不少于 30,水洗結(jié)束后 進行脫水烘（晾）干處理；10.4 暗室操作人員應嚴格按暗室處理的有關(guān)操作規(guī)程進行操作,并要將發(fā)現(xiàn)的不符合要求的底片及時通知攝片人員復照；11. 底片評定：1 1 . 1 底片質(zhì)量要求11.1.1 底片有效評定區(qū)的黑度應符合下列要求：A 級：1.5 DW4.0AB 級：2.0 D 20 40單晶直探頭5 1 20mm 40 250單晶直探頭2.5 2 25mm4.3 標準試塊用雙晶直探頭檢測厚度不大于 20mm 鋼板時，采

25、用 CBI標準試塊;用單直探頭檢測厚度大于2060mm 的鋼板時，采用 CBI標準試塊;試塊厚度應與被檢鋼板厚度相近；4.4 基準靈敏度4.4.1 板厚不大于 20mm 時采用的 CBI試塊將工件等厚部位第一次底波高度調(diào)整到滿刻度的50%,再提高 10dB 作為基準靈敏度；4.4.2 板厚大于 20mm 時，應將 CBI試塊5平底孔第一次反射波高調(diào)整到滿刻度的50%作為基準靈敏度；4.4.3 板厚不小于探頭的 3 倍近場區(qū)時，也可取鋼板無缺陷完好部件的第一次底波來校準靈敏度，其結(jié)果應與 4.4.2 的要求相一致；4.5 檢測方法4.5.1 檢測面可選鋼板的任一軋制表面進行檢測；當檢測人員認為需

26、要或設計圖樣要求時，也可選鋼板的上、 下兩軋制表面分別進行檢測；4.5.2 耦合方式耦合方式采用直接接觸法；4.5.3 掃查方式探頭沿垂直于鋼板壓延方向，間距不大于 100mm 的平行線進行掃查；在鋼板剖口預定線兩側(cè)各50mm 內(nèi)應作 100%掃查；4.6 缺陷的測定與記錄4.6.1 在檢測過程中，發(fā)現(xiàn)下列三種情況之一即作為缺陷：a）缺陷第一次反射波（F1）波高大于或等于滿刻度的 50%，即 F1 50%b）當?shù)酌娴谝淮畏瓷洳?B1 波高未達到滿刻度，此時，缺陷第一次反射波（F1）波高與底面第 一次反射波（B1）波高之比大于或等于 50%，即 B1V100%而 F1/B1A50%c）底面第一次

27、反射波（B1）波高低于滿刻度的 50%，即 B1V50%;462 缺陷的邊界范圍或指示長度的測定方法：a）檢出缺陷后，應在它的周圍繼續(xù)進行檢測，以確定缺陷的范圍；b）用雙晶直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度時，探頭的移動方向應與探頭的隔聲層相垂直，并使缺陷波下降到基準靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波高與底面第一次反射波高之比為50%;此時,探頭中心的移動距離即為缺陷的指示長度，探頭中心點即為缺陷的邊界點；兩種方法測得的結(jié)果以較嚴重者為準；c）用單直探頭確定缺陷的邊界范圍或指示長度時，移動探頭使缺陷波第一次反射波高下降到基準靈敏度條件下熒光屏滿刻度的25%或使缺陷第一次反射波

28、與底面第一次反射波高之比為 50%;此時,探頭中心的移動距離即為缺陷的指示長度，探頭中心即為缺陷的邊界點；兩 種方法測得的結(jié)果以較嚴重者為準；d）確定 4.6.1 c）中缺陷的邊界范圍或指示長度時，移動探頭（單直探頭或雙直探頭）使底面 第一次反射波升高到熒光屏滿刻度的 50%；此時探頭中心移動距離即為缺陷的指示長度 探 頭中心點即為缺陷的邊界點；e）當板厚較薄，確需采用第二次缺陷波和第二次底波來評定缺陷時，基準靈敏度應以相應的第二次反射波來校準；4.7 缺陷的評定方法4.7.1 缺陷指示長度的評定規(guī)則單個缺陷按其指示的最大長度作為該缺陷的指示長度；若單個缺陷的指示長度小于 40mm 時, 可不

29、作記錄；4.7.2 單個缺陷指示面積的評定規(guī)則a） 一個缺陷按其指示的面積作為該缺陷的單個指示面積；b） 多個缺陷其相鄰間距小于 100mm 或間距小于相鄰較小缺陷的指示長度（取其較大值） 時,以各缺陷面積之和作為單個缺陷指示面積；c）指示面積不計的單個缺陷見表 2；表 2鋼板質(zhì)量分級等級單個缺陷指示長度 mm單個缺陷指示面積 cm在任一 1mx1m 檢測面積內(nèi) 存在的缺陷面積百分比%以下單個缺陷指 示面積不計 cm2IV80V253V9nV100V505V15川V120V10010V25IVV150V10010V25V超過V級者注：V級鋼板主要用于與承壓設備有關(guān)的支承件和結(jié)構(gòu)件的制造安裝；4

30、.7.3 缺陷面積百分比的評定規(guī)則在任一 Imxim 檢測面積內(nèi)，按缺陷面積所占的百分比來確定；如鋼板面積小于 1mX1m,可按比例折算；4.8 鋼板質(zhì)量等級4.8.1 鋼板質(zhì)量分級見表 2；4.8.2 在坡口預定線兩側(cè)各 50mm （板厚大于 100mm 時,以板厚的一半為準）內(nèi)，缺陷的指示長 度大于或等于 50mm 時,應評為 V 級；4.8.3 在檢測過程中，檢測人員如確認鋼板中有白點、裂紋等危害性缺陷存在時，應評為 V 級；5.承壓設備用鋼鍛件超聲檢測和質(zhì)量分級5.1 范圍本條適用于承壓設備用碳鋼和低合金鋼鍛件的超聲檢測和質(zhì)量分級；本條不適用于奧氏體鋼等粗晶材料鍛件的超聲檢測，也不適用

31、于內(nèi)外徑之比小于80%的環(huán)形和筒形鍛件的周向橫波檢測；5.2 探頭雙晶直探頭的公稱頻率應選用5MHz;探頭晶片面積不小于 150mm2;單晶直探頭的公稱頻率應選用 2MHz5MHz,探頭晶片一般為 1425w;5.3 試塊5.3.1 單晶直探頭標準試塊，工件檢測距離大于等于 45 伽時，采用 CSI 試塊；5.3.2 雙晶直探頭試塊工件檢測距離小于 45 伽時，應采用 CSH試塊；5.3.3 檢測面是曲面時，應采用 CSE標準試塊來測定由于曲率不同而引起的聲能損失；5.4 檢測時機檢測原則上安排在熱處理后，孔、臺等結(jié)構(gòu)機加工前進行，檢測面的表面粗糙度 Ra 6.3 卩如 5.5檢測方法5.5.

32、1 一般原則鍛件應進行縱波檢測，對筒形和環(huán)形鍛件還應增加橫波檢測；5.5.2 縱波檢測a） 原則上應從兩個相互垂直的方向進行檢測，盡可能的檢測到鍛件的全體積；主要檢測方 向如圖 1 所示；其他形狀的鍛件也可參照執(zhí)行；b） 鍛件厚度超過 400 伽時,應從相對兩端面進行 100%的掃查；5.5.3 橫波檢測鋼鍛件橫波檢測應按 NB/T47031 的要求進行；5.6 靈敏度的確定561 單晶直探頭基準靈敏度的確定當被檢測部位的厚度大于或等于探頭的三倍近場區(qū)長度，且探測面與底面平行時，原則上可采用底波計算法確定基準靈敏度；對由于幾何形狀所限，不能獲得底波或壁厚小于探頭的三倍近 場區(qū)時，可直接米用 C

33、SI 標準試塊確定基準靈敏度；5.6.2 雙晶直探頭基準靈敏度的確定使用 CSH試塊,依次測試一組不同檢測距離的3平底孔（至少三個）；調(diào)節(jié)衰減器，作出雙晶直探頭的距離一波幅曲線，并以此作為基準靈敏度；5.6.3 掃查靈敏度一般不得低于最大檢測距離處的2mm平底孔當量直徑；5.7 缺陷當量的確定5.7.1 被檢缺陷的深度大于或等于探頭的三倍近場區(qū)時，采用 AGV 曲線及計算法確定缺陷當量；對于三倍近場區(qū)內(nèi)的缺陷，可采用單晶直探頭或雙晶直探頭的距離一波幅曲線來確定缺陷當 量;也可用其它等效方法來確定；5.7.2 計算缺陷當量時，若材質(zhì)衰減系數(shù)超過 4dB/m,應考慮修正；5.8 缺陷記錄5.8.1

34、 記錄當量直徑超過4m時的單個缺陷的波幅和位置；5.8.2 密集區(qū)缺陷：記錄密集區(qū)缺陷中最大當量缺陷的位置和缺陷分布；餅形鍛件應記錄大于等于4mm當量直徑的缺陷密集區(qū)，其他鍛件應記錄大于或等于3mm當量直徑的缺陷密集區(qū)；缺陷密集區(qū)面積以 50mX50m的方塊作為最小量度單位，其邊界可由 6dB 法決定；5.8.3 底波降低量應按表 3 的要求記錄；表 3 由缺陷引起底波降低量的質(zhì)量分級dB等級InIVV底波降低量BG/BF 8 14 14 20 20 26 26注：本表僅適用于聲程大于近場區(qū)長度的缺陷；5N腿腳;脾細懈5.9 質(zhì)量分級5.9.1 單個缺陷的質(zhì)量分級見表 4；5.9.2 缺陷引起

35、的底波降低量的質(zhì)量分級見表3；表 4 單個缺陷的質(zhì)量分級mm等級InVV缺陷當量直徑 0dB 8dB) 4+( 8dB12dB) 4+ 12dB16dB) 4+16dB5.9.3 缺陷密集區(qū)質(zhì)量分級見表 5;表 5 密集區(qū)缺陷的質(zhì)量分級等級InVV密集區(qū)缺陷占檢測總面積的百分比，0 05 5 10 10 20 205.9.4 表 3、表 4 和表 5 的等級應作為獨立的等級分別使用；5.9.5 當缺陷被檢測人員判定為危害性缺陷時，鍛件的質(zhì)量等級為V級6.鋼制承壓設備對接焊接接頭超聲檢測和質(zhì)量分級；6.1 適用范圍本條規(guī)定了鋼制承壓設備對接焊接接頭的超聲檢測和質(zhì)量分級；本條適用于母材厚度為 8m

36、m400mm 全熔化焊對接焊接接頭的超聲檢測；母材厚度為 6mm 8mm全熔化焊對接焊接接頭的超聲檢測應按照 JB/T4730.3 2005 附錄 G （規(guī)范性附錄）的規(guī) 定進行；本條不適用于鑄鋼對接焊接接頭、外徑小于 159mm 的鋼管環(huán)向?qū)雍附咏宇^、內(nèi)徑小于或等 于200mm 的管座角焊縫的超聲檢測，也不適用于外徑小于 250mm 或內(nèi)外徑之比小于 80%的縱 向?qū)雍附咏宇^超聲檢測；6.2 超聲檢測技術(shù)等級6.2.1 超聲檢測技術(shù)等級選擇超聲檢測技術(shù)等級分為 A、B、C 二個檢測級別；超聲檢測技術(shù)等級選擇應符合有關(guān)規(guī)范、標 準及設計圖樣規(guī)定；6.2.2 不同檢測技術(shù)等級的要求6.2.2

37、.1 A 級僅適用于母材厚度 8mm- 46mm 的對接焊接接頭，采用一種 K 值探頭采用直波法 和一次反射波法在對接焊接接頭的單面單側(cè)進行檢測；一般不要求進行橫向缺陷的檢測；622.2B 級檢測a）母材厚度 8mm- 46mm 時，一般用一種 K 值探頭采用直射波法和一次反射波法在對接焊 接接頭的單面雙側(cè)進行檢測；b）母材厚度大于 46mm120mm 時，一般用一種 K 值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙面雙側(cè)進行檢測,如受幾何條件限制，也可在焊接接頭的雙面單側(cè)或單面雙側(cè)采用兩種K 值探頭進行檢測；c） 應進行橫向缺陷的檢測；檢測時，可在焊接接頭兩側(cè)邊緣使探頭與焊接接頭中心線成10。20乍兩個

38、方向的斜平行掃查，見圖 2；如焊接接頭余高磨平，探頭應在焊接接頭及熱影響區(qū)上作 兩個方向的平行掃查，見圖 3；6.2.2.3 C 級檢測：采用 C 級檢測時應將焊接接頭的余高磨平，對焊接接頭兩側(cè)斜探頭掃查經(jīng)過的母材區(qū)域要用 直探頭進行檢測，檢測方法見 6.4.4；a）母材厚度 8m46 伽時，一般用兩種 K 值探頭采用直射波法和一次反射波法在對接焊接 接頭的單面雙側(cè)進行檢測；兩種探頭的折射角相差不小于 10其中一個折射角應為 45b）母材厚度大于 46 伽120 伽時，一般用兩種 K 值探頭采用直射波法在焊接接頭的雙面雙側(cè)進行檢測；兩種探頭的折射角相差應不小于 10；對于單側(cè)坡口角度小于 5的

39、窄間隙焊縫，如 有可能應增加對檢測與坡口表面平行缺陷有效的檢測方法；c）應進行橫向缺陷的檢測；檢測時,將探頭放在與焊縫及熱影響區(qū)上作兩個方向的平行掃查 見圖 3；203 W46.3 試塊6.3.1 采用的標準試塊為 CSKIA、CSKmA；26.3.2 檢測曲面工件時，如檢測曲率半徑 RWW/4 時,（W 為探頭接觸面寬度，環(huán)縫檢測時為探頭 寬度,縱縫檢測時為探頭長度），應采用與檢測面曲率相同的對比試塊，反射孔的位置可參照標 準試塊確定;試塊寬度 b 一般應滿足：b2 入 S/Do. （1）式中：b-試塊寬度，伽；入-超聲波波長，伽；S 聲程； Do -聲源有效直徑，伽;6.4 檢測準備641

40、 檢測面a）檢測區(qū)的寬度應是焊縫本身，再加上焊縫兩側(cè)各相當于母材厚度 30%的一段區(qū)域，這個區(qū)b）探頭移動區(qū)應清除焊接飛濺、鐵屑、油垢及其他雜質(zhì)；檢測表面應平整,便于探頭的掃查,其表面粗糙度 Ra 應小于等于 6.3um一般應進行打磨；1）采用一次反射法檢測時，探頭移動區(qū)大于或等于 1.25P:P=2TK. （1）或P=2TtanB. （2）式中：P跨距，伽；T 母材厚度,伽；K 探頭 K 值；B探頭折射角（ ;2）采用直射法檢測時，探頭移動區(qū)應大于或等于 0.75P;c）去除余高的焊縫，應將余高打磨到與鄰近母材齊平；保留余高的焊縫，如果焊縫表面有較大 的降起和凹陷等也應進行適當?shù)男弈ィ⒆鲌A

41、滑過渡以免影響檢測結(jié)果的評定；6.4.2 探頭 K 值斜探頭的 K 值（角度）選取可參照表 6 的規(guī)定;條件允許時，應盡量采用較大 K 值探頭；表 6 推薦采用的斜探頭 K 值板厚 T,mmK 值6253.02.0 （ 7260） 25 462.51.5 （6856）461202.01.0 （6045） 120 4002.01.0 (60 45643 檢測頻率檢測頻率一般為 2MHz5MHz;644 母材的檢測對于 C 級檢測，斜探頭掃查聲束通過的母材區(qū)域，應先用直探頭檢測，以便檢測是否有影響斜探 頭檢測結(jié)果的分層或其他種類缺陷存在；該項檢測僅作記錄，不屬于對母材的驗收檢測；母材檢 測的要點如

42、下：a）檢測方法：接觸式脈沖反射法，采用頻率 2MHz5MHz 的直探頭晶片直徑 10 伽25 伽;b） 檢測靈敏度：將無缺陷處第二次底波調(diào)節(jié)為熒光屏滿刻度的100%;c） 凡缺陷信號幅度超過熒光屏滿刻度 20%的部位，應在工件表面作出標記，并予以記錄；6.5 距離一波幅曲線的繪制6.5.1 距離一波幅曲線應按所用探頭和儀器在試塊上實測的數(shù)據(jù)繪制而成，該曲線族由評定線、定量線和判廢線組成；評定線與定量線之間（包括評定線）為I區(qū)，定量線與判廢線之間（包括定量線）為U區(qū)，判廢線及其以上區(qū)域為川區(qū)，如圖 5 所示,如果距離一波 幅曲線繪制在熒光屏上，則在檢測范圍內(nèi)不低于熒光屏滿刻度的 20%;6.5

43、.2 距離一波幅曲線的靈敏度選擇a）壁厚為 6 伽60 伽的焊接接頭，其距離一波幅曲線靈敏度按表 7 的規(guī)定;表 7 距離一波幅曲線的靈敏度試塊型式板厚評定線定量線判廢線815 1 心 12dB 1 心 6dB1X6+2dBCSKMA 15461X-69dB13dB1X6+5dB 46 1201x6dB1X61X6+10dBb） 檢測橫向缺陷時，應將各線靈敏度均提高 6dB;c） 檢測面曲率半徑RWW2/4時,距離一波幅曲線的繪制應在與檢測面曲率相同的對比試塊上進 行；d） 掃查靈敏度不低于最大聲程處的評定線靈敏度；6.6 檢測方法6.6.1 平板對接焊接接頭的超聲檢測a）為檢測縱向缺陷，斜探

44、頭應垂直于焊縫中心線放置在檢測面上，作鋸齒型掃查,見圖 6;探頭 前后移動的范圍應保證掃查到全部焊接接頭截面，在保持探頭垂直焊縫作前后移動時，還應作 1015勺左右轉(zhuǎn)動；不同檢測等級對縱向缺陷的檢測要求見 6.2;b） 不同檢測等級對橫向缺陷的檢測要求見6.2;c） 為觀察缺陷動狀波形和區(qū)分缺陷信號或偽缺陷信號，確定缺陷的位置、方向和形狀，可采用前后、左右、轉(zhuǎn)角、環(huán)繞等四種探頭基本掃查方式，見圖 7;6.6.2 曲面工件（工件直徑小于或等于 500 伽）對接接頭的超聲檢測；a）檢測面為曲面時，可盡量按平板對接焊接接頭的檢測方法進行檢測；對于受幾何形狀限制，無 法檢測的部位應予以記錄；b） 縱縫

45、檢測時，對比試塊的曲率半徑與檢測面曲率半徑之差應小于 10%;1） 根據(jù)工件的曲率和材料厚度選擇探頭 K 值，并考慮幾何臨界角的限制，確保聲束能掃查到整 個焊接接頭；2） 探頭接觸面修磨后，應注意探頭入射點和 K 值的變化，并用曲率試塊作實際測定；3） 應注意熒光屏指示的缺陷深度或水平距離與缺陷實際的徑向埋藏深度或水平距離弧長的差 異，必要時進行修正；c） 環(huán)縫檢測時，對比試塊的曲率半徑應為檢測面曲率半徑的 0.91.5 倍；6.6.3 管座角焊縫的檢測a） 般原則在選擇檢測面和探頭時，應考慮到各種類型缺陷的可能性，并使聲束盡可能垂直于該焊接接頭 結(jié)構(gòu)中的主要缺陷；b） 檢測方式根據(jù)結(jié)構(gòu)形式，

46、管座角焊縫的檢測有如下五種檢測方式，可選擇其中一種或幾種方式組合實施 檢測;檢測方式的選擇應由合同雙方商定，并考慮主要檢測對象和幾何條件的限制；，見圖 8 位置 1;，見圖 9 位置 1;在容器內(nèi)壁采用斜探頭檢測見圖 8 位置 4; 見圖9 位置 2;，見圖 8 位置 3 和圖 9 位置 3;，見圖 8 位置 2;d）管座角焊縫以直探頭檢測為主，必要時應增加斜探頭檢測的內(nèi)容；探頭頻率、尺寸應按 5.2 和 6.4 的規(guī)定進行,管座角焊縫斜探頭的距離一波幅曲線靈敏度按表7 的規(guī)定，直探頭的距離一波幅曲線靈敏度按表 8 的規(guī)定;距離一波幅曲線的制作詳見 6.5.1評定線定量線判廢線2mm平底孔3m

47、平底孔6m平底孔6.7 缺陷定量檢測6.7.1 靈敏度應調(diào)到定量線靈敏度6.7.2 對所有反射波幅達到或超過定量線的缺陷，均應確定其位置、最大反射波幅和缺陷當量；6.7.3 缺陷位置測定缺陷位置測定以獲得缺陷最大反射波的位置為準；6.7.4 缺陷最大反射波幅的測定將探頭移至缺陷出現(xiàn)最大反射波信號的位置，測定波幅大小，并確定它在距離一波幅曲線圖中 的區(qū)域；6.7.5 缺陷定量應根據(jù)缺陷最大反射波幅確定缺陷當量值徑或缺陷指示長度 AL;a）缺陷當量直徑心用當量平底孔直徑表示，主要用于直探頭檢測，可采用公式計算，距離一波 幅曲線和試塊對比來確定缺陷當量尺寸；b）陷指示長度AL的檢測采用以下方法：1）

48、 在接管內(nèi)壁采用直探頭檢測2）在容器內(nèi)壁采用直探頭檢測3） 在接管外壁采用斜探頭檢測4）在接管內(nèi)壁采用斜探頭檢測表 8 管座角焊縫直探頭距離一波幅曲線的靈敏度1） 當缺陷反射波只有一個高點 且位于U區(qū)或U區(qū)以上時，使波幅降到熒光屏滿刻度的 80% 后，用 6dB 法測其指示長度；2） 當缺陷反射波值起伏變化，有多個高點,且位于U區(qū)或U區(qū)以上時，使波幅降到熒光屏滿 刻度的 80%后應以端點 6dB 法測其指示長度；3） 當缺陷反射波峰位于I區(qū)時，如認為有必要記錄時，將探頭左右移動，使波幅降到評定線 以此測定缺陷指示長度；6.8 缺陷評定6.8.1 超過評定線的信號應注意其是否有裂紋等危害性缺陷特

49、征，如有懷疑時，應采取改變探頭 K 值、增加檢測面、觀察動態(tài)波型并結(jié)合結(jié)構(gòu)工藝特性作判定，如對波型不能判斷時，應輔以其 它檢測方法作綜合判定；6.8.2 缺陷指示長度小于 10 伽時，按 5 伽計；6.8.3 相鄰兩缺陷在一直線上，其間距小于其中較小的缺陷長度時，應作為一條缺陷處理，兩缺陷 長度之和作為其指示長度（間距不計入缺陷長度）；6.9 質(zhì)量分級焊接接頭質(zhì)量分級按表 9 的規(guī)定進行；表 9焊接接頭質(zhì)量分級等級板厚 T反射波幅（所在區(qū)域）單個缺陷指示長度 L多個缺陷累計長度 LI6 400I非裂紋類缺陷6 120nL=T/3,最小為 10,最大不 超過 30在任意 9T焊縫長度范圍內(nèi) L

50、不超過 Tn6 120nL=2T/3,最小為 12,最大不 超過 40在任意 4.5T 焊縫長度范圍內(nèi) L 不超過 T6 120n超過n級者超過n級者川所有缺陷i、n、川裂紋等危害性缺陷注 1:母材板厚不同時，取薄板側(cè)厚度值；注 2:當焊縫長度不足 9T （I級）或 4.5T（U級）時,可按比例折算；當折算后的缺陷累計長 度小于單個缺陷指示長度時，以單個缺陷指示長度為準；超聲檢測報告超聲檢測報告至少應包括以下內(nèi)容：a）委托單位：b）被檢工件：名稱、編號、規(guī)格、材質(zhì)、坡口型式、焊接方法和熱處理狀況；c）檢測設備：探傷儀、探頭、試塊；d）檢測規(guī)范：技術(shù)等級、探頭 K 值、探頭頻率、檢測面和檢測靈敏

51、度；e） 檢測部位及缺陷的類型、尺寸、位置和分布應在草圖上予以標明，如有因幾何形狀限制 檢測不到的部位，也應加以說明；f） 檢測結(jié)果及質(zhì)量分級、檢測標準名稱和驗收等級；g）檢測人員和責任人員簽字及其技術(shù)等級；h）檢測日期；第四部分：磁粉檢測通用工藝規(guī)程1.主題內(nèi)容與適用范圍1.1 本規(guī)程規(guī)定了磁粉檢測的人員、設備器材、檢測技術(shù)、質(zhì)量分級和檢測記錄報告等的基本 要求;1.2 本規(guī)程適用于壓力管道元件及承壓設備的原材料、零部件和焊接接頭的表面、近表面缺陷 的檢測 ,不適用于奧氏體不銹鋼和其他非鐵磁性材料的檢測 ;壓力管道元件制造許可規(guī)則 熱交換器 壓力容器 固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程 壓力管道

52、安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程 承壓設備無損檢測3.一般要求3.1 磁粉檢測人員要求 3.1.1 磁粉檢測人員應按照特種設備無損檢測人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則的要求取得磁粉檢 測資格證書 ,復檢和簽發(fā)報告人員應有中級資格證書 ;3.1.2 磁粉檢測人員的未經(jīng)矯正或經(jīng)矯正的近（距）視力和遠（距）視力應不低于5.0（小數(shù)記錄值為 1.0）,并一年檢查一次 ,不得有色盲 ;3.2 磁粉檢測設備、器材3.2.1 本規(guī)程采用電磁軛式磁粉探傷儀 ;當使用磁軛最大間距時 , 交流電磁軛至少應有 45N 的提 升力；直流電磁軛至少應有 177N 的提升力;電磁軛的提升力至少半年校驗一次；322 本規(guī)程采用水基磁膏配制的磁懸液，

53、配制的磁懸液濃度范圍為 1025g/L,沉淀濃度為1.22.4ML/100ML,其濃度用磁懸液濃度沉淀管進行測定；3.2.3 本規(guī)程選用 A1 型標準試片,用以檢測磁粉檢測設備、 磁懸液的綜合性能 ,了解被檢工件表 面有效磁場強度和方向 ,有效檢測區(qū)以及磁化方法是否正確；3.2.4 標準試片使用方法：使用時 ,應將試片無人工缺陷的面朝外；為使試片與被檢面接觸良好 , 可用透明膠帶將其平整粘貼在被檢面上 ,并注意膠帶不能覆蓋試片上的人工缺陷；3.3 磁化技術(shù)參數(shù)的選擇3.3.1 磁化電流：交流直流其數(shù)值大小應根據(jù) A1-30/100 型標準試片實驗或提升力校驗來確定; 3.3.2磁化方法：縱向磁

54、化的磁軛法；3.3.3 磁化方向：被檢工件的每一被檢區(qū)域至少應進行兩次獨立的檢測,兩次檢測的磁力線方向應大致相互垂直；3.3.4 通電方式：連續(xù)法；3.4 被檢工件表面準備被檢工件表面不得有油脂、鐵銹、氧化皮或其他粘附磁粉的物質(zhì),表面的不規(guī)則狀態(tài)不得影響檢測結(jié)果的正確性和完整性，否則應作適當處理,如打磨;其表面粗糙度 Ra 25 卩皿3.5 檢測時機 焊接接頭的磁粉檢測應安排在焊接工序完成后進行;對于有延遲裂紋傾向的材料 ,磁粉檢測應根據(jù)要求至少在焊接完成 24h 后進行;除另有要求 ,對于緊固件和鍛件的磁粉檢測應安排在最 終熱處理后進行 ;4.檢測方法4.1 接通電源、檢查儀器工作是否正常

55、,同時測定提升力是否符合要求 ;2 引用標準TSG D2001GB151GB150TSG R0004TSG-D0001NB/T 470134.2 將靈敏度標準試片（A1）貼在焊縫邊緣或被檢工件上，按 4.34.4 條操作石 A1-30/100 是 否能清晰顯示 ,若能清晰顯示 ,說明此操作規(guī)范和磁懸液濃度符合要求,否則應重新選擇規(guī)范和磁懸液;4.3 磁軛的磁極間距應控制在 75mm-200mm 之間,檢測的有效區(qū)域為兩極連線兩側(cè)各 50mm 的 范圍內(nèi)，磁化區(qū)域每次應有不少于 15mm 的重疊；4.4 采用連續(xù)法時 ,被檢工件的磁化 ,施加磁粉的工藝以及觀察磁痕顯示都應在磁化通電時間 內(nèi)完成，

56、通電時間為 1s-3s,停施磁懸液至少 1s 后方可停止磁化；為保證磁化效果應至少反復磁化 兩次；5 磁痕顯示的分類和記錄5.1 磁痕的分類和處理5.1.1 磁痕顯示分為相關(guān)顯示、非相關(guān)顯示和偽顯示；5.1.2 長度與寬度之比大于 3 的缺陷磁痕 ,按條狀磁痕處理 ,長度與寬度之比不大于 3 的磁痕,按 圓形磁痕處理；5.1.3 長度小于 0.5mm 的磁痕不計；5.1.4 兩條或兩條以上缺陷磁痕在同一直線上且間距不大于 2mm 時,按一條磁痕處理 ,其長度 為兩條磁痕之和加間距；5.1.5 缺陷磁痕長軸方向與工件軸線或母線的夾角大于或等于30時,按橫向缺陷處理 ,其他按縱向缺陷處理；52 缺

57、陷磁痕的觀察5.2.1 缺陷磁痕的觀察應在磁痕形成后立即進行；5.2.2 缺陷磁痕的評定應在可見光下進行 ,被檢工件表面可見光照度應不小于1000Lx；5.2.3 除能確認磁痕是由于工件材料局部磁性不均或操作不當造成的之外 ,其他磁痕顯示均應 作為缺陷處理；當辨認細小磁痕時 ,應用 2 倍 1 0 倍放大鏡進行觀察；5 . 3 缺陷磁痕顯示記錄 缺陷磁痕的顯示記錄可采用照相或可剝性塑料薄膜方式記錄,同時應用草圖標示；6.復驗 當出現(xiàn)下列情況之一時 ,需要復驗：a）檢測結(jié)束時 ,用標準試片驗證檢測靈敏度不符合要求時；b）發(fā)現(xiàn)檢測過程中操作方法有誤或技術(shù)條件改變時；c）合同各方有爭議或認為有必要時

58、；7.磁粉檢測質(zhì)量分級7.1 不允許存在的缺陷a） 不允許存在任何裂紋和白點；b） 緊固件和軸類零件不允許任何橫向缺陷顯示7.2 焊接接頭的磁粉檢測質(zhì)量分級按表一；焊接接頭的磁粉檢測質(zhì)量等級表等級線性缺陷磁痕圓形缺陷磁痕（評疋框尺寸為 35mrK100mm）I不允許d 1.,且在評定框內(nèi)不大于 1 個n不允許d 3.（且在評定框內(nèi)不大于 2 個川LW3.0d 4.51 在評定框內(nèi)不大于 4 個IV大于川級注：L 表示線性缺陷磁痕長度 mm ； d 表示圓形缺陷磁痕長徑 mm;7.3 受壓加工部件和材料磁粉檢測質(zhì)量分級按表二受壓加工部件和材料磁粉檢測質(zhì)量等級表二等級線性缺陷磁 痕圓形缺陷磁痕（評

59、疋框尺寸為 2500m m2，其中一條矩形邊長最大為 150mm）I不允許d 2.（且在評定框內(nèi)不大于 1 個nL 4.0d4.（且在評定框內(nèi)不大于 2 個川L 6.0d6.（且在評定框內(nèi)不大于 4 個V大于川級注:L 表示線性缺陷磁痕長度 mm；d 表示圓形缺陷磁痕長徑 mm；7.4 綜合評級在圓形缺陷評定區(qū)內(nèi)同時存在多種缺陷時，應進行綜合評級；對各缺陷分別評定級別，取質(zhì)量級 別最低的級別作為綜合評級的級別；當各類缺陷的級別相同時，則降低一級作為綜合評級的級 別；8檢測記錄、報告和資料存檔8.1 檢測結(jié)束,應填寫檢測原始記錄；內(nèi)容應包括工件名稱、編號、材質(zhì)、規(guī)格、熱處理狀態(tài)和 表面狀態(tài)、檢測

60、部位和比例、檢測設備名稱、型號、磁粉種類,施加磁粉方法,磁化方法和規(guī)范、 靈敏度試片名稱、檢測日期、檢測結(jié)果及缺陷質(zhì)量等級評定和檢測示意圖等；8.2 檢測復檢人員必須依據(jù)檢測原始記錄和磁痕顯示情況簽發(fā)磁粉檢測報告，8.3 磁粉檢測報告的內(nèi)容應符合容規(guī)的規(guī)定；8.4 檢測報告上，復檢和審核人員均應簽名，并注明其技術(shù)資格等級；8.5 檢測記錄和報告必須字跡端正，記錄齊全，不得任意涂改；并應立即整理歸檔，妥善保存至少 至設計使用年限；第五部分：滲透檢測通用工藝規(guī)程1 主題內(nèi)容與適用范圍1.1 本規(guī)程規(guī)定了壓力管道元件及承壓設備焊縫及零部件的著色滲透檢測的人員資格、器材、 檢測工藝和技術(shù)、檢測結(jié)果評定和記錄報